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長(zhǎng)度測(cè)量技術(shù)1第一頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第一節(jié)長(zhǎng)度測(cè)量概述一、長(zhǎng)度檢測(cè)的意義1、長(zhǎng)度是生產(chǎn)實(shí)踐中最常遇的被測(cè)量之一2、長(zhǎng)度檢測(cè)是常規(guī)計(jì)量項(xiàng)目中的基本項(xiàng)目3、長(zhǎng)度是最基本的物理量之一零件尺寸機(jī)構(gòu)位移形位誤差十大計(jì)量項(xiàng)目:長(zhǎng)度、熱量、力學(xué)、電磁、電子、時(shí)間頻率、光學(xué)、輻射、聲學(xué)、化學(xué)體積=長(zhǎng)*寬*高速度=位移/時(shí)間……2第二頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第一節(jié)長(zhǎng)度測(cè)量概述二、長(zhǎng)度的單位與基準(zhǔn)1、長(zhǎng)度的單位與國(guó)際基準(zhǔn)國(guó)際單位制-“米”(m),這是長(zhǎng)度的法定單位米的定義:1983年第17屆國(guó)際計(jì)量大會(huì)又更新了米的定義,規(guī)定:1米是“光在真空中于1/299792458秒的時(shí)間間隔內(nèi)所經(jīng)歷路程的長(zhǎng)度”,稱為“米的國(guó)際基準(zhǔn)”。
18世紀(jì)末:“1米等于經(jīng)過(guò)巴黎的地球子午線的四千萬(wàn)分之一”
1889年在法國(guó)巴黎第一屆國(guó)際計(jì)量大會(huì),從國(guó)際計(jì)量局訂制的30根米尺中選出一根作為統(tǒng)一的國(guó)際長(zhǎng)度單位量值,稱之為“國(guó)際米原器”(鉑銥合金)。3第三頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第一節(jié)長(zhǎng)度測(cè)量概述標(biāo)準(zhǔn)量
標(biāo)準(zhǔn)量是體現(xiàn)測(cè)量單位的某種物質(zhì)形式,具有較高的穩(wěn)定性和精確度。1.光波波長(zhǎng):直接使用米定義咨詢委員會(huì)推薦使用的五種激光和兩種同位素光譜燈的任一種來(lái)復(fù)現(xiàn)。4第四頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四2.量塊它是由兩個(gè)相互平行的測(cè)量面中心之間的距離來(lái)確定其工作長(zhǎng)度的一種高精度量具。形狀:金屬長(zhǎng)方體材料:線膨脹系數(shù)小、性質(zhì)穩(wěn)定、耐磨以及不易變形的合金鋼材料量塊是單值量具,可以組合使用。量塊的公稱尺寸(按級(jí)使用時(shí)候采用)和實(shí)測(cè)尺寸(按等使用時(shí)候采用)。第一節(jié)長(zhǎng)度測(cè)量概述標(biāo)準(zhǔn)量5第五頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第一節(jié)長(zhǎng)度測(cè)量概述標(biāo)準(zhǔn)量6第六頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四套別總塊數(shù)級(jí)別尺寸系列/mm間隔/mm塊數(shù)19100,0,10.5
1
1.001,1.002,……,1.009
1.01,1.02,……,1.49
1.5,1.6,……,1.9
2.0,2.5,……,9.
10,20,……,1000.001
0.01
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10第一節(jié)長(zhǎng)度測(cè)量概述標(biāo)準(zhǔn)量7第七頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四目前,在實(shí)際工作中常使用下述兩種實(shí)物基準(zhǔn):量塊和線紋尺。首先由穩(wěn)定激光的基準(zhǔn)波長(zhǎng)傳遞到基準(zhǔn)線紋尺和一等量塊,然后再由它們逐次傳遞到工件,以確保量值準(zhǔn)確一致。第一節(jié)長(zhǎng)度測(cè)量概述標(biāo)準(zhǔn)量8第八頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四9第九頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四
量塊的精度分級(jí)又分等,級(jí).量塊按制造精度分為0、1、2、3、4級(jí),其中0級(jí)精度最高,按檢定精度分為1、2、3、4、5、6等,其中1等精度最高。第一節(jié)長(zhǎng)度測(cè)量概述標(biāo)準(zhǔn)量10第十頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四
量塊“等”和“級(jí)”之間的關(guān)系是:(1)對(duì)研合性及平面平行性偏差規(guī)定為:l、2等與0級(jí),3、4等與1、2級(jí),5、6等與3、4級(jí)分別相同。(2)“等”和‘級(jí)”可以代替使用。例如,0、1、2級(jí)量塊的中心長(zhǎng)度制造極限偏差分別與3、4、5等量塊的中心長(zhǎng)度測(cè)量極限誤差相同,因此,0、l、2級(jí)量塊可分別代替3、4、5等量塊來(lái)使用。第一節(jié)長(zhǎng)度測(cè)量概述標(biāo)準(zhǔn)量11第十一頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四線紋尺:帶有刻線的尺光柵、磁柵、容柵、……第一節(jié)長(zhǎng)度測(cè)量概述標(biāo)準(zhǔn)量3.光柵、容柵的柵距和感應(yīng)同步器的線距。①測(cè)量效率高;②容易實(shí)現(xiàn)數(shù)字顯示和自動(dòng)記錄,因而讀數(shù)直觀,提高了讀數(shù)精度,而且工作可靠;③可以實(shí)現(xiàn)測(cè)量自動(dòng)化和自動(dòng)控制。
黑白透射光柵12第十二頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四
感應(yīng)同步器的繞組13第十三頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第一節(jié)長(zhǎng)度測(cè)量概述三、長(zhǎng)度測(cè)量的方法1、按測(cè)量手續(xù)劃分:直接測(cè)量和間接測(cè)量例:用卡尺直接測(cè)量零件直徑,卡尺讀數(shù)即為被測(cè)直徑值。
D=20.01mm直接測(cè)量:直接對(duì)被測(cè)量進(jìn)行測(cè)量,測(cè)量結(jié)果即為被測(cè)量的值。間接測(cè)量:先測(cè)量與被測(cè)量相關(guān)的其他量,然后按函數(shù)關(guān)系式求得被測(cè)量。例:用弓高弦長(zhǎng)法測(cè)量大尺寸直徑,讀數(shù)為弓高H和弦長(zhǎng)L,計(jì)算得直徑值D:特點(diǎn):操作簡(jiǎn)單,精度較高特點(diǎn):操作復(fù)雜,精度不高14第十四頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第一節(jié)長(zhǎng)度測(cè)量概述三、長(zhǎng)度測(cè)量的方法2、按測(cè)量結(jié)果的性質(zhì)劃分:絕對(duì)測(cè)量和相對(duì)測(cè)量例:用刻度尺直接測(cè)量零件長(zhǎng)度,刻度尺讀數(shù)即為零件長(zhǎng)度值。
L=20.1mm絕對(duì)測(cè)量:儀器示值為被測(cè)量的絕對(duì)值。相對(duì)測(cè)量:先測(cè)量被測(cè)量與某個(gè)已知標(biāo)準(zhǔn)量的相對(duì)差值,然后測(cè)量結(jié)果加上標(biāo)準(zhǔn)量求得被測(cè)量。例:用比較儀測(cè)量零件長(zhǎng)度,標(biāo)準(zhǔn)量為20mm量塊,讀數(shù)為+0.065mm,零件長(zhǎng)度20.065mm被測(cè)目標(biāo)測(cè)量設(shè)備被測(cè)目標(biāo)測(cè)量基準(zhǔn)測(cè)量設(shè)備特點(diǎn):操作簡(jiǎn)單,測(cè)量范圍大,精度不高特點(diǎn):操作復(fù)雜,測(cè)量范圍小,精度高15第十五頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第一節(jié)長(zhǎng)度測(cè)量概述三、長(zhǎng)度測(cè)量的方法3、按照測(cè)量器具與目標(biāo)有無(wú)接觸劃分:接觸測(cè)量和非接觸測(cè)量接觸測(cè)量:測(cè)量器具與被測(cè)目標(biāo)相接觸,例如:卡尺、千分尺、電感位移傳感器、…非接觸測(cè)量:測(cè)量器具與被測(cè)目標(biāo)不接觸,例如:電容位移傳感器、激光傳感器、測(cè)量顯微鏡…特點(diǎn):測(cè)量過(guò)程可靠,但響應(yīng)慢,存在測(cè)量力,易變形和劃傷特點(diǎn):響應(yīng)快,無(wú)測(cè)力磨損和變形4、按照生產(chǎn)工藝過(guò)程劃分:在線測(cè)量和離線測(cè)量(主動(dòng)測(cè)量和被動(dòng)測(cè)量)
16第十六頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第一節(jié)長(zhǎng)度測(cè)量概述四、長(zhǎng)度測(cè)量應(yīng)遵循的原則1、阿貝原則(AbbePrinciple)測(cè)量實(shí)例:利用卡尺測(cè)量零件尺寸理論:L=D實(shí)際:L≠D?SDL原因:導(dǎo)軌不直→測(cè)量線與基準(zhǔn)線不平行→量爪不平行→偏差誤差的大小與夾角大小有關(guān),還與測(cè)量線與基準(zhǔn)線之間距離有關(guān)
。17第十七頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四阿貝原則:要求被測(cè)量的尺寸線應(yīng)與標(biāo)準(zhǔn)量的尺寸線重合或在其延長(zhǎng)線上。作用:此時(shí)由導(dǎo)軌直線度誤差引起的測(cè)量誤差是二階誤差,一般可以忽略不計(jì)。第一節(jié)長(zhǎng)度測(cè)量概述符合阿貝原則的測(cè)量,可盡量減小導(dǎo)軌直線度誤差對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。18第十八頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第一節(jié)長(zhǎng)度測(cè)量概述五、長(zhǎng)度測(cè)量對(duì)環(huán)境的要求1、標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境溫度:盡可能接近標(biāo)準(zhǔn)溫度,減小溫差(日曬),并進(jìn)行溫度補(bǔ)償標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境:溫度20℃,大氣壓力760mmHg(0.1MPa),濕度50%~60%長(zhǎng)度參數(shù)比其他參數(shù)更容易受環(huán)境的影響,環(huán)境不同,測(cè)量結(jié)果不同2、實(shí)際環(huán)境氣壓:實(shí)時(shí)測(cè)量氣壓,并進(jìn)行修正濕度:盡可能接近或低于標(biāo)準(zhǔn)濕度,實(shí)時(shí)測(cè)量并進(jìn)行修正振動(dòng):遠(yuǎn)離振源,增加隔振措施(隔振地基、減振平臺(tái))實(shí)際環(huán)境:存在較大偏差,對(duì)測(cè)量結(jié)果影響較大例:在20℃下100mm長(zhǎng)金屬零件,溫度每變化1℃,尺寸變化約1m19第十九頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第五章長(zhǎng)度測(cè)量技術(shù)第一節(jié)長(zhǎng)度測(cè)量概述第二節(jié)尺寸測(cè)量第三節(jié)形位誤差測(cè)量第四節(jié)表面粗糙度測(cè)量第五節(jié)線位移測(cè)量第六節(jié)絕對(duì)距離測(cè)量20第二十頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第二節(jié)尺寸測(cè)量幾個(gè)概念測(cè)量范圍是指該儀器可以測(cè)量的最大值和最小值,超過(guò)這個(gè)范圍就會(huì)損壞儀器。示值范圍是儀器的讀數(shù)(即可讀數(shù)據(jù)范圍),通常它比測(cè)量范圍小。量程就是示值范圍。21第二十一頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第二節(jié)尺寸測(cè)量坐標(biāo)測(cè)量法坐標(biāo)測(cè)量法是幾何量測(cè)量最基本最常用的測(cè)量方法,通過(guò)測(cè)量被測(cè)幾何要素上若干個(gè)點(diǎn)的位置坐標(biāo)繼而求得被測(cè)參量。包括采樣讀數(shù)和數(shù)據(jù)處理兩個(gè)步驟。單坐標(biāo)、雙坐標(biāo)、三座標(biāo)及多坐標(biāo)。實(shí)現(xiàn)測(cè)量的關(guān)鍵是建立被測(cè)參量和采樣點(diǎn)在測(cè)量機(jī)坐標(biāo)系中的坐標(biāo)關(guān)系模型。22第二十二頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)機(jī)架結(jié)構(gòu)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的主體主要由以下各部分組成:底座、測(cè)量工作臺(tái)、立柱、X及Y向支撐梁和導(dǎo)軌、Z軸部件及測(cè)量系統(tǒng)(感應(yīng)同步器、激光干涉儀、精密光柵尺、精密絲桿等)、計(jì)算機(jī)及軟件。23第二十三頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四該機(jī)通過(guò)三個(gè)坐標(biāo)軸在三個(gè)空間方向自由移動(dòng),測(cè)頭在測(cè)量范圍內(nèi)可以到達(dá)任意一個(gè)測(cè)點(diǎn),三個(gè)軸的測(cè)量系統(tǒng)可以測(cè)出測(cè)點(diǎn)在x,y,z三個(gè)方向上的精確坐標(biāo)位置。三坐標(biāo)測(cè)顯機(jī)按其精度來(lái)說(shuō)可以分為兩大類:一類是精密型萬(wàn)能測(cè)量機(jī)(UMM),一般放在有恒溫條件的計(jì)量室內(nèi),用于精密測(cè)量,分辨率為0.5um,1um或2um,也有達(dá)到0.2或0.1um的;另一類是生產(chǎn)型測(cè)量機(jī)(CMM),一般放在生產(chǎn)車間,用于生產(chǎn)過(guò)程的檢測(cè),并可進(jìn)行本道工序的精加工,分辯率為5um或10um,小型生產(chǎn)測(cè)量機(jī)也有1um或2um的。24第二十四頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四CMM不管任何復(fù)雜的幾何表面和幾何形狀,只要測(cè)量機(jī)的側(cè)頭能夠瞄準(zhǔn)到的地方(接觸與非接觸法),就可通過(guò)坐標(biāo)機(jī)的測(cè)量系統(tǒng)得到各點(diǎn)的坐標(biāo)值,經(jīng)計(jì)算機(jī)算出它們的幾何尺寸和相對(duì)位置,并完成數(shù)據(jù)處理,因此用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)具有較大的萬(wàn)能性。25第二十五頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四主要參數(shù)數(shù)值單位
X行程
3600mm
Y行程
2438mm
Z行程
1524mm
最大運(yùn)行速度
25.4m/min
刻度值
0.0005mm
測(cè)量精度
0.028/1400mm26第二十六頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四Chameleon7107三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)
美國(guó)布朗·夏普公司制造測(cè)量范圍:650×1000×650測(cè)量精度:2.1+L/355(ISO10360-2)。除常規(guī)精密測(cè)量外,還可以進(jìn)行高精度曲面掃描測(cè)量,可輔助進(jìn)行逆向設(shè)計(jì)。27第二十七頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四常見(jiàn)尺寸指的是介于1mm和1m之間的尺寸。這類尺寸可用直接測(cè)量法或坐標(biāo)測(cè)量法來(lái)實(shí)現(xiàn)。測(cè)量的主要步驟:定位---瞄準(zhǔn)---讀數(shù)---數(shù)據(jù)處理---給出測(cè)量結(jié)果。第二節(jié)尺寸測(cè)量幾個(gè)概念28第二十八頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四平面定位外圓定位第二節(jié)尺寸測(cè)量1、定位定位:使被測(cè)件處于最佳方位,使實(shí)際測(cè)量量符合被測(cè)量的定義。典型定位方法:平面定位、外圓定位、內(nèi)圓定位、頂尖定位要求:首先保證能按被測(cè)量的定義進(jìn)行測(cè)量;選取尺寸及形狀精度高的面為定位面;為保證可靠性,選擇定位面時(shí)應(yīng)遵守長(zhǎng)度測(cè)量原則,定位面盡可能與測(cè)量基面、工藝基面、裝配基面統(tǒng)一29第二十九頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四2、瞄準(zhǔn):瞄準(zhǔn):確定被測(cè)量上的測(cè)量點(diǎn)相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)量的確切位置。形式:?接觸式:一定形狀的測(cè)頭與被測(cè)對(duì)象機(jī)械接觸?非接觸式:影像法(工具顯微鏡)、CCD圖像影像法的瞄準(zhǔn)精度受主觀因素影響比較大,很多新型儀器采用光電元件代替人眼進(jìn)行瞄準(zhǔn),實(shí)現(xiàn)電子化和自動(dòng)化。----CCD瞄準(zhǔn)十字線雙刻線第二節(jié)尺寸測(cè)量30第三十頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四3、讀數(shù)/采樣讀數(shù):讀取測(cè)量?jī)x的顯示值(指針、數(shù)顯)無(wú)論是哪種顯示方式,正式讀取數(shù)值之前均需檢查儀器顯示值是否能夠“回零”。采樣:采集傳感器的輸出信號(hào),送入處理器。31第三十一頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第二節(jié)尺寸測(cè)量二、常規(guī)尺寸測(cè)量1、接觸式尺寸測(cè)量常規(guī)尺寸:幾毫米~幾米,典型-零部件尺寸游標(biāo)原理:利用尺身與游標(biāo)的刻線間距差進(jìn)行小數(shù)讀數(shù)游標(biāo)10刻線,距離差1mm,每線差0.1mm
尺身讀整數(shù),游標(biāo)讀小數(shù)(刻線對(duì)齊)游標(biāo)卡尺(Caliper):組成:定尺-長(zhǎng),整數(shù)刻度,尺身滑尺-短,非整數(shù)刻度,游標(biāo)例:尺身讀2mm,游標(biāo)讀0.3mm,讀數(shù)結(jié)果2.3mm規(guī)格:常見(jiàn)的游標(biāo)卡尺有精度為0.1毫米、0.02毫米和0.05毫米三種。32第三十二頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四主尺游標(biāo)9毫米刻10格,0.9毫米/格即:每格相差0.1毫米第二節(jié)尺寸測(cè)量33第三十三頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第二節(jié)尺寸測(cè)量測(cè)量值:11mm+7×0.1mm=11.7mm01034第三十四頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四三用卡尺,其測(cè)量范圍一般為0-125和0-150mm兩種。電子數(shù)顯卡尺:35第三十五頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第二節(jié)尺寸測(cè)量二、常規(guī)尺寸測(cè)量1、接觸式尺寸測(cè)量(2)千分尺(Micrometer)讀數(shù)原理:固定套筒-刻度0.5mm,微分套筒-刻度50線,每格0.01mm組成:量爪一側(cè)固定,另側(cè)移動(dòng)尺身-支撐、定位讀數(shù)機(jī)構(gòu)-固定套筒和微分筒例:固定套筒讀14mm,微分套筒讀0.10mm,測(cè)量結(jié)果14.10mm電子數(shù)顯千分尺:36第三十六頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第二節(jié)尺寸測(cè)量二、常規(guī)尺寸測(cè)量1、接觸式尺寸測(cè)量(3)百分表/千分表
(DialIndicator)指針式千分表:組成:測(cè)桿導(dǎo)軌-接觸工件,移動(dòng)傳動(dòng)機(jī)構(gòu)-轉(zhuǎn)換、傳動(dòng)、放大指針機(jī)構(gòu)-顯示、讀數(shù)數(shù)顯式千分表:37第三十七頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第二節(jié)尺寸測(cè)量二、常規(guī)尺寸測(cè)量1、接觸式尺寸測(cè)量測(cè)量零件尺寸(4)高度尺
(HeightGage)原理:與卡尺相同游標(biāo)式數(shù)顯式38第三十八頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第二節(jié)尺寸測(cè)量二、常規(guī)尺寸測(cè)量1、接觸式尺寸測(cè)量(5)測(cè)長(zhǎng)儀
(Metroscope)組成:基座7-支撐、固定、隔振測(cè)量座1-長(zhǎng)度基準(zhǔn)(線紋尺)、讀數(shù)尾座6-固定、定位工作臺(tái)5-安放工件、接觸測(cè)量測(cè)量原理:移動(dòng)測(cè)頭與固定測(cè)頭接觸,放置工件,移動(dòng)測(cè)頭接觸,線紋尺讀數(shù)特點(diǎn):符合阿貝原則,精度高39第三十九頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第二節(jié)尺寸測(cè)量二、常規(guī)尺寸測(cè)量1、接觸式尺寸測(cè)量(6)電感傳感器
(InductiveSensor)結(jié)構(gòu):線圈---產(chǎn)生磁場(chǎng)/感受磁場(chǎng)銜鐵---移動(dòng)部件,調(diào)制元件套筒---磁性,防磁、防漏原理:銜鐵深度→磁力線回路的磁阻→線圈電感變化應(yīng)用:接觸測(cè)量螺管型電感傳感器40第四十頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第二節(jié)尺寸測(cè)量二、常規(guī)尺寸測(cè)量2、非接觸式尺寸測(cè)量(1)萬(wàn)能工具顯微鏡(UniversalMicroscope)顯微鏡:將被測(cè)件的尺寸、輪廓經(jīng)過(guò)顯微光學(xué)系統(tǒng)放大,便于觀察測(cè)量,提高精度。讀數(shù):被測(cè)目標(biāo)成像于目鏡的分劃板上,目測(cè)瞄準(zhǔn)、讀數(shù)。41第四十一頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第二節(jié)尺寸測(cè)量二、常規(guī)尺寸測(cè)量2、非接觸式尺寸測(cè)量(2)影像測(cè)量?jī)x光源準(zhǔn)直透鏡工作臺(tái)物鏡CCD攝像機(jī)零件工作原理:光源→目標(biāo)→鏡頭→CCD→圖像→計(jì)算機(jī)→數(shù)據(jù)處理→測(cè)量結(jié)果特點(diǎn):快速-可以直接獲取一維、二維、三維尺寸智能-無(wú)需找正和對(duì)準(zhǔn),自動(dòng)調(diào)焦、自動(dòng)瞄準(zhǔn)精準(zhǔn)-高放大倍率、亞像素細(xì)分美國(guó)OGP42第四十二頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第二節(jié)尺寸測(cè)量二、常規(guī)尺寸測(cè)量2、非接觸式尺寸測(cè)量工作原理:光源→準(zhǔn)直透鏡→平行光→目標(biāo)→物鏡→反射鏡→投影幕光源準(zhǔn)直透鏡工作臺(tái)物鏡投影幕零件反射鏡測(cè)量方法:人工目視瞄準(zhǔn)讀數(shù)(3)投影測(cè)量?jī)x43第四十三頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第二節(jié)尺寸測(cè)量二、常規(guī)尺寸測(cè)量3、厚度測(cè)量超聲波測(cè)厚:發(fā)射探頭→超聲脈沖→工件→另一側(cè)→接收探頭換能器換能器工件厚度:c:超聲波在工件內(nèi)部傳播速度t:發(fā)射脈沖至接收脈沖時(shí)間間隔特點(diǎn):無(wú)損檢測(cè)可檢測(cè)鍍層厚度速度快便攜,易用44第四十四頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四
超聲波測(cè)厚儀主要由主機(jī)和探頭兩部分組成。主機(jī)電路包括發(fā)射電路、接收電路、計(jì)數(shù)顯示電路三部分,由發(fā)射電路產(chǎn)生的高壓沖擊波激勵(lì)探頭,產(chǎn)生超聲發(fā)射脈沖波,脈沖波經(jīng)介質(zhì)介面反射后被接收電路接收,通過(guò)單片機(jī)計(jì)數(shù)處理后,經(jīng)液晶顯示器顯示厚度數(shù)值。
45第四十五頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第二節(jié)尺寸測(cè)量三、大尺寸測(cè)量1、大直徑測(cè)量大尺寸:幾米~幾十米,大型工件、長(zhǎng)導(dǎo)軌…被測(cè)軸:直徑D標(biāo)準(zhǔn)輪:已知直徑d(1)弓高弦長(zhǎng)法:測(cè)量弓高和弦長(zhǎng),計(jì)算直徑D:(2)滾輪法:Dd純滾動(dòng)根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)輪轉(zhuǎn)過(guò)的圈數(shù)N和角度θ,計(jì)算被測(cè)輪的直徑:46第四十六頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第二節(jié)尺寸測(cè)量三、大尺寸測(cè)量2、大長(zhǎng)度測(cè)量(1)距離測(cè)量法:分別瞄準(zhǔn)被測(cè)長(zhǎng)度的兩端A和B,分別測(cè)量?jī)蓚€(gè)位置的距離DA和DB,計(jì)算得出長(zhǎng)度:L=DA-DB常用測(cè)量器具:激光干涉儀AB47第四十七頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第二節(jié)尺寸測(cè)量48第四十八頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四(2)光學(xué)測(cè)量法:
通過(guò)光學(xué)系統(tǒng)將被測(cè)目標(biāo)縮小(比例k),測(cè)量被測(cè)長(zhǎng)度所成的像的長(zhǎng)度L0,計(jì)算得出被測(cè)長(zhǎng)度:L=kL0常用測(cè)量器具:影像測(cè)量?jī)x…第二節(jié)尺寸測(cè)量49第四十九頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第二節(jié)尺寸測(cè)量四、微小尺寸測(cè)量1、金屬絲直徑測(cè)量衍射測(cè)量法:平行光→金屬絲→透鏡→接收屏→明暗相間的衍射條紋微小尺寸:<1mm金屬絲、小孔、臺(tái)階、薄膜厚度、刻線…f:透鏡焦距xk:k級(jí)暗條紋的位置
衍射級(jí)的增加金屬絲直徑:直徑變化引起的條紋位置變化增大→靈敏度提高光強(qiáng)迅速減小→靈敏度下降衍射級(jí)的選擇:綜合考慮,一般選擇第二級(jí)或第三級(jí)條紋50第五十頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四夫瑯和費(fèi)衍射原理當(dāng)光源和衍射場(chǎng)(即屏幕P)都距衍射物(小孔、狹縫、細(xì)絲等)無(wú)限遠(yuǎn)時(shí)的衍射稱為夫瑯和費(fèi)衍射(或平行光衍射),實(shí)際上只要光源、屏幕離衍射物有足夠大的距離都可認(rèn)為是夫瑯和費(fèi)衍射。51第五十一頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四圖為衍射條紋的光強(qiáng)分布圖。由圖可見(jiàn),隨著衍射角的增加,亮條紋的光強(qiáng)將迅速降低,暗點(diǎn)位置是等距分布的。如采用激光作為光源,由于能量高度集中,條紋可以更加清晰,衍射級(jí)次也更高(即能見(jiàn)到的衍射條紋致目多)。52第五十二頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四2光纖直徑的測(cè)量方法:激光能量法。右圖中3代表光纖。激光---光纖---亮線匯聚于光敏二極管5上---比較器(測(cè)量通道)激光--光敏二極管6—比較器(參考通道)光纖直徑變化引起比較器的輸出結(jié)果,據(jù)此實(shí)現(xiàn)光纖直徑的測(cè)量。53第五十三頁(yè),共五十九頁(yè),編輯于2023年,星期四第二節(jié)尺寸測(cè)量四、微小尺寸測(cè)量3、小尺寸零件測(cè)量小尺寸零件:小孔、臺(tái)階、刻線、微機(jī)械、PCB尺寸、纖維…光源→準(zhǔn)直透鏡→平行光→零件→顯微物鏡→CCD
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