T-CI 973-2025 鈣鈦礦光伏器件測試用穩(wěn)態(tài)太陽模擬器技術(shù)規(guī)范_第1頁
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文檔簡介

TTechnicalspecificationforsteady-statesimulatorfortestingperovskitephotI 2 2 2 3 3 5 本文件按照GB/T1.1—2020《標準化工作導(dǎo)則第1部分:標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔識別專利的責任。州)有限公司、北京普瑞姆賽斯科技有限公司、江蘇東方航天校準檢測有限公司、德雷射科(廊坊)科技值(SPD)和光譜覆蓋率(SPC)等參數(shù),以適配新型技術(shù)指標1鈣鈦礦光伏器件測試用穩(wěn)態(tài)太陽模擬器技術(shù)規(guī)范本文件規(guī)定了鈣鈦礦光伏器件測試用穩(wěn)態(tài)太陽模擬器的技術(shù)要求和檢本文件適用于鈣鈦礦光伏器件的I-V特性的穩(wěn)態(tài)太陽模擬器的制造與檢測,穩(wěn)態(tài)太陽模擬器檢測范器分級,能作為光伏器件I-V特性檢測報告所列太陽模擬器分級以及量化太陽模擬器對檢測結(jié)果影響的GB/T6495.3光伏器件第3部分:地面用光伏器件的測量原理及標準光譜輻照度數(shù)據(jù)測試用穩(wěn)態(tài)太陽模擬器steady-statesolarsimula數(shù)據(jù)采集時間dataacquisiti24穩(wěn)態(tài)太陽模擬器的技術(shù)要求4.1穩(wěn)態(tài)太陽模擬器外表面應(yīng)無機械性損傷和銹蝕。4.3穩(wěn)態(tài)太陽模擬器標識牌應(yīng)有制造商名稱、型號、適用范圍、制造日期、可追溯的序列號、輻照度4.5穩(wěn)態(tài)太陽模擬器應(yīng)根據(jù)其光譜匹配度、輻照度不均勻度、輻照度時間不穩(wěn)定度的測量結(jié)果,按照注1:限定波長范圍(400nm~1100nm對應(yīng)的參考輻照度見表A注2:擴展波長范圍(300nm~1200nm對應(yīng)的參考輻照度見表A11A22B55C4.6穩(wěn)態(tài)太陽模擬器應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品合同,可設(shè)定或調(diào)校測試平面的輻照度,并且在當前輻照度下測量光譜匹配度、輻照度不均勻度和輻照度時間不穩(wěn)定度,確定模擬器的級5.1檢測條件3溫度變化范圍為25℃±2℃,相對濕度不大于75%RH。應(yīng)無影響模擬器測量工作輻照度和光譜匹配度的雜散光、電磁場和機械5.2檢測用的標準測量設(shè)備和其他設(shè)備5.2.1.2傳感器光譜響應(yīng)和響應(yīng)時間應(yīng)適應(yīng)太陽模擬器光譜范圍,光譜輻射計的光譜采樣間隔不大于5.2.2輻照度檢測器或輻照度檢測器組5.2.2.1可以采用晶體硅太陽能電池或硅探測器作為輻照度檢測器,或采用多個輻照度檢測器組成輻5.2.2.3輻照度檢測器的有效面積應(yīng)大于或等于測試點5.3檢測項目和方法5.3.4產(chǎn)品檢驗合格證和檢驗數(shù)據(jù)表檢查檢查產(chǎn)品檢驗合格證和檢驗數(shù)據(jù)表是否包含A.1中所要求的5.3.5檢查穩(wěn)態(tài)太陽模擬器的使用環(huán)境條件45.3.7.1將光譜輻射計傳感器垂直置于測試區(qū)域中間,測量模擬器在優(yōu)先波段范圍400nm~1100nm5.3.7.2計算各個波長范圍的光譜輻5.3.8.1將穩(wěn)態(tài)太陽模擬器的測試區(qū)域均勻劃分成若干個測試位置,用于測量太陽能電池組件的太陽模擬器應(yīng)不少于64個測試點,各個測試點的測試面積5.3.8.2用輻照度檢測器或輻照度檢測器組在每個測試點測量輻照度,產(chǎn)生與輻照度成正比的短路電),5.3.9.1安裝輻照度檢測器5.3.9.2穩(wěn)態(tài)太陽模擬器輻照度的長期不穩(wěn)定度的檢測驗規(guī)定的曝曬時間、輻照度及其不穩(wěn)定度的要求,在指定時間內(nèi),測量輻照度轉(zhuǎn)換的等效電壓信號V,5.3.9.3輻照度時間不穩(wěn)定度級別的判別將計算的輻照度長期不穩(wěn)定度與表1中長期不穩(wěn)定度分級規(guī)范確定穩(wěn)態(tài)太陽模擬器輻照度長期不穩(wěn)定度的級別,并且以級別較低者確定太陽模擬器輻照度時間5A.1穩(wěn)態(tài)太陽模擬器產(chǎn)品檢驗數(shù)據(jù)表應(yīng)列出(但不局限于)的條款。h)輻照度不均勻度級別和額測試平面的輻照度不均勻度中規(guī)定的標準高光譜輻照度。光譜匹配無法檢測這些偏差,SPD參數(shù)代表兩條曲線之間的總偏差,這表k)AM1.5光譜覆蓋率(SPC):光譜覆蓋率參數(shù)可確定太陽模擬器光譜輻照度大于GB/T6495.3中規(guī)定的AM1.5標準光譜輻照度10%的波長范圍。對于滿足這一條件的所有數(shù)據(jù)點,將響應(yīng)的AM1.5標準光譜輻照度進行積分。SPC是所得值與300nm至1200nm內(nèi)AM1.5太陽總輻照度的比值,計SPC=(∑ESIM(λ)>0.1?EAM1.5(λ)EAM1.5(λ)·?λ/∑EAM1.5(λ)·?λ·o)對于分級有影響的操作或運行環(huán)境等因素(電源電能質(zhì)量、裝置

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