《2025年無(wú)損檢測(cè)員(中級(jí))無(wú)損檢測(cè)員職業(yè)資格考試練習(xí)題試卷及答案》一、單項(xiàng)選擇題（每題1分，共30分。每題只有一個(gè)正確答案，請(qǐng)將正確選項(xiàng)的字母填入括號(hào)內(nèi)）1.在射線照相檢測(cè)中，決定膠片對(duì)比度的主要因素是（）A.射線能量B.膠片類型C.曝光時(shí)間D.顯影溫度答案：B2.超聲縱波垂直入射到鋼/水界面時(shí)，聲壓反射率為（）A.?0.94B.?0.50C.0D.+0.94答案：A3.磁粉檢測(cè)中，下列哪種電流最適合檢測(cè)表面開(kāi)口裂紋（）A.三相全波整流電B.單相半波整流電C.交流電D.直流電答案：C4.滲透檢測(cè)時(shí)，若乳化時(shí)間過(guò)長(zhǎng)，最可能導(dǎo)致（）A.背景過(guò)亮B.缺陷漏檢C.虛假顯示D.水洗困難答案：A5.在TOFD技術(shù)中，"側(cè)向波"到達(dá)時(shí)間主要取決于（）A.缺陷高度B.探頭中心距C.楔塊角度D.材料聲速答案：B6.對(duì)同一焊縫分別采用Ir192和Se75射線源，若曝光系數(shù)相同，則底片黑度（）A.Ir192更高B.Se75更高C.兩者相同D.無(wú)法確定答案：C7.超聲斜探頭K值為2，檢測(cè)聲程100mm的焊縫，則一次波聲程為（）A.100mmB.111mmC.141mmD.200mm答案：C8.磁懸液中磁粉濃度超標(biāo)時(shí)，會(huì)出現(xiàn)（）A.磁痕模糊B.背景熒光過(guò)強(qiáng)C.磁粉團(tuán)聚D.以上全部答案：D9.在CR（計(jì)算機(jī)射線照相）系統(tǒng)中，PSL的含義是（）A.像素存儲(chǔ)單元B.光激勵(lì)發(fā)光C.相位掃描長(zhǎng)度D.灰階線性度答案：B10.下列哪項(xiàng)不是相控陣超聲的優(yōu)點(diǎn)（）A.電子掃查無(wú)需移動(dòng)探頭B.可動(dòng)態(tài)聚焦C.可實(shí)時(shí)成像C.對(duì)粗晶材料信噪比高于TOFD答案：D11.滲透檢測(cè)時(shí)，顯像劑層過(guò)厚會(huì)導(dǎo)致（）A.吸出作用增強(qiáng)B.背景顏色加深C.缺陷顯示變寬D.熒光亮度提高答案：C12.當(dāng)射線底片黑度為2.5時(shí)，對(duì)應(yīng)透光率約為（）A.0.1%B.0.3%C.1%D.3%答案：B13.超聲檢測(cè)中，"遲到波"通常出現(xiàn)在（）A.薄板B.大鍛件C.復(fù)合材料D.焊縫根部答案：B14.磁粉檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試片A130/100中，數(shù)字30表示（）A.槽深30μmB.槽寬30μmC.板厚30μmD.磁場(chǎng)強(qiáng)度30A/m答案：A15.在DR（數(shù)字射線）系統(tǒng)中，DQE的物理意義是（）A.空間分辨率B.量子探測(cè)效率C.動(dòng)態(tài)范圍D.對(duì)比度靈敏度答案：B16.滲透檢測(cè)時(shí)，若工件表面酸洗不足，最可能出現(xiàn)（）A.虛假顯示B.背景過(guò)亮C.缺陷漏檢D.乳化困難答案：C17.超聲檢測(cè)中，采用二次波法測(cè)得缺陷聲程120mm，探頭K=1，則缺陷水平距離為（）A.60mmB.85mmC.120mmD.170mm答案：B18.射線照相中，幾何不清晰度Ug與焦點(diǎn)尺寸d的關(guān)系為（）A.Ug∝d2B.Ug∝1/dC.Ug∝dD.Ug與d無(wú)關(guān)答案：C19.磁粉檢測(cè)時(shí)，周向磁化電流計(jì)算經(jīng)驗(yàn)公式為（）A.I=20DB.I=30DC.I=45DD.I=60D答案：B20.在TOFD掃查中，若底面反射信號(hào)消失，可能原因是（）A.缺陷高度過(guò)大B.探頭磨損C.耦合不良D.以上全部答案：D21.滲透檢測(cè)用黑光燈波長(zhǎng)范圍應(yīng)為（）A.320~400nmB.400~500nmC.500~600nmD.600~700nm答案：A22.超聲檢測(cè)中，當(dāng)量法評(píng)定缺陷時(shí)，若缺陷回波比基準(zhǔn)孔低6dB，則當(dāng)量直徑為（）A.1/2倍B.1/√2倍C.相同D.√2倍答案：B23.射線底片評(píng)定時(shí)，像質(zhì)計(jì)靈敏度為22T，表示可識(shí)別最小線徑為（）A.0.2mmB.0.25mmC.0.32mmD.0.50mm答案：B24.磁粉檢測(cè)退磁的常用方法不包括（）A.交流線圈退磁B.直流換向衰減C.熱退磁D.超聲退磁答案：D25.相控陣超聲扇掃角度范圍主要取決于（）A.晶片頻率B.晶片間距C.晶片數(shù)量D.以上全部答案：D26.滲透檢測(cè)時(shí)，干燥溫度一般不得超過(guò)（）A.50℃B.70℃C.90℃D.110℃答案：B27.超聲檢測(cè)中，"草狀回波"常見(jiàn)于（）A.細(xì)晶鋼B.粗晶鑄鋼C.鋁薄板D.復(fù)合板答案：B28.射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)中，圖像增強(qiáng)器的主要作用是（）A.降低劑量B.提高分辨率C.轉(zhuǎn)換X射線為可見(jiàn)光D.抑制散射答案：C29.磁粉檢測(cè)時(shí)，縱向磁化通常采用（）A.通電法B.線圈法C.觸頭法D.感應(yīng)電流法答案：B30.在超聲檢測(cè)中，若材料聲速為5900m/s，頻率5MHz，則縱波波長(zhǎng)約為（）A.0.34mmB.0.84mmC.1.18mmD.1.70mm答案：C二、多項(xiàng)選擇題（每題2分，共20分。每題有兩個(gè)或兩個(gè)以上正確答案，多選、少選、錯(cuò)選均不得分）31.下列哪些因素會(huì)影響射線底片對(duì)比度（）A.膠片梯度B.散射比C.黑度D.顯影溫度答案：ABCD32.超聲斜探頭楔塊作用包括（）A.保護(hù)晶片B.實(shí)現(xiàn)波型轉(zhuǎn)換C.匹配聲阻抗D.降低噪聲答案：ABC33.磁粉檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試片可用于（）A.校驗(yàn)磁場(chǎng)方向B.估算磁場(chǎng)強(qiáng)度C.檢查設(shè)備性能D.確定磁化規(guī)范答案：ABCD34.滲透檢測(cè)缺陷顯示分為（）A.真實(shí)顯示B.虛假顯示C.非相關(guān)顯示D.相關(guān)顯示答案：ABC35.相控陣超聲聚焦參數(shù)包括（）A.焦距B.焦點(diǎn)尺寸C.偏轉(zhuǎn)角度D.激發(fā)電壓答案：ABC36.下列哪些屬于DR探測(cè)器類型（）A.非晶硅B.非晶硒C.CMOSD.IP板答案：ABC37.射線散射的主要來(lái)源有（）A.康普頓效應(yīng)B.瑞利散射C.光電效應(yīng)D.電子對(duì)效應(yīng)答案：AB38.超聲檢測(cè)中，影響缺陷定位精度的因素有（）A.聲速誤差B.探頭折射角誤差C.儀器水平線性D.耦合層厚度答案：ABCD39.磁粉檢測(cè)時(shí)，過(guò)度磁化可能導(dǎo)致（）A.磁痕模糊B.偽缺陷顯示C.背景過(guò)度D.漏檢答案：ABC40.滲透檢測(cè)用溶劑去除型著色滲透劑優(yōu)點(diǎn)包括（）A.靈敏度較高B.現(xiàn)場(chǎng)使用方便C.成本低D.不含揮發(fā)性有機(jī)物答案：ABC三、判斷題（每題1分，共10分。正確打"√"，錯(cuò)誤打"×"）41.超聲橫波在鋼中傳播速度約為縱波的一半。（）答案：√42.射線能量越高，底片顆粒度越小。（）答案：×43.磁粉檢測(cè)可檢測(cè)奧氏體不銹鋼表面裂紋。（）答案：×44.滲透檢測(cè)不能檢測(cè)多孔材料。（）答案：√45.TOFD技術(shù)可精確測(cè)量缺陷自身高度。（）答案：√46.相控陣超聲不能用于檢測(cè)復(fù)合材料。（）答案：×47.射線實(shí)時(shí)成像比膠片照相靈敏度更高。（）答案：×48.超聲檢測(cè)中，K值越大，一次波聲程越短。（）答案：×49.磁粉檢測(cè)后，工件必須退磁至0.3mT以下。（）答案：√50.滲透檢測(cè)顯像時(shí)間越長(zhǎng)，缺陷顯示越清晰。（）答案：×四、計(jì)算題（共20分，寫(xiě)出主要步驟，結(jié)果保留兩位小數(shù)）51.（6分）用Ir192檢測(cè)30mm厚鋼焊縫，已知曝光系數(shù)K=12，源強(qiáng)20Ci，焦距600mm，求所需曝光時(shí)間。解：E=K·t/F2t=E·F2/K=30×6002/12=900000/12=75000min·mCi/Cit=75000/20=3750min=62.50min答案：62.50min52.（7分）超聲斜探頭K=2，檢測(cè)聲程200mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷，二次波法測(cè)得缺陷聲程180mm，求缺陷深度d和水平距離L。解：二次波聲程S?=180mm，K=2，則d=(S?·cosβ)/2，tanβ=K=2，cosβ=1/√5=0.447d=180×0.447/2=40.23mmL=S?·sinβ=180×0.894=160.92mm答案：深度40.23mm，水平距離160.92mm53.（7分）射線底片黑度D=2.8，入射光強(qiáng)I?=1000cd/m2，求透過(guò)光強(qiáng)I。解：D=lg(I?/I)2.8=lg(1000/I)1000/I=102·?=630.96I=1000/630.96=1.58cd/m2答案：1.58cd/m2五、綜合應(yīng)用題（共20分）54.（10分）某石化裝置φ508mm×14mm16MnR環(huán)焊縫，要求100%射線檢測(cè)，執(zhí)行NB/T47013.22015，AB級(jí)，源在內(nèi)單壁透照，Ir192焦點(diǎn)3mm×3mm，求：（1）最小透照厚度比K≤1.1時(shí)，一次透照長(zhǎng)度L?；（2）若焦距F=600mm，計(jì)算幾何不清晰度Ug；（3）若底片有效長(zhǎng)度250mm，整條環(huán)縫需拍片數(shù)量。解：（1）T=14mm，K=1.1，查標(biāo)準(zhǔn)圖或計(jì)算得最大透照厚度比對(duì)應(yīng)弧長(zhǎng)，得L?≈220mm（2）Ug=d·b/(F?b)，b=壁厚+余高≈16mmUg=3×16/(600?16)=48/584=0.082mm（3）周長(zhǎng)C=π×508=1596mm，拍片數(shù)N=1596/220=7.25，取8張答案：（1）220mm；（2）0.08mm；（3）8張55.（10分）現(xiàn)場(chǎng)發(fā)現(xiàn)一20mm厚16Mn