2015新學期規(guī)劃NewSemester匯報人：

2015.3.2911~8周----學校學習學習課程：含油氣盆地分析

油氣地球物理勘探工程

自學課程：有機巖石學&英語9周------工作站實習理想地點：中石化勘探開發(fā)研究院無錫石油地質(zhì)研究所學期規(guī)劃2日常工作裂變徑跡自動測試儀測量磷灰石裂變徑跡數(shù)據(jù)3配置有TrackWorks＆FastTracks軟件ZEISS顯微鏡數(shù)碼攝像頭油氣資源與探測國家重點實驗室裂變徑跡自動測試儀裂變徑跡自動測試儀操作1.儀器介紹4TrackWorks軟件手動測量裂變徑跡密度、徑跡長度、Dpar等參數(shù)。FastTracks軟件據(jù)圖像自動測量52.定位(Ⅰ)在薄片中確定三個銅網(wǎng)，方便顆粒定位。(Ⅱ)依次在5X和50X物鏡下定位通往中心點，并記錄銅網(wǎng)位置。銅網(wǎng)標記位置示意圖50×物鏡銅網(wǎng)示意圖5×物鏡銅網(wǎng)示意圖63.選擇和標記顆粒定位銅網(wǎng)后，在薄片中挑選30個顆粒。表面有強烈拋光擦痕；反射光下蝕刻坑長軸平行。不同類型拋光面徑跡分布特征平行C軸斜交C軸垂直C軸挑選標準：√73.選擇和標記顆粒反射光下垂直C軸顆粒反射光下平行C軸顆粒長軸平行六邊形選擇84.徑跡參數(shù)測量(1)確定C軸方向C軸使用示意圖蝕刻象C軸94.徑跡參數(shù)測量(2)測量封閉徑跡確定封閉徑跡長度以及與C軸方向夾角表面徑跡:斜交拋光面，只保留拋光面下方部分徑跡。封閉徑跡:完整保留的徑跡，與表面徑跡相交，同時被蝕刻。表面徑跡和封閉徑跡分布位置示意圖蝕刻象表面徑跡封閉徑跡104.徑跡參數(shù)測量(2)測量封閉徑跡封閉徑跡長度徑跡與C軸夾角封閉徑跡(12.9μm,76.4°)反射光下白色C軸反射光下封閉徑跡示意圖114.徑跡參數(shù)測量(2)測量封閉徑跡裂變徑跡長度統(tǒng)計表（部分）顆粒編號徑跡編號徑跡長度(μm)θ(°)119.1140.7210.8653.632114.8——211.14——312.04——319.4418.1....

2819.5974.4529110.2984.2629.5856.23313.4674.2630112.6532.4829.4243.3分布對稱、峰寬。推測樣品所在地層溫度緩慢上升，在距今較近時間達到退火帶臨界溫度。徑跡數(shù)量徑跡長度封閉徑跡長度分布直方圖95個數(shù)據(jù)124.徑跡參數(shù)測量(3)測量Dpar長度Dpar:與結(jié)晶C軸平行、與拋光面相交的裂變徑跡蝕刻象的最大直徑Dpar測量示意圖Dpar//C軸C軸Dpar134.徑跡參數(shù)測量(3)測量Dpar長度顆粒Dpar統(tǒng)計表（部分）顆粒編號Dpar編號Dpar(μm)Dpar平均值(μm)111.92

21.821.87314.34

22.49

33.8

42.91

52.01

62.32.98...2912.78

22.072.433012.59

22.312.45平均裂變徑跡長度與Dpar關系圖在測量封閉徑跡前，可根據(jù)Dpar值粗略判斷顆粒是否為同一類型組分，Ketcham等(1999)據(jù)此提出多組分退火模型。

lo,m=1.8376Dpar(μm)+6.5679R2=0.628擬合-正相關徑跡長度Dpar值144.徑跡參數(shù)測量(4)測量裂變徑跡密度Ⅰ

確定區(qū)域（RoI）Ⅱ區(qū)域內(nèi)確定徑跡

點擊后呈現(xiàn)×裂變徑跡數(shù)量計數(shù)示意圖徑跡確定面積確定徑跡15徑跡計數(shù)原則(1)立體感(光錐沿徑跡移動)；(2)直且具一定形狀；(3)徑跡長度不超過20μm；(4)具多向性。4.徑跡參數(shù)測量(4)測量裂變徑跡密度16174.徑跡參數(shù)測量(4)裂變徑跡數(shù)量計數(shù)顆粒裂變徑跡數(shù)量及密度統(tǒng)計表（部分）顆粒編號徑跡數(shù)計數(shù)面積(cm2)徑跡密度(tracks/cm2)1770.000143553650021180.00013338850003610.000076757948004880.0001497588000.....

27530.0001003528600281050.000129481130029530.00014636310030930.000145641300平均徑跡密度(tracks/cm2)620180計算裂變徑跡年齡

ρS=620