2025年無損檢測資格證考試無損檢測現(xiàn)場記錄實(shí)施試卷附答案一、單項(xiàng)選擇題（共20題，每題2分，共40分）1.無損檢測現(xiàn)場記錄中，檢測設(shè)備的關(guān)鍵信息不包括以下哪項(xiàng)？A.設(shè)備型號B.校準(zhǔn)有效期C.操作人員工號D.探頭頻率（超聲檢測）答案：C2.依據(jù)NB/T47013-2015，承壓設(shè)備磁粉檢測現(xiàn)場記錄中，需明確標(biāo)注的磁化方法是？A.連續(xù)法/剩磁法B.周向/縱向C.交流/直流D.觸頭法/線圈法答案：A3.滲透檢測現(xiàn)場記錄中，滲透劑滴落污染被檢表面時，正確的處理記錄應(yīng)包含？A.污染面積估算值B.重新清洗時間C.污染位置坐標(biāo)D.滲透劑型號變更說明答案：C4.超聲檢測（UT）現(xiàn)場記錄中，缺陷定位的基準(zhǔn)應(yīng)優(yōu)先采用？A.工件表面標(biāo)記線B.檢測人員目測定位C.儀器屏幕坐標(biāo)D.工件設(shè)計圖紙基準(zhǔn)答案：D5.射線檢測（RT）現(xiàn)場記錄中，像質(zhì)計放置位置的偏差超過標(biāo)準(zhǔn)要求時，應(yīng)？A.繼續(xù)檢測并備注偏差值B.終止檢測并重新布片C.調(diào)整像質(zhì)計位置后補(bǔ)記D.記錄偏差但不影響結(jié)果答案：B6.渦流檢測（ET）現(xiàn)場記錄中，提離效應(yīng)導(dǎo)致信號異常時，需記錄的關(guān)鍵參數(shù)是？A.探頭提離高度實(shí)測值B.檢測速度調(diào)整值C.增益補(bǔ)償倍數(shù)D.工件表面粗糙度答案：A7.現(xiàn)場記錄填寫時，若出現(xiàn)筆誤，正確的修改方式是？A.用修正液覆蓋后重寫B(tài).劃單橫線刪除并簽名C.直接涂黑原內(nèi)容D.撕頁重寫答案：B8.依據(jù)GB/T26951-2011，磁粉檢測現(xiàn)場記錄中，檢測環(huán)境濕度應(yīng)控制在？A.≤60%RHB.≤70%RHC.≤80%RHD.≤90%RH答案：C9.滲透檢測現(xiàn)場記錄中，顯像時間不足標(biāo)準(zhǔn)要求時，應(yīng)？A.延長顯像時間并補(bǔ)記B.標(biāo)記該區(qū)域?yàn)椤按_認(rèn)”C.記錄實(shí)際時間并注明偏離D.忽略記錄繼續(xù)檢測答案：C10.超聲檢測過程中，耦合劑更換為未經(jīng)驗(yàn)證的型號時，現(xiàn)場記錄必須包含？A.耦合劑生產(chǎn)廠家B.更換原因說明C.新舊型號對比數(shù)據(jù)D.檢測人員操作培訓(xùn)記錄答案：B11.射線檢測現(xiàn)場記錄中，曝光曲線的使用應(yīng)記錄？A.曲線編制單位B.曲線適用厚度范圍C.實(shí)際曝光參數(shù)與曲線的偏差D.曲線有效期答案：C12.磁粉檢測現(xiàn)場記錄中，檢測靈敏度驗(yàn)證的方法是？A.標(biāo)準(zhǔn)試塊檢測B.人員視力檢查C.設(shè)備電流測試D.磁懸液濃度測量答案：A13.滲透檢測現(xiàn)場記錄中，預(yù)清洗與滲透劑施加的時間間隔超過標(biāo)準(zhǔn)時，應(yīng)？A.重新清洗并記錄新時間B.記錄間隔時間及可能影響C.縮短后續(xù)步驟時間補(bǔ)償D.標(biāo)記該區(qū)域?yàn)椴缓细翊鸢福築14.超聲檢測現(xiàn)場記錄中，缺陷波高的測量應(yīng)使用？A.當(dāng)量試塊對比法B.儀器自動測量值C.檢測人員經(jīng)驗(yàn)估算D.標(biāo)準(zhǔn)試塊校準(zhǔn)后手動測量答案：A15.渦流檢測現(xiàn)場記錄中，干擾信號來源的排查過程應(yīng)？A.簡要記錄排查步驟B.詳細(xì)記錄排查方法及結(jié)果C.僅記錄最終確認(rèn)的干擾源D.無需記錄答案：B16.現(xiàn)場記錄的保存期限，依據(jù)TSG21-2016《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》應(yīng)為？A.3年B.5年C.7年D.10年答案：B17.射線檢測現(xiàn)場記錄中，暗室處理的顯影溫度偏差超過±1℃時，應(yīng)？A.調(diào)整溫度后繼續(xù)處理B.記錄偏差值及對底片質(zhì)量的影響C.廢棄該批次底片D.重新配制顯影液答案：B18.磁粉檢測現(xiàn)場記錄中，磁懸液濃度的測量應(yīng)使用？A.密度計B.梨形沉淀管C.天平D.粘度計答案：B19.滲透檢測現(xiàn)場記錄中，去除多余滲透劑時采用的方法（如溶劑去除法）應(yīng)？A.記錄具體操作手法B.僅記錄方法名稱C.記錄去除時間D.記錄操作人員工號答案：A20.超聲檢測現(xiàn)場記錄中，檢測面表面粗糙度超過標(biāo)準(zhǔn)要求時，應(yīng)？A.打磨至要求后檢測并記錄B.記錄實(shí)際粗糙度值及補(bǔ)償措施C.降低檢測靈敏度繼續(xù)檢測D.終止檢測答案：B二、判斷題（共10題，每題1分，共10分）1.現(xiàn)場記錄可使用鉛筆填寫，以方便修改。（）答案：×（應(yīng)使用不易褪色的筆，如圓珠筆或中性筆）2.射線檢測中，只要底片黑度符合要求，像質(zhì)計位置偏差可忽略記錄。（）答案：×（像質(zhì)計位置偏差需明確記錄，嚴(yán)重時需重新檢測）3.磁粉檢測現(xiàn)場記錄中，只需記錄缺陷的位置，無需記錄磁痕的形態(tài)。（）答案：×（磁痕形態(tài)是判斷缺陷性質(zhì)的關(guān)鍵，需詳細(xì)記錄）4.滲透檢測中，環(huán)境溫度低于5℃時，應(yīng)記錄溫度值并采取保溫措施。（）答案：√5.超聲檢測現(xiàn)場記錄中，缺陷的深度測量可僅記錄相對位置，無需絕對坐標(biāo)。（）答案：×（需記錄絕對坐標(biāo)，便于后續(xù)復(fù)查）6.渦流檢測現(xiàn)場記錄中，提離效應(yīng)的補(bǔ)償值可由檢測人員自行估算，無需記錄具體數(shù)值。（）答案：×（補(bǔ)償值需實(shí)測并記錄）7.現(xiàn)場記錄應(yīng)由檢測人員本人簽字，他人代簽需注明原因。（）答案：√8.射線檢測現(xiàn)場記錄中，膠片型號與透照工藝卡不一致時，只需記錄實(shí)際型號即可。（）答案：×（需注明型號變更原因及對檢測結(jié)果的影響）9.磁粉檢測中，磁化電流值的波動范圍超過5%時，應(yīng)記錄波動情況及處理措施。（）答案：√10.滲透檢測現(xiàn)場記錄中，顯像劑噴涂厚度不均勻時，無需記錄，只需確保最終觀察清晰。（）答案：×（噴涂厚度影響顯像效果，需記錄并評估）三、簡答題（共5題，每題8分，共40分）1.簡述無損檢測現(xiàn)場記錄的核心要素。答案：核心要素包括：（1）檢測基本信息（工件名稱、編號、材質(zhì)、檢測部位等）；（2）檢測參數(shù)（設(shè)備型號、探頭/膠片參數(shù)、工藝參數(shù)如電壓/電流/時間等）；（3）環(huán)境條件（溫度、濕度、光照等）；（4）檢測過程記錄（操作步驟、異常情況及處理）；（5）檢測結(jié)果（缺陷位置、尺寸、性質(zhì)描述）；（6）人員信息（檢測人員、復(fù)核人員簽字及時間）。2.超聲檢測現(xiàn)場記錄中，如何規(guī)范記錄缺陷的“位置”和“尺寸”？答案：（1）位置記錄：以工件設(shè)計圖紙的基準(zhǔn)坐標(biāo)系為參考，記錄缺陷的絕對坐標(biāo)（如距工件左端Xmm，距上表面Ymm），或標(biāo)注在工件表面的標(biāo)記位置（如“12點(diǎn)方向，距焊縫中心5mm”）；（2）尺寸記錄：采用當(dāng)量法時，記錄對比試塊的型號及當(dāng)量值（如“φ2×20橫孔當(dāng)量”）；采用測長法時，記錄缺陷的長度（如“6dB法測長15mm”），必要時標(biāo)注高度（深度）。3.射線檢測現(xiàn)場記錄中，需特別關(guān)注的“非預(yù)期事件”及記錄要求有哪些？答案：非預(yù)期事件包括：（1）膠片劃傷或污染；（2）曝光參數(shù)偏離工藝卡（如電壓波動±5kV）；（3）像質(zhì)計放置錯誤；（4）暗室處理異常（如顯影時間不足）。記錄要求：需詳細(xì)描述事件發(fā)生的時間、位置、具體表現(xiàn)（如“第3號片左下角劃傷，長度10mm”），采取的糾正措施（如“重新透照該區(qū)域”），以及對檢測結(jié)果的影響評估（如“劃傷不影響缺陷評定”）。4.磁粉檢測現(xiàn)場記錄中，“磁痕分析”應(yīng)包含哪些內(nèi)容？答案：（1）磁痕類型（如線性、圓形、分散狀）；（2）磁痕尺寸（長度、寬度）；（3）磁痕位置（相對于工件特征的坐標(biāo)）；（4）磁痕性質(zhì)判斷（如裂紋、未熔合、偽顯示）；（5）驗(yàn)證方法（如退磁后復(fù)探、滲透檢測輔助驗(yàn)證）；（6）處理建議（如返修、繼續(xù)使用）。5.滲透檢測現(xiàn)場記錄中，“滲透時間”和“干燥時間”的記錄需注意哪些細(xì)節(jié)？答案：（1）滲透時間：需記錄實(shí)際滲透開始與結(jié)束時間（精確到分鐘），并注明是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)要求（如“滲透時間25min，標(biāo)準(zhǔn)要求≥15min”）；（2）干燥時間：記錄干燥方式（自然干燥/熱風(fēng)干燥）、溫度（如“40℃熱風(fēng)干燥”）、實(shí)際干燥時間（如“8min”），若干燥不充分（如表面仍有濕痕），需標(biāo)注并評估對顯像效果的影響。四、案例分析題（共2題，每題15分，共30分）案例1：某企業(yè)對一臺Q345R鋼制壓力容器（直徑2000mm，壁厚25mm）的環(huán)焊縫進(jìn)行超聲檢測（UT），檢測人員按NB/T47013.3-2015執(zhí)行?，F(xiàn)場記錄如下：“檢測部位：環(huán)焊縫12點(diǎn)至6點(diǎn)方向；設(shè)備：HS610E，探頭5P14×14K2；耦合劑：甘油；掃描靈敏度：φ2×40-12dB；發(fā)現(xiàn)缺陷1處，位于距焊縫中心左側(cè)10mm，深度12mm，波高85%滿屏，長度12mm（6dB法）?！眴栴}：上述記錄存在哪些遺漏或錯誤？應(yīng)補(bǔ)充哪些內(nèi)容？答案：遺漏或錯誤：（1）未記錄檢測時間（年/月/日/時/分）；（2）未記錄環(huán)境溫度（影響耦合劑性能及聲速）；（3）未記錄探頭校準(zhǔn)狀態(tài)（如“探頭K值校準(zhǔn)合格，有效期至2025.06.30”）；（4）未記錄工件表面粗糙度（若超過6.3μm需補(bǔ)償）；（5）缺陷位置未明確絕對坐標(biāo)（如“環(huán)焊縫3點(diǎn)位置，距下封頭焊縫500mm”）；（6）未記錄復(fù)核人員簽字；（7）未注明缺陷性質(zhì)判斷（如“疑似未熔合”）。應(yīng)補(bǔ)充內(nèi)容：檢測時間（如“2025年3月15日14:30-16:00”）；環(huán)境溫度（如“22℃”）；探頭校準(zhǔn)信息；工件表面粗糙度（如“Ra=5μm”）；缺陷絕對位置描述；復(fù)核人（如“張三”）簽字；缺陷性質(zhì)初步判斷（如“經(jīng)分析為未熔合”）。案例2：某檢測機(jī)構(gòu)對橋梁鋼箱梁對接焊縫進(jìn)行射線檢測（RT），透照工藝卡要求使用Ir-192源，焦距600mm，曝光時間15min?，F(xiàn)場操作時，因源位置偏移導(dǎo)致實(shí)際焦距變?yōu)?50mm，檢測人員調(diào)整曝光時間至18min完成檢測，未在記錄中說明。底片評定時發(fā)現(xiàn)2處未熔合缺陷，但客戶質(zhì)疑檢測過程的合規(guī)性。問題：（1）檢測人員未記錄焦距偏移及時間調(diào)整的行為是否合規(guī)？為什么？（2）若需補(bǔ)充記錄，應(yīng)包含哪些關(guān)鍵信息？答案：（1）不合規(guī)。依據(jù)NB/T47013.2-2015，當(dāng)實(shí)際透照參數(shù)偏離工藝卡時，必須在現(xiàn)場記錄中詳細(xì)說明偏離情況及調(diào)整依據(jù)（如平方反比定律計