2025年無損檢測(cè)資格證考試射線檢測(cè)案例分析試卷考試時(shí)間：______分鐘總分：______分姓名：______一、選擇題（本大題共20小題，每小題2分，共40分。在每小題列出的四個(gè)選項(xiàng)中，只有一項(xiàng)是最符合題目要求的，請(qǐng)將正確選項(xiàng)字母填在題后的括號(hào)內(nèi)。）1.射線檢測(cè)中，當(dāng)使用膠片進(jìn)行透照時(shí)，為了提高對(duì)比度，通常會(huì)在膠片上涂覆（）。A.增感屏B.增強(qiáng)劑C.感光乳劑D.顯影劑2.在射線檢測(cè)過程中，為了減少散射輻射對(duì)膠片的影響，通常會(huì)采用（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用濾波材料C.增加膠片距離D.使用鉛屏3.當(dāng)射線檢測(cè)中遇到厚壁工件時(shí)，為了提高檢測(cè)靈敏度，通常會(huì)采用（）。A.增加曝光劑量B.使用微焦點(diǎn)射線源C.使用大尺寸膠片D.使用雙膠片技術(shù)4.射線檢測(cè)中，當(dāng)需要對(duì)復(fù)雜形狀的工件進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，通常會(huì)采用（）。A.透照法B.背散射法C.反射法D.透射法5.在射線檢測(cè)過程中，為了提高檢測(cè)效率，通常會(huì)采用（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用預(yù)曝光技術(shù)C.增加膠片距離D.使用自動(dòng)曝光系統(tǒng)6.射線檢測(cè)中，當(dāng)需要對(duì)薄壁工件進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，通常會(huì)采用（）。A.增加曝光劑量B.使用微焦點(diǎn)射線源C.使用小尺寸膠片D.使用雙膠片技術(shù)7.在射線檢測(cè)過程中，為了減少偽像的產(chǎn)生，通常會(huì)采用（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用濾波材料C.增加膠片距離D.使用鉛屏8.射線檢測(cè)中，當(dāng)需要對(duì)工件進(jìn)行局部檢測(cè)時(shí)，通常會(huì)采用（）。A.透照法B.背散射法C.反射法D.透射法9.在射線檢測(cè)過程中，為了提高檢測(cè)精度，通常會(huì)采用（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用高分辨率膠片C.增加膠片距離D.使用自動(dòng)曝光系統(tǒng)10.射線檢測(cè)中，當(dāng)需要對(duì)工件進(jìn)行動(dòng)態(tài)檢測(cè)時(shí)，通常會(huì)采用（）。A.透照法B.背散射法C.反射法D.透射法11.在射線檢測(cè)過程中，為了減少輻射防護(hù)的要求，通常會(huì)采用（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用濾波材料C.增加膠片距離D.使用低劑量射線源12.射線檢測(cè)中，當(dāng)需要對(duì)工件進(jìn)行全尺寸檢測(cè)時(shí)，通常會(huì)采用（）。A.透照法B.背散射法C.反射法D.透射法13.在射線檢測(cè)過程中，為了提高檢測(cè)靈敏度，通常會(huì)采用（）。A.增加曝光劑量B.使用高分辨率膠片C.增加膠片距離D.使用自動(dòng)曝光系統(tǒng)14.射線檢測(cè)中，當(dāng)需要對(duì)工件進(jìn)行近表面缺陷檢測(cè)時(shí)，通常會(huì)采用（）。A.透照法B.背散射法C.反射法D.透射法15.在射線檢測(cè)過程中，為了減少散射輻射的影響，通常會(huì)采用（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用濾波材料C.增加膠片距離D.使用鉛屏16.射線檢測(cè)中，當(dāng)需要對(duì)工件進(jìn)行遠(yuǎn)距離檢測(cè)時(shí)，通常會(huì)采用（）。A.增加曝光劑量B.使用微焦點(diǎn)射線源C.使用大尺寸膠片D.使用雙膠片技術(shù)17.在射線檢測(cè)過程中，為了提高檢測(cè)效率，通常會(huì)采用（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用預(yù)曝光技術(shù)C.增加膠片距離D.使用自動(dòng)曝光系統(tǒng)18.射線檢測(cè)中，當(dāng)需要對(duì)工件進(jìn)行復(fù)雜形狀檢測(cè)時(shí)，通常會(huì)采用（）。A.透照法B.背散射法C.反射法D.透射法19.在射線檢測(cè)過程中，為了減少偽像的產(chǎn)生，通常會(huì)采用（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用濾波材料C.增加膠片距離D.使用鉛屏20.射線檢測(cè)中，當(dāng)需要對(duì)工件進(jìn)行局部檢測(cè)時(shí)，通常會(huì)采用（）。A.透照法B.背散射法C.反射法D.透射法二、判斷題（本大題共10小題，每小題2分，共20分。請(qǐng)判斷下列敘述的正誤，正確的請(qǐng)?zhí)睢啊獭保e(cuò)誤的請(qǐng)?zhí)睢啊痢?。?1.射線檢測(cè)中，膠片的感光乳劑層越厚，對(duì)比度越高。（）22.射線檢測(cè)中，濾波材料的主要作用是減少散射輻射。（）23.射線檢測(cè)中，透照法適用于對(duì)復(fù)雜形狀的工件進(jìn)行檢測(cè)。（）24.射線檢測(cè)中，背散射法適用于對(duì)薄壁工件進(jìn)行檢測(cè)。（）25.射線檢測(cè)中，反射法適用于對(duì)厚壁工件進(jìn)行檢測(cè)。（）26.射線檢測(cè)中，透射法適用于對(duì)薄壁工件進(jìn)行檢測(cè)。（）27.射線檢測(cè)中，預(yù)曝光技術(shù)可以提高檢測(cè)效率。（）28.射線檢測(cè)中，自動(dòng)曝光系統(tǒng)可以提高檢測(cè)精度。（）29.射線檢測(cè)中，濾波材料的主要作用是增加曝光劑量。（）30.射線檢測(cè)中，鉛屏的主要作用是減少散射輻射。（）三、簡(jiǎn)答題（本大題共5小題，每小題4分，共20分。請(qǐng)根據(jù)題目要求，簡(jiǎn)要回答問題。）31.在進(jìn)行射線檢測(cè)時(shí)，如何選擇合適的射線源？請(qǐng)簡(jiǎn)述選擇依據(jù)。32.射線檢測(cè)中，什么是散射輻射？它對(duì)檢測(cè)結(jié)果有哪些影響？33.射線檢測(cè)中，什么是偽像？請(qǐng)列舉三種常見的偽像類型。34.射線檢測(cè)中，如何提高檢測(cè)靈敏度？請(qǐng)簡(jiǎn)述至少三種方法。35.射線檢測(cè)中，如何進(jìn)行輻射防護(hù)？請(qǐng)簡(jiǎn)述個(gè)人防護(hù)措施。四、論述題（本大題共5小題，每小題8分，共40分。請(qǐng)根據(jù)題目要求，詳細(xì)論述問題。）36.請(qǐng)?jiān)敿?xì)論述射線檢測(cè)中，不同類型工件（如薄壁、厚壁）的檢測(cè)方法和注意事項(xiàng)。37.請(qǐng)?jiān)敿?xì)論述射線檢測(cè)中，如何減少散射輻射對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響。38.請(qǐng)?jiān)敿?xì)論述射線檢測(cè)中，偽像的產(chǎn)生原因及其對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響。39.請(qǐng)?jiān)敿?xì)論述射線檢測(cè)中，如何提高檢測(cè)效率和檢測(cè)精度。40.請(qǐng)?jiān)敿?xì)論述射線檢測(cè)中，輻射防護(hù)的重要性及其具體措施。本次試卷答案如下一、選擇題答案及解析1.A解析：增感屏通過二次熒光作用，可以顯著提高膠片的感光速度和靈敏度，從而在較短的曝光時(shí)間內(nèi)獲得足夠的曝光量，提高對(duì)比度。增感劑是涂在膠片表面或內(nèi)部的化學(xué)物質(zhì)，能增強(qiáng)膠片的感光能力，但與增感屏的功能不同。感光乳劑是膠片的核心層，負(fù)責(zé)記錄影像，但其本身不直接提高對(duì)比度。顯影劑是用于沖洗膠片，使已曝光的乳劑顯現(xiàn)影像的化學(xué)物質(zhì)，與提高對(duì)比度無關(guān)。2.B解析：濾波材料通過吸收或散射低能量的散射線，只允許高能量的射線通過，從而減少散射線對(duì)膠片的影響，提高圖像的對(duì)比度和清晰度。增加曝光時(shí)間會(huì)增加曝光量，但也會(huì)增加散射輻射，降低圖像質(zhì)量。增加膠片距離會(huì)減少散射輻射，但也會(huì)增加曝光時(shí)間，降低檢測(cè)效率。使用鉛屏主要用于屏蔽外部輻射，對(duì)減少散射輻射效果有限。3.B解析：微焦點(diǎn)射線源具有較小的焦點(diǎn)尺寸，可以產(chǎn)生更細(xì)的射線束，提高分辨率和檢測(cè)靈敏度，特別適用于厚壁工件的檢測(cè)。增加曝光劑量可以提高圖像的對(duì)比度，但也會(huì)增加散射輻射，降低圖像質(zhì)量。使用大尺寸膠片可以增加檢測(cè)區(qū)域，但分辨率和靈敏度不會(huì)提高。使用雙膠片技術(shù)主要用于提高檢測(cè)效率，但對(duì)厚壁工件的靈敏度提升有限。4.A解析：透照法適用于對(duì)復(fù)雜形狀的工件進(jìn)行檢測(cè)，通過射線穿透工件，記錄內(nèi)部缺陷信息。背散射法適用于對(duì)薄壁工件進(jìn)行檢測(cè)，利用射線背向散射原理，但受工件厚度和材質(zhì)限制。反射法主要用于表面檢測(cè)，不適用于復(fù)雜形狀的內(nèi)部缺陷檢測(cè)。透射法主要用于均勻材質(zhì)的薄壁工件檢測(cè)。5.B解析：預(yù)曝光技術(shù)通過在正式曝光前進(jìn)行一次短時(shí)間的曝光，可以提高膠片的感光均勻性，減少偽像的產(chǎn)生，從而提高檢測(cè)效率。增加曝光時(shí)間會(huì)增加散射輻射，降低圖像質(zhì)量。增加膠片距離會(huì)減少散射輻射，但也會(huì)增加曝光時(shí)間，降低檢測(cè)效率。使用自動(dòng)曝光系統(tǒng)可以提高檢測(cè)精度，但并不直接提高檢測(cè)效率。6.C解析：使用小尺寸膠片可以減少散射輻射的影響，提高圖像的對(duì)比度和清晰度，特別適用于薄壁工件的檢測(cè)。增加曝光劑量可以提高圖像的對(duì)比度，但也會(huì)增加散射輻射，降低圖像質(zhì)量。使用微焦點(diǎn)射線源可以提高分辨率，但對(duì)薄壁工件的檢測(cè)并不必要。使用雙膠片技術(shù)主要用于提高檢測(cè)效率，但對(duì)薄壁工件的靈敏度提升有限。7.B解析：使用濾波材料可以吸收或散射低能量的散射線，減少偽像的產(chǎn)生，提高圖像的清晰度和對(duì)比度。增加曝光時(shí)間會(huì)增加散射輻射，產(chǎn)生更多偽像。增加膠片距離會(huì)減少散射輻射，但也會(huì)增加曝光時(shí)間，降低檢測(cè)效率。使用鉛屏主要用于屏蔽外部輻射，對(duì)減少偽像效果有限。8.A解析：透照法適用于對(duì)工件進(jìn)行局部檢測(cè)，通過射線穿透工件，記錄內(nèi)部缺陷信息。背散射法適用于對(duì)薄壁工件進(jìn)行檢測(cè)，利用射線背向散射原理，但受工件厚度和材質(zhì)限制。反射法主要用于表面檢測(cè)，不適用于內(nèi)部缺陷檢測(cè)。透射法主要用于均勻材質(zhì)的薄壁工件檢測(cè)。9.B解析：使用高分辨率膠片可以記錄更細(xì)微的缺陷信息，提高檢測(cè)精度。增加曝光時(shí)間會(huì)增加散射輻射，降低圖像質(zhì)量。增加膠片距離會(huì)減少散射輻射，但也會(huì)增加曝光時(shí)間，降低檢測(cè)效率。使用自動(dòng)曝光系統(tǒng)可以提高檢測(cè)精度，但并不直接提高檢測(cè)精度。10.A解析：透照法適用于對(duì)工件進(jìn)行動(dòng)態(tài)檢測(cè)，通過射線穿透工件，記錄內(nèi)部缺陷信息，特別適用于運(yùn)動(dòng)部件的檢測(cè)。背散射法適用于對(duì)薄壁工件進(jìn)行檢測(cè)，利用射線背向散射原理，但受工件厚度和材質(zhì)限制。反射法主要用于表面檢測(cè)，不適用于內(nèi)部缺陷檢測(cè)。透射法主要用于均勻材質(zhì)的薄壁工件檢測(cè)。11.B解析：使用濾波材料可以吸收或散射低能量的散射線，減少輻射防護(hù)的要求，提高檢測(cè)效率。增加曝光時(shí)間會(huì)增加輻射劑量，提高輻射防護(hù)的要求。增加膠片距離會(huì)減少輻射劑量，但也會(huì)增加曝光時(shí)間，降低檢測(cè)效率。使用低劑量射線源可以減少輻射劑量，但并不直接減少輻射防護(hù)的要求。12.A解析：透照法適用于對(duì)工件進(jìn)行全尺寸檢測(cè)，通過射線穿透工件，記錄內(nèi)部缺陷信息，特別適用于復(fù)雜形狀的工件。背散射法適用于對(duì)薄壁工件進(jìn)行檢測(cè)，利用射線背向散射原理，但受工件厚度和材質(zhì)限制。反射法主要用于表面檢測(cè)，不適用于內(nèi)部缺陷檢測(cè)。透射法主要用于均勻材質(zhì)的薄壁工件檢測(cè)。13.B解析：使用高分辨率膠片可以提高檢測(cè)靈敏度，記錄更細(xì)微的缺陷信息。增加曝光劑量可以提高圖像的對(duì)比度，但也會(huì)增加散射輻射，降低圖像質(zhì)量。增加膠片距離會(huì)減少散射輻射，但也會(huì)增加曝光時(shí)間，降低檢測(cè)效率。使用自動(dòng)曝光系統(tǒng)可以提高檢測(cè)精度，但并不直接提高檢測(cè)靈敏度。14.B解析：背散射法適用于對(duì)工件進(jìn)行近表面缺陷檢測(cè)，利用射線背向散射原理，可以檢測(cè)到工件表面的微小缺陷。透照法適用于對(duì)復(fù)雜形狀的工件進(jìn)行檢測(cè)，但難以檢測(cè)近表面缺陷。反射法主要用于表面檢測(cè)，不適用于內(nèi)部缺陷檢測(cè)。透射法主要用于均勻材質(zhì)的薄壁工件檢測(cè)。15.B解析：使用濾波材料可以吸收或散射低能量的散射線，減少散射輻射的影響，提高圖像的對(duì)比度和清晰度。增加曝光時(shí)間會(huì)增加散射輻射，降低圖像質(zhì)量。增加膠片距離會(huì)減少散射輻射，但也會(huì)增加曝光時(shí)間，降低檢測(cè)效率。使用鉛屏主要用于屏蔽外部輻射，對(duì)減少散射輻射效果有限。16.B解析：使用微焦點(diǎn)射線源可以產(chǎn)生更細(xì)的射線束，提高分辨率和檢測(cè)靈敏度，特別適用于遠(yuǎn)距離檢測(cè)。增加曝光劑量可以提高圖像的對(duì)比度，但也會(huì)增加散射輻射，降低圖像質(zhì)量。使用大尺寸膠片可以增加檢測(cè)區(qū)域，但分辨率和靈敏度不會(huì)提高。使用雙膠片技術(shù)主要用于提高檢測(cè)效率，但對(duì)遠(yuǎn)距離檢測(cè)的靈敏度提升有限。17.B解析：預(yù)曝光技術(shù)通過在正式曝光前進(jìn)行一次短時(shí)間的曝光，可以提高膠片的感光均勻性，減少偽像的產(chǎn)生，從而提高檢測(cè)效率。增加曝光時(shí)間會(huì)增加散射輻射，降低圖像質(zhì)量。增加膠片距離會(huì)減少散射輻射，但也會(huì)增加曝光時(shí)間，降低檢測(cè)效率。使用自動(dòng)曝光系統(tǒng)可以提高檢測(cè)精度，但并不直接提高檢測(cè)效率。18.A解析：透照法適用于對(duì)復(fù)雜形狀的工件進(jìn)行檢測(cè)，通過射線穿透工件，記錄內(nèi)部缺陷信息。背散射法適用于對(duì)薄壁工件進(jìn)行檢測(cè)，利用射線背向散射原理，但受工件厚度和材質(zhì)限制。反射法主要用于表面檢測(cè)，不適用于內(nèi)部缺陷檢測(cè)。透射法主要用于均勻材質(zhì)的薄壁工件檢測(cè)。19.B解析：使用濾波材料可以吸收或散射低能量的散射線，減少偽像的產(chǎn)生，提高圖像的清晰度和對(duì)比度。增加曝光時(shí)間會(huì)增加散射輻射，產(chǎn)生更多偽像。增加膠片距離會(huì)減少散射輻射，但也會(huì)增加曝光時(shí)間，降低檢測(cè)效率。使用鉛屏主要用于屏蔽外部輻射，對(duì)減少偽像效果有限。20.A解析：透照法適用于對(duì)工件進(jìn)行局部檢測(cè)，通過射線穿透工件，記錄內(nèi)部缺陷信息。背散射法適用于對(duì)薄壁工件進(jìn)行檢測(cè)，利用射線背向散射原理，但受工件厚度和材質(zhì)限制。反射法主要用于表面檢測(cè)，不適用于內(nèi)部缺陷檢測(cè)。透射法主要用于均勻材質(zhì)的薄壁工件檢測(cè)。二、判斷題答案及解析21.×解析：膠片的感光乳劑層越厚，感光速度越快，但對(duì)比度會(huì)降低，圖像會(huì)變得模糊。增厚乳劑層可以提高感光速度，但會(huì)犧牲圖像的清晰度和對(duì)比度。22.√解析：濾波材料通過吸收或散射低能量的散射線，只允許高能量的射線通過，從而減少散射線對(duì)膠片的影響，提高圖像的對(duì)比度和清晰度。23.×解析：透照法適用于對(duì)復(fù)雜形狀的工件進(jìn)行檢測(cè)，但受工件厚度和材質(zhì)限制，檢測(cè)效率較低。背散射法更適合復(fù)雜形狀的工件檢測(cè)，但受工件厚度和材質(zhì)限制。24.×解析：背散射法適用于對(duì)薄壁工件進(jìn)行檢測(cè)，利用射線背向散射原理，但受工件厚度和材質(zhì)限制，檢測(cè)效率較低。透照法更適合薄壁工件檢測(cè)，但受工件厚度和材質(zhì)限制。25.×解析：反射法主要用于表面檢測(cè)，不適用于厚壁工件的檢測(cè)。透照法更適合厚壁工件的檢測(cè)，但受工件厚度和材質(zhì)限制。26.√解析：透射法適用于對(duì)薄壁工件進(jìn)行檢測(cè)，通過射線穿透工件，記錄內(nèi)部缺陷信息，特別適用于薄壁工件的檢測(cè)。27.√解析：預(yù)曝光技術(shù)通過在正式曝光前進(jìn)行一次短時(shí)間的曝光，可以提高膠片的感光均勻性，減少偽像的產(chǎn)生，從而提高檢測(cè)效率。28.√解析：自動(dòng)曝光系統(tǒng)可以根據(jù)工件的厚度和材質(zhì)自動(dòng)調(diào)整曝光參數(shù)，提高檢測(cè)精度和效率。但自動(dòng)曝光系統(tǒng)并不能完全替代人工操作，仍需人工監(jiān)控。29.×解析：濾波材料的主要作用是減少散射輻射，提高圖像的對(duì)比度和清晰度，而不是增加曝光劑量。增加曝光劑量會(huì)增加散射輻射，降低圖像質(zhì)量。30.√解析：鉛屏主要用于屏蔽外部輻射，減少工作人員的輻射暴露。鉛屏可以有效阻擋散射線和外部輻射，提高檢測(cè)的安全性。三、簡(jiǎn)答題答案及解析31.選擇合適的射線源需要考慮工件的厚度、材質(zhì)、缺陷類型和檢測(cè)靈敏度等因素。對(duì)于厚壁工件，通常選擇高能量的射線源，如X射線發(fā)生器或高能射線源，以提高穿透能力和檢測(cè)靈敏度。對(duì)于薄壁工件，可以選擇低能量的射線源，如Co-60或Cs-137射線源，以提高檢測(cè)效率和降低輻射劑量。此外，還需要考慮射線源的輸出穩(wěn)定性和可靠性，以及設(shè)備的成本和維護(hù)費(fèi)用。32.散射輻射是指射線在穿過工件時(shí)，由于與工件內(nèi)部的原子相互作用而產(chǎn)生的偏離原始方向射線的輻射。散射輻射會(huì)對(duì)檢測(cè)結(jié)果產(chǎn)生以下影響：降低圖像的對(duì)比度，使缺陷難以識(shí)別；增加偽像的產(chǎn)生，干擾缺陷的判斷；增加輻射劑量，提高工作人員的輻射暴露風(fēng)險(xiǎn)。為了減少散射輻射的影響，可以采用濾波材料、增加膠片距離、使用高分辨率膠片等方法。33.偽像是由于檢測(cè)設(shè)備、工件或操作不當(dāng)而產(chǎn)生的與實(shí)際缺陷無關(guān)的圖像特征，會(huì)影響缺陷的判斷。常見的偽像類型包括：邊緣偽像，由于射線源和膠片的幾何關(guān)系而產(chǎn)生的邊緣模糊；散射偽像，由于散射輻射的影響而產(chǎn)生的圖像模糊；密度偽像，由于工件內(nèi)部密度不均勻而產(chǎn)生的圖像失真；操作偽像，由于操作不當(dāng)而產(chǎn)生的圖像缺陷。為了減少偽像的產(chǎn)生，可以采用濾波材料、高分辨率膠片、正確的操作方法等方法。34.提高檢測(cè)靈敏度的方法包括：使用高分辨率膠片，可以記錄更細(xì)微的缺陷信息；使用濾波材料，可以減少散射輻射，提高圖像的對(duì)比度；使用微焦點(diǎn)射線源，可以產(chǎn)生更細(xì)的射線束，提高檢測(cè)靈敏度；使用預(yù)曝光技術(shù)，可以提高膠片的感光均勻性，減少偽像的產(chǎn)生；使用自動(dòng)曝光系統(tǒng)，可以根據(jù)工件的厚度和材質(zhì)自動(dòng)調(diào)整曝光參數(shù)，提高檢測(cè)靈敏度。35.輻射防護(hù)是指采取措施減少工作人員的輻射暴露，包括時(shí)間防護(hù)、距離防護(hù)和屏蔽防護(hù)。個(gè)人防護(hù)措施包括：佩戴鉛衣、鉛圍脖、鉛眼鏡等防護(hù)用品；使用鉛屏或鉛板進(jìn)行屏蔽；減少在輻射源附近的停留時(shí)間；定期進(jìn)行輻射劑量監(jiān)測(cè)；接受輻射防護(hù)培訓(xùn)，提高輻射防護(hù)意識(shí)。四、論述題答案及解析36.對(duì)于不同類型的工件，檢測(cè)方法和注意事項(xiàng)有所不同。對(duì)于薄壁工件，通常選擇低能量的射線源，如Co-60或Cs-137射線源，以提高檢測(cè)效率和降低輻射劑量。檢測(cè)時(shí)需要注意工件的固定和定位，以減少偽像的產(chǎn)生。對(duì)于厚壁工件，通常選擇高能量的射線源，如X射線發(fā)生器或高能射線源，以提高穿透能力和檢測(cè)靈敏度。檢測(cè)時(shí)需要注意濾波材料的選擇和輻射防護(hù)，以減少散射輻射和輻射劑量。37.減少散射輻射對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響的方法包括：使用濾波材料，濾波材料可以吸收或散射低能量的散射線，只允許高能量的射線通過，從而減少散射線對(duì)膠片的影響，提高圖像的對(duì)比度和清晰度；增加膠片距離，增加膠片距離可以減少散射輻射的影響，提高圖像的對(duì)比度；使用高分辨率膠片，高分辨率膠片可以記錄更細(xì)微的缺陷