2025年探傷練習(xí)卷附答案一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共30分）1.超聲波探傷中，當(dāng)探頭晶片尺寸為12mm×12mm，頻率為5MHz，鋼中縱波聲速為5960m/s時(shí)，其近場長度約為（）。A.15mmB.20mmC.25mmD.30mm2.磁粉探傷中，采用交流電進(jìn)行周向磁化時(shí)，有效檢測深度通常不超過（）。A.1mmB.3mmC.5mmD.10mm3.滲透探傷中，顯像劑的主要作用是（）。A.增強(qiáng)滲透劑的滲透能力B.吸附缺陷中的滲透劑并顯色C.清洗表面多余滲透劑D.提高工件表面對比度4.射線探傷中，使用Ir-192源對厚度25mm的鋼焊縫進(jìn)行透照，若焦距為600mm，曝光時(shí)間為15min，當(dāng)焦距調(diào)整為900mm時(shí)，保持其他條件不變，所需曝光時(shí)間約為（）。A.22.5minB.33.75minC.45minD.67.5min5.超聲波探傷中，檢測奧氏體不銹鋼焊縫時(shí)，優(yōu)先選用的探頭類型是（）。A.縱波直探頭B.橫波斜探頭（K1）C.雙晶直探頭D.聚焦探頭6.磁粉探傷中，對于表面有漆層的工件，若漆層厚度不超過（），可直接進(jìn)行磁化檢測。A.0.05mmB.0.1mmC.0.2mmD.0.5mm7.滲透探傷中，若采用后乳化型熒光滲透劑，乳化時(shí)間過長會導(dǎo)致（）。A.缺陷顯示不清晰B.滲透劑被過度清洗C.顯像劑無法吸附D.表面殘留熒光物質(zhì)8.射線探傷中，像質(zhì)計(jì)的放置位置應(yīng)（）。A.靠近射線源一側(cè)的工件表面B.靠近膠片一側(cè)的工件表面C.焊縫中心位置D.工件任意表面9.超聲波探傷中，檢測板材分層缺陷時(shí)，最佳檢測方向是（）。A.垂直于板材表面B.與板材表面成45°角C.平行于板材表面D.任意方向10.磁粉探傷中，檢測環(huán)形工件的周向缺陷時(shí)，應(yīng)采用（）磁化方法。A.軸向通電法B.中心導(dǎo)體法C.觸頭法D.線圈法11.滲透探傷中，預(yù)清洗的主要目的是（）。A.去除表面油污和氧化皮B.提高表面粗糙度C.增加滲透劑的潤濕能力D.減少顯像時(shí)間12.射線探傷中，散射線的主要來源是（）。A.工件內(nèi)部缺陷B.射線源本身C.工件周圍物體D.膠片本身13.超聲波探傷中，當(dāng)缺陷反射波高超過定量線但低于判廢線時(shí)，應(yīng)（）。A.直接判廢B.記錄缺陷并評估C.忽略不計(jì)D.重新校準(zhǔn)儀器14.磁粉探傷中，干法磁粉的最佳施加方式是（）。A.噴霧法B.刷涂法C.撒粉法D.流淌法15.滲透探傷中，檢測鋁合金工件時(shí)，禁用的清洗溶劑是（）。A.酒精B.丙酮C.煤油D.含氯溶劑二、判斷題（每題1分，共10分。正確打“√”，錯(cuò)誤打“×”）1.超聲波探傷中，近場區(qū)缺陷定位誤差較大，因此檢測時(shí)應(yīng)盡量避開近場區(qū)。（）2.磁粉探傷中，剩磁法適用于剩磁和矯頑力較大的材料。（）3.滲透探傷中，熒光滲透劑的靈敏度高于著色滲透劑。（）4.射線探傷中，膠片的感光度越高，所需曝光時(shí)間越短，但對比度會降低。（）5.超聲波探傷中，橫波只能在固體中傳播，縱波可在固體、液體、氣體中傳播。（）6.磁粉探傷中，交流電的趨膚效應(yīng)會導(dǎo)致深層缺陷檢測能力下降。（）7.滲透探傷中，乳化劑的作用是使?jié)B透劑與水混合，便于清洗。（）8.射線探傷中，增感屏的主要作用是減少散射線對膠片的影響。（）9.超聲波探傷中，缺陷波高與缺陷面積成正比，與距離成反比。（）10.磁粉探傷中，檢測焊縫時(shí)，磁化方向應(yīng)與焊縫方向平行，以檢測橫向缺陷。（）三、簡答題（每題6分，共30分）1.簡述超聲波探傷中“距離-波幅曲線（DAC曲線）”的制作方法及作用。2.磁粉探傷中，如何選擇磁化電流的類型（交流電、直流電、整流電）？3.滲透探傷的基本步驟有哪些？各步驟的關(guān)鍵控制參數(shù)是什么？4.射線探傷中，影響底片對比度的主要因素有哪些？5.超聲波探傷檢測鋼板時(shí)，如何區(qū)分缺陷波與偽缺陷波（如表面波、遲到波）？四、案例分析題（30分）某石化企業(yè)一臺新制反應(yīng)塔（材質(zhì)Q345R，壁厚20mm）的環(huán)焊縫需進(jìn)行超聲波探傷檢測。檢測條件如下：探頭為5P13×13K2（頻率5MHz，晶片尺寸13mm×13mm，K值2），耦合劑為甘油，檢測面為焊縫兩側(cè)母材，掃查方式為鋸齒形掃查，檢測標(biāo)準(zhǔn)為JB/T4730-2015。檢測過程中，在焊縫中心位置（距探測面10mm）發(fā)現(xiàn)一個(gè)缺陷，其反射波高為定量線（SL）+12dB，水平距離（沿焊縫方向）為15mm，深度為12mm（從探測面算起）。問題：1.計(jì)算該缺陷的垂直距離（從焊縫表面到缺陷的距離）和水平距離（垂直于焊縫方向）。2.根據(jù)JB/T4730-2015標(biāo)準(zhǔn)，判斷該缺陷的等級（已知：壁厚20mm時(shí)，判廢線為SL+16dB，定量線為SL+4dB，評定線為SL-2dB；單個(gè)缺陷指示長度≤10mm時(shí)為Ⅰ級，≤15mm時(shí)為Ⅱ級，≤20mm時(shí)為Ⅲ級，＞20mm時(shí)為Ⅳ級）。3.分析該缺陷可能的類型及產(chǎn)生原因，并提出處理建議。答案一、單項(xiàng)選擇題1.C（近場長度公式：N=D2f/(4c)，D=12mm=0.012m，f=5MHz=5×10?Hz，c=5960m/s，代入得N≈(0.0122×5×10?)/(4×5960)≈25mm）2.B（交流電的趨膚效應(yīng)導(dǎo)致有效檢測深度約為1-3mm）3.B（顯像劑通過吸附缺陷中的滲透劑，將微小缺陷放大顯示）4.B（根據(jù)平方反比定律，曝光時(shí)間與焦距平方成正比，(900/600)2×15=33.75min）5.D（奧氏體不銹鋼晶粒粗大，普通探頭信號衰減嚴(yán)重，聚焦探頭可提高信噪比）6.B（漆層厚度≤0.1mm時(shí)，磁粉可穿透漆層吸附在缺陷處）7.A（乳化時(shí)間過長會導(dǎo)致缺陷內(nèi)滲透劑被乳化清洗，顯示變?nèi)酰?.A（像質(zhì)計(jì)應(yīng)靠近射線源側(cè)，以反映最嚴(yán)格的透照靈敏度）9.A（分層缺陷平行于板材表面，垂直入射時(shí)回波最強(qiáng)）10.B（中心導(dǎo)體法可在環(huán)形工件內(nèi)產(chǎn)生周向磁場，檢測周向缺陷）11.A（預(yù)清洗去除表面污染物，避免干擾滲透劑進(jìn)入缺陷）12.C（散射線主要由工件和周圍物體對原射線的散射產(chǎn)生）13.B（超過定量線需記錄，低于判廢線可評估是否允許存在）14.C（干法磁粉通過撒粉法均勻覆蓋工件表面）15.D（含氯溶劑可能導(dǎo)致鋁合金應(yīng)力腐蝕）二、判斷題1.√（近場區(qū)聲壓分布不均，定位誤差大）2.√（剩磁法依賴材料剩磁，需材料矯頑力足夠大）3.√（熒光滲透劑在暗室中用黑光燈觀察，靈敏度更高）4.√（感光度高的膠片銀鹽顆粒粗，對比度降低）5.√（橫波需剪切應(yīng)力，僅固體能傳播；縱波通過壓縮傳播，可在三態(tài)傳播）6.√（交流電集中在表面，深層磁場弱）7.√（乳化劑使油基滲透劑與水結(jié)合，便于水清洗）8.×（增感屏主要作用是吸收射線并發(fā)射電子或光子，提高膠片感光效率）9.×（缺陷波高與缺陷面積、距離、形狀等多因素相關(guān)，非簡單正比）10.×（磁化方向應(yīng)與缺陷方向垂直，檢測橫向缺陷需磁化方向平行于焊縫）三、簡答題1.制作方法：①在對比試塊上選取不同距離的人工反射體（如φ3×40橫孔）；②分別測其反射波高并記錄；③以距離為橫坐標(biāo)、波幅為縱坐標(biāo)繪制曲線，通常包括評定線、定量線、判廢線。作用：用于缺陷的定量、定性和等級評定，確定缺陷是否超過驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。2.選擇依據(jù)：①交流電：適用于表面及近表面缺陷檢測（趨膚效應(yīng)），退磁方便；②直流電/整流電：磁場滲透深，適用于檢測深層缺陷（如厚工件），但退磁較困難；③三相全波整流電：兼具交流電的易退磁性和直流電的深穿透性，應(yīng)用廣泛。3.基本步驟及控制參數(shù)：①預(yù)清洗：去除油污、氧化皮，控制清洗時(shí)間（5-10min），確保表面無殘留；②滲透：滲透劑施加均勻，滲透時(shí)間≥10min（鋁合金≥15min），溫度15-50℃；③清洗：去除表面多余滲透劑（后乳化型需控制乳化時(shí)間2-5min）；④干燥：熱風(fēng)干燥溫度≤50℃，時(shí)間5-10min；⑤顯像：顯像劑薄而均勻，顯像時(shí)間10-30min；⑥觀察：熒光法在暗室（照度≤20lx）用黑光燈（波長320-400nm，輻照度≥1000μW/cm2），著色法在白光（照度≥1000lx）下觀察。4.影響因素：①射線能量（管電壓）：能量越低，對比度越高；②膠片類型：高對比度膠片（如T3）優(yōu)于低對比度膠片；③增感屏：金屬增感屏比熒光增感屏對比度高；④工件厚度差：厚度變化大，對比度降低；⑤散射線：散射線越多，對比度越低（可用鉛屏蔽或?yàn)V板減少）。5.區(qū)分方法：①表面波：波幅低，位置靠近始波（距離≤2mm），移動(dòng)探頭時(shí)波幅變化大；②遲到波：在底面回波后出現(xiàn)，固定探頭時(shí)波幅穩(wěn)定，移動(dòng)探頭時(shí)位置不變（由聲束擴(kuò)散引起）；③缺陷波：位置與工件厚度相關(guān)，移動(dòng)探頭時(shí)波幅變化明顯，且有一定延伸長度。四、案例分析題1.垂直距離計(jì)算：焊縫壁厚20mm，缺陷深度為12mm（從探測面算起），則垂直距離=20mm-12mm=8mm（從焊縫背面到缺陷的距離）。水平距離（垂直于焊縫方向）=深度×(K值)=12mm×2=24mm（K值=tanβ，β為折射角，水平距離=深度×tanβ）。2.缺陷等級判斷：缺陷波高為SL+12dB，高于定量線（SL+4dB）且低于判廢線（SL+16dB），需評定指示長