2025年職業(yè)技能鑒定考試(信息通信網(wǎng)絡(luò)終端維修員)歷年參考題庫含答案1.【單選】在維修一臺無法開機的筆記本電腦時，首先應(yīng)執(zhí)行的步驟是A.更換主板B.測量電源適配器空載輸出電壓C.刷新BIOSD.直接拆解鍵盤答案：B解析：按“先外后內(nèi)、先電源后主板”原則，先確認(rèn)適配器能否正常輸出19V左右空載電壓，可快速排除外部供電故障。2.【單選】用示波器測量DDR43200內(nèi)存數(shù)據(jù)眼圖時，探頭接地夾最合理的連接位置是A.主板螺絲孔B.內(nèi)存插槽附近裸露銅皮C.內(nèi)存顆粒正上方D.電源層任意點答案：B解析：接地回路面積最小化原則，插槽旁銅皮既靠近信號回流路徑，又避免長地線引入振鈴。3.【單選】某TypeC口支持PD3.0，但僅5V/3A輸出，無法升壓至9V，最可能損壞的芯片是A.EMC防護TVSB.協(xié)議ICCC邏輯C.VBUSMOSFETD.電流采樣電阻答案：B解析：協(xié)議IC負(fù)責(zé)解析PD報文并控制電源路徑，若CC線通信異常，電源路徑被鎖死在5V默認(rèn)檔。4.【單選】iPhone14ProMax出現(xiàn)“面容ID不可用”，拆機檢測發(fā)現(xiàn)點陣投影器電流0mA，下一步應(yīng)A.直接更換聽筒排線B.測量投影器供電二極管壓降C.刷機D.更換后攝答案：B解析：點陣由聽筒排線供電，先測二極管壓降可判斷是供電開路還是投影器本體損壞，避免盲目換排線。5.【單選】在802.11ax路由維修中，若2.4G信號正常、5G信號弱，頻譜儀顯示5G本振偏移2MHz，應(yīng)優(yōu)先A.更換功放B.更換晶振C.重新校準(zhǔn)eFuseD.更換天線答案：B解析：本振偏移直接由晶振或時鐘芯片決定，偏移2MHz足以導(dǎo)致信道錯位、靈敏度下降。6.【單選】一臺27英寸IPS顯示器間歇黑屏，輕拍后恢復(fù)，最可能虛焊的芯片是A.主控MCUB.EDIDEEPROMC.源極驅(qū)動COFD.背光升壓MOS答案：C解析：源極驅(qū)動COF軟排線接觸不良時，信號瞬斷表現(xiàn)為黑屏但背光正常，輕拍使排線暫時接觸。7.【單選】在Android手機電池管理電路中，若系統(tǒng)顯示電池溫度30℃且無法充電，熱敏電阻兩端實測電壓0V，故障為A.熱敏電阻短路B.熱敏電阻開路C.充電IC損壞D.電池ID電阻異常答案：A解析：NTC短路后ADC讀到0V，對應(yīng)溫度表下限30℃，系統(tǒng)進入低溫保護。8.【單選】維修華為MateBookXPro鍵盤失靈，僅“QAZ”列無響應(yīng)，示波器測得鍵盤矩陣掃描波形缺失第3行，問題在A.鍵盤排線第3行斷線B.EC固件C.CPU虛焊D.BIOS設(shè)置答案：A解析：矩陣鍵盤行列交叉，缺失整行波形多為排線或薄膜斷線，EC不會只屏蔽單列。9.【單選】使用熱風(fēng)槍更換BGA封裝的驍龍888時，下列溫度曲線哪段最危險A.預(yù)熱150℃60sB.回流220℃40sC.降溫180℃到150℃10sD.保溫180℃120s答案：D解析：長時間高溫保溫會使焊球晶粒粗大，產(chǎn)生“脆性界面”，導(dǎo)致后續(xù)微裂紋。10.【單選】一臺NAS無法識別硬盤，換硬盤亦無效，測得SATA口第7針（數(shù)據(jù)負(fù)）對地阻抗0Ω，故障為A.南橋SATA控制器擊穿B.耦合電容短路C.TVS二極管擊穿D.晶振失效答案：C解析：TVS并聯(lián)在信號線對地，擊穿后阻抗近0Ω，保護硬盤但導(dǎo)致信號被鉗位至地。11.【單選】在光貓維修中，PON燈閃爍但無法注冊，光功率計測得29dBm，最可能原因A.光模塊發(fā)射管老化B.分光器端口故障C.LOID輸入錯誤D.光纖彎折半徑過小答案：C解析：接收功率29dBm在合格范圍，LOID錯誤導(dǎo)致OLT拒絕注冊，PON燈快閃提示。12.【單選】某筆記本觸摸板部分區(qū)域失靈，用萬用表測得觸摸板供電3.3V跳變到2.1V，問題在A.觸摸板排線氧化B.主板3.3VLDO帶載能力差C.驅(qū)動版本D.接地不良答案：B解析：電壓跌落說明LDO負(fù)載調(diào)整率差，觸摸板大電流掃描時電壓被拉低，導(dǎo)致觸控MCU復(fù)位。13.【單選】在更換iPadAir4液晶后，出現(xiàn)原彩顯示選項消失，應(yīng)寫入的新數(shù)據(jù)是A.電池循環(huán)次數(shù)B.屏幕IC序列號C.環(huán)境光傳感器校準(zhǔn)值D.觸控固件答案：C解析：原彩依賴前置光感校準(zhǔn)值，未寫入則系統(tǒng)關(guān)閉選項，屏幕IC序列號不影響功能。14.【單選】一臺電競顯示器165Hz只能識別到60Hz，EDID讀取發(fā)現(xiàn)最高刷新字節(jié)為0x3C，正確值應(yīng)為A.0xA5B.0xFCC.0x05D.0x3C答案：A解析：0x3C=60Hz，165Hz對應(yīng)0xA5，EDID被誤刷為通用60Hz模板。15.【單選】在維修小米路由器AX9000時，2.4G與5GSSID自動消失，串口打印“wifi0:calibrationfailed”，應(yīng)A.更換SPIFlashB.重新燒寫ART分區(qū)C.更換功放D.重焊天線答案：B解析：ART保存射頻校準(zhǔn)參數(shù)，校驗失敗導(dǎo)致驅(qū)動關(guān)閉射頻，重新燒寫對應(yīng)分區(qū)即可。16.【單選】一臺筆記本USB3.0口插入U盤提示“電涌”，測得VBUS對地電容120μF，正常值為A.4.7μFB.47μFC.100μFD.220μF答案：A解析：USB3.0規(guī)范VBUS對地電容不超過10μF，120μF為短路后保護電容并聯(lián)所致。17.【單選】iPhone12mini摔后無服務(wù)，基帶CPU供電0.8V正常，但基帶字庫1.8V掉電，故障為A.基帶CPU虛焊B.字庫供電MOS開路C.射頻功放短路D.主CPU損壞答案：B解析：字庫掉電導(dǎo)致基帶無法加載固件，先查供電路徑MOS管，排除邏輯板斷線。18.【單選】在更換MacBookAirM1電源芯片后，待機電流0.08A無法觸發(fā)，DFU模式無法識別，應(yīng)A.重裝系統(tǒng)B.刷T2固件C.重寫TROS配置D.更換觸控板答案：C解析：M1無T2，電源芯片更換后需重寫TROS（OneTimeConfig），否則SMC拒絕上電。19.【單選】一臺打印機定影膜破損，更換后仍卡紙，發(fā)現(xiàn)出紙傳感器撥桿未回彈，原因是A.傳感器霍爾損壞B.撥桿彈簧缺失C.定影溫度高D.電機失步答案：B解析：撥桿彈簧丟失導(dǎo)致傳感器常閉，系統(tǒng)誤判卡紙，與定影溫度無關(guān)。20.【單選】在維修無人機遙控時，搖桿回中漂移，示波器測得霍爾輸出噪聲200mV，正常噪聲應(yīng)A.<5mVB.20mVC.50mVD.100mV答案：A解析：霍爾電源濾波不良或地回路引入噪聲，200mV對應(yīng)ADC約5LSB，產(chǎn)生漂移。21.【多選】可能導(dǎo)致筆記本TypeC口雙向PD失效的元件有A.CC線5.1k下拉電阻虛焊B.協(xié)議ICBMC濾波電容漏電C.VBUS20V耐壓MOSFET擊穿D.電流采樣0.01Ω電阻開路答案：A、B、C解析：A導(dǎo)致無法識別插入方向，B使PD通信誤碼，C造成20V短路保護，D僅影響電流上報，不會完全失效。22.【多選】在iPhoneX分層主板維修中，觸摸失靈但顯示正常，可能原因A.觸摸IC供電1.8V電感開路B.觸摸到顯示MIPI信號線掉點C.觸摸IC到CPU同步信號斷線D.背光升壓電感短路答案：A、C解析：觸摸IC無供電或同步信號斷均導(dǎo)致觸控失效，MIPI屬于顯示通道，背光短路不影響觸控層。23.【多選】以下哪些操作會觸發(fā)iPhone電池“健康度”校準(zhǔn)重置A.更換新電池并寫入零循環(huán)B.更新iOS系統(tǒng)C.斷開電池排線超過10分鐘D.使用第三方電池未移植板答案：A、C解析：A寫入零循環(huán)會觸發(fā)重新學(xué)習(xí)最大容量，C斷電使電量計復(fù)位，B系統(tǒng)更新不重置，D無移植板無法通過驗證。24.【多選】在光功率計測量中，導(dǎo)致讀數(shù)比真實值偏大的因素A.光纖連接器端面有灰塵B.參考校準(zhǔn)波長設(shè)置為1310nm而實際1550nmC.使用FC/PC跳線測量APC口D.電池電量低答案：B、C解析：B中1310nm校準(zhǔn)因子小于1550nm，未修正則讀數(shù)高，C中APC斜面導(dǎo)致部分光未進入探測器，讀數(shù)反而低，A導(dǎo)致?lián)p耗讀數(shù)低，D隨機跳變。25.【多選】維修華為5GCPEPro3時，SIM卡識別正常但無法附著網(wǎng)絡(luò)，可能的RF故障A.主集接收LNA燒毀B.功放供電APT3.4V缺失C.溫度傳感器NTC開路D.收發(fā)切換開關(guān)粘連答案：A、B、D解析：LNA燒毀噪聲系數(shù)惡化，APT缺失導(dǎo)致功放無增益，開關(guān)粘連使收發(fā)沖突，NTC開路僅降功率不會完全無法附著。26.【多選】以下哪些芯片損壞會導(dǎo)致筆記本電池“0%可用，已接通電源”A.電量計BQ40Z50B.主板3.3VLDOC.充電ICISL9241D.BIOSSPIFlash答案：A、C解析：電量計無法上報容量，系統(tǒng)強制0%，充電IC損壞導(dǎo)致不充電，LDO與Flash不直接參與電量計算。27.【多選】在更換SurfacePro7屏幕后，觸控筆一側(cè)無壓感，可能A.屏幕未寫入筆校準(zhǔn)數(shù)據(jù)B.筆尖磨損C.屏幕排線第8針斷（筆中斷）D.電池電量低答案：A、C解析：Surface筆中斷信號斷線導(dǎo)致側(cè)鍵無法觸發(fā)，校準(zhǔn)數(shù)據(jù)缺失影響壓感曲線，筆尖磨損僅影響精度。28.【多選】以下哪些情況會導(dǎo)致千兆網(wǎng)口協(xié)商成百兆A.12線對開路B.36線對串?dāng)_C.水晶頭僅壓接4芯D.變壓器中心抽頭虛焊答案：A、C、D解析：12或36任一線對開路只能協(xié)商百兆，4芯物理缺失同理，中心抽頭虛焊導(dǎo)致共模異常，串?dāng)_不會降速。29.【多選】維修PS5手柄漂移時，更換新?lián)u桿模塊仍漂移，需檢查A.ADC參考電壓噪聲B.主板地線銅皮斷裂C.藍(lán)牙天線掉點D.外殼螺絲柱壓迫排線答案：A、B、D解析：參考電壓噪聲直接引入偏移，地斷裂導(dǎo)致共模干擾，外殼壓迫使電源紋波增大，藍(lán)牙掉點不影響ADC。30.【多選】在光纖熔接后OTDR測試出現(xiàn)負(fù)損耗事件，原因A.光纖模場直徑差異B.OTDR折射率設(shè)置錯誤C.接頭處加纖補償D.雙向平均算法答案：A、B解析：模場直徑差異導(dǎo)致后向散射系數(shù)變化，折射率錯誤使距離與損耗計算失準(zhǔn)，負(fù)損耗非真實增益。31.【判斷】iPhone13ProMax若提示“無法驗證電池是否為正品”，一定說明電池移植排線失敗。答案：錯誤解析：移植排線成功但未寫電池序列號或校驗和錯誤也會提示，無法驗證≠移植失敗。32.【判斷】在維修筆記本時，EC芯片未寫入正確鍵盤映射會導(dǎo)致部分鍵位持續(xù)輸出亂碼。答案：正確解析：EC固件包含鍵盤矩陣映射表，錯誤時行列交叉錯位，表現(xiàn)為持續(xù)亂碼。33.【判斷】使用酒精清潔TypeC母座后，立即加電測試不會導(dǎo)致短路。答案：錯誤解析：酒精未完全揮發(fā)時，殘留液體在VBUS與CC之間形成阻性通路，可能觸發(fā)短路保護。34.【判斷】在5G手機維修中，n78頻段接收通路SAW濾波器開路會導(dǎo)致信號格滿但無法上網(wǎng)。答案：正確解析：SAW開路使高頻頻段完全丟失，基站無法分配下行資源，表現(xiàn)信號格虛滿。35.【判斷】更換顯示器背光LED燈條后，必須重寫EDID否則亮度無法調(diào)節(jié)。答案：錯誤解析：亮度調(diào)節(jié)由驅(qū)動板PWM控制，與EDID無關(guān)，EDID僅描述分辨率與時序。36.【判斷】在iOS17系統(tǒng)中，更換第三方屏幕后，系統(tǒng)會自動關(guān)閉原彩顯示且無法再次開啟。答案：錯誤解析：移植原光感并寫入校準(zhǔn)值后，第三方屏幕仍可開啟原彩，系統(tǒng)未完全屏蔽。37.【判斷】光纖冷接子平均損耗大于0.5dB即視為不合格，需重新接續(xù)。答案：正確解析：行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求冷接子平均損耗≤0.3dB，0.5dB已超出維護閾值。38.【判斷】筆記本電池保護板MOS管擊穿短路后，用萬用表測電池正負(fù)極將顯示0V。答案：錯誤解析：MOS擊穿后相當(dāng)于導(dǎo)線，電池電壓直接輸出，顯示正常電壓，不會0V。39.【判斷】在維修華為P40Pro時，若主攝OIS損壞，相機APP會提示“攝像頭被占用”并無法切換鏡頭。答案：錯誤解析：OIS損壞報“無法對焦”或“畫面抖動”，不會提示占用，占用多為排線接觸不良。40.【判斷】使用熱風(fēng)槍拆焊BGA時，若頂部加熱溫度超過250℃，會造成PCB分層。答案：正確解析：FR4Tg約150℃，長時間超250℃樹脂分解，產(chǎn)生分層起泡。41.【填空】iPhone14系列更換屏幕后，若系統(tǒng)提示“重要顯示消息”，需使用________工具寫入原廠________數(shù)據(jù)才能消除。答案：JCRepairAssistant；屏幕序列號與加密校驗42.【填空】在802.11ax中，將信道寬度從80MHz降至40MHz，理論最大速率將減少________%。答案：5043.【填空】筆記本電池電量計中，SBS協(xié)議0x08寄存器表示________，單位________。答案：剩余容量；mAh44.【填空】TypeCPD3.1擴展功率范圍EPR最高可提供________V________A，最大功率________W。答案：48；5；24045.【填空】OTDR測試光纖時，若折射率設(shè)置偏小，測得長度會偏________，損耗值會偏________。答案：長；大46.【填空】在iPhone基帶維修中，基帶CPU與字庫之間采用________總線，時鐘頻率約________MHz。答案：HSIC；10047.【填空】顯示器EDID第________字節(jié)開始描述詳細(xì)時序參數(shù)，共________字節(jié)。答案：54；7248.【填空】5GNR中，sub6GHz頻段最大子載波間隔為________kHz，毫米波為________kHz。答案：60；24049.【填空】光纖連接器端面檢查標(biāo)準(zhǔn)IEC61300335規(guī)定，單模APC端面劃痕直徑大于________μm即不合格。答案：550.【填空】在MacBookM系列芯片維修中，若系統(tǒng)提示“電池需要維修”，代碼________，表示電池最大容量低于________%。答案：PPT004；8051.【簡答】描述使用示波器測量筆記本19V電源適配器環(huán)路穩(wěn)定性的步驟與判定標(biāo)準(zhǔn)。答案：1.在適配器輸出端串聯(lián)5Ω負(fù)載電阻，并并聯(lián)電子負(fù)載設(shè)為動態(tài)模式，頻率1kHz，電流階躍0.5A2A；2.用差分探頭測輸出電壓，AC耦合，帶寬限制20MHz；3.觀察階躍響應(yīng)，過沖應(yīng)<200mV，恢復(fù)時間<200μs，無振鈴；4.若出現(xiàn)過沖>500mV或持續(xù)振蕩，判定環(huán)路補償不足，需更換次級補償網(wǎng)絡(luò)或調(diào)整TL431分壓電容。52.【簡答】說明iPhoneFaceID點陣投影器供電路徑及常見故障排查流程。答案：供電路徑：電池→聽筒排線→升壓IC→點陣模組（6.2V/1.6A）。流程：1.測升壓IC輸入4.2V正常；2.測輸出6.2V，若無，查升壓電感與二極管；3.若6.2V存在，測點陣電流0.3A為正常，0A則投影器本體損壞；4.若電流0.6A以上，為內(nèi)部VCSEL短路，需更換整個模組并移植排線。53.【簡答】闡述光纖熔接損耗過大的三種非人為因素及改善方法。答案：1.模場直徑失配：選用相同廠家纖芯，或使用模場匹配器；2.光纖橢圓度大：選用ITUTG.652.D高同心度光纖，熔接時調(diào)低放電強度多次預(yù)熔；3.折射率分布差異：采用折射率剖面補償算法，在熔接機內(nèi)開啟“特殊光纖”模式，降低軸偏移。54.【簡答】寫出筆記本電池“0%可用已接通電源”但電量計正常的排查思路。答案：1.測電池電壓>12V確認(rèn)非過放；2.測充電IC輸出電流，若為0，查ACIN是否識別適配器；3.測系統(tǒng)總線PMBus，看是否報告“ChargeSuspend”；4.若溫度位顯示>60℃，查NTC是否虛報；5.查BIOS是否設(shè)置電池保護模式；6.以上正常，刷寫EC固件排除程序鎖死。55.【簡答】解釋5G手機n41頻段信號時有時無，輕拍后恢復(fù)，但無磕碰痕跡的潛在原因。答案：中頻IC采用PoP封裝，底部焊球0.3mm，長期熱脹冷縮產(chǎn)生“枕頭效應(yīng)”，輕拍使焊球暫時接觸；或n41SAW濾波器輸入端采用金線鍵合，金線頸部疲勞斷裂，敲擊產(chǎn)生微接觸，需XRay確認(rèn)，重植中頻IC或更換濾波器模塊。56.【綜合】一臺聯(lián)想拯救者筆記本進水，觸發(fā)保護后無法加電，待機電流0.02A。拆機發(fā)現(xiàn)電源IC周邊有白色腐蝕物，測量公共點電壓僅0.9V（正常19V）。給出完整維修流程、關(guān)鍵測試點及判定數(shù)據(jù)。答案：流程：1.目檢腐蝕范圍，用超聲波+去離子水清洗，150℃烘干20min；2.測公共點MOS管DS極，若短路，更換MOS；3.測電源ICVIN19V正常，但EN引腳僅0.4V（需>1.2V），查分壓電阻腐蝕開路，更換510kΩ/33kΩ；4.更換后公共點19V恢復(fù)，待機電流降至0.008A；5.觸發(fā)上電，測3V/5VLDO輸出正常，但CPU電源無1.05V，查DrMOS芯片I2C報告0xFF，更換DrMOS；6.再次上電，電流0.8A1.2A1.8A正常跳變，亮機；7.烤機2h，確認(rèn)無熱關(guān)斷。57.【綜合】客戶送修一臺iPhone12，描述：插卡無服務(wù)，基帶版本正常，撥06可顯IMEI，但無信號條。實測：射頻功放供電3.4V正常，接收LNA輸出噪聲底110dBm（正常100dBm），發(fā)射功率50dBm（需+23dBm）。給出故障定位、維修步驟及關(guān)鍵儀器設(shè)置。答案：定位：發(fā)射鏈路增益嚴(yán)重不足，功放或輸出匹配網(wǎng)絡(luò)損壞。步驟：1.網(wǎng)絡(luò)分析儀測功放輸出匹配，發(fā)現(xiàn)S11=3dB（需<10dB），確認(rèn)輸出匹配電感燒毀；2.更換02015.6nH電感，S11改善至12dB；3.頻譜儀測諧波，二次諧波20dBm（需<40dBm），發(fā)現(xiàn)低通濾波器電容短路，更換06033.3pF；4.再次測發(fā)射功率+24dBm，接收靈敏度恢復(fù)102dBm；5.插卡注冊成功，撥打測試正常；6.儀器設(shè)置：頻譜儀中心頻率902MHz，Span5MH