C8121-1:2011序文 11一般事項(xiàng) 11.1適用範(fàn)囲 1 12用語(yǔ)及び定義 33一般要求事項(xiàng) 54一般試験條件 55分類(lèi) 6 67感電に対する保護(hù) 88端子 99保護(hù)接地 11耐濕性,絶緑抵抗及び耐電圧 12機(jī)械的強(qiáng)度 13ねじ,通電部及び接続 14沿面距離及び空間距離 16耐熱性及び耐火性 17過(guò)度の殘留応力(自然割れ)及びさび(請(qǐng))に対する抵抗力 附屬書(shū)A(規(guī)定)この規(guī)格の対象となるランプソケットの例 21附屬書(shū)B(niǎo)(規(guī)定)適切な金屬 23附屬書(shū)C(規(guī)定)自然割れ又は腐食試験 24附屬書(shū)D(規(guī)定)振子式衝撃試験器 26附屬書(shū)JA(參考)ISと対応國(guó)際規(guī)格との対比表 28C8121-1:2011この規(guī)格は,工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化法第14條によって準(zhǔn)用する第12條第1項(xiàng)の規(guī)定に基づき,社団法人日本照明器具工業(yè)會(huì)(JLA)及び財(cái)団法人日本規(guī)格協(xié)會(huì)(JSA)から,工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)原案を具して日本工業(yè)規(guī)格を改正すべきとの申出があり,日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)の審議を経て,経済産業(yè)大臣が改正した日本工業(yè)規(guī)格である。これによって,JISC8121-1:2005は改正され,この規(guī)格に置き換えられた。この規(guī)格の一部が,特許権,出願(yuàn)公開(kāi)後の特許出願(yuàn)又は実用新案権に抵觸する可能性があることに注意を喚起する。経済産業(yè)大臣及び日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)は,こ川新案権に閃わる確認(rèn)について,真任はもたない。JISC8121の規(guī)格群には,次に示す部編成がある。JISC8121-1第1部:一般要求事項(xiàng)及び試験項(xiàng)日本工業(yè)規(guī)格JIS虧,丁,5少ト類(lèi)一第1部:一般要求事項(xiàng)及述試驗(yàn)序文この規(guī)格は,2008年に第4.1版として発行されたIEC60838-1を基とし,技術(shù)的內(nèi)容を変更して作成した日本工業(yè)規(guī)格である。なお,この規(guī)格で點(diǎn)線の下線を施してある簡(jiǎn)所は,対応國(guó)際規(guī)格を変更している事項(xiàng)である。変更の一覧表にその説明を付けて,附屬書(shū)JAに示す。ランプソケットという。)の一般要求小項(xiàng)及びランプの安全性要求小頭を評(píng)価する武験方法について定す8.4,8.5,8.6,9.3,10.7,笛條11,12.2,12.5,12.6,12.7,簡(jiǎn)條13,15.3,15.4,15.5及述15.9注記この規(guī)格の対応國(guó)際規(guī)格及びその対応の程度を表す記號(hào)を,次に示す。IEC60838-1:2008,Miscellaneouslampholders—Part1:Generalrequirementsandtests(MOD)なお,対応の程度を表す記號(hào)“MOD”は,ISO/IECGuide21-1に基づき,“修正している”引用規(guī)格のうちで,西層年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補(bǔ)を含む。)は適用しない。西層年の付記がない引用規(guī)格は,その最新版(追補(bǔ)を含む。)を適用する。JISC0920電気機(jī)械器具の外郭による保護(hù)等級(jí)(IPコード)注記対応國(guó)際規(guī)格:IEC60529:1989,Degreesofprotectionprovidedbyenclosures(IPCode)及びAmendment1:1999(IDT)2C8121-1:2011JISC2134固體絶緣材料の保証及び比較トラッキング指數(shù)の測(cè)定方法注記対応川際規(guī)格:IEC60112:1979,Methodforthedeterminationoftheproofandthecomparativetrackingindicesofsolidinsulatingmaterials(IDT)JISC3662(規(guī)格群)定格電圧450/750V以下の塩化ビニル絶緑ケーブル注記対応國(guó)際規(guī)格:IEC60227(allparts),Polyvinylchlorideinsulatedcablesofratedvoltagesuptoandincluding450/750V(MOD)JISC3663(規(guī)格群)定格電圧450/750V以下のゴム絶緑ケーブル注記対応國(guó)際規(guī)格:IEC60245(allparts),Rubberinsulatedcables—Ratedvoltagesuptoandincluding450/750V(MOD)JISC7709(規(guī)格群)電球類(lèi)の口金·受金及びそれらのゲージ並びに互換性·安全性注記対応國(guó)際規(guī)格:IEC60061(allparts),Lampcapsandholderstogetherwithgaugesforthecontrolofinterchangeabilityandsafety(MOD)JISC7709-1電球類(lèi)の口金·受金及びそれらのゲージ並びに互換性·安全性第1部:口金注記対応國(guó)際規(guī)格:IEC60061-1,Lampcapsandholderstogetherwithgaugesforthecontrolofinterchangeabilityandsafety.Part1:Lampcaps(MOD)JISC7709-2電球類(lèi)の口金·受金及びそれらのゲージ並びに互換性·安全性第2部:受金注記対応國(guó)際規(guī)格:IEC60061-2,Lampcapsandholderstogetherwithgaugesforthecontrolofinterchangeabilityandsafety.Part2:Lampholders(MOD)JISC7709-3電球類(lèi)の口金·受金及びそれらのゲージ並びに互換性·安全性第3部:ゲージ注記対応國(guó)際規(guī)格:IEC60061-3,Lampcapsandholderstogetherwithgaugesforthecontrolofinterchangeabilityandsafety.Part3:Gauges(MOD)JISC8105-1照明器具一第1部:安全性要求小頭通則注記対応國(guó)際規(guī)格:IEC60598-1,Luminaires—Part1:Generalrequirementsandtests(MOD)注記対応網(wǎng)際規(guī)格:IEC60238:2004,Edisonscrewlampholders及びAmendment1:2008(MOD)JISC60068-2-20環(huán)境試験方法一電気·電子一第2-20部:試験一試験Tー端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法注記対応國(guó)際規(guī)格:IEC60068-2-20:1979,BasicenvironmentaltestingproceduresPart2:Tests.TestT:Soldering(MOD)JISC60068-2-75:2004環(huán)境試験方法一電気·電子一第2-75部:ハンマ試験注記対応國(guó)際規(guī)格:IEC60068-2-75:1997,Environmentaltesting—Part2-75:Tests—TestEh:Hammertests(IDT)JISC60664-1低圧系統(tǒng)內(nèi)機(jī)器の絶緣協(xié)調(diào)一第1部:基本原則,要求事項(xiàng)及び試験注記対応國(guó)際規(guī)格:IEC60664-1:1992,Insulationcoordinationforequipmentwithinlow-voltagesystems—Part1:Principles,requirementsandtests,Amendment1:2000及びAmendment2:2002(MOD)JISC60695-2-11耐火性試験一電気·電子一最終製品に対するグローワイヤ燃焼性試験方法注記対応國(guó)際規(guī)格:IEC60695-2-11,Firehazardtesting—Part2-11:Glowing/hot-wirebasedtestmethods—Glow-wireflammabilitytestmethodforend-products(IDT)JISC60695-11-5耐火性試験一電気·電子一第11-5部:試験炎ーニードルフレーム(注射針バーナ)3C8121-1:2011試験方法一裝置,試験炎確認(rèn)試験裝置の配置及び指針注記対応同際規(guī)格:IEC60695-11-5:2004,Firehazardtesting—Part11-5:Testflames—Needle-flametestmethod—Apparatus,confirmatorytestarrangementandguidance(IDT)JISH8610電気亜鉛めっき注記対応國(guó)際規(guī)格:ISO2081:1986,Metalliccoatings—Electroplatedcoatingsofzinconironorsteel(MOD)注記対応國(guó)際規(guī)格:ISO1456:2003,Metalliccoatings—Electrodepositedcoatingsofnickelpluschromiumandofcopperplusnickelpluschromium(MOD)JISH8619電気すずめっき注記対応國(guó)際規(guī)格:ISO2093:1986,Electroplatedcoatingsoftin—Specificationandtestmethods(MOD)注記対応國(guó)際規(guī)格:ISO4046-4:2002,Paper,board,pulpsandrelatedterms—Vocabulary—Part4:Paperandboardgradesandconvertedproducts(MOD)JISZ8113..照明用語(yǔ)IEC60352-1,Solderlessconnections—Part1:Wrappedconnections—Generalrequirements,testmethodsandpracticalguidanceIEC60399,Barrelthreadforlampholderswithshadeholderring2用語(yǔ)及び定義2.1定格電圧(ratedvoltage)ランプソケットが意図する取大動(dòng)作心圧を示すために,裂造業(yè)者が指定する心圧。2.2動(dòng)作電圧(workingvoltage)ランプが正常狀態(tài)で動(dòng)作しているとき及びランプを取り外緑體に加わることが想定される最大実効値電圧。2.3定格電流(ratedcurrent)ランプソケットが意図する最大電流を示すために,製造業(yè)者が指定する電流。2.42.4.1感電保護(hù)に関してこの規(guī)格の要求事項(xiàng)を満たすように,追加手段,例えば,外郭などを必要とするよう4C8121-1:20112.4.22.52.62.7ランプは支持することはないが,電気的接觸を備えるために特別に設(shè)計(jì)した組になった接觸子。2.8形式試験(typetest)関連規(guī)格の要求事項(xiàng)に対する製品設(shè)計(jì)の適合性を判定する目的で行う形式試験試料に行う,一つ又は一連の試験。2.9形式試験試料(typetestsample)形式試験のために,製造業(yè)者又は責(zé)任ある販売業(yè)者が提出した,1個(gè)又はそれ以上の類(lèi)似見(jiàn)本から成る試料。2.10充電部(livepart)感電を引き起こす可能性がある導(dǎo)電部。2.11過(guò)渡的な過(guò)電圧狀態(tài)を定めている數(shù)字。注記JISC60664-1では,耐インパルスカテゴリ分類(lèi)として次のI,Ⅱ,I及びIVを規(guī)定している。a)耐インパルスカテゴリ分類(lèi)の目的耐インパルスカテゴリは,サービスの継続性及び故障の許容可能な危険性について予測(cè)することが必要なときに機(jī)器の使用等級(jí)を區(qū)別するために用機(jī)器の耐インパルスレベルを選定し,過(guò)電圧抑制を備えることによっを許容レベルまで低減させ,設(shè)備全體の絶縁協(xié)調(diào)を達(dá)成するり,また,過(guò)電圧抑制のための方法のより幅広い選択ができる。耐インパルスカテゴリの概念は,商用電源から直接充電される機(jī)器に対?rùn)C(jī)器の外部(固定設(shè)備中又は固定設(shè)備と機(jī)器との間)に保護(hù)手段を用いる。耐インパルスカテゴリⅡの機(jī)器は,建築物の固定電気設(shè)備に接続する機(jī)器である。耐インパルスカテゴリⅢの機(jī)器は,固定電気設(shè)備の一部となる機(jī)器及びより高い有用性を5C8121-1:2011期待している機(jī)器である。耐インパルスカテゴリIVの機(jī)器は,延築物の化気沒(méi)備の引込口部又はその近傍で使川し,主分電盤(pán)の電源側(cè)で使用する機(jī)器である。2.12一次回路(primarycircuit)商用電源に直接接続した回路。一次回路には,例えば,商用電源への接続手段,変圧器の一次巻線,モータ,その他の負(fù)荷裝置などを含む。2.13二次回路(secondarycircuit)一次回路に直接接続せず,変圧器,コンバータ若しくは類(lèi)似の絶緑裝置,又は電池から給電される回路。単巻変圧器は一次回路に直接接続されるが,一次回路の途中から引き出したタップは二次回路とみなす。注記このような回路では,商用電源の過(guò)渡電圧は,一次巻線によって滅衰する。さらに,誘導(dǎo)性安定器も商用電源の過(guò)渡電圧を滅衰する。したがって,一次回路の後又は誘導(dǎo)性安定器の後に設(shè)3一般要求事項(xiàng)ランプソケットは,通常使用で確実に機(jī)能し,かつ,人及び周?chē)欷宋ｊ摛蛏袱胜ぴO(shè)計(jì)及び構(gòu)造でなけ一般に合否は,規(guī)定する全ての試験を行って判定する。4一般試験條件注記この規(guī)格の要求小項(xiàng)及び許容差は,形式試験の「的で提出される武料の試験に閃迎する。試料の適合性は,製造業(yè)者の全製品がこの安全規(guī)格に適合することを保証するものではない。形式試験に加え,製品のこの規(guī)格への適合性は,製造業(yè)者の責(zé)任である。定期検査及び品質(zhì)保証も製造業(yè)者の責(zé)任に含めてよい。詳細(xì)は,JISC7709-0を參照(製造工程中での適合試験の指針の追加を準(zhǔn)備中である。)。4.2特に規(guī)定がない場(chǎng)合,試験は,(20±5)℃の周?chē)鞙囟燃挨油ǔＪ褂盲巫瞍獠焕饰恢盲?ランプソ定するそれぞれの要求事項(xiàng)に適合しなければならない。合否は,4.3に従った試料の組合せによって判定する。種類(lèi)の異なるランプを順?lè)巳·旮钉堡毪长趣蜓u造業(yè)者が認(rèn)める場(chǎng)合,試料の組合せの一つだけを全ての要求事項(xiàng)の適合の判定に使用する。全ての試験は,最も重要なランプソケット及びゲージを使用し,最も負(fù)擔(dān)になる順序で行う。4.3試験及び検査は,簡(jiǎn)條番號(hào)の順に次の數(shù)量で行う。6C8121-1:2011要となる簡(jiǎn)條7,10.2,10.3,簡(jiǎn)條12,簡(jiǎn)條15及び16.6を除いて,全ての試験は,1組の注記28.2の試驗(yàn)仗,関連寸る規(guī)格ごとに,規(guī)定された數(shù)量で行われる。場(chǎng)合,適切な口金を試料とともに提出する。これに関連した試験は,口金を捕入した狀態(tài)で行う。の試験の結(jié)果に影響する可能性のある先行する試験を繰り返し,全ての試料がその再試験及びそれに続く試験申請(qǐng)者は,最初に提出する1組の試料の1個(gè)が不合格の場(chǎng)合に要求される追加の1組の試料を最初の1紅の試料とともに提出してもよい。試験機(jī)関は,更なる要求なしに追加の1[の試料を試験し,史に子部及び口出線の耐熱性が動(dòng)作溫度とは異なる場(chǎng)合,これらの値を製造業(yè)者のカタC8121-1:2011a)製造業(yè)者名(商標(biāo),製造業(yè)者の識(shí)別マーク,又は責(zé)任のある販売業(yè)者名でもよい。)。面距離及び空間距離については,JISC8105-1參照。b)定格電流[アンペア(A)で表示]c)定格動(dòng)作溫度が80℃を超える場(chǎng)合,定格動(dòng)作溫度を示す“T”を10℃刻みで表示する。d)端子に対する接続線の寸法注記2別の方法として,電圧及び電流の定格に數(shù)字だけを用いてもよい。定格電流の數(shù)字は定格電圧の數(shù)字の前又は上に表示し,斜線又は直線によって定格電圧と分離して表示する。し定格パルス電圧は,値を先に書(shū)き,その後に記號(hào)を書(shū)く(例5kV)。定格動(dòng)作溫度は,記號(hào)Tの後に,その値を℃で表示する(例T300)。接続線の斷面積の適正値又は範(fàn)囲を平方ミリメートルで表す場(chǎng)合には,値の後ろに小さな正方形を書(shū)く (例0.5口で表示)。導(dǎo)體が単線の場(chǎng)合は,遵體の真徑をミリメートル?yún)g位の數(shù)値で表し,φXと表示して二重絶緑又は強(qiáng)化絶緑に対する耐電圧試験に合格し,二重絶緑又は強(qiáng)化絶緑と同等の沿面距離及び空間8C8121-1:2011注記3二重絶緑又は強(qiáng)化絶緑に対する耐電圧試験の試験電圧と同様に,沿面距離及び空間距離の値は,JISC8105-1參照。6.4表示は,耐久性があり,容易に読めなければならない。合否は,目視検査及び表示部を水に浸した布で15秒間軽くこすり,更に石油成分を浸した布で15秒間試験後,その表示は,判読できなければならない。ル値29及び芳香族成分容量分率0.1%以下のヘキサン溶液から成るものが望ましい。次に記載する狀態(tài)で,充電部が可觸にならない構(gòu)造でなければならない。項(xiàng)は,適合ランプ取付け後の狀態(tài)だけに適用する。電圧は,40V以上が望ましい。ランプソケットは,上記の試験を行う前に,取付可能で最も不利な寸法の導(dǎo)體を7.2両口金ランプ用ランプソケットは,通常の使用狀態(tài)に組み込み,取り一適合するランプを取り付けた狀態(tài)R7s,RX7s及びFc2の場(chǎng)合,いずれの場(chǎng)合も試験は,片側(cè)の受金のばね力に対抗して行うので,ランプ9C8121-1:2011の取付け及び取外しの場(chǎng)合の模擬試験を行うことは困難である。この狀態(tài)では,評(píng)価に必要な再現(xiàn)性は得合否は,JISC7709の規(guī)格群に規(guī)定する試験方法によって行う。JISC7709の規(guī)格群に試験方法を規(guī)定8端子一ねじ締め式端子一平形差込み端子,又は丸形差込み端子ーワイヤ巻付け用端子一口出線(端末線)付きねじなし端子付きランプソケットは,照明器具及び裝置の製造業(yè)者に販売する場(chǎng)合を除き,非可とう導(dǎo)體(單線,又はより線)及び可とうケーブル又はコードの両方とも同等に満足する端子を備えていなけれ規(guī)定した接続方法と同等の性能をもつ場(chǎng)合,上記の接続方法以外の接続方法でもよい。これら接続方法8.2端子は,次の要求小頭に適合しなければならない。ーねじ締め式端子は,JISC8105-1の第14章(ねじ締め式端子)に適合しなければならない。一ねじなし端子は,JISC8105-1の第15章(ねじなし端子及び電気接続)に適合しなければならない。一平形養(yǎng)込み端子又は丸形關(guān)込み端子は,JISC8105-1の第15章に適合しなければならない。ーワイヤ巻付け用端子は,IEC60352-1に適合しなければならない。ワイヤ巻付け方式は,內(nèi)部配線用の単線だけに適用する。一はんだ用端子は,良好なはんだ付け性の要求事項(xiàng)に適合しなければならない。適切な要求事項(xiàng)は,JISC60068-2-20を參照する。一口出線(端末線)は,8.3の要求事項(xiàng)に適合しなければならない。溫度で試験する。ットは,照明器具製造業(yè)者の使用に限定し,小売販売向けとはしない。確実な裝著及び操作の條件,特にランプソケットの照明器具への取付けのための使用材料,必要寸法及び公差の制限については,ランプソケット製造業(yè)者又は責(zé)任ある販売業(yè)者の文書(shū)に記載しなければならなJISC8105-1の第15章の要求事項(xiàng)に適合しなければならない。合否は,関連する試験によって判定する。8.3ランプソケットヘの口出線(端末線)の接続は,はんだ,溶接,かしめ又は他の同等以上の方法で口出線は,絶緑電線でなければならない?？诔鼍€の絶緑は,JISC3662の規(guī)格群及びJISC3663の規(guī)格群に規(guī)定する機(jī)械的及び電気的性能と同等以上,又はJISC8105-1の5.3(內(nèi)部配線)の関連要求事項(xiàng)に合否は,目視及び簡(jiǎn)條15の試験後,同じ3個(gè)の試料で,次の試験によって判定する。各口出線に20Nの引張り力を加える。引張り力は,徐々に加え,最も不利な方向で1分間加える。試験中,口出線は,固定狀態(tài)から動(dòng)かないのが望ましい。ただし,組立指示上,許されない引張り方向につい9保護(hù)接地二重絶緑又は強(qiáng)化絶緑によって充電部から遮蔽していない場(chǎng)合は,外部金屬部との間で保護(hù)接地の連続b)11.2.2の耐電圧試験後,直ちに,保護(hù)接地端子部と外部金屬部との間の抵抗を測(cè)る。保護(hù)接地端子付無(wú)負(fù)荷電圧が12V以下の電源から供給した,10A以上の電流を1分間,保護(hù)接地端子又は保護(hù)接地接保護(hù)接地端子又は保護(hù)接地接続と可觸金屬部との間の電圧降下を測(cè)定し,その抵抗値を電流及び電圧降注記この要求事項(xiàng)の目的は,口金又はカバーに固定する絶緑した小さい金屬ねじなどは,絶緑破壊9.3保護(hù)接地端子は,簡(jiǎn)條8の要求事項(xiàng)に適合しなければならない。保護(hù)接地端子は,偶発的な緩みが生じないように適切に固定し,ねじ締め式端子,及びねじなし端子はC8121-1:2011合否は,目視及び簡(jiǎn)條8の試験によって判定する。注記一般に通化端子によく川いる沒(méi)汁の方法に従えば,(この規(guī)格の要求り叫に適合するための)後述の要求事項(xiàng)に適合する十分な弾力性が得られる。その他の設(shè)計(jì)では不用意に外れないような,適切な弾力性のある部品を用いるなど特殊な準(zhǔn)備が必要となる場(chǎng)合がある。9.4保護(hù)接地端子の金屬は,保護(hù)接地導(dǎo)體の銅との接觸で起きる腐食の危険性のないものでなければな保護(hù)接地端子のねじ及び本體は,黃銅又は耐腐食性が同等以上の他の金屬でなければならない。また,その接觸面は,裸金屬でなければならない。9.5締付けねじを含むコードの固定用の金屬は,保護(hù)接地回路から絶緑しなければならない。合否は,目視検査によって判定する。10構(gòu)造10.1木材,綿,絹,紙及び類(lèi)似の吸濕材料は,適切に含浸しない場(chǎng)合には,絶緑材料とはみなさない。10.3R7s及びRX7sランプソケット以上でなければならない。合否は,寸法測(cè)定によって判定する。注記接點(diǎn)部の厚さは,0.1mmの「感をもつ拡大鋭(約6倍の倍率)を川いて測(cè)定してもよい。接點(diǎn)を切斷して,銀の厚さを測(cè)定することが必要になる場(chǎng)合がある。10.4接觸片及び他の通電部は,過(guò)度の溫度上昇を防止するような構(gòu)造でなければならない。合否は,次の試験によって判定する。に差し込み,接觸片を橋絡(luò)する。注記1口金がキ一機(jī)能だけをもつ場(chǎng)合,キーをもつ試験用口金を使用する必要はない。注記2公稱值は,通常，中央值である。多接點(diǎn)のランプソケットには,試験用口金の適切な接點(diǎn)を差し込み,定格電流を通電する。試験用口金接點(diǎn)は,黃銅材など優(yōu)れた導(dǎo)電性をもつ材料であることが望ましい。ダミーランプのバルプ接點(diǎn)は,試験を行う前に,注意して清掃し,磨かなければならない。C8121-1:2011接點(diǎn)の溫度上昇は,45Kを超えてはならない。溫度の測(cè)定は,溶解粒子又は熱電対を使用し,溫度計(jì)で注記周?chē)鞙囟趣?0℃に等しい條件では,蜜ろうのペレット(直徑3mm,溶解溫度65℃)を溶解合否は,IEC60399のゲージによって判定する。11耐濕性,絶緑抵抗及び耐電圧耐濕試験は,相対濕度91%～95%に維持した恒濕槽の中で行う。試験品を置く恒濕槽內(nèi)の溫度は,20℃~30℃の間の任意の溫度t±1℃に維持する。恒濕槽に入れる前に試験品をt℃~(t+4)℃の溫度にする。試験品を恒濕槽に2日問(wèn)(48時(shí)間)入れておく。一異極充電部間一充電部と取付けねじを含む外部金屬部との間合否は,ランプソケットが規(guī)定溫度狀態(tài)となっている恒溫槽又は恒濕室において,耐濕貳験後.真點(diǎn)に11.2.1の絶緑抵抗の測(cè)定及び11.2.2の耐電圧試験によって判定する。注記外郭のないランプソケットは,照明器具內(nèi)へ適切に組み込むか,又は適切な外郭を追加して該當(dāng)する規(guī)格に従って試験した後,充ǔ部と外部金屈部との問(wèn)の絶練抵抗の測(cè)定及び耐む圧試験11.2.1絶緑抵抗は,耐濕試験後直ちに約500Vの直流電圧を印加し,1分後に測(cè)定する。絶緑抵抗を表1に示す各部分川で連続的に測(cè)定し,その們は表1の值以上でなければならない。表1一絶緑抵抗の最小値定格電圧50V以下のもの異極充電部間12一21411.2.2耐電圧試験は,絶緑抵抗測(cè)定後直ちに行う。試験電圧を絶緣抵抗の測(cè)定と同じ部分に印加する。周波數(shù)50Hz又は60Hzのほほ正弦波の交流で,次の実効電圧を1分間印加する。ーランプソケットの定格電圧50V以下の場(chǎng)合,試験電圧は,500V。一上記以外の全ての場(chǎng)合の試験電圧は,(2U+1000)V(Uは,定格電圧)。始めに規(guī)定の半分以下の電圧を印加し,その後速やかに規(guī)定の電圧に上昇させる。0試験中にせん(閃)絡(luò)又は絶緣破壊が生じてはならない。注記パルス化圧に対応する絶離を考慮した耐出圧試験の要求小頭は,検時(shí)中である。12機(jī)械的強(qiáng)度外郭表面の導(dǎo)電性の有無(wú)にかかわらず,外郭部分の機(jī)械的強(qiáng)度は,JISC60068-2-75に規(guī)定する振り子ハンマ試験裝置を用いて,次によって判定する[JIa)取付方法JISC60068-2-75の規(guī)定による。注記円筒形でないランプコネクタの場(chǎng)合,支持物に平行な軸の狀態(tài)は,適切な松材の詰め木を用b)落下高さ衝撃素子は,表1A.に示す高さの一つから落下させる。材質(zhì)落下の高さ他の材料製部分c)衝突回?cái)?shù)外郭部分の表面の上で均等に分割した點(diǎn)にそれぞれ4回衝撃を加える。g)動(dòng)作狀態(tài)及び機(jī)能の監(jiān)視試料は,衝突の間,動(dòng)作させてはならない。また,感電保護(hù)及び水の浸入に対する保護(hù)に悪影響を及ぼさない小さな欠けも2)肉眼で見(jiàn)えない削れ及び繊維強(qiáng)化樹(shù)脂成形品などの表而の制れは,無(wú)視する。j)最終測(cè)定h)による。ネルギ一及びスプリング圧縮長(zhǎng))では,衝撃試験のエネルギーは,構(gòu)成材料及び照明器具のC8121-1:2011もの)は,通常使川中に発生する機(jī)械的応力に耐えなければならない。合否は,目視検査並びにJISC8105-1の4.11(電気的接続及び通電部)及び4.12(ねじ,機(jī)械的接続及注記許容溫度範(fàn)囲內(nèi)及び通常の化學(xué)的汚染の條件の下で使用する場(chǎng)合に,機(jī)械的強(qiáng)度,導(dǎo)電率及び耐食性の観點(diǎn)から,通電部品として適切な材質(zhì)の例を附屬書(shū)B(niǎo)に示す。14沿面距離及び空間距離充電部及び近傍の金屬部は,適切に空間を設(shè)けなければならない。沿面距離及び空間距離は,表2a及び機(jī)器に適用し,また,表2bに規(guī)定する距離は,JISC60664-1の耐インパルスカテゴリ(過(guò)電圧カテゴリ)Iの分類(lèi)機(jī)器に適用し,いずれの表も,汚損度2(非導(dǎo)電性の汚損は発生するが,の耐インパルスカテゴリ及びより高い汚損度に対する情報(bào)は,JISC60664-1を參照する。この簡(jiǎn)條で示す沿面距離及び空間距離は,絶対的な最小値であることに注意する。表2a及び表2bに示す電圧は,定格電圧であり,始動(dòng)電圧ではない。表2a—正弦波交流(50Hz又は60Hz)電圧に対する最小距離一距離定格電圧50(V)250(V)500(V)1異極充電部間0.60.22.5353した絶緑材料の部品の外面との間一治面距離絶緑材料PTI≥600PTIb)<600一空間距離3充電部と取付け面との間,又は取付けが不十分な金屬カバーがあり,最も不利な狀態(tài)で2に適合しないおそれがある場(chǎng)合には,充電部とカバーとの間0.63この表に記載した電圧の間の定格電圧に対する絶緑距離は,直線補(bǔ)間法によって求めてもよい。25V未満の定格電圧に対しては,11.2.2の耐電圧試験にて十分とみなすため,規(guī)定していない。際のPTIの値に関係なく)PTI600以上の材料に對(duì)する値を全ての材料に適用する。一動(dòng)作電圧を印加する時(shí)間が60秒未満の部分の沿面距離は,PTI600以上の材料に対する値を全ての材料に適用する。一ほこり又は濕気による汚損が生じにくい部分の治面距離は,(実際のPTIの値に関係なく)PTI600以上の材料に対する值を全ての材料に適用する。C8121-1:2011表2b—正弦波交流(50Hz又は60Hz)電圧に対する最小距離一距離定格電圧50(V)250(V)500(V)1異極充電部間の沿面距離及び空間距離0.60.60.23333454た絶緑材料の部品の外面との間は,次による。一治血囲i離絶緑材料PTI≥600PTIb)<600一空間距離3充電部と取付け面との間,又は取付けが不十分な金屬カバーがあり,最も不利な狀態(tài)で2に適合しないおそれがある場(chǎng)合には,充電部とカバーとの間は,次による。一空間距離0.634この表に記載した電圧の間の定格電圧に対する絶緑距離は,直線補(bǔ)間法によって求めてもよい。25V未満の定格電圧に対しては,11.2.2の耐電圧試験にて十分とみなすため,規(guī)定していない。際のPTIの値に閃係なく)PTI600以上の材料に対する値を全ての材料に適川する。一動(dòng)作出圧を印加する時(shí)間が60秒未満の部分の治囲離は,PTI600以上の材料に対する低を全ての材料に適用する。一ほこり又は濕気による汚損が生じにくい部分の治面距離は,(実際のPTIの値に関係なく)PTI600以上の材料に対する値を全ての材料に適用する。ただし,接觸片とランプソケット表面(基準(zhǔn)面)との間の距離は,要求がある場(chǎng)合,JISC7709-2の該非正弦波パルス電圧の場(chǎng)合は,空間距離は,表3に示す値以上にしなければならない。表3一非正弦波パルス電圧に対する最小距離定格パルス電圧(波高值)kV22.53456840空間距離mm1234840表3の中の空間距離は,JISC60664-1から得られる(不平等電界條件)。正弦波電圧及び非正弦波パルス電圧の両方を印加する場(chǎng)合,最小距離は,表2a,表2b又は表3に規(guī)定する大きい値以上でなければな安全性に影響のない空間距離(例えば,接觸部間の距離)は,より緩和された電界條件から導(dǎo)いてもよいが,この場(chǎng)合でも平等電界(JISC60664-1參照)での値が絶対最小値である。沿面距離は,最小の空間距離以上でなければならない。C8121-1:2011の場(chǎng)合は,ダミーランプは保護(hù)のない鋼製のダミーランプに置き換える。溫度が安定した後,定格電流の1.1倍の電流を流しながら,定格動(dòng)作溫度の測(cè)定點(diǎn)が(90±5)℃,又はT件で測(cè)定した値に10K(許容差±5℃)を加え24時(shí)間冷卻する。試験の間,ランプソケットは,特に次に示す観點(diǎn)から,継続使用に対して悪影響を及ぼすいかな少なくとも0.5mm2以上の銅線)を接続する。接觸抵抗は,取り付けた導(dǎo)線口出し位置から5mmの0.045+(A×n)n=2の場(chǎng)合，A=0.01n>2の場(chǎng)合，A=0.015試料の厚さが2.5mm未満の場(chǎng)合は,試料を二つ以上重ねて2.5mm以上にする。注記表面が曲面の場(chǎng)合,跡がだ(橋)円形のときφ=2√p(5-p)C8121-1:2011これらの試験は,磁器材料の部品には行わない。16.3感電に対して保護(hù)する,導(dǎo)電性外表面を含む絶緑材料製の外郭部品及びELV部を所定の位置に保持する絶緑材料の部品は,次によってJISC60695-2-11のグローワイヤ試験を行う。一試料を運(yùn)搬臺(tái)に載せ,1Nの力でグローワイヤチップに押し付け,できれば上端から15mm以上の所で,試験表面の中央に押し込む。グローワイヤが試料に食い込むのは,機(jī)械的に7mmに制限する。試料が小さすぎて上記の試験ができない場(chǎng)合は,同じプロセスで製造した,同じ材料の30mm×30mmの大きさの,試料の最小厚さと同じ厚さの別の試料で行う。グローワイヤの溫度及び加熱電流は,試験開(kāi)始前の1分間一定でなければならない。乙の期間中に,試料が放熱の影響を受けないように注意しなければならない。グローワイヤチップの溫度は,JISC60695-2-11の規(guī)定に従って,校正した被覆細(xì)線熱電対を用いて測(cè)定する。一試料の炎又は赤熱は,グローワイヤを離してから30秒以內(nèi)に消え,燃焼滴下物が試料から(200±5)mm下に水平に広げたJISP0001の6228に規(guī)定する5枚重ねの包裝用ティシュを発火させてはならない。16.4充電部又はELVランプ接點(diǎn)を所定の位置に保持する絶緑材料の部品は,次によってJISC60695-11-5一試験炎は,試料表面の中央に當(dāng)て石。一自己持続炎は,ガスの炎を離してから30秒以內(nèi)に消え,燃焼滴下物が試料から(200±5)mm下に水16.5充電部若しくはELV部を所定の位置に保持する,又はそのような部分と接觸する絶緑材料の部品は,通常使用において過(guò)度の濕気及びじんあいの堆積にさらされる場(chǎng)合,耐トラッキング性のある材料でなけ一試料が15mm×15mm以上の平らな表面をもたない場(chǎng)合,試験中に液體が試料から流れ落ちない限り,これ以下の寸法の表面で試験してもよい。ただし,液體を表面上にとどめるための人工的な方法を講じないほうがよい。疑わしい場(chǎng)合は,要求する寸法で,かつ,同じプロセスで製造した同じ材料の別一試料の厚さが3mm未満のときは,2個(gè)又は必要に応じてそれ以上の試料を重ねて3mm以上の厚さに一試験は,試料上の3か所,又は3個(gè)の試料で実施する。一電極は白金とし,JISC2134の7.3(測(cè)定溶液)に規(guī)定する溶液Aを用いる。一試料は,PTI175の試験電圧で,50滴の滴下に対して故障なく耐えなければならない。C8121-1:2011一試料表面上の電極間の導(dǎo)路に2秒間以上0.5A以上の電流が流れて過(guò)電流リレーを動(dòng)作させるか,又は過(guò)化流リレーが動(dòng)作せずに試料が燃えた場(chǎng)合は,故障が発生したものとみなす。一浸食の決定に関するJISC2134の9.(浸食の測(cè)定)は,適用しない。5)℃,Tマーク付きランプソケットでは,[(T+35)±5]℃の溫度の恒溫槽で試験す外郭部品及び絶緣材料の耐熱性がランプソケットの溫度表示から外れている場(chǎng)合,試験溫度は,これらの部品の製造事業(yè)者の力タログに指定した耐熱溫度より(35±5)K上に合わせる。ランプソケットに,中空ではない鋼の試験口金,又は簡(jiǎn)條15に規(guī)定する鋼製のダミーランプを裝著する。ランプソケットは,試験溫度のおよそ半分の溫度の加熱槽に置き,1時(shí)間±15分以內(nèi)に要求する試験溫度に上げる。そして168時(shí)間中斷することがなく試験を続ける。試験溫度は,±5Kの範(fàn)囲內(nèi)に維持する。試験の間,ランプソケットは,特に次の観點(diǎn)から,継続使用に対して悪影響を及ぼすいかなる変化もあ一感電に対する保護(hù)の低下があってはならない。ゲージの使用は,接觸の確実性の検査を意図していない。成形材料の起こり得る変形の検査だけである。落下高さは,50mmに減らして行う。充填材は,充電部が露出するほど流出してはならない。僅かな移動(dòng)は,無(wú)視する。17過(guò)度の殘留応力(自然割れ)及びさび(請(qǐng))に対する抵抗力おそれがある場(chǎng)合は,それらは過(guò)度の殘刑応力によって掛傷してはならない。合否は,次の試験によって判定する。又はその類(lèi)のもので取り除く。試料は,底部をpH10の塩化アンモニウム溶液で満たした試験槽の中に,24時(shí)間放置する(試験槽,試験溶液及び試験手順の詳細(xì)は,附屬書(shū)C參照。)。この処理の後,試料を流水で洗い,24時(shí)間経過(guò)した後,光學(xué)倍率で8倍に拡大して観察したとき,ひび合否は,次の試験で判定する。適切な脫脂剤に10分間浸して,全てのグリースを試験する部分から取り除く。溫度(20±5)℃の塩化アンモニウムの10%水溶液中に,試験する部分を10分間浸す。水滴をふるい落とし,乾燥させずに溫度(20±5)℃の飽和水蒸気の箱內(nèi)に,10分間放置する。試料を(100±5)℃の恒溫槽內(nèi)で10分間乾燥した後,シャープェッジ上のさびの痕跡及び黃色がかった20C8121-1:2011小さなら旋狀のスプリング,それに類(lèi)するも21C8121-1:2011附屬書(shū)A一般用のランプ,投影用ランプ,投光照明用ランプ及び道路照明用ランプ用であって,次の表に記載す一7005-.一7005-..一一7005-..一7005-.一一一一一一一一7005-.一一7005-..一22C8121-1:2011P28s7005-422-77P30s-10.37005-442-78P30d-10.3一2-79P407005-43一R7s7005-53/53A2-100RX7s7005-5