實驗三：連續(xù)系統(tǒng)串聯(lián)校正一、實驗?zāi)康?.加深理解串聯(lián)校正裝置對系統(tǒng)動態(tài)性能的校正作用。2.對給定系統(tǒng)進行串聯(lián)校正設(shè)計，并通過模擬實驗檢驗設(shè)計的正確性。二、實驗儀器1．EL-AT-III型自動控制系統(tǒng)實驗箱一臺2．計算機一臺三、實驗內(nèi)容1．串聯(lián)超前校正〔1〕系統(tǒng)模擬電路圖如圖5-1，圖中開關(guān)S斷開對應(yīng)未校情況，接通對應(yīng)超前校正。圖5-1超前校正電路圖〔2〕系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖如圖5-2圖5-2超前校正系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖圖中Gc1〔s〕=22〔0.055s+1〕Gc2〔s〕=0.005s+12．串聯(lián)滯后校正模擬電路圖如圖5-3，開關(guān)s斷開對應(yīng)未校狀態(tài)，接通對應(yīng)滯后校正。圖5-3滯后校正模擬電路圖〔2〕系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖示如圖5-4圖5-4滯后系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖圖中Gc1(s〕=1010〔s+1〕Gc2〔s〕=11s+13．串聯(lián)超前—滯后校正模擬電路圖如圖5-5，雙刀開關(guān)斷開對應(yīng)未校狀態(tài)，接通對應(yīng)超前—滯后校正。圖5-5超前—滯后校正模擬電路圖系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖示如圖5-6。圖5-6超前—滯后校正系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖圖中Gc1〔s〕=66〔1.2s+1〕〔0.15s+1〕Gc2〔s〕=〔6s+1〕〔0.05s+1〕四、實驗步驟超前校正：1.連接被測量典型環(huán)節(jié)的模擬電路(圖5-1)。電路的輸入U1接A/D、D/A卡的DA1輸出，電路的輸出U2接A/D、D/A卡的AD1輸入，將將純積分電容兩端連在模擬開關(guān)上。檢查無誤后接通電源。2.開關(guān)s放在斷開位置。-3.在實驗工程的下拉列表中選擇實驗五[五、連續(xù)系統(tǒng)串聯(lián)校正]。鼠標單擊按鈕，彈出實驗課題參數(shù)設(shè)置對話框。在參數(shù)設(shè)置對話框中設(shè)置相應(yīng)的實驗參數(shù)后鼠標單擊確認等待屏幕的顯示區(qū)顯示實驗結(jié)果，并記錄超調(diào)量p和調(diào)節(jié)時間ts。6.開關(guān)s接通，重復步驟5,將兩次所測的波形進行比擬。并將測量結(jié)果記入下表中：超前校正系統(tǒng)指標校正前校正后階躍響應(yīng)曲線見下列圖見下列圖δ%51.438.57Tp〔秒〕192112Ts〔秒〕1240456滯后校正：1.連接被測量典型環(huán)節(jié)的模擬電路(圖5-3)。電路的輸入U1接A/D、D/A卡的DA1輸出，電路的輸出U2接A/D、D/A卡的AD1輸入，將純積分電容兩端連在模擬開關(guān)上。檢查無誤后接通電源。2.開關(guān)s放在斷開位置。3.在實驗工程的下拉列表中選擇實驗五[五、連續(xù)系統(tǒng)串聯(lián)校正]。鼠標單擊按鈕，彈出實驗課題參數(shù)設(shè)置對話框，在參數(shù)設(shè)置對話框中設(shè)置相應(yīng)的實驗參數(shù)后鼠標單擊確認等待屏幕的顯示區(qū)顯示實驗結(jié)果，并記錄超調(diào)量p和調(diào)節(jié)時間ts。4.開關(guān)s接通，重復步驟9,將兩次所測的波形進行比擬。并將測量結(jié)果記入下表中：滯后校正系統(tǒng)指標校正前校正后階躍響應(yīng)曲線見下列圖見下列圖δ%82.325.7Tp〔秒〕190518Ts〔秒〕43781209超前--滯后校正1.連接被測量典型環(huán)節(jié)的模擬電路(圖5-5)。電路的輸入U1接A/D、D/A卡的DA1輸出，電路的輸出U2接A/D、D/A卡的AD1輸入，將純積分電容兩端連在模擬開關(guān)上。檢查無誤后接通電源。2.開關(guān)s放在斷開位置。3.在實驗工程的下拉列表中選擇實驗五[五、連續(xù)系統(tǒng)串聯(lián)校正]。鼠標單擊按鈕，彈出實驗課題參數(shù)設(shè)置對話框，在參數(shù)設(shè)置對話框中設(shè)置相應(yīng)的實驗參數(shù)后鼠標單擊確認等待屏幕的顯示區(qū)顯示實驗結(jié)果，并記錄超調(diào)量p和調(diào)節(jié)時間ts。4.開關(guān)s接通，重復步驟