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文檔簡介
ARCH類模型一、單位根過程(一)單位根過程的含義1.問題的提出用于預(yù)測的線性平穩(wěn)模型AR(p)模型
方程
(B)=0稱為過程的特征方程,過程平穩(wěn)的條件是,特征方程所有根的絕對值都必須大于1,即在單位圓外。12.
單位根的定義y隨機(jī)過程{
,t
=
1,2,......},若ty
yu=+
t=
1,2,......t
t
1
tuu其中,
=1,{
}為一穩(wěn)定過程,且E(
)
=
0,tt
u
ucov
(
,
)=
<
,這里t
stts
=
0,1,2,......,則該過程稱為單位根過程(unitroot
process)。+2特別地,若
y
y=
+
t=
1,2,......tt
1t
其中,{
}為獨立同分布,且E(
)
=
0,tt
2yD(
)
=
<
,則{
}為一隨機(jī)游動過程tt(random
waik
process)??梢钥闯?,隨機(jī)游動過程是單位根過程的一個特例。3yyt
yt
1)為一穩(wěn)若隨機(jī)過程{
}的一階差分過程(
=ytty定過程,則{
}服從單位根過程。t分別以I(1)和I(0)表示單位根過程和穩(wěn)定過程,y
y則可將
和
記為tty
y~I(1)~I(0)tt4(二)趨勢的類型確定性趨勢模型趨勢平穩(wěn)時間序列中的趨勢有不同的表現(xiàn)形式,如,帶趨勢的穩(wěn)定過程y
=
c+
t+
att
y其中,
f(t)
=
c+
t,表示時間序列{
}的確定性趨勢(deterministic
trend)。tya
的期望是時間t的線性函數(shù),其值在c
+
t周圍波動。為一穩(wěn)定過程。tt5隨機(jī)性趨勢模型
差分平穩(wěn)帶常數(shù)項的單位根過程yat=
c+
yt
1
+ty其中,c是常數(shù)項。對
不斷地向后迭代,得到tayay
=
c
+(
c
+
+
)+tt
1t
2t=
.......=
ct+t
ajj
1確定的時間趨勢ct
,是由單位根過程中的常數(shù)項積累而成6Y1Y25,00020,00015,00010,0005,0000654321556065707580859095556065707580859095零售商品價格指數(shù)時序圖社會商品零售總額時序圖時間序列趨勢的三種基本類型:(1)序列不含常數(shù)項、時間趨勢項y
y
若
=1
,序列為一單位根過程;若
<1,tt
1t
序列為一穩(wěn)定過程。(2)序列含常數(shù)項、不含時間趨勢項y
c
y
tt
1t
若
=1
,序列為一帶常數(shù)項(均值不為0)的單位
根過程;若
<1,序列為一帶常數(shù)項的穩(wěn)定過程。8(3)序列帶常數(shù)項和時間趨勢項y
c
y
t
tt
1t
若
=1
,序列為一帶常數(shù)項和時間趨勢項的單位根過程;
若
<
1,序列為一帶常數(shù)項和時間趨勢項的穩(wěn)定過程。9(三)單位根檢驗1.
ADF檢驗1)
迪基—福勒(DF)檢驗一階自回歸模型y
y
tt
1t
1H:H0
:
11原假設(shè)為真時,最小二乘估計的t統(tǒng)計量為
1SE(
)t=
式中,
為
的最小二乘估計,SE(
)為
的標(biāo)準(zhǔn)差。10檢驗標(biāo)準(zhǔn):
t統(tǒng)計量有非標(biāo)準(zhǔn)和非對稱的極限分布,
t記作
,對于給定的樣本量n和顯著性水平
,
t若統(tǒng)計量的實際計算值
小于臨界值,則拒絕原
假設(shè)
。例3.1112)
ADF檢驗DF檢驗只對存在一階自相關(guān)的序列適用。
ADF檢驗適用于存在高階滯后相關(guān)的序列。
y
y
x
y模型表述為
yt轉(zhuǎn)換為檢驗兩邊減
,可t
1tt
1tt
-
1,檢驗
(
1)
y
x令t
1tt
0。含有單位根的p階自回歸過程可以表述為
y
y
x
y
y
y......
ttt
1t1
t
12
t
2p
1
t
p
1上式中,檢驗假設(shè)為H0:
0或加帶常數(shù)項,或加帶趨勢項,或加帶常數(shù)項和趨勢項,檢驗標(biāo)準(zhǔn)同DF檢驗。
例3.12.
PP(
Phillips
andPerron)檢驗適用于存在高階自相關(guān)的序列,非參數(shù)檢驗方法檢驗基礎(chǔ)模型以及原假設(shè)同ADF檢驗,修正了系數(shù)的檢驗統(tǒng)計量,如下式。1
2
T
f
se
00t
1
2f2
f
s
00
tse(
)
式中,
是
的t統(tǒng)計量,
是系數(shù)
估計的標(biāo)準(zhǔn)誤,分母中
s是檢驗方程回歸估計標(biāo)準(zhǔn)誤,T是時期數(shù)。
f檢驗方程(模型)殘差的方差的一致估計,
是殘差00零頻譜估計。修正的t統(tǒng)計量有著和ADF統(tǒng)計量相同的漸近分布。133.
其它檢驗1)
KPSS
(Kwiatkowski,
Phillips,
Schmidt,和
Shin)檢驗原假設(shè)為序列是平穩(wěn)的,即H1:
1H0
:
1檢驗統(tǒng)計量
2
T
2f0LM
S
ttf其中,
是殘差的零頻譜估計,0t
S(t)
uu
y
x
是累積的殘差函數(shù),殘差。rtttr
1采用KPSS檢驗,必須設(shè)定外生回歸項
,估計
的方法。xft0142)
DFGLS
(Dickey-FullerTest
with
GLS
Detrending)檢驗
用GLS去除趨勢得到
,ytd
yt
xt
。以
替代
y
,ydt
ydtt得到同ADF檢驗的模型形式
dyt
ydt
1
ydt
1
yd
vt1p
1t
p
1和類似的檢驗統(tǒng)計量。根據(jù)ERS
(1996)模擬的一套在T
50,100,200,
中檢驗統(tǒng)計量的臨界值,檢驗H0
:
0檢驗統(tǒng)計量取值低于臨界值時,拒絕原假設(shè),序列平穩(wěn)。153)ERS
(Elliot,Rothenberg,
and
Stock
Point
Optimal)檢驗x類似DFGLS檢驗,必須設(shè)定外生回歸項
t
和估計
的一種f0方法。4)
NP
(Ng
and
Perron)檢驗dtyx構(gòu)造了基于GLS去勢數(shù)據(jù)
的四個檢驗統(tǒng)計量,必須設(shè)定ft0外生回歸項
和估計
的一種方法。例3.2例3.3例3.416二、ARCH模型的基本形式(一)問題的提出X44,4004,2004,0003,8003,6003,4003,2003,000255075100
125
150
175
200
225工業(yè)類股票指數(shù)曲線圖17
y
y序列進(jìn)行一階差分,得到
,由圖看序列的趨勢基本消除;如果序列
是白噪聲,即一階差分序列完全隨機(jī),ttt
1
t所建立的模型合適。IY2001000-100-200-300255075100
125
150
175
200
225
工業(yè)類股票指數(shù)一階差分序列
曲線圖18t由圖看不出序列有較強(qiáng)的自相關(guān),但Q=23.29較大,序列無自相關(guān)的概率p=0.503,不夠大,即序列無自相關(guān)的概率只有50%,很難得出序列無自相關(guān)的結(jié)論。
序列自相關(guān)圖19tE290,00080,00070,00060,00050,00040,00030,00020,00010,0000255075100
125
150
175
200
225工業(yè)類股指條件方差時序圖可以看出,k=1和k=2時,自相關(guān)系數(shù)較大,序列還包含一些有用的信息,
殘差序列
存在非t線性相關(guān),從建模預(yù)測的角度,已建的模型不合理。
t2序列自相關(guān)圖21(二)ARCH模型1.
ARCH含義和基本模型若有一隨機(jī)過程{
},它的平方
服從AR(q)過程2tt
2
2
2
......
2
01
t
12
t
2q
t
qt
其中,(
)獨立同分布,且有E(
)=
0,tt
D(
)=
2,t
=1,2,.....,則稱{
}服從q階的ARCH
tt
(q)過程,記作
~
ARCH(q)。ta
a
一般假設(shè)
0,
0,i
=1,2,......
,q。i022為確保{
t
}是一穩(wěn)定過程,
特征方程
aa2
L2
......
a
Lq1
L
—=01q的所有根都在單位圓外。即有a
aa+
+
......
+
<112q23
2t即給定過程在t時刻的條件方差
,
2
2t
2
2t
q
,
,......
,值時的方差t
1
2t2t2
2=
E(t
1,......
,
)t
qa
a=
+
2t
1
+......
+a
2t
q10q
可以看出,
的條件分布是正態(tài)的,但其條件方差是過t去平方誤差的線性函數(shù),是隨時間而變化的函數(shù)。24ARCH類模型一般由兩個方程組成條件均值方程:AR(p)模型y
y
y
......
y
t1
t
12
t
2p
t
pty
y
單位根過程t
=
1,2,......tt
1t線性回歸模型y
x
x
......
x
t01
1t2
2tk
ktt條件方差方程:一般來說,ARCH類模型都是針對均值模
2型的殘差建立。
的變化規(guī)律不同,模型不同t252.
模型的另一種形式ARCH模型也可以表述為
h
vttt
......222ht01
t
12
t
2q
t
qvv其中,{
}獨立同分布,且
~N(0,1),ttt
=1,2,.......,T。參數(shù)的約束同前。263.
ARCH效應(yīng)檢驗拉格朗日乘子檢驗(LM檢驗)輔助回歸模型
2
0
2
2
......
2
t1
t
12
t
2q
t
qH
:
......
0012q檢驗統(tǒng)計量
2LM
nR~
(q)
2其中,n為計算輔助回歸時的樣本數(shù)據(jù)個數(shù),R2
為輔助回歸的未調(diào)整可決系數(shù),即擬合優(yōu)度。檢驗標(biāo)準(zhǔn)
拒絕
的概率小于給定的顯著性水平H0例3.5274.
模型參數(shù)估計最小二乘二步最大似然5.
參數(shù)的檢驗合理性檢驗參數(shù)符號參數(shù)大小顯著性檢驗參數(shù)與0的顯著性差異283.
模型的識別和診斷檢驗(1)
識別階數(shù)可以與ARMA定階類似
2t利用
的自相關(guān)函數(shù)和偏自相關(guān)函數(shù)(2)診斷檢驗標(biāo)準(zhǔn)化殘差1
?
?
?v=
/(h
)2ttt用于檢驗ARCH模型是否有效的去除了平方序
2t?v列
(
)中的自相關(guān)和被估計的殘差
是否沒有t表現(xiàn)出過大的峰度值
。29殘差的獨立性檢驗檢驗平方標(biāo)準(zhǔn)化殘差序列(
)的自相關(guān)——?v2tQ統(tǒng)計量檢驗。殘差的正態(tài)性檢驗
JB檢驗?v計算標(biāo)準(zhǔn)化殘差序列(
)的JB統(tǒng)計量t模型判定
AIC
SC304.
預(yù)測只要知道參數(shù)
,
,......
,
的值,就可以在a
aa01q
2
2t
q(t
—1)時刻,利用給定的數(shù)據(jù)
,...…
,
,預(yù)測
在時刻t的條件方差t
1
2。tt31三、
廣義的ARCH
模型
——GARCH模型(一)GARCH(p,q)模型的形式h
v
1.
含義在ARCH(q)過程tttvv其中,{
}獨立同分布,且
~N(0,1),t
=1,2,.......,T。tt
若階數(shù)q,條件異方差可以表示為h
......
h
h
......
h222t01
t
12
t
2q
t
q1
t
12
t
2p
t
p
L
L
-
......
pLp
0
的根都在單位圓外2特征方程1
-
-12上述過程稱為廣義的ARCH過程,簡稱為GARCH過程,
記作
~GARCH(p
,q)。t參數(shù)的約束與ARCH(
q)模型一樣32參數(shù)的約束與ARCH(
q)模型一樣GARCH
過程是穩(wěn)定的過程充分必要條件
(1)
+
(1)<
1qp
i
其中,
(1)=;
(1)=jj
1i
1保證條件方差為正的條件
0
0i
=1,2,......
,q;0i
j
0j=1,2,……,p;332.
GARCH(1,1)的性質(zhì)GARCH(1,1)模型
h
vttth
2
ht01
t
11
t
1GARCH(1,1)是穩(wěn)定過程的充分必要條件為若表明模型中含有單位根,模型記為IGARCH(1,1)。
若
+
>0.5,
沖擊一般都會持續(xù)一段時間;111
若
+
=1,
隨機(jī)沖擊會有長久的影響。134(二)
GARCH效應(yīng)檢驗仍可采用LM檢驗(三)
參數(shù)估計采用極大似然估計(MLE),假定擾動項服從高斯分布或服從分布;BHHH算法。采用矩估計(ME),避免分布的限制;改進(jìn)的矩估計法GMM法。35(四)
模型的檢驗與評價1.
參數(shù)的檢驗合理性檢驗顯著性檢驗例3.6和例3.5中參數(shù)的檢驗2.
殘差檢驗ARCH類模型和其他統(tǒng)計模型一樣,都假定殘差序列獨立同分布,因此殘差的獨立性很重要,也就是殘差序列不能存在自相關(guān)。例3.73.
模型評價借助一些評價指標(biāo)比較不同模型預(yù)測效果實際應(yīng)用中需要注意數(shù)據(jù)的選擇:數(shù)據(jù)時期長度——太長,會包含過多不正常數(shù)據(jù);太少,不能保證參數(shù)估計的正確收斂;數(shù)據(jù)的頻率——低頻數(shù)據(jù)容易導(dǎo)致GARCH參數(shù)估計中的收斂性或穩(wěn)健性問題。波動測定,一般選擇至少1至2年的日數(shù)據(jù)或日內(nèi)數(shù)據(jù)。(五)預(yù)測在前一天波動率的基礎(chǔ)上迭代預(yù)測以后的波動率37四、ARCH模型的拓廣形式(一)指數(shù)GARCH模型—
E(
Exponential
)GARCH模型tht
vt=vv其中,{
}獨立同分布,且
~N(0,1),t
=1,tth2,.......,T。并設(shè)條件方差
有下面的形式:t
pq
log
h
log
h
i
t
it
it0jt
j
i
ht
iht
i
j
1i
1
則稱
服從EGARCH過程。th模型中條件方差采用了自然對數(shù)形式,意味著
非負(fù)且杠桿效應(yīng)是指數(shù)型的。若t
0,說明信息作用非對稱。
0當(dāng)時,杠桿效應(yīng)顯著。38(二)(G)ARCH-M模型如果隨機(jī)過程{
}有表現(xiàn)形式y(tǒng)t
y
x
g(h
)
ttttv
vt=
1,2,.......,T。v其中,
=
h
{
}獨立同分布,且
~N(0,1),tttthhg
(
)為條件方差
的函數(shù),
有ARCH(q)或htttyGARCH(p,q)的形式,則隨機(jī)過程{
}服從t(G)ARCH-M過程。
>
0
,表明回報率同大的波動是正相關(guān)。(
)
g
h
h、g(ht
)
ht為簡便,實際應(yīng)用中,常取tt或
g(h
)
ln(h
)
。tt39(三)TARCH模型TARCH(Threshold
ARCH)模型最先由Zakoian(1990)提出,它具有如下形式的條件方差
q
pj
1h
d
h22t0i
t
it
1
t
1j
t
ji
1d其中
是一個名義變量t1
t
0
dt
0
其他
40d
t
0
)和下跌信息由于引入
,股價上漲信息(t
t
0()對條件方差的作用效果不同。上漲時
q
為2d
0
,其影響可用系數(shù)
代表;下跌時it
1
t
1i
1
0
q
i
。若,則說明信息作用是非對稱的。i
1
0而當(dāng)時,負(fù)的隨機(jī)沖擊較正的隨機(jī)沖擊對波動會有更大的影響,即認(rèn)為存在杠桿(leverage)效應(yīng)。是對GARCH應(yīng)用條件的一個放松。41(四)冪ARCH
(PARCH)模型tvht=tqp
h
(
)
h
t0jt
jj
t
jit
ij
1i
1
ht其中,
>
0,
1.
是標(biāo)準(zhǔn)差的冪參數(shù),
用來評價沖擊對條件方差的影響幅度;
0
,存在非對稱效應(yīng).
模型中,
=2
,
=
0
,則PARCH模型為GARCH模型.42(五)
成分(Component)
ARCH模型若GARCH(1,1)模型的條件方差可寫為ht
t2
1
ht
1
上式表現(xiàn)條件方差與常數(shù)
的平均偏離程度。成分cARCH模型如下式,反映條件方差對于一個變量
的平t均偏離趨勢h
c
c
h
c
2t
1ttt
1t
1t
1其中
c
c
2
htt
1t
1t
143h
c上面的第一個式子描述短期(Transitory)成分,tt
以的勢(power,反映衰減速度)趨于0;第二個式子描述長期(Permanent)成分
,以
的勢趨
ct
c
1
,以保證
的收斂速度足于
。一般地,0.99t夠慢.另外,可以在兩式或任意一個中加入外生變量,來改變序列短期或長期波動水平.44(六)非對稱(asymmetric)成分GARCH模型將TARCH模型與成分ARCH模型相結(jié)合可以得到非對稱的成分模型,
h
z
2t
1ctct
1t
11
1th
c
c
c
d
h
c
z2
2t
2
2
ttt
1t
1t
1t
1t
1t
1t
1z
z
0d其中,
和
都是外生變量,
是名義變量.當(dāng)1t2tt時,條件方差中存在短期杠桿效應(yīng)。例3.845模型的選擇先驗信息
對稱非對稱從數(shù)據(jù)出發(fā)初選模型檢驗
參數(shù)合理性
參數(shù)顯著性殘差檢驗分析評價R2、
AIC
、SC,Q-
P
、MAPE46五、多元ARCH模型(一)模型形式1.對角VECH(Diagonal
VECH)模型pq
(
)
t0it
i
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