中華人民共和國(guó)國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范

JJF2043—2023

工業(yè)用X射線CT裝置校準(zhǔn)規(guī)范

CbrationSpecificationforIndustrialX-rayCTDevices

2023-06-30發(fā)布2023-10-30實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

JJF2043—2023

目錄

引言

………………………(Ⅱ)

范圍

1……………………(1)

引用文件

2………………(1)

術(shù)語(yǔ)和計(jì)量單位

3………………………(1)

概述

4……………………(2)

計(jì)量特性

5………………(2)

校準(zhǔn)條件

6………………(3)

校準(zhǔn)項(xiàng)目與校準(zhǔn)方法

7…………………(3)

空間分辨力

7.1…………(3)

密度分辨力

7.2…………(5)

定位光標(biāo)誤差

7.3………………………(5)

空氣比釋動(dòng)能率

7.4……………………(5)

輻射泄漏

7.5……………(6)

校準(zhǔn)結(jié)果

8………………(6)

復(fù)校時(shí)間間隔

9…………(7)

附錄圓孔型測(cè)試卡法測(cè)試空間分辨力

A……………(8)

附錄空氣間隙法測(cè)試密度分辨力

B…………………(9)

附錄工業(yè)用射線裝置校準(zhǔn)記錄格式

CXCT………(10)

附錄工業(yè)用射線裝置校準(zhǔn)證書(shū)內(nèi)頁(yè)內(nèi)容

DXCT()……………(11)

附錄工業(yè)用射線裝置校準(zhǔn)不確定度評(píng)定示例

EXCT……………(12)

Ⅰ

JJF2043—2023

工業(yè)用X射線CT裝置校準(zhǔn)規(guī)范

1范圍

本規(guī)范適用于使用射線管作為輻射源的常規(guī)焦點(diǎn)工業(yè)用射線裝置簡(jiǎn)稱工業(yè)

XCT(

裝置的首次使用過(guò)程中維修后的校準(zhǔn)設(shè)備技術(shù)驗(yàn)收可參照本規(guī)范

CT)、、。。

2引用文件

本規(guī)范引用了以下文件

:

射線探傷機(jī)

JJG40—2011X

醫(yī)用診斷螺旋計(jì)算機(jī)斷層攝影裝置射線輻射源檢定規(guī)程

JJG961—2017(CT)X

工業(yè)射線探傷放射防護(hù)要求

GBZ117—2015X

無(wú)損檢測(cè)術(shù)語(yǔ)射線數(shù)字成像檢測(cè)

GB/T12604.11—2015X

氣瓶對(duì)接焊縫射線數(shù)字成像檢測(cè)

GB/T17925—2011X

無(wú)損檢測(cè)儀器工業(yè)用射線裝置性能測(cè)試方法

GB/T26593—2011XCT

無(wú)損檢測(cè)儀器工業(yè)用射線裝置通用技術(shù)條件

GB/T26835—2011XCT

凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本規(guī)范凡是不注日期的引用文

,;

件其最新版本包括所有的修改單適用于本規(guī)范

,()。

3術(shù)語(yǔ)和計(jì)量單位

術(shù)語(yǔ)

3.1

空間分辨力

3.1.1spatialresolution

工業(yè)裝置鑒別和區(qū)分高對(duì)比度微小細(xì)節(jié)特征的能力

CT。

密度分辨力

3.1.2densityresolution

工業(yè)裝置區(qū)分材料密度特性變化的能力

CT。

偽像

3.1.3artifact

在圖像上出現(xiàn)的與試件的結(jié)構(gòu)及物理特性無(wú)關(guān)的圖像特征

CT。

標(biāo)準(zhǔn)試件

3.1.4phantom

用來(lái)確定工業(yè)裝置空間分辨力及密度分辨力等性能指標(biāo)的試件

CT。

調(diào)制傳遞函數(shù)

3.1.5modulationtransferfunction

圖像系統(tǒng)的成像能力隨空間頻率的變化關(guān)系它在數(shù)值上等于線擴(kuò)展函數(shù)的一維傅

,

里葉變換

。

重建

3.1.6reconstruction

射線穿過(guò)試件后的投影數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成代表試件截面衰減特性分布圖像的計(jì)算過(guò)程

。

像素

3.1.7pixel

構(gòu)成圖像的基本單元

CT。

1

JJF2043—2023

切片厚度

3.1.8slicethickness

圖像所對(duì)應(yīng)的射線切割物體的厚度

CT。

線擴(kuò)展函數(shù)

3.1.9linespreadfunction

理想的線狀物質(zhì)在重建圖像上的響應(yīng)或擴(kuò)展函數(shù)

。

調(diào)制度

3.1.10modulation

圖像系統(tǒng)對(duì)特定空間頻率響應(yīng)能力的度量在圖像上它近似等于細(xì)節(jié)特征有

。CT,

效對(duì)比度和實(shí)際對(duì)比度的比值有效對(duì)比度是細(xì)節(jié)特征和背景的顯示對(duì)比度實(shí)際對(duì)比

。;

度是細(xì)節(jié)和背景的真實(shí)對(duì)比度

。

投影

3.1.11projection

材料線性衰減系數(shù)分布函數(shù)沿著射線方向的線積分

。

平板探測(cè)器

3.1.12fiatpaneldetector

射線通過(guò)轉(zhuǎn)換屏轉(zhuǎn)換為光電信號(hào)后由平板式二維圖像探測(cè)器陣列接收并轉(zhuǎn)

X(),

化為圖像數(shù)據(jù)輸出的一種射線探測(cè)器

X。

值

3.1.13CTCTnumber

用來(lái)反映圖像上每個(gè)像素區(qū)域代表的射線衰減的平均數(shù)值

CTX。

計(jì)量單位

3.2

比釋動(dòng)能率單位的名稱戈瑞每秒符號(hào)

3.2.1:[];:Gy/s。

空間分辨力單位的名稱線對(duì)每毫米符號(hào)

3.2.2:;:Lp/mm。

4概述

工業(yè)能在對(duì)檢測(cè)物體無(wú)損條件下以二維斷層圖像或三維立體圖像的形式清

CT,,

晰準(zhǔn)確直觀地展示被檢測(cè)物體內(nèi)部的結(jié)構(gòu)組成材質(zhì)及缺損狀況工業(yè)技術(shù)

、、、、。CT

涉及了核物理學(xué)微電子學(xué)光電子技術(shù)儀器儀表精密機(jī)械與控制計(jì)算機(jī)圖像處

、、、、、

理與模式識(shí)別等多學(xué)科領(lǐng)域

。

5計(jì)量特性

空間分辨力

5.1

空間分辨力應(yīng)優(yōu)于

2.0Lp/mm。

密度分辨力

5.2

密度分辨力應(yīng)優(yōu)于

0.8%。

定位光標(biāo)誤差

5.3

定位光標(biāo)誤差應(yīng)不超過(guò)

±0.5mm。

空氣比釋動(dòng)能率

5.4

輸出射線束軸上距焦點(diǎn)處的空氣比釋動(dòng)能率

300mm。

輻照泄漏

5.5

輻射泄漏率額定條件下離機(jī)柜壁的處測(cè)量應(yīng)符合表要求

:,1m,1。

2

JJF2043—2023

表1輻射泄漏要求

管電壓漏射線空氣比釋動(dòng)能率

/kVmGy/h

<150<1

150~200<2.5

>200<5

注:以上所有指標(biāo)不適用于合格性判別,僅提供參考。

6校準(zhǔn)條件

環(huán)境條件

6.1

應(yīng)滿足工業(yè)裝置的常規(guī)使用條件

6.1.1CT。

應(yīng)滿足電離室劑量計(jì)正常使用的環(huán)境條件溫度為相對(duì)濕度為

6.1.2,10℃~40℃,

30%~75%。

測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)及其他設(shè)備

6.2

工作級(jí)電離室劑量計(jì)其測(cè)量范圍為校準(zhǔn)因子擴(kuò)展不確

6.2.1:(0.01~10)Gy/min,

定度不大于k

5.0%(=2);

輻射防護(hù)用輻射劑量率儀在有效量程內(nèi)的相對(duì)固有誤差不應(yīng)超過(guò)

6.2.2X:±20%;

空間分辨力體模其有效線對(duì)至少對(duì)應(yīng)滿足

6.2.3:(1.6,1.8,2.0,2.2,2.6,3.0,

含三種材料

3.4,3.8)Lp/mm();

密度分辨力體模高度在以上凹槽直徑不小于

6.2.4:15mm,20mm。

定位光標(biāo)誤差體模圓柱形材質(zhì)高度在以上插件位置誤

6.2.5:(PMMA),15mm,

差不大于

0.5mm。

溫度計(jì)測(cè)量范圍為分度值不大于最大允許誤差為

6.2.6:(0~50)℃,0.5℃,

±0.5℃;

氣壓計(jì)測(cè)量范圍為分度值不大于最大允許誤差為

6.2.7:(86~106)kPa,100Pa,

±2.5hPa。

7校準(zhǔn)項(xiàng)目與校準(zhǔn)方法

空間分辨力

7.1

采用圓孔測(cè)試卡法或調(diào)制解調(diào)函數(shù)方法

。

采用圓孔測(cè)試卡法測(cè)試時(shí)應(yīng)使圓孔型測(cè)試卡對(duì)射線的衰減條件與實(shí)際檢測(cè)試

7.1.2,

件接近必要時(shí)要采用射線衰減補(bǔ)償

,。

選擇常規(guī)的掃描條件切片位置應(yīng)選在孔深的中部區(qū)域根據(jù)圓孔型測(cè)試卡的

7.1.3。。

圖像按公式計(jì)算空間分辨力用孔徑代替線條寬度

CT,(1)。。

空間分辨力的計(jì)算

7.1.4

按公式計(jì)算系統(tǒng)的空間分辨力R

(1):

R=×D

(1/2)1/min(1)

3

JJF2043—2023

式中

:

R空間分辨力

———,Lp/mm;

D在圖像上能夠分辨的最小孔徑在的調(diào)制度下分辨

min———CT(10%),mm。

概述

7.1.5

通過(guò)圓盤(pán)標(biāo)準(zhǔn)試件見(jiàn)附錄掃描圖像得到圓盤(pán)邊緣數(shù)據(jù)輪廓變化獲

(A)CTCT,

得邊緣響應(yīng)函數(shù)對(duì)求導(dǎo)得到點(diǎn)擴(kuò)展函數(shù)通過(guò)對(duì)的傅里葉

(ERF);ERF(PSF);PSF

變換計(jì)算最終導(dǎo)出調(diào)制傳遞函數(shù)由獲得裝置在不同調(diào)制度下的空間分

(MTF);MTF

辨力

。

的生成

7.1.6ERF

對(duì)圓盤(pán)掃描獲得圓盤(pán)圖像計(jì)算出圓盤(pán)圖像的質(zhì)心位置以質(zhì)心位置為圓

CT;CT;

心在圓盤(pán)圖像上選擇一圓環(huán)區(qū)域使圓盤(pán)的邊緣圖像包含在該圓環(huán)區(qū)域中計(jì)算出圓

,,;

環(huán)區(qū)域內(nèi)所有像素點(diǎn)到質(zhì)心的距離

。

將圓環(huán)區(qū)域內(nèi)像素按一定的距離單位歸組距離單位的大小根據(jù)圖像矩形尺寸加以

,

選擇同一個(gè)距離單位范圍內(nèi)像素為一組

。。

將圓環(huán)區(qū)域內(nèi)每個(gè)組的像素點(diǎn)分別取平均像素值得到組別與平均像素值的對(duì)應(yīng)關(guān)

,

系建立距離和平均像素值之間關(guān)系表從距圓心最近的端數(shù)據(jù)開(kāi)始按照表中推

。。1,2

薦的擬合點(diǎn)數(shù)奇數(shù)依次選取相應(yīng)的點(diǎn)數(shù)組合第個(gè)組合中的第個(gè)點(diǎn)應(yīng)是第

(),。211

個(gè)組合中的第個(gè)點(diǎn)以此類推可得到一組合系列例如對(duì)于像素矩陣尺寸為的情

2,。512

況選取每個(gè)組合中包含個(gè)點(diǎn)即個(gè)距離和平均像素值關(guān)系第個(gè)點(diǎn)為中

,21,(21),11

間點(diǎn)對(duì)每個(gè)組合中點(diǎn)的平均像素值進(jìn)行最小二乘法立方擬合用擬合計(jì)算得到的中間

。,

點(diǎn)像素值替代原中間點(diǎn)的像素值以此重復(fù)操作計(jì)算出全部擬合后的像素值得到擬

,,,

合像素值和距離的關(guān)系刪除開(kāi)始端和結(jié)束端的多余部分根據(jù)距離和擬合像素值的關(guān)

。,

系得到或曲線

ERF(ERF)。

表2推薦適用的各項(xiàng)參數(shù)單位像素

:

圖像矩陣尺寸圓盤(pán)圖像方塊最大尺寸像素距離單位擬合點(diǎn)數(shù)

256235120.10011

512470240.05021

1024940480.02541

的生成

7.1.7PSF

對(duì)于生成的結(jié)果重新進(jìn)行與上面相似的分段擬合對(duì)在此過(guò)程中每一次擬合

ERF,

得到的多項(xiàng)式求導(dǎo)計(jì)算中間點(diǎn)在每個(gè)導(dǎo)數(shù)解析式對(duì)應(yīng)的值得出距離和導(dǎo)數(shù)值關(guān)系的

,,

函數(shù)

。

解得此函數(shù)的最大值用最大值對(duì)此函數(shù)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理得到或曲

,PSF(PSF

線

)。

的生成

7.1.8MTF

計(jì)算的傅里葉變換圖像矩陣的截止頻率定義為線對(duì)像素傅里葉變換

PSF。0.5/,

后的最高頻率應(yīng)不低于圖像截止頻率的倍由采樣定理得到對(duì)的采樣間隔不大

4。PSF

4

JJF2043—2023

于像素為獲得光滑的曲線頻率域內(nèi)采樣間隔應(yīng)小于亦

0.25。MTF,0.01Lp/pixel(

即對(duì)于的采樣范圍應(yīng)大于像素計(jì)算傅里葉變換的振幅對(duì)振幅隨頻率的變

PSF100)。。

化曲線在零頻率處進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理得到或曲線

,MTF(MTF)。

測(cè)試結(jié)果

7.1.9

由曲線直接讀出工業(yè)裝置在不同調(diào)制度下的空間分辨力指標(biāo)

MTFCT。

密度分辨力

7.2

使空氣間隙試塊對(duì)射線的衰減條件與實(shí)際檢測(cè)試件接近必要時(shí)要采用射線衰

7.2.1,

減補(bǔ)償選擇常規(guī)的掃描條件掃描時(shí)應(yīng)使凹槽包含在切片厚度范圍之內(nèi)且處于切

。。,,

片厚度的中心

。

密度分辨力的測(cè)量

7.2.2

客觀評(píng)價(jià)在圖像上按照相同或接近的分布直徑選擇相同大小的圓形

a):CT,,

測(cè)試范圍如直徑范圍分別測(cè)試有凹槽部位和沒(méi)凹槽部位的值測(cè)試范

(20mm),CT(

圍內(nèi)像素的平均值沒(méi)有凹槽部位的值的測(cè)試不能少于個(gè)部位求出沒(méi)有凹槽

)。CT5。

部位測(cè)試部位點(diǎn)的平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差值若測(cè)試有凹槽部位的值與凹槽的高度

CT。CT

變化呈近似線性且與沒(méi)有凹槽部位的平均值的差絕對(duì)值大于沒(méi)有凹槽部位

,CT(),

值的倍標(biāo)準(zhǔn)差值則認(rèn)為此凹槽和基體密度差可分辨最小分辨的密度差代表了

CT3,。

密度分辨能力

。

主觀評(píng)價(jià)調(diào)節(jié)圖像參數(shù)以分辨不同高度凹槽可判斷為不同灰階的認(rèn)為

b):,,,

此凹槽和基體密度差可分辨

。

密度分辨力的計(jì)算

7.2.3

密度分辨力按公式計(jì)算

(2):

h

C=×

t100%(2)

式中

:

C密度分辨力

———;

h能分辨的凹槽深度值

———,mm;

t切片厚度值

———,mm。

定位光標(biāo)誤差

7.3

采用均質(zhì)材料制成圓柱形定位光標(biāo)誤差體模材質(zhì)表面應(yīng)有清晰易

7.3.1(PMMA),

見(jiàn)的定位標(biāo)記內(nèi)部嵌有與均質(zhì)環(huán)境成高對(duì)比的特定形狀的物體此物體形狀和位置與

,,

定位光標(biāo)誤差體模的定位標(biāo)記具有嚴(yán)格空間幾何關(guān)系

。

定位光標(biāo)誤差體模放置在檢測(cè)臺(tái)上使定位光標(biāo)誤差體模圓柱軸線垂直于掃描

7.3.2,

平面并處于掃描視野中心位置定位光標(biāo)誤差體模的定位標(biāo)記和定位光標(biāo)重合采用常

,。

規(guī)的掃描條件進(jìn)行掃描在圖像中測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)試件在掃描層中所處準(zhǔn)確位置利用表

。CT。

面的定位標(biāo)記測(cè)出定位光標(biāo)對(duì)實(shí)際掃描層面位置的誤差

。

空氣比釋動(dòng)能率

7.4

將劑量計(jì)電離室的有效測(cè)量點(diǎn)置于工業(yè)裝置主射線束中心并與射線束軸

7.4.1CT,

垂直距有效焦點(diǎn)

,300mm。

5

JJF2043—2023

將工業(yè)裝置的管電壓管電流調(diào)至常規(guī)使用條件

7.4.2CT、。

在上述條件下連續(xù)測(cè)量次取平均值按公式計(jì)算出相應(yīng)的空氣比釋動(dòng)

7.4.3,5,(3)

能率?K

。

?

K=MNkKTp

··(3)

式中

:

M劑量計(jì)讀數(shù)平均值

———,Gy/min;

Nk劑量計(jì)的校準(zhǔn)因子

———;

KTp空氣密度修正因子計(jì)算公式如下

———,:

+T

KTp=273.15101.3

·p(4)

293.15

式中

:

T校準(zhǔn)時(shí)溫度

———,℃;

p校準(zhǔn)時(shí)氣壓

———,kPa。

重復(fù)性

7.4.4

測(cè)量步驟同上每次開(kāi)機(jī)測(cè)量一次得到個(gè)數(shù)據(jù)連續(xù)測(cè)量不少于次按公式

,,1,6,

計(jì)算相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差V表示其重復(fù)性

(5),。

n

Mi-M2

i=()

V=1∑1×

Mn-100%(5)

1

輻射泄漏

7.5

工業(yè)裝置以標(biāo)稱管電壓運(yùn)行使用防護(hù)水平劑量?jī)x在機(jī)柜壁外任意一點(diǎn)測(cè)

CT,1m

量劑量率在屏蔽廠房中使用的大型工業(yè)裝置不需測(cè)此項(xiàng)

。CT。

8校準(zhǔn)結(jié)果

校準(zhǔn)結(jié)果應(yīng)在校準(zhǔn)證書(shū)或校準(zhǔn)報(bào)告上反映校準(zhǔn)證書(shū)或報(bào)告至少包括以下信息

。:

標(biāo)題校準(zhǔn)證書(shū)

a),“”;

實(shí)驗(yàn)室名稱和地址

b);

進(jìn)行校準(zhǔn)的地點(diǎn)如果與實(shí)驗(yàn)室的地址不同

c)();

證書(shū)的唯一性標(biāo)識(shí)如編號(hào)每頁(yè)及總頁(yè)數(shù)的標(biāo)識(shí)

d)(),;

客戶的名稱和地址

e);

被校對(duì)象的描述和明確標(biāo)識(shí)

f);

進(jìn)行校準(zhǔn)的日期如果與校準(zhǔn)結(jié)果的有效性和應(yīng)用有關(guān)時(shí)應(yīng)說(shuō)明被校對(duì)象的

g),,

接收日期

;

如果與校準(zhǔn)結(jié)果的有效性和應(yīng)用有關(guān)時(shí)應(yīng)對(duì)被校樣品的抽樣程序進(jìn)行說(shuō)明

h),;

校準(zhǔn)所依據(jù)的技術(shù)規(guī)范的標(biāo)識(shí)包括名稱和代號(hào)

i),;

本次校準(zhǔn)所用測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)的溯源性及有效性說(shuō)明

j);

校準(zhǔn)環(huán)境的描述

k);

校準(zhǔn)結(jié)果及其測(cè)量不確定度的說(shuō)明

l);

6

JJF2043—2023

對(duì)校準(zhǔn)規(guī)范的偏離的說(shuō)明

m);

校準(zhǔn)證書(shū)及校準(zhǔn)報(bào)告簽發(fā)人的簽名職務(wù)或等效標(biāo)識(shí)

n)、;

校準(zhǔn)結(jié)果僅對(duì)被校對(duì)象有效的聲明

o);

未經(jīng)實(shí)驗(yàn)室書(shū)面批準(zhǔn)不得部分復(fù)制證書(shū)的聲明

p),。

9復(fù)校時(shí)間間隔

建議最長(zhǎng)復(fù)校時(shí)間間隔不超過(guò)年復(fù)校時(shí)間間隔的長(zhǎng)短是由儀器的使用情況使

1,、

用者儀器本身質(zhì)量等諸因素所決定送校單位可根據(jù)實(shí)際使用情況決定復(fù)校時(shí)間

、,

間隔

。

7

JJF2043—2023

附錄A

圓孔型測(cè)試卡法測(cè)試空間分辨力

概述

A.1

用圓孔型測(cè)試卡測(cè)試空間分辨力圓孔型測(cè)試卡的制作也可以根據(jù)供需雙方協(xié)商

。

決定

。

圓孔型測(cè)試卡基本結(jié)構(gòu)

A.2

圓孔型測(cè)試卡是在高密度的圓柱形基體鋼例如鋁如塑

A.2.1[(Q235)、(3003),

料如等上加工一系列直徑不同的圓形孔其加工誤差應(yīng)小于孔

(PMMA)],,1%,

成行狀排列其基本結(jié)構(gòu)如圖所示

。A.1。

圓孔型測(cè)試卡的直徑可以根據(jù)具體情況設(shè)計(jì)厚度H一般為左右

A.2.2。20mm。

圖圓孔型測(cè)試卡結(jié)構(gòu)圖

A.1

8

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附錄B

空氣間隙法測(cè)試密度分辨力

概述

B.1

用空氣間隙試塊測(cè)試密度分辨力測(cè)試卡的制作可以根據(jù)供需雙方協(xié)商確定

。。

空氣間隙試塊

B.2

空氣間隙試塊是在均質(zhì)剛性基體材料一般為鋼例如鋁如

B.2.1[(Q235)、(3003)、

聚丙烯中人工制造一定直徑和高度的空氣間隙使得切片厚度內(nèi)的局部平均密度發(fā)生

],

變化從而測(cè)試密度分辨力其基本結(jié)構(gòu)如圖所示

,。B.1。

基體是由兩個(gè)高密度圓柱體組成高度在以上凹槽直徑?不小于

B.2.2,15mm。

圓柱體直徑可根據(jù)實(shí)際情況規(guī)定一般不小于?

20mm,,3。

凹槽深度h根據(jù)切片厚度t和實(shí)際情況確定

B.2.3。

圖空氣間隙試塊剖面圖

B.1

9

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附錄C

工業(yè)用X射線CT裝置校準(zhǔn)記錄格式

委托單位證書(shū)編號(hào)

::

制造廠校準(zhǔn)日期

::

型號(hào)規(guī)格校準(zhǔn)地點(diǎn)

::

編號(hào)相對(duì)濕度

::

氣壓流水號(hào)

::

技術(shù)依據(jù)溫度

::

空氣比釋動(dòng)能率

1.:

管電壓管電流

/kV:/mA:

校準(zhǔn)因子

:

KTp修正因子

:

空氣比釋動(dòng)能率

:cGy/min

測(cè)量次數(shù)平均

12345

劑量

劑量的重復(fù)性

:

測(cè)量次數(shù)

123456

劑量

空間分辨力DR

2.:min=mm=Lp/mm

h

密度分辨力htC

3.:=mm=mm=t×100%=

定位光標(biāo)準(zhǔn)確度

4.:

不確定度評(píng)定

5.:

10

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附錄D

工業(yè)用X射線CT裝置校準(zhǔn)證書(shū)(內(nèi)頁(yè))內(nèi)容

空氣比釋動(dòng)能率

1.:cGy/min

空間分辨力

2.:Lp/mm

密度分辨力

3.:

定位光標(biāo)準(zhǔn)確度

4.:

以下空白

11

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附錄E

工業(yè)用X射線CT裝置校準(zhǔn)不確定度評(píng)定示例

校準(zhǔn)方法

E.1

環(huán)境條件

E.1.1:

溫度相對(duì)濕度

:22.5℃;:62%。

標(biāo)準(zhǔn)裝置

E.1.2

劑量?jī)x電離室

DOSE1、0.6cc。

被測(cè)對(duì)象

E.1.3

HPX225-11。

測(cè)量方法

E.1.4

電離室在空氣中直接測(cè)量電離室軸線與射線束垂直并位于照射野中心電離室中

,,

心距焦點(diǎn)

600mm。

測(cè)量模型

E.2

??

D=DkkkNkTp

0123(E.1)

式中

:

?D空氣比釋動(dòng)能率實(shí)際值

———;

?D空氣比釋動(dòng)能率實(shí)測(cè)值

0———;

k測(cè)量重復(fù)性修正因子

1———;

k電離室定位偏差修正因子

2———;

k輻射場(chǎng)差異修正因子

3———;

N劑量?jī)x校準(zhǔn)因子

———;

kTp溫度氣壓修正因子

———、。

標(biāo)準(zhǔn)不確定度的來(lái)源及評(píng)定

E.3

標(biāo)準(zhǔn)裝置測(cè)量重復(fù)性引入的不確定度uk

E.3.1rel(1):

測(cè)得數(shù)據(jù)如下單位為

(cGy/min):6.2,6.1,6.2,6.0,6.3,6.1。

平均值k=nki=

:1(1/)∑16.15(E.2)

n

kik2

1-1

i=()

以標(biāo)準(zhǔn)偏差表示重復(fù)性sk=1∑1=

:(1)knn-0.017(E.3)