1、技術(shù)交流記憶ATE測試，2007年3月，客戶服務，卓越，概述，ATE測試和ATE測試設備特性HP83K/T5592 ATE測試簡介，ATE測試，什么是ATE測試？自動測試設備(ATE)是自動測試設備(automatic test equipment)的縮寫，即自動測試設備，是一種測試存儲芯片或軟件隨機存取存儲器芯片質(zhì)量的測試設備。自動測試設備(ATE)測試是使用自動測試設備來測試存儲芯片或軟件隨機存取存儲器芯片的質(zhì)量。ATE測試，ATE的工作原理：ATE測試設備，高級ATE測試設備包括：Verigy的93K系統(tǒng)，Advantest的T5581/T5585/T5592系統(tǒng)，KINGTIGER的K

2、T2A PRO系統(tǒng)特點：高精度，快速，完整的電氣性能，功能和定時測試和分析，昂貴的專業(yè)制造商，T5592系統(tǒng)，T5592系統(tǒng)，T5592系統(tǒng)，T5592系統(tǒng)，KT-2A PRO系統(tǒng)，ATE測試設備，ATE的特點T5592簡介，T5592測試系統(tǒng)簡介，T5592參數(shù)簡介，可測試各種存儲器(專用)。 最高測試頻率可達1.066千兆赫，定時精度可達150微秒。有64個可測試芯片，16個內(nèi)存庫(2個工作站)。驅(qū)動程序與雙向端口分開，以節(jié)省成本(內(nèi)存功能是專門設計的)。T5592簡介、硬件部分、T5592簡介、ATE測試簡介、ATE測試簡介、T5592測試項目、連通性測試漏電流測試電源電流測試功能測試重

3、要DC交流參數(shù)測試SPD讀寫測試、T5592簡介、連通性測試原理、ATE測試簡介、ATE測試簡介、漏電流測試原理、ATE測試簡介、IDD(動態(tài)電源電流)測試原理、時間條件電壓條件波形條件邏輯值、驅(qū)動器(ATE)比較器、 被測器件(DUT)、圖形文件、結(jié)果： P/F、芯片電源、自動測試設備測試簡介、功能測試模式檢查板、自動測試設備測試簡介、功能測試模式3月-6日。 加電壓測量電流，加電流測量電壓2。改變DC參數(shù)，執(zhí)行功能測試，并找到P/F轉(zhuǎn)換點3。運行模式程序直接測量參數(shù)，自動測試設備測試介紹，DC測試，自動測試設備測試介紹，目的：測試芯片的各種電氣性能，VSIM，ISVM，DC測試單元，DC參

4、數(shù)測試，電壓參數(shù)測試，主電壓參數(shù)，電源電壓VDD，VDDQ，VREF輸入電壓VIL，VIH輸出電壓vol，VOH，測試目的：評估被測設備能夠正常工作的電壓范圍；評估輸入引腳區(qū)分輸入邏輯狀態(tài)的能力；評估輸出引腳輸出相應邏輯電壓的能力；測試當前參數(shù)；主要電流參數(shù)：電源電流IDD、輸入漏電流IIL、IIH、輸出漏電流IOL、IOH、IOZ；評估DUT的漏電流，評估DUT工作所需的電源電流；DC參數(shù)測試、工程測試、交流參數(shù)測試、交流參數(shù)測試的基本原理：改變待測參數(shù)，重復功能測試，直到測試結(jié)果從合格變?yōu)椴缓细?。記錄通過/失敗轉(zhuǎn)換點，執(zhí)行必要的數(shù)學運算，并獲得待測試參數(shù)的真實值。本質(zhì)上，進行功能測試是基于

5、時間條件的。，交流參數(shù)測試，交流參數(shù)測試目的：為了保證器件的時序參數(shù)滿足器件規(guī)格要求，為了保證器件能夠在不同的時序條件下正常工作，為了分析器件的時序參數(shù)，為了解決故障問題，為了調(diào)試/優(yōu)化測試程序，為了測試工程，為了測試典型交流參數(shù)(CL/TRCD/Trp)的時序圖，為了測試交流參數(shù)，Shmoo圖例- Margin Test用于評估芯片的實際性能，通常通過SHMOO PLOT工具進行分析。交流參數(shù)測試，Shmoo圖例，二維Shmoo同時改變兩個相關參數(shù)，執(zhí)行功能測試，紅色FAIL區(qū)域，綠色PASS區(qū)域，交流參數(shù)測試，ate測試，大規(guī)模生產(chǎn)，工程/評估)，ATE ate測試介紹，生產(chǎn)測試流程，基本電氣性能測試，重要交流參數(shù)測試，功能測試，連通性測試，泄漏電流測試，IDD測試，時間順序?qū)捤桑瑫r間