Lxx中華人民共和OB家標準GB/T20871.6.2—XXXX有機發(fā)光二極管顯示器件

第6-2部分：測試方法-視覺質(zhì)量ORGANICLIGHTEMITTINGDIODE(OLED)DISPLAYS—Part6-2: MeasuringmethodsofvisualqualityIEC62341-6-2:ORGANICLIGHTEMITTINGDIODE(OLED)DISPLAYS—Part

6-2:Measuringmethodsofvisualquality,NEQ(征求意見稿)(本稿完成日期：2011年2月24日)XXXX-XX-XXXX-XX-XX發(fā)布XXXX-XX-XX實施發(fā)布目次TOC\o"1-5"\h\z前言 III\o"CurrentDocument"范圍 2\o"CurrentDocument"規(guī)范性引用文件 2\o"CurrentDocument"術(shù)語和定義 2視覺檢查 2子像素缺陷 2亮點缺陷 2暗點缺陷 2部分子像素缺陷 2子像素串缺陷 3不穩(wěn)定子像素 3像素收縮 3面板邊界收縮 3線缺陷 3亮線缺陷 3暗線缺陷 3云紋(Mura) 3線云紋 3彩色云紋 3點云紋 3機械缺陷 3刮擦缺陷 3凹痕缺陷 3異物 4氣泡 4\o"CurrentDocument"測試設(shè)備結(jié)構(gòu) 4標準測試條件 4\o"CurrentDocument"標準測試環(huán)境條件 4標準照明條件 4暗室條件 4亮室條件 4\o"CurrentDocument"5.3標準設(shè)置條件 7OLED顯示模組的調(diào)節(jié) 7\o"CurrentDocument"開始測試條件 7\o"CurrentDocument"測試設(shè)備條件 7\o"CurrentDocument"靜態(tài)圖像的視覺檢查 8\o"CurrentDocument"可視缺陷的分類 8子像素缺陷的樣本 9\o"CurrentDocument"線缺陷的參考樣本 10\o"CurrentDocument"云紋缺陷的參考樣本 10\o"CurrentDocument"視覺檢查方法和標準 11\o"CurrentDocument"標準檢查條件 11\o"CurrentDocument"視覺檢查方法 12標準檢測條件 13\o"CurrentDocument"亮室環(huán)境下的光電測試方法 14\o"CurrentDocument"反射特性測量 14目的 14\o"CurrentDocument"測試條件 14測試半球漫反射系數(shù) 15直射光下的反射系數(shù)測量 16亮室對比度 17目的 17測量條件 18測量方法 18亮室顏色 18目的 18測量條件 18測量方法 18\o"CurrentDocument"圖1積分球和采樣球照明測試的幾何關(guān)系 5\o"CurrentDocument"圖2光源直射照明測試的幾何關(guān)系 7\o"CurrentDocument"圖3使用環(huán)形光源的方向源測量幾何條件 7圖4測量安裝分層圖 8\o"CurrentDocument"圖5視覺缺陷的分類 9\o"CurrentDocument"圖6亮點子像素缺陷 9\o"CurrentDocument"圖7明亮和暗子像素缺陷的分類標準 10\o"CurrentDocument"圖8亮線和暗線缺陷 10\o"CurrentDocument"圖9與TFT非均勻性相關(guān)的線性非均勻缺陷的樣品影像 10圖10灰色背景下點云紋缺陷的實例 11\o"CurrentDocument"圖11電光視覺缺陷的視覺檢測的安裝條件 12\o"CurrentDocument"圖12刮痕和凹痕缺陷的形狀 14表1刮痕、凹痕缺陷類型的界定 14GB/T20871《有機發(fā)光二極管顯示器件》的預(yù)計結(jié)構(gòu)如下：第1-1部分：總規(guī)范；第1-2部分：術(shù)語與文字符號（已發(fā)布GB/T20871.2-2007）第2部分：基本額定值和特性第3部分：顯示屏分規(guī)范第3-1部分：無源單色屏空白詳細規(guī)范第3-2部分：無源彩色屏空白詳細規(guī)范第3-3部分：有源彩色屏空白詳細規(guī)范第4部分：顯示模塊分規(guī)范第4-1部分：無源單色模塊空白詳細規(guī)范第4-2部分：無源彩色模塊空白詳細規(guī)范第4-3部分：有源彩色模塊空白詳細規(guī)范第5部分：試驗方法；第5-1部分：環(huán)境試驗方法第5-2部分：機械試驗方法第5-3部分：耐久性試驗方法第6部分：測試方法；第6-1部分：測試方法-光學(xué)和光電參數(shù)；第6-2部分：測試方法-視覺質(zhì)量；第6-3部分：測試方法-圖像質(zhì)量。本部分是GB/T20871的第6—2部分。本部分包括了有機發(fā)光二極管顯示器件視覺質(zhì)量測試方法.本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出。本部分由中國電子技術(shù)標準化研究所（CESI）歸口。本部分主要起草單位：杭州浙大三色儀器有限公司、北京維信諾科技有限公司、信利半導(dǎo)體有限公司、昆山維信諾顯示技術(shù)有限公司、四川虹視顯示技術(shù)有限公司。本部分主要起草人：牟同升李俊凱xxxxxxxxxxxx有機發(fā)光二極管顯示器件

第6-2部分：測試方法-視覺質(zhì)量1范圍本部分適用于OLED有機發(fā)光二極管顯示器件，主要應(yīng)用于彩色顯示模塊。本標準規(guī)定了OLED有機發(fā)光二極管顯示器件視覺質(zhì)量的標準測試條件和測試方法規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標準，然而，鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標準。GB/T20871.6.1/X-XXXX 有機發(fā)光二極管顯示器件第6T部分：測試方法-光學(xué)和光電參數(shù)IEC62341-1-2:Organiclightemittingdiodedisplays-Part1-2:TerminologyandlettersymbolsCIE15:2004:ColorimetryIEC60081:Double-cappedfluorescentlamps-PerformancespecificationsIEC50（845）:Internationalelectrotechnicalvocabulary術(shù)語和定義GB/T20871.2-2007確立的術(shù)語和定義適用于本標準，以下術(shù)語定義除外：視覺檢查視覺檢查是指利用人眼觀察測試樣品，并與標準樣品比較實現(xiàn)圖像質(zhì)量檢查的方法。子像素缺陷子像素缺陷的基本元素由比周圍亞像素更亮或更暗的單個子像素的所有或部分及最小色元組成。亞像素缺陷的更深層分類由顯示屏一個區(qū)域內(nèi)多個子像素缺陷的數(shù)量和配置決定。對于單色顯示器件，常常用于“點缺陷”來表示。3.3亮點缺陷當(dāng)由均勻暗場或灰場信號驅(qū)動時，顯示器上比周圍子像素明顯更亮的子像素。3.4暗點缺陷當(dāng)由均勻亮場信號驅(qū)動時（例如＞50%的全亮），顯示器上比周圍子像素明顯更暗的子像素。3.5部分子像素缺陷帶部分模糊發(fā)射區(qū)域的子像素缺陷或點缺陷，如通過觀察相鄰的子像素可見的亮度差異。3.6子像素串缺陷子像素串缺陷指在特定區(qū)域或距離內(nèi)匯集了很多亮點或暗點子像素缺陷，又稱為“近像素缺陷”3.7不穩(wěn)定子像素亮度無法控制的子像素或點。3.8像素收縮隨著時間推移一個或多個子像素有效發(fā)射面積的收縮（減小。3.9面板邊界收縮（不明白什么意思，不存在這樣的現(xiàn)象）隨著時間推移顯示區(qū)域邊緣的有效發(fā)射面積的收縮。3.10線缺陷（刪除，按IEC術(shù)語）在相應(yīng)的暗場或亮場中平行于行或列的水平或豎直的亮線或暗線。（去掉平行）亮線缺陷在均勻的暗場或灰場顯示的顯示屏出現(xiàn)的明亮的線缺陷。（比周圍明亮的線缺陷）暗線缺陷在均勻的亮場顯示的顯示屏出現(xiàn)的灰暗的線缺陷。云紋（Mura）Mura缺陷由一般比子像素等級的缺陷逐漸改變的亮度或顏色不均勻區(qū)域組成。對于分類，最大尺寸不得小于顯示屏寬度或高度的四分之一。線云紋由越過整個或部分顯示區(qū)域的一條或多條水平或豎直延伸線組成的亮度變化（類似于激光誘導(dǎo)液晶導(dǎo)致的TFT閾值電壓變化。彩色云紋主要在一個色通道表現(xiàn)，并導(dǎo)致局部色溫變化的云紋。點云紋局域區(qū)域輕微偏暗或偏亮的亮度變化。機械缺陷在顯示屏有效區(qū)域內(nèi)由于保護膜和對比度增強膜，涂料，機械裝置或其它單元的缺陷導(dǎo)致的圖像缺陷。刮擦缺陷由于玻璃、偏光器或其它可視表面的刮痕引起的缺陷。3.19凹痕缺陷在暗場下總是呈現(xiàn)白色或灰色，并獨立于顯示狀態(tài)的局部區(qū)域。3.20異物由對比度增強膜和保護膜之間、或顯示器有效區(qū)域發(fā)射面上的線或灰塵等異物導(dǎo)致的缺陷。3.21氣泡在可見顯示區(qū)域由密封材料、黏合劑、對比度增強膜、保護膜或其它薄膜內(nèi)或中間的空腔導(dǎo)致的缺陷。測試設(shè)備結(jié)構(gòu)測試設(shè)備的系統(tǒng)框圖或操作條件應(yīng)滿足每一子項指定的結(jié)構(gòu)。標準測試條件5.1標準測試環(huán)境條件測試應(yīng)在測試溫度為25°C±3°C,相對濕度為25%?85%,氣壓在86kPa?106kPa的標準環(huán)境條件下充分預(yù)熱后進行（去掉預(yù)熱。若使用不同的環(huán)境條件，應(yīng)在測試報告中注明。5.2標準照明條件5.2.1暗室條件從被測顯示屏反射至探頭的背景照明光應(yīng)小于0.01cd/m2或應(yīng)小于OLED顯示屏黑場亮度的1/20以下。如果不滿足這些條件,背景光應(yīng)扣除,同時在報告中注明。注：除非特別注明,標準照明條件應(yīng)為暗室條件。5.2.2亮室條件以下照明條件專用于顯示屏在室內(nèi)或室外照明環(huán)境條件下的光電測量。顯示屏的室內(nèi)環(huán)境照明和室外晴天照明接近兩種照明幾何條件的結(jié)合。均勻半球漫射照明將用于模擬室內(nèi)背景照明,或太陽光受阻隔照射至顯示屏。在一個暗室中的直射光源將模擬顯示屏在室內(nèi)被燈照射或太陽光直射的效果。以下照明條件應(yīng)用于室內(nèi)和室外的照明場合。室內(nèi)照明條件半球均勻漫射照明——用一個近似CIE標準照明體A,CIE標準照明體D65，或熒光燈FL1（在CIE15中定義）。推薦用紅外隔膜來盡可能減小樣品熱量。如果使用FL1作為照明光源，光源的色容差應(yīng)小于5SDCM（SDCM:色匹配標準偏差，參見IEC60081）,同時光源光譜的紫外波段應(yīng)截斷。熒光燈應(yīng)穩(wěn)定，如老化100小時并且使用時間未超過2000小時。根據(jù)實際的目標應(yīng)用場合，另外的光源也可使用。如果能證明顯示屏在前述的照明光源照明下不會出現(xiàn)嚴重的熒光，那么平滑光譜的光源（像CIE標準照明體A）可以用于光譜反射測量，后續(xù)對比度計算中使用SIEA光源的實際光譜，否則應(yīng)使用上述三種推薦照明光源中的一種。室內(nèi)對比度的計算中，對于典型的電視觀賞房間，半球漫射照明至顯示屏表面的照度

應(yīng)為60lx，辦公環(huán)境應(yīng)為300lx。為了更高的測試精度，實際的半球漫反射照明可能需要更高的照度等級，則測試過程中同比例至所需照度等級即可。直射照明一一使用與在半球漫射照明中同樣光譜和熒光防護的光源。如果使用不同光譜的光源，應(yīng)在報告中注明。室內(nèi)對比度的計算中，對于典型的電視觀賞房間，豎直入射至顯示屏表面的照度應(yīng)為40lx，辦公環(huán)境為200lx。為了提高測試精度，實際的把反射系數(shù)測試可能需要更高的照度等級。直射光源應(yīng)在顯示屏表面法線處的35°處（0s=35°,0d=0°,見圖2），同時對弦角不超過8°。注：除了上述用于計算室內(nèi)對比度的其它照度等級也可使用。但總照度的大約60%應(yīng)為半球照明，40%為直射照明。日光照明條件半球均勻漫射照明一一使用近似于CIE照明體D753日光光譜的照明光源。推薦用紅外隔膜來盡可能減小樣品熱量。如果能證明7500K色溫的光源在全照明等級下不會出現(xiàn)嚴重的熒光，那么光譜反射率測量中可使用平滑光譜光源（如CIE標準照明體A）,否則應(yīng)使用近似D75照明體的光源。對比度或顏色可由D75照明體的光譜計算。日光對比度應(yīng)使用顯示屏豎直方向上15000lx的半球漫射照度計算，實際半球漫反射測試可采用更低的照度等級。直射照明一一照明光源應(yīng)近似于CIE標準日光照明體D50。推薦使用紅外隔膜來盡可能減小樣品熱量。如果能證明近似D50的光源在全照明等級下不會出現(xiàn)嚴重的熒光，那么光譜反射率測量中可使用平滑光譜光源（如CIE標準照明體A）,在對比度計算中使用D50的實際光譜。否則應(yīng)使用近似D50照明體的光源。日光對比度的計算應(yīng)使用在顯示屏表面傾角0s=45°（見圖2）的65000lx直射光源，實際的反射率測量可采用更低照度等級。直射光源的對弦角應(yīng)大約為0.5°。色溫、照度等級和使用的照明幾何條件應(yīng)在報告中注明。對于日光對比度和色度計算，相對日光光譜應(yīng)使用CIE15中定義的相應(yīng)特征函數(shù)測得。5.2.2.1半球均勻漫射照明使用積分球，采樣球，或半球?qū)嵤┌肭蚓鶆蚵湔彰鳁l件。圖1顯示測量幾何條件的兩個實例。如果積分球是顯示屏外邊對角線7倍，則可將顯示屏安裝到球中央（圖1,配置A）。對于大的顯示屏，采樣球（配置B）或半球更合適。在所有情況下，配置應(yīng)符合di/8°到di/10°照度/探測幾何條件，其中di是漫射的標準符號。配置A（俯視圖）配置A（俯視圖）圖1積分球和采樣球照明測試的幾何關(guān)系1）將顯示屏放置在積分球/半球的中央，或采樣球的采樣口上。顯示屏到球所反射的亮度應(yīng)遠大于顯示屏產(chǎn)生光的照度。對于無嚴重?zé)晒獾娘@示屏，在顯示屏關(guān)閉后，可估計球所反射的亮度。2） 對于近似7500K色溫光源的日光測量，推薦使用紅外隔膜來盡可能使樣品熱量最小化。色溫和照度光譜可自接近顯示屏測量區(qū)域附近的白色標準白板（圖1，配置A）或接近采樣口的采樣球壁（圖1,配置B）反射的光測量。應(yīng)在報告中注明所用光源類型及相關(guān)色溫。3） 光測量儀器與積分球壁內(nèi)的測量口與顯示屏法線成8°（-0°，+2°）的方向?qū)R來觀看顯示屏的中央，所需光測量儀器傾斜角也可傾斜積分球內(nèi)的顯示屏而實現(xiàn)。光測量儀器位于顯示屏表面。4） 測試口的直徑應(yīng)比光測量儀器透鏡的有效光闌大20%-30%。要注意避免光源的直射光，或表面（除了屏幕本身）反射的光照射光測量儀器透鏡以盡可能地使反射亮度測量的眩光污染最小化。光測量儀器應(yīng)自孔中移出到球壁對光測量儀器不可見的位置。另外，采樣口直徑通常需要大于25mm以便亮度計或光譜儀的視場被完全包含在采樣口內(nèi)。5） 測試口應(yīng)與透鏡成斜角。斜角的小直徑面向光測量儀器，且大直徑在球內(nèi)側(cè)。6） 顯示屏上的光譜輻照度或照度可使用有漫射半球光譜反射因數(shù)R（入）或光加權(quán)（或發(fā)光）半球漫射反射因數(shù)R的白色漫射反射標準白板來測量。白色漫射反射標準白板必須在均勻半球漫射照明下校準。當(dāng)使用積分球（配置A）或半球時，應(yīng)將白色漫射反射標準白板放置在顯示屏表面。如果是白色漫射反射標準白板的厚度，則應(yīng)將其放置在距離測量區(qū)域5t~7t的表面處。如果在該距離上的球照度是均勻的，則白色反射標準白板也可放置在鄰近顯示屏和與顯示屏相同的平面上。在采樣球情況下，光譜輻照度可由鄰近采樣口的內(nèi)部球壁的測量確定。內(nèi)部球壁的半球漫射光譜反射因數(shù)，或亮度半球漫射反射因數(shù)可由壁的光譜亮度和位于采樣口處校準的漫射反射標準白板比較而確定（即R11=Rd*（Lii/L丿）。wallstdwallstd7） 如果使用采樣球，顯示屏測量區(qū)域應(yīng)至少包含500個顯示屏像素。推薦采樣球的直徑至少是采樣口直徑的6倍。如果在顯示屏發(fā)射表面與采樣口入口之間存在很大距離，則可能需要增加采樣口的尺寸。8） 顯示屏測量區(qū)域的照度應(yīng)比平均值偏差小于±5%。5.2.2.2直射照明直射照明由在與顯示屏法線成一定傾角的獨立光源（圖2）或位于法線中央的環(huán)形光（圖3）模擬。該測量應(yīng)在所有表面噴涂黑色亞光的暗室內(nèi)執(zhí)行。從照明光源在顯示屏反射方向上所反射的光可由擋光屏聚集以盡可能地減小雜散光的影響。獨立光源是首選光源。如果顯示屏顯示較嚴重的不對稱分散（矩陣分散），應(yīng)使用環(huán)形光。1） 將光測量儀器垂直于顯示屏（9d=0°），對準顯示屏表面。照明光源在與顯示屏法線和光測量儀器垂直的相同平面（?s=0。），但是與水平面成傾角Os。調(diào)整顯示屏與照明光源Cs之間的距離，使得對于室內(nèi)情況，光源具有W8。傾角，或?qū)τ谑彝馇闆r，光源具有距離顯示屏測量區(qū)域的中央近似0.5。傾角。對于環(huán)形光，應(yīng)使用光纖環(huán)形光，帶發(fā)射角近似0.5°。環(huán)形光發(fā)射平面須與顯示屏表面在一平面上且位于測量區(qū)域的中央。光的傾角Gs可調(diào)整環(huán)形光到顯示屏的工作距離進行設(shè)定。環(huán)形光的中央孔徑應(yīng)至少是光測量儀器透鏡的有效孔徑的30%。也可使用其它的光源/探測器幾何條件，但應(yīng)在亮室性能的報告中注明。2） 直射光源在顯示屏所反射的亮度應(yīng)比顯示屏發(fā)出的光亮度大得多（10倍以上）。3） 顯示屏測量位置處的光譜輻照度或照度可由具有已知光譜反射系數(shù)或光電加權(quán)（或亮度）反射系數(shù)的漫反射標準白板決定。漫反射標準白板應(yīng)放置在與顯示屏相同的測量位置，該位置可能需要移開顯示屏。漫反射標準白板須在與顯示屏測量時相同的幾何條件下進行校準。對于光度測量，漫反射標準白板的校準應(yīng)使用與對比度計算時光譜分布相同的光源。所用光源類型，及所校準的色溫應(yīng)在報告中注明。4） 顯示屏測量區(qū)域的照度應(yīng)比平均值偏差小于±5%。

光源cs0S光測量儀器ed光源cs0S光測量儀器圖2光源直射照明測試的幾何關(guān)系圖3使用環(huán)形光源的方向源測量幾何條件5.3標準設(shè)置條件標準設(shè)置條件參照下述，任何與這些條件的差別均應(yīng)在報告中注明。OLED顯示模組的調(diào)節(jié)開始測試條件測試應(yīng)在OLED顯示器件和測試設(shè)備達到穩(wěn)定后進行。應(yīng)有足夠的預(yù)熱時間保證被測顯示器件在指定顯示圖像的整個測試過程中達到亮度穩(wěn)定度達到±5%。測試設(shè)備條件1） 圖4所示標準測量安裝。光測量儀器必須為亮度計，或?qū)τ谄交ǘ喂庾V，帶寬不超過Onm，能測量至少380~780nm波長范圍的光譜儀。對于具有陡峭光譜的光源，如LED和熒光燈，最大帶寬應(yīng)不超過5nm。光譜儀的光譜帶寬應(yīng)為采樣間隔的整數(shù)倍。例如，5nm的采樣間隔可用于5nm或10nm帶寬。應(yīng)注意保證測量儀器具有足夠的靈敏度和動態(tài)范圍進行相關(guān)測試。2） 除非另有說明，光測量儀器應(yīng)對準顯示屏的成像面且與其表面垂直。3） 所有測量儀器的相對不確定度和重復(fù)性應(yīng)符合設(shè)備供應(yīng)商推薦的定期校準方案。

4） 光測量儀器積分時間是幀頻周期的整數(shù)倍，與幀頻率同步，或積分時間應(yīng)大于200幀頻周期。5） 當(dāng)測量矩陣顯示屏?xí)r，光測量器件應(yīng)設(shè)置為至少包含500像素的測量場。如果需要測量較小的區(qū)域，應(yīng)保證等同的500像素。6） 標準測量距離,是2.5%?（V>20cm）或50cm（VV20cm）,其中V是顯示屏動態(tài)區(qū)域的高度，或動態(tài)區(qū)域的短邊尺寸。測量距離應(yīng)在報告中注明。7） 孔徑角應(yīng)小于或等于5°且測量視場角應(yīng)小于或等于2。（圖4）。如果上述孔徑角的設(shè)置較難完成，則可通過調(diào)整測量距離和孔徑角達到大于500像素的測量視場。8） 顯示模塊應(yīng)在其設(shè)計場頻下操作。當(dāng)使用獨立的驅(qū)動信號設(shè)備時，驅(qū)動條件應(yīng)在報告中注明。6靜態(tài)圖像的視覺檢查近幾年，已有很多視覺檢測設(shè)備用于檢測圖像的視覺缺陷，但是當(dāng)前基于人眼視覺特性的各種自動測量系統(tǒng)還不能完全滿足各種類型缺陷的測量。人眼的視覺檢查和根據(jù)特定樣品的比測方法仍然是視覺缺陷分類和等級評定最通用的手段，因此，下面主要采用視覺檢查的方法對0LED顯示面板和模塊的圖像缺陷進行分類和等級評定。6.1可視缺陷的分類為了對圖像的視覺缺陷進行評判，需要對視覺缺陷的分類方法做出規(guī)定，如圖5所示。通常有兩種缺陷：一種是根據(jù)光電特性進行判斷的缺陷，另一種是本身的機械缺陷。光電性能缺陷是根據(jù)圖像的邊界狀態(tài)來排列的，機械缺陷通常是在生產(chǎn)過程中的損傷和污染引起的。I"-嗑A下二

圖圖5視覺缺陷的分類6.1.1子像素缺陷的樣本圖6a分別表示紅色、綠色和藍色子像素亮缺陷，這也適用于其它類型的子像素的排列（例如包括有白色子像素的情況）。圖6b表示水平和垂直方向相鄰或隔開的兩個鄰近亮點子像素缺陷。圖6c表示水平和垂直方向鄰近的三個亮點子像素缺陷。a-單個亮點子像素缺陷b-兩個鄰近亮點子像素缺陷a-單個亮點子像素缺陷b-兩個鄰近亮點子像素缺陷EE3IIIHIIIUEIIIII09IIIC-三個鄰近亮點子像素缺陷圖6亮點子像素缺陷如果多個子像素缺陷是分開規(guī)定距離，則將他們分類為單個子像素缺陷。如果他們出現(xiàn)在規(guī)定距離內(nèi)，則將他們歸類為近（或串）子像素缺陷。圖a和7b分別描繪分類亮和暗點缺陷的標準，位于接近子像素缺陷的最小規(guī)定距離d內(nèi)。注意規(guī)定距離d適用于任意方向的子像素之間的分離。a-串缺陷分類的亮點缺陷標準a-串缺陷分類的亮點缺陷標準dd＜最小值串缺陷d工最小值暗點缺陷b-暗點對暗點圖7明亮和暗子像素缺陷的分類標準6.1.2線缺陷的參考樣本線缺陷是與部分或完全延伸到影像的水平或垂直亮或暗線一樣明顯。圖8描繪幾個亮和暗線缺陷的影像。圖8亮線和暗線缺陷6.1.3云紋缺陷的參考樣本云紋缺陷包括通常改變多于子像素缺陷的亮度和顏色非均勻性的區(qū)域。此等缺陷的可見度強烈取決于缺陷的長度，局部峰對峰亮度改變。此等特征對于與1~2%的亮度改變是可見的。通常此等特征的最小寬度或高度是0.5~2mm。如圖9所示為LTPS底板驅(qū)動的OLED非均勻TFT特征引起的線性云紋缺陷的實例。非均勻線通過顯示屏，此時均勻白色背景的影像呈現(xiàn)在顯示屏上。圖9與TFT非均勻性相關(guān)的線性非均勻缺陷的樣品影像將寬度和高度有限范圍內(nèi)非均勻性亮度變化歸類為點云紋。如圖10所示為點云紋的實例。將表示顏色和亮度不均勻的線云紋或點云紋歸類為色云紋。6.2視覺檢查方法和標準6.2.1標準檢查條件6.2.1.1標準環(huán)境條件除非另外說明，視覺檢測的標準環(huán)境條件也適用。6.2.1.2視覺檢查的亮室照明除非另外說明，應(yīng)使用視覺檢查的標準亮室照明條件。與這些條件的所有差異應(yīng)在報告中注明。應(yīng)意識到規(guī)定的亮室照明條件可能取Moled顯示面板或模塊的檢查目的或預(yù)期情況,這些條件對于缺陷檢查人員的舒適度或敏感度而言可能不是最佳的。與標準亮室照明條件的任何差異應(yīng)在報告中應(yīng)注明,同時應(yīng)包括顯示屏表面法線的亮度測量,檢測者工作區(qū)域的平均照度(如5.2.2.1所描述的),以及任何其他與應(yīng)用環(huán)境相關(guān)的詳細內(nèi)容,諸如暗室環(huán)境或直接照明光源。在檢查過程中和檢查人員輪換時,應(yīng)維持檢測照明條件,而且檢測者應(yīng)在開始檢測的10分鐘前先適應(yīng)照明條件。6.2.1.3視覺條件6.2.1.3.1觀看方向視覺檢測應(yīng)在法線方向觀看顯示屏而進行,除非另外說明。6.2.1.3.2觀看距離OLED顯示面板或模塊與檢測者眼睛之間的距離應(yīng)在報告中注明。視力1.0相應(yīng)于檢測者解析0.3mrad(larcmin)間距特征的能力。最佳觀看距離相應(yīng)于解析單個子像素的兩倍距離，推薦Dopt=2XL/0.3mrad,其中L是子像素之間的水平距離。例如推薦在330mm處觀察50ym子像素寬度的2.2''(56mm)對角線QVGA(320X240)顯示屏。對于140|im子像素寬度的37''(940mm)對角線HD(1920X1080)顯示屏，推薦觀看距離950mm。最小觀看距離應(yīng)為300mm。6.2.1.4人眼檢查檢測者具有眼睛護理專業(yè)或合格醫(yī)師決定的正常色覺和視力(校準至)三1.0十進制，使用國際眼科理事會界定的方法。對于色覺，推薦Ishihara測試，對于視力，推薦Snellen測試或LandoltC測試。6.2.1.5電驅(qū)動條件6.2.1.5.1OLED顯示面板或模塊的驅(qū)動條件OLED顯示面板或模塊的指標上應(yīng)提供驅(qū)動電壓值。6.2.1.5.2測試圖案用于視覺檢測的測試式樣應(yīng)包含取決應(yīng)用要求的0%、10-30%和100%灰色等級的所有屏幕式樣。信號顏色通道或單色顯示屏的測試式樣應(yīng)包括取決于應(yīng)用要求的0%、10-30%和100%灰色等級的所有彩色子像素或點（例如紅色、綠色、藍色或白色）用于每一彩色通道。所有屏幕式樣的灰色等級應(yīng)在詳細的指標中規(guī)定。6.2.2視覺檢查方法6.2.2.1安裝檢查設(shè)備和OLED顯示面板或模塊將被測屏安裝至可繞水平和垂直視角旋轉(zhuǎn)的固定物上。打開直流電源和信號源。將驅(qū)動電流和式樣提供至缺陷檢測規(guī)定的OLED顯示面板或模塊。圍繞著與觀察點成90度角的顯示屏區(qū)域應(yīng)由吸光漫射材料組成以控制分散至圖11所示的觀察者視場的周圍光。圖11電光視覺缺陷的視覺檢測的安裝條件6.2.2.2電光缺陷的檢測方法全屏黑色測試式樣（0%灰色等級，開啟狀態(tài)的顯示屏）適用于檢測亮點缺陷。在10-30%灰色等級的全屏測試式樣適用于檢測不均缺陷。應(yīng)使用10%灰色等級，除非另有說明。亮度等級應(yīng)在報告中注明。所觀察的缺陷應(yīng)與限制樣品進行比較。全屏白色測試式樣（100%灰色等級）適用于檢測暗子像素缺陷。對于彩色顯示屏，如果指標中詳細規(guī)定，則單個彩色通道的測試式樣可應(yīng)用于檢測和分類子像素和不均缺陷的本質(zhì)。所觀察的缺陷應(yīng)在視覺檢測報告中記錄。6.2.2.3機械缺陷的檢測方法使用顯示區(qū)域上平均照度＞500lx的側(cè)光（如圖11所示），在顯示屏區(qū)域上垂直顯示表面的測量的顯示屏的側(cè)照度，是檢測機械缺陷的較好條件。機械缺陷的檢測應(yīng)在觀看方向的寬范圍上進行。應(yīng)注意阻擋檢測者直接觀看光源。兩種測試式樣適用于機械缺陷檢測：檢測散射入射光的薄膜和涂布中視覺缺陷的全屏黑色信號（0%灰色等級）和檢測遮住部分顯示區(qū)域的機械缺陷的全屏白色信號（100%灰色等級）。檢測者應(yīng)在視覺檢測報告中記錄機械缺陷的觀察和分類。6.2.2.4視覺檢測的檢測者和樣品檢測者應(yīng)由具有視覺檢測的特定程序和樣品專人進行周期培訓(xùn)。樣品應(yīng)由有專人進行維護以確保有效性。6.2.2.5檢查和記錄結(jié)果檢測者應(yīng)在視覺檢測報告中記錄測試結(jié)果。6.2.3檢查標準6.2.3.1亮點缺陷最大數(shù)量的亮缺陷應(yīng)在性能指標中規(guī)定。部分子像素（任何顏色）---性能指標中規(guī)定。子像素（任何顏色）---性能指標中規(guī)定。子像素串 性能指標中規(guī)定。亮點子像素總數(shù)---性能指標中規(guī)定。6.2.3.2暗點子像素缺陷最大亮暗缺陷應(yīng)在性能指標中規(guī)定。部分子像素（任意顏色）---性能指標中規(guī)定。子像素（任何顏色）---性能指標中規(guī)定。子像素串 性能指標中規(guī)定。亮點子像素總數(shù)---性能指標中規(guī)定。6.2.3.3不穩(wěn)定子像素不允許各種不穩(wěn)定子像素缺陷。6.2.3.4亮線缺陷不允許各種亮線缺陷，諸如垂直、水平或穿過。6.2.3.5暗線缺陷不允許各種暗線缺陷，諸如垂直、水平或穿過。6.2.3.6云紋提供云紋缺陷的多種分類的亮度和顏色的改變的樣品提供可接受的不均勻缺陷的參考。樣品應(yīng)展示如DUT在±20%內(nèi)相同的平均亮度。彩色不均勻樣品應(yīng)展示CIE15界定的DUT在Au'v'＜0.006內(nèi)顯示區(qū)域上求平均所得的相同色品坐標。超過樣品的所有種類不均勻缺陷應(yīng)在報告中注明。6.2.3.7機械缺陷刮痕、凹痕、外部材料和氣泡缺陷標準在表1和圖13中界定。“a”和“b”的符號指示缺陷的最大和最小軸。表1刮痕、凹痕缺陷類型的界定缺陷標準刮痕線性（a＞b）最小值＜寬度[mm]＜最大值，最小值＜長度[mm]＜最大值，N（缺陷數(shù)量）＜最大值凹痕橢圓（a＜2b）最小值＜平均直徑，（a+b）/2[mm]＜最大值，N（缺陷數(shù)量）＜最大值異物最小值＜a（主軸）[mm]＜最大值，N（缺陷數(shù)量）＜最大值氣泡最小值＜a（主軸）[mm]＜最大值，N（缺陷數(shù)量）＜最大值注1:清除的外部物質(zhì)，如指紋，顆粒等等不能稱為缺陷。注2：在背面矩陣（動作區(qū)域外）上的缺陷不能稱為缺陷。圖12刮痕和凹痕缺陷的形狀7亮室環(huán)境下的光電測試方法7.1反射特性測量7.1.1目的本方法的目的是測試0LED顯示模塊在室內(nèi)或日光照明條件下的反射特性。如果0LED有明顯的熒光，熒光也包含于反射系數(shù)中。這種情況下，當(dāng)測量中所用的照明光源與亮室對比度和顏色計算時采用的照明光源光譜分布相同，則本測試方法仍有效。7.1.2測試條件1） 測試設(shè)備驅(qū)動電源；驅(qū)動信號裝置；積分球、采樣球或半球；直射光源。對于光譜測試，需要能測試亮度和光譜輻射亮度的光譜輻射計，已知漫反射系數(shù)和特定幾何條件下標定的定向光譜反射系數(shù)的標準漫反射白板。對于光度測量，需要能測試亮度的測試儀和標準漫反射白板，該標準漫反射白板的漫反射系數(shù)是是已知的，或者在特定幾何條件和光譜下的定向反射系數(shù)是已經(jīng)標定的。2） 照明條件：

a） 使用室內(nèi)和晴天日光下標準亮室照明條件。根據(jù)實際情況，其它照明條件也適用。b） 除了亮室照明，其余均為標準測量條件。7.1.3測試半球漫反射系數(shù)1）在暗室條件下，顯示屏調(diào)整為黑場0%灰度等級，測試顯示屏中心的光譜輻射強度SK（入）和亮度LK。測試位于顯示屏偏離顯示屏法線方向8-10°的相應(yīng)位置（見圖1）。對于光譜測量，黑場亮度LK根據(jù)下式計算：(1)L=683『S（九）V（九皿(1)九其中VS）為CIE15中定義的光譜光視效率。2） 在暗室條件下，調(diào)整輸入信號使顯示輸出100%白場。對于自然靜態(tài)圖像和視頻，在100%白場下的4%窗口用于評價對比度。4%窗口應(yīng)為顯示區(qū)域的寬和高的1/5，并位于顯示屏中心。當(dāng)使用突出測量時，測試報告中應(yīng)注明。測試白場中心的光譜輻射強度SW（X）或亮度。對于光譜測試，白場亮度可由式（1）計算得到。為校正后的值，3） 如圖1，將顯示屏置于積分球或采樣球內(nèi)，設(shè)置顯示屏至100%白場狀態(tài)，打開積分球或采樣球內(nèi)的半球漫射照明至指定的色溫，等待其穩(wěn)定。為校正后的值，4） 測試校正白板的光譜輻射強度SstdwG）或亮度Lstdw。對于采樣球，SstdwS）或Lstdw分別從采樣口測得。對于光譜測量，白板和顯示屏的光譜輻照度Ehemi,W（X）由下式得到：(2)加）兀S（九）(2)P（九） std其中Pstd⑴是已知的同一幾何條件下白板光譜反射比，一個利用光度等效值的近似公式可用于計算照度Eh皿」對于光譜測量，顯示屏上的照度Ehemi,W可由下式計算得到：3）E=683『E（九）V（九皿3）九注：球內(nèi)的照明情況變化可由一只裝在球上的光度探頭監(jiān)控。5） 使測試儀器與顯示屏法線成8-10°角度，打開顯示屏和球內(nèi)照明，測量顯示屏中心的光譜輻射強度Shemiw"）或SemiW。對于光譜測量，照明條件下的白場亮度gemiW可由式⑴求得。注：顯示亮室環(huán)境亮度應(yīng)遠大于顯示屏的背景反射（如Lh.W>>LW）hemi,WW6）對于光譜測量，利用下式計算亮場條件下半球漫反射比PW（a）P(九P(九)=兀WS (九)-S(九)hemi:W WE(X)hemiW4)對于光度測量，有以下近似公式：PVWL-PVWL-Lhemi”WEhemiW5)注：式（5）中的半球漫反射比僅用于計算p測試的同一光譜光源的亮室對比度。VW對于光譜測量，下式用于計算顯示屏在指定光譜反射比為P/Q的漫射光譜照明下，白場半球漫射反射比P:vWJp(九)E(九)V(九)dXJE(JE(X)V(X)dX 6）X其中E（入）是指定照明條件的相對光譜分布，對于給定色溫的日光照明光譜分布，遵照CIE15的關(guān)系:E(X)二E(X)+ME(X)+ME(X)01122其中E的特征函數(shù)在CIE15中有相應(yīng)的表格，D50和D75的“〔和M2的特征函數(shù)在下表中給出:特征函數(shù)相關(guān)色溫5000K7500KMi-1.040071.43579m20.36666-0.759937） 將顯示屏置于黑場，測試亮室黑屏中心的光譜輻射強度Shemi，K（a）或亮度LhemiK。對于光譜測量，亮室黑屏亮度Lh沁K可用式⑴計算得到。黑屏照度Ehemi,K用式⑵和式⑶通過標準白板或采樣球壁的光譜輻射測試測得。對于度測量，照度Ehemi，K用式（2）等效光度通過標準白板的亮度LstdK計算得到。8） 對于光譜測量，利用下式計算亮室黑場的半球反射比PK（V）:p(X)p(X)二兀KS (X)-S(X)hemiK KE,(X)hemi,K8）對于光度測量，式（5）的近似關(guān)系用于測得暗場的半球漫反射比。注：如果反射比由光度測量得到，貝y亮室對比度只能用與pvi測試時相同光譜的光源計算得到。對于光譜測量，用式（6）和式（7）計算指定光譜分布的光源漫反射照明下黑屏半球漫反射比PvK。9）在測試報告中注明照明條件的色溫，測試配置，L,L和測得的照度等級E和E。hemi,Whemi,Khemi,Whemi,K7.1.4直射光下的反射系數(shù)測量1） 將光測量儀器垂直對齊顯示屏。對于暗室條件下暗場屏幕，測量0%灰色等級顯示屏中央的光譜輻亮度Lk（X）或亮度Lk。對于光譜測量，暗場屏幕亮度Lk可使用等式（1）計算。2） 設(shè)置到顯示屏的測試輸入信號以產(chǎn)生白場屏幕（100%灰色等級）。對于自然靜態(tài)影像和視頻應(yīng)用，也可使用100%灰色等級處的4%區(qū)域窗口以表征顯著對比度。4%窗口應(yīng)為有效顯示區(qū)域的1/5寬度和高度大小，并位于顯示屏的中央。當(dāng)使用其測量時，應(yīng)在報告中注明。測量暗室條件下白色圖案中央處的光譜輻亮度Lw@）或1於對于光譜測量，使用等式（1）計算白色顯示亮度Lw。w w w3） 將直射光源定位在室內(nèi)或日光照明條件界定的幾何位置。通常，應(yīng)使用直射光源的幾何條件，除非顯示屏顯示強烈的矩陣散射。打開直射光源至期望的相關(guān)色溫，待光源穩(wěn)定。調(diào)整光源強度使得顯示屏反射的光在光測量儀器處產(chǎn)生強烈信號。移除顯示屏且將標準漫反射白板放置在光測量儀器相同測量面板處。4） 測量所校準的標準漫反射白板的光譜輻亮度Sw-dir@）或亮度Sw-dir。對于光譜測量，標準漫反射白板和顯示屏上的光譜輻照度Ew-dir@）可由等式（8）E@）=Ew-dir@），S@）=Sw-dir@）所決定，其中R@）=Rstd-dlO）是在相同幾何條件的標準漫反射白板的已知光譜反射系數(shù)。使用等式（9）計算顯示屏輻照度Ew-dir。對于光度測量，等式（8）的模擬關(guān)系適用于計算輻照度Ew-dir。5） 取代光測量儀器測量面板上的顯示屏，且重新建立100%灰色等級的白色圖案。測量直射光源照明ON的顯示屏中央發(fā)射的光譜亮度Lw-dir@）或Lw-dir。對于光譜測量，直射照明光源的顯示屏亮度Ew-dir可以使用等式（1）計算。

注：直射光源打開時顯示屏周圍光譜輻亮度應(yīng)大于暗室下顯示屏光譜輻亮度（即Lw-dir@）>>Lw@））。6）對于測量幾何條件，計算直射光源在100%灰色等級的白場顯示屏圖案的光譜反射系數(shù)Rw_dir（X）或亮度反射系數(shù)Rw-dlr。對于光譜測量，光譜反射系數(shù)Rw-dir@）使用以下等式確定：仏、L/、一L（X）TOC\o"1-5"\h\zR入丿二?！獁/*dir（X） w—10)w-dir E入丿10)w-dir對于具有期望光譜分布的直射光源的白場顯示屏圖案，應(yīng)使用以下等式計算亮度反射因數(shù)Rwdlr：fR（X）E（X）V（X）dX -w-dir

w-dirf__fE（X>V（X）dX\o"CurrentDocument"X （11）其中E（心是期望照明體光譜的相關(guān)光譜分布。對于室內(nèi)對比度測量，應(yīng)在該計算中使用與半球漫射反射系數(shù)（等式3）相同的光源光譜。當(dāng)計算室外亮室對比度時，CIE照明體D50應(yīng)用于以下等式（4）E（九）。對于光度測量，使用等式（10）的近似關(guān)系：_L-LTOC\o"1-5"\h\zR —71——w-dir w12)w-dir E12)w-dir注：等式（12）中的亮度反射系數(shù)僅適用于計算與在該測量中使用相同光源光譜和幾何條件的對比度計算。7） 設(shè)置顯示屏至0%灰色等級且測量直射光源打開時黑場屏幕的中心光譜輻亮度Lk-dir或亮度Lk-dir@）。對于光譜測量，直射光源打開時的黑場屏幕亮度Lk-dir可使用等式（1）計算。 ' '8） 移去顯示屏且將標準漫反射白板放置在光測量儀器的相同測量平面內(nèi)。測量所校準的標準漫反射白板的光譜輻亮度Sk-dir@）或亮度Sk-dir。黑場屏幕上照度Ek-dir使用等式（8）和（9）確定。對于光度測量，照度Ek-dir使用等式（8）的光度等效量SK測量來確定。9）對于測量幾何條件，計算直射光源在0%灰色等級處，白場顯示屏圖案的光譜反射系數(shù)Rk-dir@）或亮度反射系數(shù)Rk-dir。對于光譜測量，具有直射照明光源的黑場屏幕的光譜反射因數(shù)Rk-dir@）使用以下等式確定:（）L （X）-L（X）RX丿—兀k-dir（） 13)k-dir EX13)k-dir對于具有期望光譜分布E@）的直射照明光源的黑場顯示屏的亮度反射系數(shù)Rk-diJ?應(yīng)由等式（11）的方法計算。對于光度測量，等式（12）的模擬關(guān)系用于確定黑場屏幕的反射系數(shù)Rk-dir。注：通過光度測量確定的亮度反射系數(shù)Rk-dir應(yīng)僅用于與該測量中所用的光源光譜和幾何條件相同的對比度計算。10）應(yīng)在報告中記錄顯示屏測試照明體的相關(guān)色溫、測試配置，Rw-dir，Rk-dir和待測照度等級Ek-dir。報告中應(yīng)記錄測試中所用的色溫、照度等級、探測器參數(shù)（入射角、測量視角、至樣品的距離）和照明參數(shù)（入射角、孔徑角、離樣品的距離、光束損耗）。7.2亮室對比度7.2.1目的該方法的目的是確定室內(nèi)或日光照明條件下0LED顯示模塊的亮室對比度。

注意：如果OLED有較嚴重?zé)晒?，則室外對比度計算僅對所用的相同照明體光譜和幾何條件有效以測量反射系數(shù)。7.2.2測量條件1） 儀器：亮度計或可測量亮度的光譜儀；驅(qū)動電源；和驅(qū)動信號設(shè)備。2） 亮度條件應(yīng)使用用于室內(nèi)或日光的標準照明條件。根據(jù)應(yīng)用條件也可使用其他照明條件3） 除了標準照明條件外，所有其他條件是標準條件。7.2.3測量方