降低可靠性試驗(yàn)的批次缺陷率6-SigmaBBProject實(shí)施單位：TCL通訊設(shè)備〔惠州〕實(shí)施時(shí)間：2006年2月—7月公司名稱TCL通訊設(shè)備（惠州）有限公司項(xiàng)目編號(hào)項(xiàng)目名稱降低可靠性試驗(yàn)的不良批次率項(xiàng)目組組長(zhǎng)屈清華項(xiàng)目類型■DMAIC■BB□DMADV□GB牽頭部門質(zhì)量管理部涉及流程產(chǎn)品轉(zhuǎn)拉可靠性試驗(yàn)程序不合格品品控制程序/糾正預(yù)防措施程序涉及產(chǎn)品已批量產(chǎn)品項(xiàng)目成員屈清華、徐建輝、歐書(shū)英、黃志強(qiáng)、廖海昌6σ工程立項(xiàng)注冊(cè)表區(qū)分姓名意見(jiàn)倡導(dǎo)者肖曉平主黑帶孫志堅(jiān)財(cái)務(wù)確認(rèn)涂玉發(fā)起人劉景鋒黑帶/綠帶屈清華/徐建輝2.基線與目標(biāo)1.根本信息CTQ/y單位現(xiàn)水平目標(biāo)水平先進(jìn)水平月不良批次率比率16.4％5％03.效果預(yù)算項(xiàng)目投入項(xiàng)目效益減少后期不良損失——65萬(wàn)4.日程方案D03月01－03月22M03月23－05月10A05月15－06月15I/D06月16－06月30C/V07月01－07月105.現(xiàn)狀描述:04年中試轉(zhuǎn)拉可靠性試驗(yàn)總共檢出43單不合格批次，05年檢出120單，06年前四個(gè)月就發(fā)生75次不合格。其中采取有效糾正措施的寥寥無(wú)幾，導(dǎo)致雖已在公司內(nèi)部發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，但由于問(wèn)題處理流程職責(zé)不明確、導(dǎo)致問(wèn)題沒(méi)有有效地改善管理，致使同一問(wèn)題重復(fù)發(fā)生。6.工程范圍:包括中試產(chǎn)品轉(zhuǎn)拉可靠性試驗(yàn)、不合格品控制、糾正預(yù)防措施以及客戶抱怨處理流程。7.效果及影響:建立制度性的管理措施，流程合理、職責(zé)明確、團(tuán)隊(duì)處理問(wèn)題制度運(yùn)作，最終建立及時(shí)有效解決問(wèn)題的機(jī)制。

AMICD工程背景選擇工程的理由：04年中試轉(zhuǎn)拉可靠性試驗(yàn)總共檢出43單不合格批次，05年檢出120單，06年前四個(gè)月就發(fā)生75次不合格。其中采取有效糾正措施的寥寥無(wú)幾，導(dǎo)致雖已在公司內(nèi)部發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，但由于問(wèn)題處理流程職責(zé)不明確、導(dǎo)致問(wèn)題沒(méi)有有效地改善管理，致使同一問(wèn)題重復(fù)發(fā)生。AMICD每月不良批次數(shù)持續(xù)上升工程背景2.FEA計(jì)算：AMICD財(cái)務(wù)效果=減少不良批次的返工浪費(fèi)減少不良批次的返工浪費(fèi)＝年不良批次返工數(shù)量×〔每臺(tái)話機(jī)平均返工費(fèi)用+每臺(tái)話機(jī)生產(chǎn)效益費(fèi)用〕06年1-4月共返工40980臺(tái)，平均每月有10245臺(tái)，按此計(jì)算一年共有10425臺(tái)×12月=122940臺(tái)返工費(fèi)用：122940臺(tái)×3.3375元/臺(tái)=410312.25占用生產(chǎn)效益費(fèi)用：122940臺(tái)×2元/臺(tái)=245880元年直截收益：返工費(fèi)用410312.25+占用生產(chǎn)效益費(fèi)用245880=656192.25元VOC/CTQ分析AMICD外部顧客批量性質(zhì)量問(wèn)題突出不良率和返修率高用戶代理商VO外部顧客用戶代理商C外部顧客可靠性試驗(yàn)出現(xiàn)的問(wèn)題未能及時(shí)有效解決，導(dǎo)致重復(fù)發(fā)生。不能按營(yíng)銷出貨方案按時(shí)出貨。用戶代理商VO內(nèi)部顧客制造部門營(yíng)銷中心C月批次不良率CTQCTQ定義月批次不良率指每月保證試驗(yàn)中檢出不合格的批次數(shù)占每月總試驗(yàn)批次數(shù)的百分比。缺陷定義：要求月批次不良率≤5％高級(jí)流程圖〔SIPOC〕分析AMICDSIPOC模型圖公司批量生產(chǎn)產(chǎn)品產(chǎn)品范圍生產(chǎn)轉(zhuǎn)拉20臺(tái)產(chǎn)品試驗(yàn)實(shí)施選擇試驗(yàn)工程質(zhì)量管理部OQC試驗(yàn)報(bào)告生產(chǎn)部質(zhì)量管理部IQC質(zhì)量管理部OQCSUPPLIERSINPUTPROCESSCUSTOMERSOUTPUT合格出貨試驗(yàn)結(jié)果通報(bào)糾正預(yù)防措施表中試工程師審核分析批次不良率波動(dòng)太大，且持續(xù)上升AMICD數(shù)據(jù)收集收集從2004年以來(lái)至2006年4月的每月保證試驗(yàn)總單數(shù)，并統(tǒng)計(jì)每月的具體試驗(yàn)不良信息，計(jì)算每月試驗(yàn)批次不良率。每月試驗(yàn)批次數(shù)每月不合格批次數(shù)每月試驗(yàn)批次不良率AMICD針對(duì)05年和06年的試驗(yàn)不良進(jìn)行故障分類，找出關(guān)鍵的少數(shù)針對(duì)上頁(yè)05年和06年的試驗(yàn)不良故障分類數(shù)據(jù)進(jìn)行柏拉圖分析，找出關(guān)鍵的少數(shù)導(dǎo)致可靠性試驗(yàn)缺陷率居高不下的焦點(diǎn)問(wèn)題，重點(diǎn)進(jìn)行分析改善。排列前7位的故障類型占整個(gè)可靠性試驗(yàn)不良的73％，集中解決這些問(wèn)題就可杜絕大部分可靠性問(wèn)題的損失同一故障重復(fù)發(fā)生率非常高AMICD測(cè)量階段總結(jié)焦點(diǎn)問(wèn)題陳述焦點(diǎn)問(wèn)題試驗(yàn)不良次數(shù)潛在失效影響模式產(chǎn)品類型市場(chǎng)投訴分析及現(xiàn)階段控制A斑馬紙脫落30機(jī)械應(yīng)力或氣候環(huán)境應(yīng)力時(shí)電話機(jī)模組斑馬紙可能部分脫落，導(dǎo)致話機(jī)顯示不良。HCD/HW電話機(jī)有05年4月-9月集中人力分析解決。見(jiàn)附頁(yè)C主板漏電56天氣潮濕時(shí)話機(jī)主板漏電，導(dǎo)致話機(jī)漏電流變大（甚至自動(dòng)摘機(jī)），交換機(jī)判斷為話機(jī)摘機(jī)，導(dǎo)致電話打不進(jìn)來(lái)。HCD/HA電話機(jī)有今年3月初已召集團(tuán)隊(duì)成員分析解決，現(xiàn)正跟蹤改進(jìn)結(jié)果。B模組漏電13天氣潮濕時(shí)，模組上的海綿吸潮，導(dǎo)致絕緣阻抗降低，引起32.768KHz晶體停振，導(dǎo)致電話機(jī)無(wú)顯示、無(wú)撥號(hào)。HCD系列電話機(jī)有今年3月下旬已召集團(tuán)隊(duì)成員分析解決，現(xiàn)正跟蹤改進(jìn)結(jié)果。FTH382中周偏移13高溫或濕熱環(huán)境中無(wú)繩電話座機(jī)RF部分的鑒頻中周TH382頻率發(fā)生漂移，導(dǎo)致無(wú)繩手機(jī)發(fā)話變小甚至無(wú)繩手機(jī)無(wú)連接。HW系列電話機(jī)有團(tuán)隊(duì)分析解決中E咪頭松脫16跌落或振動(dòng)時(shí)免提咪頭可能松脫導(dǎo)致話機(jī)免提嘯叫?；蛟诟邷卮鎯?chǔ)環(huán)境中黃臘融化堵住咪頭孔，導(dǎo)致免提無(wú)發(fā)話。HCD/HW電話機(jī)有團(tuán)隊(duì)分析解決中DLCD鏡片裂15話機(jī)受到跌落和擠壓時(shí)可能導(dǎo)致LCD顯示鏡片破裂，導(dǎo)致話機(jī)無(wú)顯示。HCD/HW電話機(jī)有設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)問(wèn)題此次項(xiàng)目解決困難，暫不考慮鈴聲類22話機(jī)不響鈴、鈴聲失真、鈴聲無(wú)大小調(diào)節(jié)、鈴聲小HA/HCD/HW電話有因主要為元器件故障，類別較分散難以集中解決，不考慮。AMICDF(TH382中周頻率偏移)的潛在原因(魚(yú)骨圖)

原材料組件產(chǎn)品參數(shù)/結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)生產(chǎn)過(guò)程工藝環(huán)境因素溫度漂移率涂膠工藝物料混用高溫55℃老化試驗(yàn)篩選銅殼材質(zhì)機(jī)械振動(dòng)品質(zhì)因數(shù)Q值磁心導(dǎo)磁率濕熱環(huán)境磁心力矩諧振頻率范圍骨架材質(zhì)內(nèi)附調(diào)諧電容線圈繞線材質(zhì)灰塵因素生產(chǎn)調(diào)試高溫環(huán)境低溫環(huán)境TH382中周頻率偏移化學(xué)腐蝕磁帽材質(zhì)膠水性能是否全檢測(cè)試磁帽與磁芯相對(duì)位移電容材質(zhì)等級(jí)封裝工藝我司生產(chǎn)調(diào)試工藝封蠟工藝封紅膠工藝是否調(diào)試最正確焊接影響線路參數(shù)匹配可能的影響因子后續(xù)驗(yàn)證方案規(guī)格要求溫度漂移率從我司現(xiàn)用的中周庫(kù)存抽樣，進(jìn)行環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)并測(cè)試其溫度漂移率是否超標(biāo)。±0.5％內(nèi)附調(diào)諧電容針對(duì)市場(chǎng)客戶端維修退回的不良中周進(jìn)行結(jié)構(gòu)分拆，測(cè)試其內(nèi)附電容。330±5％磁帽與磁芯相對(duì)位移針對(duì)市場(chǎng)客戶端維修退回的不良中周進(jìn)行結(jié)構(gòu)分拆驗(yàn)證確認(rèn)。455KHz±0.5％封紅膠工藝通過(guò)封紅膠工藝前后的中周頻率比對(duì)確認(rèn)是否會(huì)影響。455KHz±0.5％AMICD鑒頻中周TH382規(guī)格要求和結(jié)構(gòu)圖展示TH382規(guī)格要求：中心頻率（1－3）455KHz；可調(diào)頻率（1－3）455KHz±3％（min）；內(nèi)附電容（1－3）330pf±5％；品質(zhì)因數(shù)（1－3）Min50（455KHz）；

溫度漂移范圍±0.5％電容帶螺紋磁帽骨架磁芯繞線電感銅殼螺紋TH382中周內(nèi)部電路連接LC振蕩回路依靠磁帽進(jìn)入磁芯線圈的深度來(lái)調(diào)節(jié)電感量依此達(dá)到調(diào)節(jié)振蕩頻率的目的AMICD鑒頻中周TH382庫(kù)存抽樣分析——溫度漂移率中山高雅中周TH382在TCL庫(kù)存抽樣30pcs進(jìn)行實(shí)驗(yàn)測(cè)試標(biāo)注紅色的數(shù)據(jù)超出規(guī)格限要求〔溫度漂移范圍±0.5％〕AMICD高雅中周頻率變化率的t檢驗(yàn)分析

—————2006-6-199:25:50Two-SampleT-TestandCI:高雅中周頻偏變化率,試驗(yàn)環(huán)境Two-sampleTfor高雅中周頻偏變化率試驗(yàn)環(huán)境NMeanStDevSEMean低溫29-0.01140.08870.016高溫300.6680.8590.16Difference=mu(低溫)-mu(高溫)Estimatefordifference:-0.67967795%CIfordifference:(-1.002232,-0.357121)T-Testofdifference=0(vsnot=):T-Value=-4.31P-Value=0.000DF=29P值為高溫、低溫條件下中周頻率變化率指標(biāo)差異顯著。鑒頻中周TH382庫(kù)存抽樣分析——溫度漂移率AMICD高雅中周頻率上下溫試驗(yàn)變化率的流程能力分析1、低溫頻率變化率指標(biāo)流程能力Cpk1.822、高溫頻率變化率指標(biāo)流程能力Cpk–0.02，能力缺乏，有一半以上指標(biāo)超標(biāo)，急需改善。TH382中周溫度漂移率：

通過(guò)上述分析驗(yàn)證高溫環(huán)境導(dǎo)致TH382中周頻率嚴(yán)重漂移超過(guò)±0.5％，供給商的原材料和工藝變異大。鑒頻中周TH382庫(kù)存抽樣分析——溫度漂移率AMICD鑒頻中周TH382數(shù)據(jù)門分析選取市場(chǎng)退回的的25pcs樣品進(jìn)行實(shí)際頻率測(cè)試標(biāo)注紅色的數(shù)據(jù)超出規(guī)格限要求〔溫度漂移范圍±0.5％〕AMICD鑒頻中周TH382內(nèi)附電容分析——內(nèi)附調(diào)諧電容不良電容有13個(gè)，其余12個(gè)電容容量合格。1、分析不良品中周發(fā)現(xiàn)中周內(nèi)附電容有兩種不同品牌〔TDK、高雅品牌〕，其中TDK的電容有13pcs,高雅的電容有12pcs。2、不良品的電容測(cè)量，發(fā)現(xiàn)TDK電容容量均變小，只有270-310pf〔規(guī)格要求為313.5～346.5pf〔330pf±5％〕〕，高雅電容均在合格范圍內(nèi)?！步?jīng)立即聯(lián)系供給商追朔供貨記錄及生產(chǎn)記錄，供給商確認(rèn)回復(fù)，TDK電容使用的原因：批量生產(chǎn)時(shí)高雅電容不夠時(shí)經(jīng)常用TDK電容替用〕。經(jīng)過(guò)上述分析排查可以確定TDK電容不良造成TH382中周頻率偏移，其電介質(zhì)材料為二類X7R(2X1)，電容容量誤差到達(dá)K檔±10%。

針對(duì)市場(chǎng)退回不良樣品進(jìn)行其結(jié)構(gòu)內(nèi)附微型管狀陶瓷電容器容量測(cè)試，結(jié)果如下：規(guī)格要求：330pf±5％

編號(hào)1＃2＃3＃4＃5＃6＃7＃8＃9＃10＃11＃12＃13＃容量315302305332281318321270275334319298341編號(hào)14＃15＃16＃17＃18＃19＃20＃21＃22＃23＃24＃25＃容量285296319278322335308296326292286326AMICD鑒頻中周TH382結(jié)構(gòu)分析——磁帽與磁芯相對(duì)位移其電感量和電容均符合規(guī)格要求，此時(shí)通過(guò)逆向思維，對(duì)頻率偏移的中周進(jìn)行磁帽調(diào)節(jié)，發(fā)現(xiàn)均可調(diào)回初始調(diào)制頻率。因此得出：TH382中周磁帽與磁芯發(fā)生了相對(duì)位移，導(dǎo)致LC振蕩回路的電感量發(fā)生了變化，因此諧振頻率偏移初始調(diào)制值。對(duì)其余12個(gè)進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析：帶螺紋磁帽其內(nèi)部電路是一個(gè)LC振蕩回路用調(diào)筆調(diào)節(jié)磁帽，依靠磁帽螺紋與銅殼螺紋旋轉(zhuǎn)，覆蓋磁芯線圈的深度來(lái)調(diào)節(jié)電感量依此到達(dá)調(diào)節(jié)振蕩頻率的目的。AMICD鑒頻中周TH382我司生產(chǎn)過(guò)程頻率偏移分析——封紅膠工藝公司無(wú)繩機(jī)芯調(diào)試線反響已調(diào)試好的無(wú)繩座機(jī)放置一兩天周轉(zhuǎn)到裝配線生產(chǎn)時(shí)反響出現(xiàn)發(fā)話變小和無(wú)對(duì)碼故障。五樓機(jī)芯測(cè)試調(diào)試線，調(diào)節(jié)TH382以使座機(jī)射頻接收失真度最小〔小于5％〕，且輸出音頻信號(hào)幅度最大。然后用紅膠點(diǎn)膠到TH382中固定已調(diào)試好的最正確頻率位置〔即固定磁帽位置〕。而行業(yè)標(biāo)桿公司步步高、PHILIPS采用封蠟工藝。經(jīng)比照試驗(yàn)：試用50臺(tái)點(diǎn)高溫蠟的TH382中周，經(jīng)試驗(yàn)前后數(shù)據(jù)比對(duì)一致。原因分析：紅膠的特點(diǎn)是完全固化的時(shí)間較長(zhǎng)約24小時(shí)，固化前后體積的收縮變化牽引銅殼上的磁帽與基板上磁芯的相對(duì)位移而引起振蕩頻率變化。TH382點(diǎn)紅膠固定磁帽PHILIPS和步步高均采用封蠟工藝-AMICDE〔免提咪頭套松脫〕原因分析咪頭套松脫的測(cè)試分析跌落試驗(yàn)中共有12臺(tái)話機(jī)松脫AMICD分析階段總結(jié)根本原因列表焦點(diǎn)問(wèn)題根本原因列表F中周TH382頻率偏移1鑒頻中周TH382內(nèi)附電容——TDK電容不良2鑒頻中周TH382結(jié)構(gòu)分析——磁帽與磁芯相對(duì)位移3我司生產(chǎn)調(diào)試固定工藝——點(diǎn)紅膠4供應(yīng)商過(guò)程質(zhì)量控制——溫度漂移率E咪頭套松脫1咪頭套材質(zhì)與封蠟工藝不配AMICD1、鑒頻中周TH382內(nèi)附電容－TDK電容不良高雅電容X7RJ檔±5%全部更換為針對(duì)中周TH382頻率偏移根本原因的解決方案2、鑒頻中周TH382結(jié)構(gòu)分析——磁帽與磁芯相對(duì)位移基板與銅殼之間加涂膠水加固3、我司生產(chǎn)調(diào)試固定工藝－點(diǎn)紅膠供給商改進(jìn)采用封高溫蠟工藝固定改進(jìn)工藝4、供給商過(guò)程質(zhì)量控制——溫度漂移率供給商出廠55度12小時(shí)100％老化篩選工序增加檢驗(yàn)措施AMICD試運(yùn)行及效果驗(yàn)證針對(duì)改進(jìn)后的TH382進(jìn)行試驗(yàn)，結(jié)果全部合格。AMICD針對(duì)改進(jìn)后TH382中周頻率高、低溫試驗(yàn)變化率的流程能力分析：1、低溫頻率變化率指標(biāo)流程能力Cpk2.80，改進(jìn)前為1.82，改進(jìn)效果明顯。2、高溫頻率變化率指標(biāo)流程能力Cpk1.27，與改進(jìn)前的0相比較有很大的改善。試運(yùn)行及效果驗(yàn)證AMICD試運(yùn)行及效果驗(yàn)證改進(jìn)前后TH382中周高溫環(huán)境頻率變化率〔％〕比較：改進(jìn)后全不符合規(guī)格要求±0.5％AMICD試運(yùn)行及效果驗(yàn)證針對(duì)改進(jìn)后的TH382中周進(jìn)行裝機(jī)老化實(shí)驗(yàn)7天，要求話機(jī)發(fā)話SLR變化不大于8dB。結(jié)果全部合格。AMICD試運(yùn)行及效果驗(yàn)證針對(duì)改進(jìn)后的TH382中周進(jìn)行裝機(jī)老化試驗(yàn)，流程能力分析1、改進(jìn)后的TH382進(jìn)行裝機(jī)老化流程能力分析Cpk1.3723AAMMIICCDDE〔免提咪頭套松脫〕根本原因的解決方案咪頭套材質(zhì)改變材質(zhì)原用橡膠材質(zhì)咪頭套EVA材質(zhì)咪頭套將橡膠咪頭套改用EVA材質(zhì)的咪套，在原來(lái)的根底上將咪套尺寸加大0.5mm，因EVA材質(zhì)密度不大，收縮性好，在尺寸大的情況下也能很容易的裝入，并且黃臘在液態(tài)狀態(tài)下很容易被EVA材質(zhì)的咪套吸附，在黃臘固化后相對(duì)咪套與咪槽卡得緊一些，同時(shí)可降低材料本錢。AMICD試運(yùn)行及效果驗(yàn)證E〔免提咪頭套松脫〕針對(duì)改進(jìn)后的EVA材質(zhì)咪頭套在有問(wèn)題的具體6款機(jī)型HCD89、HCD13B、HCD55、HCD37、HCD17B、HCD62上進(jìn)行跌落驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)，每款話機(jī)5臺(tái)，共測(cè)試30臺(tái)，由原來(lái)有12臺(tái)不合格，改進(jìn)后全部合格。第一批試用2000個(gè)已到，下周在此六款話機(jī)批量試用〔依生產(chǎn)方案〕AMICD改進(jìn)方案的實(shí)施方案及風(fēng)險(xiǎn)分析焦點(diǎn)問(wèn)題根本原因改進(jìn)方案實(shí)施控制方案現(xiàn)有產(chǎn)品處理風(fēng)險(xiǎn)分析負(fù)責(zé)人時(shí)間中周TH382頻率偏移鑒頻中周TH382內(nèi)附電容——TDK電容不良更換為高雅電容X7RJ檔±5%電容器絲印瓷粉顏色區(qū)別IQC來(lái)料檢查確認(rèn)公司HW成品存貨問(wèn)題話機(jī)6K已全部返工更換改進(jìn)后的TH382中周處理。庫(kù)存問(wèn)題中周已全部退回供應(yīng)商禁發(fā)TCL處理。改進(jìn)中周外觀標(biāo)記由TH382改為L(zhǎng)7。試驗(yàn)驗(yàn)證合格。但最終仍需待市場(chǎng)驗(yàn)證。中試黃志強(qiáng)PE經(jīng)理廖海昌IQC劉雪峰6月30日鑒頻中周TH382結(jié)構(gòu)分析——磁帽與磁芯相對(duì)位移基板與銅殼之間加涂膠水加固來(lái)料抽樣檢查確認(rèn)供應(yīng)商過(guò)程質(zhì)量控制——