ICS27.120CCSF84團體標準T/CIRA73—2025輻射安全監(jiān)測用編碼孔徑γ射線成像儀Codedaperturegamma?rayimagerappliedtoradiationsecuritymonitoring2025?08?29發(fā)布2025?10?29實施中國同位素與輻射行業(yè)協會發(fā)布ⅠT/CIRA73—2025前言 Ⅲ1范圍 12規(guī)范性引用文件 13術語和定義 14基本功能與組成單元 25技術要求 26試驗方法 47檢驗規(guī)則 8 8ⅢT/CIRA73—2025本文件按照GB/T1.1—2020《標準化工作導則第1部分：標準化文件的結構和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。請注意本文件的某些內容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構不承擔識別專利的責任。本文件由中國同位素與輻射行業(yè)協會提出并歸口。本文件起草單位：中國科學院高能物理研究所、山東核電有限公司、中國計量科學研究院、軍事科學院防化研究院、中國同位素與輻射行業(yè)協會。1T/CIRA73—2025輻射安全監(jiān)測用編碼孔徑γ射線成像儀本文件規(guī)定了輻射安全監(jiān)測用編碼孔徑γ射線成像儀（簡稱成像儀）的基本功能與組成單元、技術要求、檢驗規(guī)則、標志、包裝、運輸、貯存和隨行文件，描述了相應的試驗方法。本文件適用于核安全、核應急等輻射安全領域γ射線監(jiān)測的編碼孔徑γ射線成像儀，不適用于醫(yī)學診斷用γ相機。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內容通過文中的規(guī)范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T2423.1—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫GB/T2423.2—2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫GB/T2423.3—2016環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗GB/T4208—2017外殼防護等級（IP代碼）GB4793.1—2007測量、控制和實驗室用電氣設備的安全要求第1部分：通用要求GB/T34138—2017輻射防護儀器環(huán)境、電磁和機械性能要求以及試驗方法3術語和定義下列術語和定義適用于本文件。3.1編碼孔徑γ射線成像儀codedaperturegamma?rayimager一種通過編碼準直器使入射γ射線形成編碼投影，并利用解碼算法進行圖像重建，從而獲得γ輻射空間分布圖像的輻射成像設備。3.2重建圖像reconstructedimage由γ探測單元所獲取的數據經過算法還原為反映γ輻射分布情況的圖像。3.3圖像融合imagefusion按一定像素映射關系將重建圖像繪制在光學圖像上。3.4參考成像時間referenceimagingtime在給定條件下，成像儀能夠準確成像定位γ輻射源所需的最短時間。3.5角分辨率angularresolution成像儀對點源成像時光斑半高寬對應的角度值。2T/CIRA73—20253.6成像靈敏度imagingsensitivity成像儀對弱輻射源實現成像定位的能力。4基本功能與組成單元成像儀通常由以下部分組成。a）γ探測單元：由準直器、成像探測器和電子學組成，主要用于獲取γ射線數據。b）光學探測單元：包含光學攝像頭，主要用于獲取光學數據。c）數據處理和顯示單元：包含圖像重建數據處理算法軟件，主要對探測到的γ射線數據進行圖像重建，并和獲取的光學圖像數據進行圖像融合，顯示γ輻射的分布圖像結果。5技術要求5.1一般要求成像儀產品的外觀應完好，外表應平整光潔、色澤均勻、無明顯機械損傷，表面涂覆層應牢固光滑，不應有氣泡、銹蝕、裂紋、剝落等缺陷；產品的銘牌和標志應顯示清晰完整。5.1.2操作與顯示成像儀應易于操作，按鈕靈活、方便，顯示清晰可見。5.1.3數據傳輸與存儲成像儀應具有數據記錄、傳輸和存儲功能，宜提供網絡或其他接口的數據傳輸方式。5.2性能要求5.2.1參考成像時間對視野內距成像儀表面1m遠處活度為1×106Bq的137Cs點源，應在90s內準確成像定位。5.2.2成像靈敏度對視野內距成像儀表面1m遠處活度為1×105Bq的137Cs點源，應準確成像定位。5.2.3視野范圍視野范圍宜不小于40°×40°。5.2.4角分辨率角分辨率宜不大于3°。5.2.5能量范圍可成像的能量范圍宜覆蓋59.6keV~1.33MeV。3T/CIRA73—20255.2.6成像空氣比釋動能率上限對視野內的137Cs源，在成像儀處產生不低于5mGy/h的空氣比釋動能率，成像儀宜能對137Cs源準確成像定位。5.2.7過載特性成像儀能承受相當于成像空氣比釋動能率上限10倍的照射并給出過載指示（滿刻度或給出過載信號照射結束5min之后，成像儀應恢復到正常工作狀態(tài)。5.3安全要求成像儀的電氣防護性能應符合GB/T4793.1—2007中第6章的要求。5.4環(huán)境適應性要求5.4.1環(huán)境適應性要求表成像儀的環(huán)境適應性要求見表1。表1成像儀的環(huán)境適應性要求環(huán)境條件要求工作溫度-10℃~40℃貯存溫度-25℃~50℃相對濕度93%RH（40℃)機械振動GB/T34138—2017中8.3.1的機械振動要求機械沖擊GB/T34138—2017中8.5的機械沖擊要求外殼防護等級IP65電磁兼容GB/T34138—2017中第9章的靜電放電、射頻抗擾度、輻射發(fā)射和磁場的要求5.4.2氣候環(huán)境要求5.4.2.1在-10℃~40℃的溫度條件下，成像儀應能正常工作，相對于標準試驗條件下其計數率的偏差不超過±15%。5.4.2.2在-25℃~50℃的溫度條件下能貯存，恢復至標準試驗條件后，成像儀應能正常工作，且其外觀應滿足5.1.1的要求。5.4.2.3成像儀在環(huán)境相對濕度93%（溫度40℃)的條件下，相對于標準試驗條件下其計數率的偏差不超過±15%，且其外觀應滿足5.1.1的要求。5.4.3機械環(huán)境要求5.4.3.1按GB/T34138—2017中8.3.1規(guī)定的試驗方法進行振動試驗，試驗后，成像儀應能正常工作，不應出現部件松動或破損。5.4.3.2按GB/T34138—2017中8.5規(guī)定的試驗方法進行沖擊試驗，試驗后，成像儀應能正常工作，不應出現部件松動或破損。4T/CIRA73—20255.4.4外殼防護等級要求成像儀中探測器的IP防護等級應不低于GB/T4208—2017中的IP65。5.4.5電磁兼容要求5.4.5.1按GB/T34138—2017中9.2.2規(guī)定的試驗方法進行靜電放電試驗，成像儀應符合GB/T34138—2017中9.2.1的規(guī)定。5.4.5.2按GB/T34138—2017中9.3.3規(guī)定的試驗方法進行射頻抗擾度試驗，成像儀應符合GB/T34138—2017中9.3.2的規(guī)定。5.4.5.3按GB/T34138—2017中9.4.2規(guī)定的試驗方法進行輻射發(fā)射試驗，成像儀應符合GB/T34138—2017中9.4.1的規(guī)定。5.4.5.4按GB/T34138—2017中9.5.2規(guī)定的試驗方法進行磁場試驗，成像儀應符合GB/T34138—2017中9.5.1的規(guī)定。6試驗方法6.1試驗環(huán)境條件本文件的試驗應在參考條件或標準試驗條件下進行，見表2。表2參考條件和標準試驗條件影響量參考條件（除非制造廠另有規(guī)定）標準試驗條件（除非制造廠另有規(guī)定）預熱時間由制造廠規(guī)定由制造廠規(guī)定高環(huán)境溫度20℃15℃~30℃相對濕度65%30%~75%大氣壓力101.3kPa86kPa~106kPa天然輻射本底空氣比釋動能率0.1μGy/h空氣比釋動能率小于0.25μGy/h外界電磁場可忽略小于引起干擾最低值外界磁感應可忽略小于地磁場感應值的2倍6.2一般要求試驗方法6.2.1外觀以目測和手動試驗對產品外觀進行檢查。6.2.2操作與顯示按照5.1.2的要求進行檢查，應符合本文件的規(guī)定。6.2.3數據傳輸與存儲按照5.1.3的要求進行檢查，應符合本文件的規(guī)定。5T/CIRA73—20256.3性能要求試驗方法6.3.1參考成像時間宜選用3.7×105Bq~3.7×107Bq范圍內的137Cs點源，可調整放射源到成像儀的距離，使得放射源在成像儀處的空氣比釋動能率等效于距成像儀1m遠處活度為1×106Bq的137Cs點源。在視野50%內分別在10個位置進行測試，其中不少于9次試驗結果滿足5.2.1的要求。出廠檢驗時宜采用快速測試方法，在5.2.5規(guī)定的能量范圍內選擇放射源并在測量結果中注明，調整放射源到成像儀的距離，使得放射源在成像儀處的空氣比釋動能率等效于距成像儀1m遠處活度為1×106Bq的137Cs點源，進行1次測量，結果滿足5.2.1的要求。6.3.2成像靈敏度宜選用1×105Bq~3.7×107Bq范圍內的137Cs點源，調整放射源到成像儀的距離，使得放射源在成像儀處的空氣比釋動能率等效于距成像儀1m遠處活度為1×105Bq的137Cs點源，進行長時間測量并在測量結果中注明測量時間，結果滿足5.2.2的要求。6.3.3視野范圍將成像儀放置于具備角度測量功能的轉臺上，宜使用活度不小于3.7×107Bq的137Cs點源置于距成像儀表面4m處，在水平方向，分別進行視野左邊界和右邊界測試，通過旋轉轉臺，分別使得重建圖像中點源對應的位置分別位于圖像水平左邊界和右邊界處，記錄角度值，左邊界和右邊界角度值差就是水平方向視野范圍角度值；在垂直方向同樣測量得到垂直方向視野范圍角度值，視野范圍結果應滿足5.2.3的要求。6.3.4角分辨率宜使用活度不小于3.7×107Bq的137Cs點源置于距成像儀表面4m處，重建圖像中點源對應的位置應位于圖像中心附近，見圖1a通過圖像最大值取垂直于X-Y坐標平面和平行于X軸給出重建圖像的Y0094a)FOV中心點源重建圖像b)點源重建圖像的剖面圖圖1角分辨率點源成像測量圖1b）的熱點峰值的半高全寬像素數（RFWHM按公式（1）計算圖像的半高全寬對應的角度θRES。6T/CIRA73—2025θRES=(RFWHM/R)×θ…………（1）式中：θRES——角分辨率；RFWHM——點源重建圖像X方向剖面圖熱點峰值的半高全寬像素數；R——重建圖像在X方向上的圖像總像素數；θ——總像素數對應的角度值。通過試驗計算得出成像儀的角分辨率θRES，應滿足5.2.4的要求。6.3.5能量范圍要求。6.3.6成像空氣比釋動能率上限選擇適當活度的137Cs點源，放置在距離成像儀不小于1m處，并能在成像儀處產生5mGy/h的空氣比釋動能率，成像儀應滿足5.2.6的要求。6.3.7過載特性6.3.7.1記錄成像儀的計數率值。6.3.7.2選擇適當的γ輻射源，放置在距離成像儀不小于1m處，并能在成像儀處產生10倍的成像空氣比釋動能率上限的照射，成像儀應能給出過載指示。6.3.7.3照射結束5min后，成像儀的過載指示應消失、并能恢復到正常工作狀態(tài)，計數率（6.3.7.1）與的變化應不超過±15%，成像儀滿足5.2.7的要求。6.4安全要求試驗方法按GB/T4793.1—2007中第6章的要求進行試驗。6.5環(huán)境適應性試驗方法6.5.1工作溫度下限按照以下步驟進行工作溫度下限試驗。a）試驗前成像儀應在標準試驗條件下正常工作，記錄對本底計數率的測量值作為參考值，對本底進行圖像重建。b）按GB/T2423.1—2008“試驗Ab”的要求進行試驗。受試樣品進行初始檢查，嚴酷程度取工作溫度下限值，受試樣品運行2h，記錄計數率讀數，與試驗前參考值之間的變化應不超過±15%，重建圖像結果無異常。6.5.2工作溫度上限按照以下步驟進行工作溫度上限試驗。a）試驗前成像儀應在標準試驗條件下正常工作，記錄對本底計數率的測量值作為參考值，對本底進行圖像重建。b）按GB/T2423.2—2008“試驗Bb”的要求進行試驗。受試樣品進行初始檢查，嚴酷程度取工作溫度上限值，受試樣品運行2h，記錄計數率讀數，與試驗前參考值之間的變化應不超過±15%，7T/CIRA73—2025重建圖像結果無異常。6.5.3貯存溫度下限按照以下步驟進行貯存溫度下限試驗。a）試驗前成像儀應在標準試驗條件下正常工作，記錄對本底計數率的測量值作為參考值，對本底進行圖像重建。b）按GB/T2423.1—2008“試驗Ab”的要求進行試驗。受試樣品進行初始檢查，嚴酷程度取貯存溫度下限值，受試樣品在不工作條件下放置16h，恢復時間2h，并進行最后檢查，記錄計數率讀數，與試驗前參考值之間的變化，應不超過±15%，重建圖像結果無異常。為防止試驗中受試樣品結霜和凝露?？蓪⑹茉嚇悠酚镁垡蚁┍∧っ芊夂筮M行試驗，必要時還可在密封套內裝吸潮劑。6.5.4貯存溫度上限按照以下步驟進行貯存溫度上限試驗。a）試驗前成像儀應在標準試驗條件下正常工作，記錄對本底計數率的測量值作為參考值，對本底進行圖像重建。b）按GB/T2423.2—2008“試驗Bb”的要求進行試驗。受試樣品進行初始檢查，嚴酷程度取貯存溫度上限值，受試樣品在不工作條件下放置16h，恢復時間2h，并進行最后檢查，記錄計數率讀數，與試驗前參考值之間的變化應不超過±15%，重建圖像結果無異常。6.5.5相對濕度按照以下步驟進行相對濕度試驗。a）試驗前成像儀應在標準試驗條件下正常工作，記錄對本底計數率的測量值作為參考值，對本底進行圖像重建。b）按GB/T2423.3—2016規(guī)定的方法進行試驗。受試樣品進行初始檢查，嚴酷程度取溫度40℃,相對濕度93%，受試樣品在不工作條件下放置12h，受試樣品上電運行，記錄測量顯示的計數率讀數，與試驗前參考值之間的變化應不超過±15%，重建圖像結果無異常。6.5.6機械振動按GB/T34138—2025中8.3.1規(guī)定的方法進行振動試驗。試驗后進行最后檢查，結果應滿足5.4.3.1規(guī)定的機械振動要求。6.5.7機械沖擊按GB/T34138—2025中8.5規(guī)定的方法進行沖擊試驗。試驗后進行最后檢查，結果應滿足5.4.3.2的規(guī)定。6.5.8外殼防護等級按GB/T4208—2017中規(guī)定的方法進行試驗。試驗后進行檢查，結果應符合5.4.5規(guī)定IP65防護等級要求。8T/CIRA73—20256.5.9電磁兼容6.5.9.1按GB/T34138—2025中9.2.2規(guī)定的試驗方法進行靜電放電試驗，成像儀應能正常工作，結果應符合5.4.5.1規(guī)定的靜電放電要求。6.5.9.2按GB/T34138—2025中9.3.3規(guī)定的試驗方法進行射頻抗擾度試驗，成像儀應能正常工作，結果應符合5.4.5.2規(guī)定的射頻抗擾度要求。6.5.9.3按GB/T34138—2025中9.4.2規(guī)定的試驗方法進行輻射發(fā)射試驗，成像儀應能正常工作，結果應符合5.4.5.3規(guī)定的輻射發(fā)射要求。6.5.9.4按GB/T34138—2025中9.5.2規(guī)定的試驗方法進行磁場試驗，成像儀應能正常工作，結果應符合5.4.5.4規(guī)定的磁場要求。7檢驗規(guī)則成像儀的質量檢驗分為型式檢驗和出廠檢驗，均采用全檢。各檢驗項目與順序按表