HS620數(shù)字式城聲波擦傷儀藺介

目錄

一、HS620數(shù)字式超聲波探傷儀簡(jiǎn)介（3

1.1本機(jī)特點(diǎn)（3

1.2主要技術(shù)參數(shù)（3

1.3儀器主要部件名稱（5

14鍵盤(pán)簡(jiǎn)介（6

1.5功能介紹（7

二HS620型數(shù)字式超聲波探傷儀的基本操作（9

2.1開(kāi)機(jī)（9

2.2常規(guī)功能狀態(tài)的調(diào)節(jié)（10

2.2.1通道選擇（10

222閘門(mén)的調(diào)節(jié)（10

2.2.3波峰記憶（12

2.2.4增益調(diào)節(jié)（dB調(diào)節(jié)（13

2.2.5檢測(cè)范圍（脈沖位移的調(diào)節(jié)（14

2.2.6零點(diǎn)調(diào)節(jié)（14

2.2.7脈沖移位調(diào)節(jié)（15

2.2.8聲速測(cè)定（15

2.2.9“抑制”調(diào)節(jié)（17

2.2.10掃查基線的調(diào)節(jié)（18

三儀器校準(zhǔn)（19

3.1選擇HS620型探傷儀的接收系統(tǒng)狀態(tài)（19

3.2調(diào)校功能（19

3.2.1直探頭調(diào)校（19

3.2.2斜探頭橫波自動(dòng)校準(zhǔn)（25

四探傷應(yīng)用（34

4.1焊縫功能（適用于斜探頭（34

4.1.1焊縫參數(shù)設(shè)置（34

4.1.2焊縫圖的缺陷定位分析（35

4.2測(cè)厚功能（適用于直探頭（37

4.3性能校驗(yàn)功能（38

4.4聲響報(bào)警的應(yīng)用（40

4.5縱向裂紋高度測(cè)量的應(yīng)用（40

4.6包絡(luò)功能（42

4.7存儲(chǔ)波形數(shù)據(jù)（43

4.7.1存入子功能（43

4.7.2讀出子功能（44

4.7.3刪除子功能（45

474通道清零子功能（45

HS620數(shù)字式線聲波探傷儀藺介

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24.8頻帶選擇功能（46

4.9匹配阻抗（46

4.10重復(fù)頻率（46

4.11通訊打印功能（46

4.11.1通訊功能（46

4.11.2打印輸出（47

4.12靜態(tài)讀數(shù)（凍結(jié)狀態(tài)下讀數(shù)（48

4.13探傷狀態(tài)與參數(shù)的顯示方式的重新設(shè)置（48

4.13.1探傷狀態(tài)和參數(shù)的顯示方式（48

4.13.2探傷狀態(tài)和參數(shù)的重新設(shè)置（48

五充電器的使用說(shuō)明（51

六儀器的安全使用保養(yǎng)與維護(hù)（52

附件一:通用探傷報(bào)表（53

附件二:HS620數(shù)探儀選配打印機(jī)說(shuō)明（54

HS620數(shù)字式也聲波擦傷儀藺介

一、HS620數(shù)字式超聲波探傷儀簡(jiǎn)介

1.1本機(jī)特點(diǎn)

?手持式結(jié)構(gòu)，美觀、牢固、密封性能好，具超強(qiáng)的抗干擾能力。

?全數(shù)字，真彩顯示器，根據(jù)環(huán)境選擇背景色、亮度可自由設(shè)定，領(lǐng)潮國(guó)內(nèi)應(yīng)月技

術(shù)。

?高質(zhì)量的電路系統(tǒng)，性能穩(wěn)定可靠。

?超高速采樣，使回波顯示更保真、定位更準(zhǔn)確。

?高精度定量、定位、解決遠(yuǎn)距離定位誤差。

?實(shí)時(shí)全檢波，正、負(fù)檢波和射頻波顯示。

?優(yōu)良的寬頻帶放大器,且自動(dòng)校正。具有良好的近場(chǎng)分辨能力。

?簡(jiǎn)潔、強(qiáng)勁的操作功能，中文提示，對(duì)話操作，實(shí)用易學(xué)。

?焊縫剖口示意圖,更直觀顯示缺陷位置,輔助定性。

?集超聲檢測(cè)、測(cè)厚雙重功能于一機(jī)

?檢測(cè)范圍無(wú)級(jí)調(diào)節(jié)功能。

?閘門(mén)定位報(bào)警,雙閘門(mén)失波報(bào)警功能，適用于完成不同種類的探傷任務(wù)C

?動(dòng)態(tài)缺陷包絡(luò)線描述。

?波幅曲線按標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)繪制。且可上下自由移動(dòng)。

?自動(dòng)對(duì)探頭零點(diǎn)進(jìn)行校準(zhǔn)和斜探頭K值（折射角測(cè)試。

?靈活的雜波抑制調(diào)節(jié)功能。不影響增益、線性。

?自動(dòng)快速的靈敏度調(diào)節(jié)功能。提高檢測(cè)速度。

?自動(dòng)波峰跟蹤搜索功能。提高檢測(cè)精度。

?有描述缺陷性質(zhì)的峰點(diǎn)軌跡包絡(luò)圖功能。

?縱向裂紋高度測(cè)量功能。

?近場(chǎng)盲區(qū)小，可以進(jìn)行薄板及小徑管探傷。

?可對(duì)腐蝕層和氧化層厚度進(jìn)行的精確測(cè)量。

?高速USB2.0、RS232兩種接口提供傳輸打印。實(shí)現(xiàn)超聲探傷儀計(jì)算機(jī)管理。

?予置50組探傷參數(shù)。分別為直探頭15個(gè),斜探頭30個(gè)，小角度探頭5個(gè)。

?可存儲(chǔ)1000個(gè)探傷回波、曲線和數(shù)據(jù)。

1.2主要技術(shù)參數(shù)

脈沖強(qiáng)度:600V

阻抗匹配：200Q、500。二檔可選

工作方式:單晶探傷、雙晶探傷

掃描范圍:零界面入射?5500mm鋼縱波

采樣頻率/位數(shù):150MHz/8bits

檢波方式:全檢波、正、負(fù)檢波、射頻波顯示

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4工作頻率:0.5MHz~15MHz

各頻段等效輸入噪聲:<15%

衰減器精度:<±ldB/l2dB

增益調(diào)節(jié):110dB（0.1dB、2dB、6dB步進(jìn)，全。動(dòng)調(diào)節(jié)

聲速范圍：（100~20000m/s

動(dòng)態(tài)范圍230dB

垂直線性誤差S3%

水平線性誤差：00.1%

分辨力:>40dB（5N14

靈敏度余量:>60dB（深200mm①2平底孔

數(shù)字抑制：（0~80%,不影響線性與增益

電源、電壓:直流（DC7.2V±10%;交流（AC220V±10%

工作時(shí)間:連續(xù)工作5小時(shí)以上（鋰電池供電

環(huán)境溫度：（-10~40c（參考值

相對(duì)濕度：（20~95%RH

外型尺寸：200x138x60(mm

1.3儀器主要部件名稱

本儀器主要部件名稱如圖1-1所示。

圖1-1

①3203256像素的高分辨率顯示器

②電源指示燈、報(bào)警指示燈

③觸摸鍵盤(pán)

④充電插座

⑤護(hù)手帶

⑥打印機(jī)及通訊插座

⑦Q9插座（發(fā)射

⑧Q9插座（接收

⑨提手

⑩USB通訊接口

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△A△A、

<ON/\???

電海班警屏保<30[￡>

pm](^)￡3[wn]]增區(qū)）（抑制）

圜回艇)回回回

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6

1.4鍵盤(pán)簡(jiǎn)介

鍵盤(pán)是完成人機(jī)對(duì)話的媒介。本機(jī)鍵盤(pán)設(shè)有23個(gè)控制鍵，鍵位見(jiàn)圖1-2。使用

者對(duì)探傷儀發(fā)出的所有控制指令，均通過(guò)鍵盤(pán)操作傳遞給探傷儀。23個(gè)控制鍵分為

三大類:特殊鍵（1個(gè)，菜單功能選擇鍵（9

個(gè)，功能熱鍵（

11個(gè)和方向控制鍵（2。鍵盤(pán)操作過(guò)程中，探傷儀根據(jù)不同的狀態(tài)自動(dòng)識(shí)別各鍵

的不同含意，執(zhí)行操作人員的指令。各鍵的具體使用方法在以后的各章節(jié)中分批逐

漸介紹。下面是各鍵的具體功能簡(jiǎn)介。

電源開(kāi)

/關(guān)鍵

調(diào)校類功能鍵

包絡(luò)功能鍵

閘門(mén)功能系統(tǒng)鍵

增益熱鍵

探頭零點(diǎn)自動(dòng)校準(zhǔn)熱鍵

抑制熱鍵

自動(dòng)增益鍵

波幅曲線功能鍵

輸出數(shù)據(jù)功能鍵聲響報(bào)警鍵

存儲(chǔ)傷波數(shù)據(jù)鍵

波峰記憶鍵

波形凍結(jié)/輸入命令、數(shù)據(jù)認(rèn)可鍵50組探傷參數(shù)選擇鍵顯示屏彩色切換鍵

進(jìn)入/退出參數(shù)列表顯示鍵

關(guān)閉屏幕顯示，進(jìn)入節(jié)電狀態(tài)

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7

子功能菜單/操作功能鍵左/

下方向鍵

右/上方向鍵

1.5功能介紹

儀器的功能及其邏輯關(guān)系

1.調(diào)校功能:

?范圍:探傷范圍的調(diào)節(jié)-零偏:探頭入射零點(diǎn)的調(diào)節(jié)

?聲速:材料聲速（0~20000m/s連續(xù)調(diào)節(jié)2K值:斜探頭的折射角（K值測(cè)量2.閘

門(mén)功能：

?范圍/平移：（0?6000mm掃查范圍的無(wú)級(jí)調(diào)節(jié)/脈沖平移調(diào)節(jié)?閘門(mén)操作:閘門(mén)移

位/閘門(mén)寬度/閘門(mén)高度調(diào)節(jié)?閘門(mén)選擇:閘門(mén)A/B選擇

?閘門(mén)讀數(shù):選擇單閘門(mén)讀數(shù)/雙閘門(mén)讀數(shù)方式3.曲線功能：

?制作:制作AVG、DAC曲線及曲線延長(zhǎng)?調(diào)整:調(diào)整已制作的曲線-刪除:

刪除已制作的曲線

?清零:將當(dāng)前通道的參數(shù)初始化

4.輸出功能：

?讀出:顯示當(dāng)前讀出號(hào)的缺陷波形及數(shù)據(jù)

?刪除:刪除當(dāng)前存貯號(hào)或連續(xù)存貯區(qū)間的缺陷波形及數(shù)據(jù)-通訊:將存儲(chǔ)的缺

陷波形及數(shù)據(jù)傳送到計(jì)算機(jī)-打印:打印探傷報(bào)告

5.包絡(luò)功能:對(duì)缺陷回波進(jìn)行波峰軌跡描繪，輔助對(duì)缺陷定性判斷。

6.增益/自動(dòng)增益功能:手動(dòng)調(diào)節(jié)儀器靈敏度/自動(dòng)定高調(diào)節(jié)儀器靈敏度。

7.波峰記憶:對(duì)閘門(mén)內(nèi)動(dòng)態(tài)回波進(jìn)行最高回波的捕捉，并保留在屏幕上。

8.色彩切換:對(duì)屏幕顯示色彩（前景、背景進(jìn)行切換。

9.報(bào)警:閘門(mén)內(nèi)的缺陷回波高于閘門(mén)/曲線高度時(shí)，儀器發(fā)出聲響提示10.存儲(chǔ)：

將屏幕上的回波及其相應(yīng)的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在儀器存貯器中。

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11.抑制:調(diào)節(jié)抑制雜波比例。12通道:通道切換選擇

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9

二HS620型數(shù)字式超聲波探傷儀的基本操作

2.1開(kāi)機(jī)

HS620型數(shù)字式超聲波探傷儀采用直流供電方式，儀器內(nèi)置鋰電池。按

鍵兩秒

鐘,直到電源指示燈亮。儀器首先出現(xiàn)漢威注任商標(biāo)，然后進(jìn)行儀器自檢，顯示如

R畫(huà)面：

UT

儀器自檢

鍵盤(pán)...................0K存儲(chǔ)器.....................0K

■

綜合性能...................OK電池狀態(tài)....................

W

bdnwEi

g且如

圖2-l?l

儀器自檢通過(guò)后，進(jìn)入開(kāi)機(jī)動(dòng)態(tài)界面，見(jiàn)圖2-1-2,

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10

說(shuō)明:在縱波直探頭的情況下。

聲程（S即聲波從工件表面至缺陷

的垂直距離。

沒(méi)有顯示。

在橫波斜探頭的情況下。

表示聲程（S表示水平距離（L。

指的是探頭入射點(diǎn)至缺陷的水平距離。表示垂直深度（H。

指的是入射點(diǎn)至缺陷的垂直距離。

喇叭及參數(shù)鎖定圖標(biāo)在此圖上沒(méi)有顯示,在后面的章節(jié)中詳細(xì)介紹。按任何熱

鍵或者子功能菜單鍵時(shí)，相應(yīng)的區(qū)域出現(xiàn)反顯,表示當(dāng)前操作狀態(tài)。

2.2常規(guī)功能狀態(tài)的調(diào)節(jié)

2.2.1通道選擇

本儀器予置了50

組探傷參數(shù)，即50個(gè)通道。分別為直探頭15個(gè),斜探頭30個(gè),小角度5個(gè)。探

傷人員可根據(jù)需要修改各通道的參數(shù)。按通道鍵對(duì)通道進(jìn)行選擇，此時(shí)顯示屏上顯

示通道區(qū)出現(xiàn)反顯。連饃按此鍵可選擇不同的檢測(cè)任務(wù)。如圖所示。

2.2.2閘門(mén)的調(diào)節(jié)

數(shù)字式探傷儀的最突出的特點(diǎn)是能夠把所有的有關(guān)反射波的信息用數(shù)字量顯示

在屏幕上。讀數(shù)時(shí)儀器處理計(jì)算閘門(mén)內(nèi)的回波、并顯示最高回波的所有數(shù)據(jù)（包括聲

程、水平距離和垂直距離。因此探傷過(guò)程中需使用閘門(mén)套住缺陷回波，儀器才能顯

示探傷所需要的數(shù)據(jù)。

2.2.2.1閘門(mén)選擇和閘門(mén)讀數(shù)方式

本儀器是雙閘門(mén)工作方式，分為A閘門(mén)和B閘門(mén)。閘門(mén)讀數(shù)方式有兩種,即單閘

門(mén)讀

HS620基本縹作

數(shù)方式和雙閘門(mén)讀數(shù)方式。用戶可以選擇任意閘門(mén)作為當(dāng)前使用閘門(mén)，下面將

要介紹閘門(mén)的起始位置、寬度、高度調(diào)節(jié)都是針對(duì)當(dāng)前使用閘門(mén)而言。

操作步驟：

1顯示方式選擇

按鍵,進(jìn)入掃查狀態(tài)，儀器默認(rèn)的是“單閘門(mén)讀數(shù)方式”。用戶想選擇“雙閘門(mén)

讀數(shù)方式”鍵即可。其閘門(mén)讀數(shù)方式如圖所示。

、41.9

3426■375442.6

2閘門(mén)選擇

按鍵，此時(shí)閘門(mén)欄反顯，初始值為A閘門(mén)，再按一次對(duì)應(yīng)的鍵切換為B閘門(mén)，如圖

所示

、41.9

222.2閘門(mén)起始

閘門(mén)起始是對(duì)當(dāng)前使用閘門(mén)的起始位置進(jìn)行調(diào)節(jié)。用戶可根據(jù)需要

將閘門(mén)平行移動(dòng)到想要的位置來(lái)鎖定你所感興趣的回波。

操作如下：

按起始相對(duì)應(yīng)的鍵進(jìn)入此功能，此時(shí)該欄反顯,婦圖。再按鍵進(jìn)行調(diào)節(jié)。例如，當(dāng)

前的使用閘門(mén)位置在回波顯示區(qū)的最左端，當(dāng)要使閘門(mén)移到最右端，按

住鍵，直到閘門(mén)移到目標(biāo)位置。

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12

注意:為了回波顯示區(qū)簡(jiǎn)單明了，用戶可以將某一閘門(mén)移出回波顯示區(qū)，此時(shí)數(shù)據(jù)

顯示區(qū)的讀數(shù)為XXX.X

、XXX.X

exxx.x

4xxx.x

的形式。如圖所示。

2.223閘門(mén)寬度按閘門(mén)移位對(duì)應(yīng)的鍵，就進(jìn)入了閘門(mén)寬度調(diào)節(jié)，此時(shí)寬度欄出現(xiàn)

反顯，如圖所示。

再按鍵可改變閘門(mén)的寬度。

2.224閘門(mén)高度

閘門(mén)高度指的是閘門(mén)相對(duì)于回波顯示區(qū)滿幅的百分比。按閘門(mén)寬度相對(duì)應(yīng)的鍵,

就進(jìn)入了閘門(mén)高度調(diào)節(jié)，此時(shí)高度欄反顯，如圖227所示，再按鍵可改變閘

門(mén)的高度。

2.2.3波峰記憶

波峰記憶是儀器自動(dòng)以閘門(mén)內(nèi)最高動(dòng)態(tài)回波進(jìn)行記錄，并保留在屏幕上。在實(shí)

際探傷中，這有助于最大缺陷回波的捕捉。操作：

1?用閘門(mén)鎖定將要搜索的回波。

2?按

鍵，進(jìn)入波峰搜索狀態(tài)，并且在回波顯示區(qū)的右上端顯示出“波峰

記憶”字樣。當(dāng)您移動(dòng)探頭時(shí)，如有一個(gè)比前面顯示回波更高的新波出現(xiàn)時(shí)，儀器

立即捕捉住此高波作為當(dāng)前最高顯示波。3.按

鍵，退出搜索狀態(tài)。

HS620藁本舞作

2.2.4增益調(diào)節(jié)(dB調(diào)節(jié)

在探傷工作中，利用衰減器可控制儀器的靈敏度，測(cè)量信號(hào)的相對(duì)高度，用以判斷

缺陷的大小，或測(cè)量材料的衰減等。衰減器除了上述作靈敏度控制外,它的主要用途

是測(cè)量反射波幅度的相對(duì)大小,用分貝表示。

本機(jī)型的系統(tǒng)靈敏度由基準(zhǔn)dB讀數(shù)和偏差dB讀數(shù)兩部分組成?？傆嗔繛?/p>

H0dBo

2.241手動(dòng)增益調(diào)節(jié)

操作：

①按鍵選擇調(diào)節(jié)步進(jìn)值。按第一次，增益顯示區(qū)基準(zhǔn)dB值反顯，此時(shí)，

增益的右上方出現(xiàn)0.1的字樣，表示當(dāng)前以0.1dB步進(jìn)值調(diào)節(jié)基準(zhǔn)dB值。

如圖2-2-8(a所示。按第二次，此時(shí)增益的右上方出現(xiàn)2.0的字樣，表示

當(dāng)前以2.0dB步進(jìn)值調(diào)節(jié)基準(zhǔn)dB值、如圖2-2-8(b,按第三次，此時(shí)增益

的右上方出現(xiàn)6.0的字樣，表示當(dāng)前以6.0dB步進(jìn)值調(diào)節(jié)基準(zhǔn)dB值。如圖

2-2-8(c所示。按第四次時(shí)，增益顯示區(qū)的偏差dB值反顯，此時(shí)增益的右上

方出現(xiàn)0.1的字樣，表示當(dāng)前以O(shè).ldB步進(jìn)值調(diào)節(jié)偏差dB值。如圖2-2-8(d

所示。按動(dòng)鍵盤(pán)增益鍵，此時(shí)增益的右上方出現(xiàn)6.0的字樣，增益顯示區(qū)的

偏差dB值反顯，表示當(dāng)前以6.0dB步進(jìn)值調(diào)節(jié)偏差dB值。如圖2-2-8(e

所示。

②按鍵調(diào)節(jié)基準(zhǔn)dB值或偏差dB值。例如:當(dāng)前的基準(zhǔn)dB值為

80dB,如果以0.1dB的步進(jìn)值增大基準(zhǔn)dB的值到110dB,調(diào)節(jié)鍵，使

反顯出現(xiàn)在基準(zhǔn)dB欄，增益的右上方出現(xiàn)0.1的字樣，再調(diào)節(jié)鍵不

放，可產(chǎn)生連續(xù)增益調(diào)節(jié)。直到UOdB。

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142.2.4.2自動(dòng)增益調(diào)節(jié)

操作：

①移動(dòng)閘門(mén)鎖定回波C

②選擇是調(diào)節(jié)基準(zhǔn)dB或偏差dB。

③按

鍵，儀器自動(dòng)進(jìn)行增益調(diào)節(jié)，使閘門(mén)內(nèi)的最大回波波幅調(diào)節(jié)到縱坐

標(biāo)的80%左右高度，并且在回波顯示區(qū)的右上角有“自動(dòng)增益”的字樣提示。調(diào)

節(jié)完成后“自動(dòng)增益”的字樣消失。

2.2.5

檢測(cè)范圍（脈沖位移的調(diào)節(jié)

檢測(cè)人員根據(jù)被檢測(cè)工件的厚度合適的調(diào)節(jié)檢測(cè)范圍,

范圍調(diào)節(jié)不會(huì)改變回波之間的相對(duì)位置和幅度本儀器調(diào)節(jié)的范圍為

（0~6000mm（鋼縱波。操作如下：

①按

②在按

鍵進(jìn)行范圍調(diào)節(jié)。范圍值實(shí)時(shí)顯示，表示每格的對(duì)應(yīng)的實(shí)際

距離（儀器波形顯示區(qū)分為十格。當(dāng)檢測(cè)范圍為200mm時(shí),每小格的值為

20mm。例如:將當(dāng)前橫坐標(biāo)的每小格距離為20mm調(diào)節(jié)至ij40mm，按住

鍵不

放，直到范圍數(shù)據(jù)連續(xù)變換到40mm。

2.2.6零點(diǎn)調(diào)節(jié)

零點(diǎn)調(diào)節(jié)指的是探頭零點(diǎn)的調(diào)節(jié)。為了準(zhǔn)確的對(duì)工件缺陷定位，我們必須調(diào)節(jié)

探頭的零點(diǎn)，通俗的說(shuō)也就是探頭的壓電晶片到工件表面的距離（包括探頭保護(hù)膜的

厚度和耦合劑的厚度。在本儀器中用時(shí)間（四微妙來(lái)表示探頭零點(diǎn)的距離。

操作:

①

按

進(jìn)入功能菜單，再按零偏相對(duì)應(yīng)的

鍵，此時(shí)，該欄反顯，

如圖2-2-9所示。

②按

鍵來(lái)調(diào)節(jié)零偏的大小。且零偏的時(shí)間值實(shí)時(shí)顯示。例如：

當(dāng)前的零偏值是0.00MS時(shí),要使零偏的值調(diào)節(jié)到0.56Ps。就按住

HS620基本縹作

鍵，直到數(shù)據(jù)顯示為0.562為止。

注意：

探頭的零點(diǎn)一旦校準(zhǔn)好后，就不能改變，否則會(huì)影響數(shù)據(jù)精度。

如果真的要改變的話，會(huì)有一個(gè)滾動(dòng)信息提示“已校準(zhǔn)，是否

要改變零偏?”按鍵后,再進(jìn)行改變。按其他的鍵返回即

不改變。

2.2.7脈沖移位調(diào)節(jié)

調(diào)節(jié)儀器的脈沖移位，不會(huì)改變回波的相對(duì)位置和幅度。最大可調(diào)節(jié)位移距離

不小

于3500mm（鋼縱波。

操作：

③按進(jìn)入功能菜單,再按平移相對(duì)應(yīng)的鍵，此時(shí)，該欄反顯，

如圖所示C

④按鍵來(lái)調(diào)節(jié)平移量的大小。且平移的時(shí)間值實(shí)時(shí)顯示。例

如:當(dāng)前的平移值是0.00US時(shí),要使平移的值調(diào)節(jié)到0.56uso就按住

鍵，直到數(shù)據(jù)顯示為0.56us為止。（本儀器中用時(shí)間（us微妙來(lái)表示。

2.2.8聲速測(cè)定

我們知道，材料聲速是探傷缺陷定位中非常重要的一個(gè)參數(shù)。聲速對(duì)于超聲波

探傷中的定位精確度有著極其重要的作用，因此對(duì)于未知材料聲速的工件探傷時(shí)測(cè)

定其聲速，是探傷前的重要準(zhǔn)備步驟，下面利用一塊厚度為50mm的未知聲速材料為

例講述聲速測(cè)量方法。

操作:

①同步法:利用同一個(gè)反射體上的一次和二次底波反射來(lái)進(jìn)行聲速測(cè)定。

按鍵進(jìn)入功能選擇狀態(tài),按鍵移動(dòng)方塊光標(biāo)到調(diào)校欄，按

鍵，再按聲速相對(duì)應(yīng)的鍵,此時(shí)該欄反顯，儀器彈出提示:

請(qǐng)選聲速測(cè)試方式:同步法

請(qǐng)輸入測(cè)試距離:50mm

將探頭放在實(shí)物試塊上，移動(dòng)探頭找出最大反射波，觀察屏幕上回波,移動(dòng)兩

HS62O孤本線作

?武漢中科創(chuàng)新技術(shù)有限公司

16個(gè)閘門(mén)分別套住兩個(gè)回波后，按按鍵

此時(shí)儀器自動(dòng)開(kāi)始調(diào)節(jié)聲速，直到兩次回波分別對(duì)齊50mm和100mm的位置，聲速

測(cè)定完畢!(*

注:如果實(shí)物聲速和儀器初始聲速差異太大，有可能回波不在屏幕內(nèi)，這時(shí)需要調(diào)

整范圍，將波形先調(diào)整到屏幕內(nèi),再移動(dòng)閘門(mén)套住回波

②分步法:如果被測(cè)實(shí)物試塊聲衰減較大，無(wú)法得到二次反射時(shí)可用分步法、利

用兩個(gè)深度不同的反射體的底波來(lái)測(cè)定聲速。例如再制作一塊40而實(shí)物

試塊。進(jìn)入聲速測(cè)試，方法與上面相同，儀器出現(xiàn)提示：

請(qǐng)選聲速測(cè)試方式伺步法按

改為分步法

請(qǐng)輸入測(cè)試距離:50mm

按

改為10mm（兩個(gè)不同反射體之間的厚度差按

將探頭先放在厚度40mm的實(shí)物試塊上，找出反射回波后，用閘門(mén)套住，按

再將探頭放在厚度50mm的實(shí)物試塊上，找出反射回波后，用閘門(mén)套住，按

2.2.9“抑制”調(diào)節(jié)

此功能主要用來(lái)抑制雜波即噪音，以提高信噪比。本機(jī)型采用熱鍵方式直接控

制抑制量的調(diào)節(jié)，并直接用數(shù)字顯示被抑制掉的百分比量值。通常抑制數(shù)據(jù)顯示區(qū)

顯示的00%表示儀器處于無(wú)抑制狀態(tài)。如圖所示。隨著抑制顯示量的增加，“抑制”

作用已被加入，這時(shí)顯示的百分比數(shù)值以內(nèi)的雜波被濾掉，不予顯示，而大于百分比數(shù)

值的回波則不被改變。因此使實(shí)際探傷中的信噪比被大大提高。

操作:

按鍵，此時(shí)抑制欄反顯，如圖所示。

按鍵，選擇抑制量，所顯示的百分?jǐn)?shù)即為抑制掉的雜波高度。大抑

制量為80%o

HS620基本綠作

直保頭01

基線

增益01

武漢中科創(chuàng)新技術(shù)有限公司?18

W回

直探頭01

夏續(xù)

??201

53.6dB

100

注意:隨著“抑制”作用的加大，儀器的動(dòng)態(tài)范圍會(huì)變小,因此使用抑制功能后，要及

時(shí)恢復(fù)儀器的無(wú)抑制狀態(tài)（即抑制的百分?jǐn)?shù)為零。

2.2.10掃查基線的調(diào)節(jié)

按

鍵，可在“抑制”和“基線”功能間切換，按鍵對(duì)其進(jìn)行調(diào)整。如

圖:

儀器校今

三儀器校準(zhǔn)

超聲波探傷儀必須與探頭緊密配合才能實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的探傷目的。探傷儀的某些技

術(shù)指標(biāo)，如:靈敏度余量、垂直線形、分辨力等,嚴(yán)格上講應(yīng)是儀器與探頭的綜合指

標(biāo)。所以在探傷前，必須對(duì)所要使用的儀器和探頭進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)才能保證所探傷的

結(jié)果是真實(shí)，可信的。

HS620型的校準(zhǔn)是指距離校準(zhǔn)和K值測(cè)試。距離校準(zhǔn)從原理上講與常規(guī)探傷

儀是一樣的。但充分發(fā)揮了數(shù)字式探傷儀的程序控制和數(shù)據(jù)處理能力，使其更為簡(jiǎn)

便。

3.1選擇HS620型探傷儀的接收系統(tǒng)狀態(tài)

探傷儀的接收系統(tǒng)所處的狀態(tài)的不同組合適用于不同的檢測(cè)任務(wù)。對(duì)于特定的

要求，選取某種狀態(tài)組合，將起優(yōu)化回波波形，改善信噪比，獲得較好的近場(chǎng)分辨力或最

佳的靈敏度余量的作用。在儀器校準(zhǔn)前，可選擇最佳組合的接收系統(tǒng).以提高儀器的

校準(zhǔn)精度。

工作方式選擇：

本機(jī)設(shè)有自發(fā)自收和一發(fā)一收兩種工作方式扮別適用于單晶和雙晶探頭的使

用，用戶

可根據(jù)所使用的探頭來(lái)進(jìn)行設(shè)置相應(yīng)的工作方式。圖標(biāo)對(duì)應(yīng)單發(fā)單收,對(duì)應(yīng)一

發(fā)一收。

操作:

①按鍵，進(jìn)入?yún)?shù)列表。按

②按鍵，切換選擇所需的工作方式。

③按鍵返回探傷界面。

3.2調(diào)校功能

3.2.1直探頭調(diào)校

3.2.1.1直探頭縱波入射零點(diǎn)自動(dòng)校準(zhǔn)快捷調(diào)校模式（主要針對(duì)于CSK?IA試塊

對(duì)于縱波直探頭接觸法測(cè)量在常規(guī)探傷儀中一般來(lái)講沒(méi)有強(qiáng)調(diào)零偏控制，只要

將始脈沖對(duì)準(zhǔn)顯示格柵的左邊線.任何零偏均忽略不計(jì),這在大多數(shù)情況下是可以接

受的。但對(duì)于具有保護(hù)膜或保護(hù)靴的接觸式探頭住于保護(hù)元件中的時(shí)間延遲，可能

有很大的零偏值，而影響距離的精確測(cè)定。

為了方便用戶，同時(shí)也充分發(fā)揮數(shù)字式探傷儀的程序控制和數(shù)據(jù)處理能力，由儀

器自動(dòng)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)校準(zhǔn)操作。

儀器校代

?武漢中科創(chuàng)新技術(shù)有限公司.20由于CSK-IA試塊的使用相對(duì)較為普遍，

我公司在HS620型的數(shù)字式超聲波探傷儀中專門(mén)添加了針對(duì)于使用CSK-IA試塊

進(jìn)行調(diào)校的快捷調(diào)校模式，該調(diào)校模式使儀器調(diào)校過(guò)程更加簡(jiǎn)單、快捷，下面先對(duì)此

調(diào)校模式作詳細(xì)的介紹：

下面以CSK-IA試塊為例，介紹直探頭縱波入射零點(diǎn)的自動(dòng)校準(zhǔn)。

ncIII*.ri

準(zhǔn)備:首先將需使用的直探頭與儀器連接，平放CSK-IA試塊并將探頭放置在

試塊CSK

?1A上

，探頭放置方式如圖。

操作:

①按通道鍵，再按鍵,選擇任意直探頭通道，按

鍵進(jìn)入?yún)?shù)列表，光標(biāo)處于“試塊選擇

..其它試塊”一欄，由于使用的測(cè)試試塊為CSK-IA試塊,所以按鍵將試

塊選擇欄改為“試塊選擇……CSK

-IA

②按照所選探頭的相關(guān)參數(shù)依次輸入?yún)?shù)。例:按

鍵進(jìn)入數(shù)字輸入狀態(tài)，使用鍵將數(shù)字輸入，再

按

O依照上述步驟，將其它數(shù)據(jù)依次輸入。參數(shù)輸入完畢后按退出參數(shù)列表

③按熱鍵，進(jìn)入自動(dòng)校準(zhǔn)功能，此時(shí)，回波顯示區(qū)的右上角顯示“自動(dòng)校準(zhǔn)''的字

樣。兩閘門(mén)自動(dòng)鎖定在CSK-IA試塊二次波（50mm和四次波（100mm位置，如圖

所示。

儀器校今

④將探頭放置在CSK-IA試塊上深度為25mm位置，觀測(cè)屏幕上回波顯示位

置，如有波形超出滿刻度,則按鍵，此時(shí)波形會(huì)下降到滿刻度80%（該幅度

可自行設(shè)定，當(dāng)屏幕上兩底面反射回波均出現(xiàn)在屏幕以內(nèi)后.按鍵，儀器開(kāi)

始自動(dòng)校準(zhǔn)，此時(shí)按住探頭不動(dòng)，直至自動(dòng)校準(zhǔn)完畢

⑤校準(zhǔn)完之后，滾動(dòng)出一個(gè)提示信息。

“自動(dòng)校準(zhǔn)完畢!”,如圖所示。然后屏幕下方顯示“是否重校?”（按

鍵重校，其它鍵退出!

當(dāng)由干其他原因而導(dǎo)致校準(zhǔn)不出來(lái)的話.就會(huì)有相關(guān)的信息

提示，如:“閘門(mén)未鎖定波,無(wú)法校準(zhǔn)!!’’

3.2.1.2直探頭入射點(diǎn)自動(dòng)調(diào)?；静僮鞑襟E（使用非CSK-IA試塊調(diào)校時(shí)操作

步驟操作：

1.按通道鍵，再按鍵,選擇任意直探頭通道，按鍵，進(jìn)入自

動(dòng)校準(zhǔn)功能，此時(shí)，回波顯示區(qū)的右上角顯示“自動(dòng)校準(zhǔn)”的字樣。并且依

次滾動(dòng)出下面的相關(guān)校準(zhǔn)參數(shù)：

2請(qǐng)輸入材料聲速：5940m/s

請(qǐng)輸入起始距離：50mm按鍵改為100mm,

2請(qǐng)輸入終止距離：200mm

提示信息消失，進(jìn)入波形采樣階段

2.將探頭放置在CSK-IA試塊上厚度100mm的位置，如圖所示:

?武漢中科創(chuàng)新技術(shù)有限公司*22

3.此時(shí)屏幕上出現(xiàn)試塊的一次和二次回波.輕輕移動(dòng)探頭找出最高回波,按

鍵,此時(shí)儀器將自動(dòng)調(diào)節(jié)零偏直到一次波對(duì)齊100mm位置,且二次波對(duì)齊

200mm位置后，儀器調(diào)準(zhǔn)結(jié)束,并自動(dòng)彈出自動(dòng)校準(zhǔn)完畢的提示。如下圖

*注:校準(zhǔn)過(guò)后，探頭的入射零點(diǎn)和聲速將自動(dòng)存入儀器中，若重新調(diào)?？稍侔匆?/p>

次，

重復(fù)上述操作即可。已校準(zhǔn)過(guò)儀器重新調(diào)校的時(shí)候儀器會(huì)給出

“已校準(zhǔn)過(guò)，是否重新調(diào)校?”

按重新開(kāi)始調(diào)校過(guò)程，按其它鍵退出不重新調(diào)校！

3.2.1.3直探頭AVG曲線制作

本儀器中給用戶提供AVG曲線鑄鍛件探傷功能，用戶可根據(jù)探傷范圍制作出

相應(yīng)長(zhǎng)度的AVG曲線，作了曲線后，儀器能根據(jù)缺陷波和曲線之間的關(guān)系自動(dòng)算出

缺陷的當(dāng)量直徑即①值.

制作AVG曲線有多種方法,本機(jī)內(nèi)根據(jù)波形采樣對(duì)象的不同分為大平底采樣

和平底孔采樣兩種方法

大平底采樣:此方法可用于缺少標(biāo)準(zhǔn)試塊或只有現(xiàn)場(chǎng)實(shí)物采樣時(shí)使用，只需找出

試塊或

儀器校今

實(shí)物的大平底反射回波作為采樣點(diǎn)即可制作AVG曲線。

平底孔采樣:此方法適用于試塊齊全，有標(biāo)準(zhǔn)平底孔的用戶制作，以相同大小不

同深度的平底孔來(lái)采樣制作。

兩種方法除采樣對(duì)象不同外，其制作方法完全相同,下面以大平底采樣法為例講

述直探頭AVG曲線的制用流程。

準(zhǔn)備若干厚度不同的大平底試塊或?qū)嵨镌噳K。按

，儀器下方出現(xiàn)提示

請(qǐng)選擇制作對(duì)象:大平底

儀器提示:請(qǐng)使用閘門(mén)鎖定測(cè)試點(diǎn)!提示信息消失后進(jìn)入波形采樣階段。如圖

H

屏幕右上角顯示“測(cè)試點(diǎn)：O1”并閃動(dòng).將探頭放在其中一個(gè)大平底試塊上,觀察其

波,按鍵移動(dòng)閘門(mén)套住一次回波，按將波形調(diào)整到滿屏的80%高度,

按鎖定回波峰值,按結(jié)束該點(diǎn)的采樣。

此時(shí)屏幕右上角的提示變?yōu)椤皽y(cè)試點(diǎn)：02"并閃動(dòng)，如圖

儀器校RL

?武漢中科創(chuàng)新技術(shù)有限公司.

24

按照上述方法，將探頭放依次放在每個(gè)試塊上找出大平底的最強(qiáng)反射并用閘門(mén)

套住一次回波，按將波形調(diào)整到滿屏的

80%高度，按鎖定回波峰值,按結(jié)束該點(diǎn)的

采樣。最后一點(diǎn)采擇完成后,再按一次儀器出現(xiàn)提示:確定完成曲線嗎?按結(jié)束曲

線制作，按其它任意鍵返回繼續(xù)制作曲線。確定結(jié)束后,將繪制出整條曲線。在制作

曲線

，刪除上一個(gè)記錄的采樣點(diǎn)重新采樣。

曲線完成后將得到一個(gè)大平底曲線，在探傷過(guò)程中根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)可以在儀器中設(shè)置

一條

①值

曲線，操作如下:

按

進(jìn)入探傷列表，按

設(shè)置三條①值曲線根據(jù)需要進(jìn)行設(shè)置。例如，拱傷時(shí)以①4mm為探傷標(biāo)準(zhǔn)，則按

進(jìn)入曲線中值輸入，按鍵將初始值改為4mm，再按如圖。

按返回探傷界面，可看到屏幕上出現(xiàn)一條相應(yīng)的64曲線，按鍵，再按

鍵將曲線調(diào)整到合適的高度，即可進(jìn)行探傷，探傷過(guò)程中發(fā)了缺陷波，儀器

不僅能顯示出缺陷的深度還能根據(jù)波形與曲線的相對(duì)關(guān)系算出該缺陷的當(dāng)量中

值。

CCAA

3.2.2斜探頭橫波自動(dòng)校準(zhǔn)

對(duì)于橫波斜探頭接觸法檢測(cè)而言，在執(zhí)行任何檢測(cè)任務(wù)前做距離校準(zhǔn)是必不可

少的程序。商用斜探頭的類型眾多,結(jié)構(gòu)尺寸各異，對(duì)不同的檢測(cè)對(duì)象要求的K值不

同，因而在楔塊中的聲程的大小也不一樣，即對(duì)每個(gè)橫波斜探頭都要測(cè)量它的入射點(diǎn),

確定零偏值。斜探頭在使用過(guò)程中隨著楔塊的磨損、經(jīng)過(guò)一段使用后也要重新校

準(zhǔn)。

3.2.2.1斜探頭橫波快捷調(diào)校模式（主要針對(duì)于CSK-IA試塊

下面以CSK-IA標(biāo)準(zhǔn)試塊為例如圖所示，介紹斜探頭的快捷調(diào)校步驟。

醐探頭與儀器連接好，如上圖所示將探頭放置在CSK-IA試塊上。

篌通道鍵，再按鍵,選擇任意斜探頭通道，按鍵進(jìn)入?yún)?shù)列表，光標(biāo)處于“試塊選

擇......其它試塊”一欄，首先根據(jù)需要選擇所使用測(cè)試

試塊，因我們現(xiàn)在使用的測(cè)試試塊為CSK-IA試塊，所以按將試塊選擇欄改為

”試塊選擇...........CSK-IA”。按鍵，返回探傷界面。

儀器權(quán)代

?武漢中科創(chuàng)新技術(shù)有限公司.

26

?ft行自動(dòng)校準(zhǔn)

①按熱鍵進(jìn)入自動(dòng)校準(zhǔn)功能，屏幕右上角顯示“自動(dòng)校準(zhǔn)”字樣且兩閘門(mén)

自動(dòng)套在CSK-IA試塊50mm和100mm圓弧的反射波。

②將斜探頭放置在CSK-IA試塊的R50和R100的圓心處,來(lái)回移動(dòng)探頭，直

到R50和RI00的反射回波同時(shí)出現(xiàn)在波形顯示區(qū)內(nèi)。此時(shí)首先尋找區(qū)100弧

面最高反射回波，鍵，按

鍵將波形移動(dòng)到屏幕內(nèi)，當(dāng)回波高度超出滿刻度時(shí)可按鍵.反復(fù)上述直至確定最

高反射波,此時(shí)看R50弧面的回波是否在屏幕上高

于10%。若低于此高度，可將探頭平行地向R50的弧面橫向移動(dòng)，直至R50

的弧面回波高度在滿刻度的10%以上。

③再按鍵開(kāi)始自動(dòng)校準(zhǔn)。校準(zhǔn)完之后，滾動(dòng)出一個(gè)提示信息。

畫(huà)

口

“自動(dòng)校準(zhǔn)完畢!”

當(dāng)由于其他原因而導(dǎo)致校準(zhǔn)不出來(lái)的話，就會(huì)有相關(guān)的信息提示，如：

“閘門(mén)未鎖定波,無(wú)法校準(zhǔn)!!”

④完畢后屏幕上顯示“請(qǐng)用鋼尺測(cè)前沿：0.(r,此時(shí)手應(yīng)固定探頭不動(dòng)，用鋼

尺測(cè)量探頭前端到CSK?1A試塊R100端邊的距離X,然后用100-X所得到的

數(shù)值就是探頭的前沿值。如圖所示

“請(qǐng)用鋼尺測(cè)前沿00”,用將探頭前沿值改為實(shí)測(cè)數(shù)值后，

按鍵前沿修改完畢,儀器下方提示“是否重校?”按鍵重校，按其它鍵自動(dòng)跳到下一

步驟K值測(cè)試狀態(tài)°

322.2K值測(cè)試快捷操作模式(主要針對(duì)于CSK-IA試塊

儂試塊選擇欄選擇為CSK-IA試塊時(shí)，在自動(dòng)調(diào)校完畢后，儀器會(huì)自動(dòng)進(jìn)入K

值測(cè)試狀態(tài),屏幕下方顯示“進(jìn)入K值測(cè)試”，且默認(rèn)CSK-IA試塊上深度30mm的

050孔為K值測(cè)試孔，閘門(mén)自動(dòng)鎖定050孔波位置如圖所示：

斜/寰01

抑制00Z

噌克ie.1)

>22.0dR

V52.3

T4G8

?23.4

nnz

領(lǐng)探頭對(duì)準(zhǔn)050孔方向，前后移動(dòng)探頭找出孔波最高回波.按鍵，屏幕下方顯示

“所測(cè)K值為按鍵K值測(cè)試完畢,儀器底部顯示“是否重校?”，

按鍵可重新校準(zhǔn)K值，按其它鍵退出!

3.223斜探頭橫波自動(dòng)調(diào)?；静僮鞑襟E（使用非CSK-IA試塊調(diào)校時(shí)操作步

驟下面以CSK-1A標(biāo)準(zhǔn)試塊為例如圖所示，說(shuō)明斜探頭的校準(zhǔn)程序。

斜探頭橫波入射零點(diǎn)手調(diào)校準(zhǔn)跟直探頭一樣，用戶必須準(zhǔn)確的找到斜探頭的入

射點(diǎn)（入射點(diǎn)是指其主聲束軸線與探測(cè)面的交點(diǎn)。下面就利用CSK-1A試塊的R50

和RI00的兩個(gè)回波進(jìn)行校準(zhǔn)。

操作:

1.按鍵,按鍵選擇任意斜探頭通道,

2.按自動(dòng)調(diào)校鍵，此時(shí)屏幕下方出現(xiàn)如下提示:

請(qǐng)輸入材料聲速：3240m/s

請(qǐng)輸入起始距離:50mm若不是50mm，按改為50mm，再按

儀器權(quán)代

28請(qǐng)輸入終止距離:100mm

提示信息消失，進(jìn)入波形采樣階段。

3.將探頭放置在CSK-IA試塊上，發(fā)射方向?qū)?zhǔn)R50和RI00的弧面上,如圖:

前后移動(dòng)探頭找出RIOO弧面最高反射回波。觀察屏幕上R100弧面反射回波

的位置，若偏離到屏幕以外側(cè)，則按左下方向鍵，調(diào)整零偏，將R100的回波移進(jìn)屏幕內(nèi)

閘門(mén)中，如圖：

按波峰記憶鍵記錄最高回波.當(dāng)找到R100最大反射波時(shí)，平移的將探頭向R50

弧面移動(dòng)探頭，讓R50弧面在屏幕上達(dá)到20%以上的高度,然后按，此時(shí)儀器將自動(dòng)調(diào)

節(jié)零偏，直到R50和R100的反射駕波分別對(duì)齊50mm和100mm的位置后，儀器校準(zhǔn)

結(jié)束，并自動(dòng)彈出提示：

自動(dòng)校準(zhǔn)完畢！

請(qǐng)拿鋼尺測(cè)量前沿O.omm

此時(shí)固定探頭不動(dòng)，拿尺量出探頭前到R100弧面端邊的距離,如圖:

用100減去這段距離的得數(shù)為前沿值。按輸入前沿,

儀器將自動(dòng)將前沿值存入?yún)?shù)中。入射點(diǎn)校準(zhǔn)完畢!

3.2.2.4斜探頭橫波K值自動(dòng)校準(zhǔn)基本方法

測(cè)K值功能適用于斜探頭、表面波探頭和小角度。例如:標(biāo)識(shí)為2.5P13313K2-

D的探頭，從標(biāo)識(shí)上就可以看出它是一只斜探頭,K值為2,所用晶片尺寸為13313mm

的方片，頻率為2.5MHz。對(duì)于探頭的標(biāo)稱值,特別是K值都與實(shí)際值有一定的誤

差。為了在檢測(cè)時(shí)精確定位缺陷的距離，所以在入射點(diǎn)校準(zhǔn)后必須測(cè)K值。

本機(jī)型的K值測(cè)量，充分使用了數(shù)字儀器的數(shù)據(jù)處理能力,采用孔徑直接輸入方

式，儀器根據(jù)孔徑輸入值自動(dòng)計(jì)算補(bǔ)償量，完全消除了由孔徑帶來(lái)的深度和聲程誤差,

使測(cè)量的K值準(zhǔn)確可靠。本儀器測(cè)量K值簡(jiǎn)單方便，利用對(duì)已知孔徑和孔徑中心距

離H（離探頭放置的一面的孔進(jìn)行測(cè)量°調(diào)節(jié)K值，使得數(shù)據(jù)顯示區(qū)的垂直距離的值

等于孔中心距離時(shí)，此時(shí)的K值就是此斜探頭的K值。下面就利用CSK-1A標(biāo)準(zhǔn)試

塊的*50的孔（孔徑為450,孔心深度為30mm對(duì)K值進(jìn)行測(cè)量。如圖所示,將探頭

放置在試塊上。

操作:

按鍵，儀器彈出提示:

請(qǐng)選擇K值測(cè)試方式:手調(diào)按鍵改為自動(dòng),

儀器校代

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回

至

畫(huà)

30請(qǐng)輸入測(cè)試孔孔徑:50mm

請(qǐng)輸入測(cè)試孔深度：30mm

提示信息消失，進(jìn)入波形采樣階段。

將探頭放置在CSK-IA試塊上發(fā)射方向?qū)?zhǔn)試塊上孔徑50mm，中心深度為

30mm的圓孔，前后移動(dòng)探頭找出該孔最強(qiáng)反射，按

鍵移動(dòng)閘門(mén)鎖定回波，若回波低于20%高度或超出屏幕，按

將波形調(diào)整到80%高度，再按鎖定回波峰，確認(rèn)找到最強(qiáng)反射后按,儀器將自動(dòng)算

出K

值并存入?yún)?shù)。K值測(cè)試完畢!如圖所示。

3.2.2.5距離一波幅曲線的應(yīng)用

距離一波幅曲線是一種描述反射點(diǎn)至波源的距離、回波高度及當(dāng)量大小間相互

關(guān)系的曲線。大小相同的缺陷由于距離不同,回波高度也不相同。因此，距離一波幅

曲線對(duì)缺陷的定量非常有用。本儀器可自動(dòng)制作距離一波幅曲線（DAC曲線。

1曲線的制作:

本例以CSK-IIIA試塊為例介紹DAC曲線的制作流程。按照上步驟對(duì)探頭進(jìn)

行入射點(diǎn)和K值校正后，按，儀器出現(xiàn)提示：

請(qǐng)使用閘門(mén)鎖定測(cè)試點(diǎn)！

提示消失后進(jìn)入波形采樣階段。屏幕右上角出現(xiàn)測(cè)試點(diǎn)01,并閃爍，如圖：

將探頭放置在CSK-1IIA試塊上，尋找試塊上不同深度（1）P6的橫孔回波的反射,

例如

先找10mm深的孔，探頭對(duì)齊10mm深的孔，前后移動(dòng)找出該孔回波，按鍵移動(dòng)閘

門(mén)鎖定回波，若波形超出滿屏或低于20%高度可按一下，將波形調(diào)整到80%高度.按下,

記錄高波回波，再移動(dòng)探頭，直到找出最高回波，按,結(jié)束第一點(diǎn)的采樣。

他試點(diǎn)：01斜/衰01

麗001

增密0I

63.6dB

±0.0

、22.4

?*110

410.0

80.5Z

儀器右上方的測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)跳為02,按照上述方式依波找出所測(cè)孔的最高回波并

記錄下

來(lái),最終孔的深度，一般大于被測(cè)工件厚度的2倍，當(dāng)最后一個(gè)點(diǎn)采樣完成后，再按

一次，儀器提示：

確定完成曲線嗎?

若確定完成曲線則接，否則按其它任意鍵返回繼續(xù)制作曲線。

可刪除上一個(gè)制作的點(diǎn)重新采樣。確認(rèn)后儀器在屏

儀器校RL

武漢中科創(chuàng)新技術(shù)有限公司?

32幕上出現(xiàn)一條根據(jù)剛才用戶采樣的回波峰值繪制的曲線，即基準(zhǔn)線。

2曲線的調(diào)整，進(jìn)入調(diào)整狀.屏幕上的光標(biāo)將在每個(gè)制作點(diǎn)之間循環(huán)跳動(dòng),光標(biāo)指

向哪點(diǎn)時(shí),可以按

來(lái)調(diào)整曲線高度,調(diào)整完畢后按確認(rèn)鍵退出，

調(diào)整狀態(tài)。

確定了基準(zhǔn)線后，可進(jìn)入?yún)?shù)列表中根據(jù)探傷標(biāo)準(zhǔn)要求，設(shè)置評(píng)定、定量和判廢

操作:按進(jìn)入探傷列表，按鍵移動(dòng)箭頭光標(biāo)，對(duì)應(yīng)相的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)

置,以評(píng)定-9、定量-3、判廢+5、表面補(bǔ)償+4為例,如圖:

曲線設(shè)置

，評(píng)定

定量

判廢

友而認(rèn)俗

參數(shù)輸入完畢后，按鍵返回探傷界面，屏幕上根據(jù)所輸入的參數(shù)自動(dòng)生成三條曲

線。曲線制作完畢，可進(jìn)入探傷工作。

曲線設(shè)首

，評(píng)定??…-9dB

定量????,-3dB

判廢?????+5dB

表面補(bǔ)償?,???4dB

3曲線的刪除:

儀器將出現(xiàn)提示:

確定要?jiǎng)h除曲線?

按兩次刪除曲線，若放棄刪除曲線，則按其它任意鍵。

4曲線的延長(zhǎng):

在曲線制作完成后,如果因?yàn)樵噳K不全或其它原因要延長(zhǎng)曲線，可使用曲線延長(zhǎng)

功能。

制作曲線完成后再按制作對(duì)應(yīng)的鍵,儀器提示請(qǐng)輸入晶片尺寸，和延長(zhǎng)的范圍，則

儀器將自動(dòng)按照橫通孔的聲壓法則將曲線延長(zhǎng)至用戶指定范的深度。

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34四探傷應(yīng)用

本機(jī)根據(jù)用戶在探傷中的各種需求增加了諸多探傷的輔助功能，應(yīng)用這些功能

將大大的減化掉以住探傷中的人為計(jì)算和繁瑣的操作,為提高探傷效率創(chuàng)造了良好

的平臺(tái)。本章將著重對(duì)這些功能進(jìn)行介紹，用戶可根據(jù)自身探傷要求選擇適合自己

的功能，以簡(jiǎn)化探傷過(guò)程。

4.1焊縫功能（適用于斜探頭4.1.1焊縫參數(shù)設(shè)置

①按鍵進(jìn)入?yún)?shù)頁(yè)顯示畫(huà)面，使用

鍵移動(dòng)光標(biāo)指向焊縫功能欄。焊縫功能22222222設(shè)置

②按

鍵進(jìn)入焊縫圖標(biāo)參數(shù)設(shè)置子功能菜單,如下圖所示。

③參照焊縫參數(shù)圖，使用

鍵移動(dòng)光標(biāo)選擇您要修改的焊縫參數(shù)項(xiàng)。④確定了修改的焊縫參數(shù)項(xiàng)后，按鍵

進(jìn)入修改和重新設(shè)置。在數(shù)字的下方有

一個(gè)光標(biāo)，表示當(dāng)前調(diào)節(jié)的步進(jìn)值。如果長(zhǎng)時(shí)間地按住某方向鍵時(shí)，步進(jìn)值會(huì)逐

步增加。松開(kāi)按鍵后，步進(jìn)值又恢復(fù)到儀器設(shè)定的默認(rèn)初值（默認(rèn)值是根據(jù)各個(gè)

參數(shù)的特性而設(shè)定。焊縫參數(shù)輸入完后,再按鍵退出此焊縫參數(shù)項(xiàng)的設(shè)置，

回到焊縫圖標(biāo)參數(shù)設(shè)置子功能菜單。如果要是還要修改其它的參數(shù)項(xiàng),就重復(fù)

上

面的操作。

⑤輸入焊縫圖的相關(guān)參數(shù)后，使用鍵移動(dòng)光標(biāo)指向焊縫功能欄，按

握傷應(yīng)用

鍵進(jìn)入焊縫功能應(yīng)用狀態(tài)，并顯示使用焊縫參數(shù)所畫(huà)的焊縫圖標(biāo),如下圖所示。

焊

tLt10

摩12

丹Hl3

H23

女H3

H43

大H152

215

夫360

45

退

出I

41

如顯示的焊縫圖標(biāo)不正確時(shí)，可把焊縫功能參數(shù)改為“設(shè)置”狀態(tài)，重復(fù)做①②

③的操作。

注釋：

1.只有在焊縫功能為“設(shè)置”狀態(tài)時(shí),才能修改與焊縫圖標(biāo)相關(guān)的參數(shù)。

2.在焊縫功能為“應(yīng)用“狀態(tài)時(shí)，才能在A掃功能中使用焊縫缺陷定位分析。

同時(shí)與焊縫圖標(biāo)相關(guān)的參數(shù)被鎖定（例如:工件厚度和探頭前沿等。

3.焊縫圖標(biāo)參數(shù)中的“厚度H1”與大菜單中的“工件厚度”是同一參數(shù)值，

只是在不同的地方名稱不同而也。

4.1.2焊縫圖的缺陷定位分析

焊縫功能設(shè)定為“應(yīng)用“狀態(tài)后，可使用焊縫缺陷定位分析功能。

①使用閘門(mén)鎖定缺陷波，并找出最大缺陷波峰值后按鍵。

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36

②儀器滾動(dòng)出提示輸入信息：

焊縫中心至前沿:19.7mm

輸入用尺子測(cè)量焊縫中心至探頭前沿的距離后，按

鍵進(jìn)入焊縫缺陷定位分析狀態(tài),如下圖所示。焊縫圖標(biāo)內(nèi)小十字標(biāo)記表示缺陷

位置。

③使用鍵可左右移動(dòng)座標(biāo)內(nèi)的虛線光標(biāo),焊縫圖標(biāo)內(nèi)的缺陷位置標(biāo)記

（小十字也同時(shí)在聲線上移動(dòng),并在數(shù)據(jù)顯示區(qū)顯示當(dāng)前虛線光標(biāo)位置的相關(guān)數(shù)

據(jù)。

握傷應(yīng)用

（注:此時(shí)按鍵可以存儲(chǔ)焊縫圖

④按任意鍵退出焊縫缺陷定位分析狀態(tài),如下圖所示。

4.2測(cè)厚功能（適用于直探頭

①首先，按鍵進(jìn)入通道選擇功能，選擇直探頭通道，利用標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行直探頭縱波

入射零點(diǎn)校準(zhǔn)。

②校準(zhǔn)完畢后，按鍵進(jìn)入?yún)?shù)列表，移動(dòng)方向鍵，將光標(biāo)移動(dòng)至參數(shù)列表中功能設(shè)

欄內(nèi)的“功能選擇……探傷功能”子欄目前面。按鍵選擇“測(cè)厚功能''，再按鍵退

出參數(shù)列表，進(jìn)入測(cè)厚工作狀態(tài)

③將探頭置于待測(cè)工件上，調(diào)整靈敏度，找工件的底面反射波,然后移動(dòng)閘門(mén)A和

B分別套住底面一次反射波和二次反射波,工件實(shí)際厚度值即顯示在屏幕右側(cè)，如下

圖所示：

回

斜/泰01

抑制?。工

增益＜0.!

?27.7dB

f.?

\50.0

f44.7

探傷參數(shù)

二■能,"玉

能

功

選

忤...........探傷功能

裂

功

能

紋...........關(guān)

性

校

瞼

能...........關(guān)

一

-期

日儀H快費(fèi)-----------------

度.....................2008/08/08

充

中

烽

班

枳

選

色

護(hù)

扉

關(guān)

保

茶

定

參

自

熱整

kG

探傷參數(shù)

功能選杼.............探傷功能

功

選

能

擇

裂紋功能.............關(guān)

裂

功

紋

能

性能

校

驗(yàn).............關(guān)

性

校

能

驗(yàn)

一

一

一一--儀叁快置------------------

期

日........................2008/08/08

慎

期

先

.............中日

擇

度

的

無(wú)

色

選.............彩色系劑1

護(hù)

拉

顏

屏

苓

保

色

.............關(guān)選

屏

定

護(hù)

爹

幕

致

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........................S

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一

功能選攆