1、BB擔(dān)當(dāng)： * 活動(dòng)期間：02年1月至02年6月,部 門 名 稱 : Project 題目 : BB 名字 : * 工 號(hào) : 目 標(biāo) Belt : Black Belt,1. 顧客,SIX SIGMA PROJECT登錄書,2. Project定義 ( 現(xiàn)象,目的,范圍 ) 現(xiàn)象:MASK堵孔不良率高造成不必要的再作業(yè)（堵孔修理），修理后的TUBE品質(zhì)不穩(wěn)定，顧客線容易再現(xiàn)不良。 目的：通過PROJECT活動(dòng)，減少M(fèi)ASK堵孔從而取消不必要的檢查和再作業(yè)工序，降低制造成本，滿足顧客。 范圍:異物關(guān)聯(lián)工程：MASK、SCREEN、TUBE 。 3. 結(jié)果值( Y ) 的定義及測定方法(OD:具

2、體的,數(shù)據(jù)化,目標(biāo)水準(zhǔn)表現(xiàn))是? 綜檢MASK堵孔發(fā)生率Y等于綜檢MASK堵孔發(fā)生數(shù)與綜檢作業(yè)數(shù)的比值，綜檢MASK堵孔不良率目標(biāo)水準(zhǔn)：0.8%。 4. Defect的定義及規(guī)格是 (Operational Definition) 綜檢MASK堵孔屬于以下情形的即為DEFECT： 4-1不導(dǎo)體堵孔：所有不導(dǎo)體堵孔品均為不良品。 4-2導(dǎo)體堵孔：A區(qū)異物SIZE大于30%DOT或B區(qū)異物SIZE大于100%DOT為均為不良品。 5. 預(yù)想的原因變數(shù)（ X ) 部品金屬毛刺數(shù),MASK焊接異物數(shù)，熒光粉、石墨、AL等涂敷物脫落，洗凈、除塵效率，電子槍玻璃破裂及TAPE焊接異物數(shù)，環(huán)境CLEAN度。

3、 6. 關(guān)聯(lián)的 Project 7. Project完了時(shí)預(yù)想的附帶效果是？ 有形效果：節(jié)約RMB：3，246，200元。無形效果：AGING工程修理率降低，LEAKGE、SE不良減少 ，顧客返品率下降，顧客對(duì)SSDI產(chǎn)品的滿意度提高。,D M A I C,指導(dǎo)MBB: * 事務(wù)局 : * 會(huì)計(jì)部署：* Champion：*,Resource (資源),Objectives (目標(biāo)）,PROJECT隊(duì)員:王德榮林自力丘展華等,PROJECT范圍: #2 17CDT(DF+NOR.),D M A I C,Command from the general manager: 2002年是*工廠

4、向異物戰(zhàn)斗的一年，要建立起完善的異物管理系統(tǒng)，徹底減少管內(nèi)異物,根本改善異物性品質(zhì)，確保世界模范工廠的地位并贏得顧客的信任，從而在激烈競爭的市場中立于不敗之地。 Urgent Requirement from major customers： 【1】TSED等外部顧客VOC：MASK堵孔等異物性不良達(dá)500嚴(yán)重影響生產(chǎn)性和產(chǎn)品品質(zhì)。 【2】綜檢、ITC、3檢等內(nèi)部顧客complain about MASK堵孔發(fā)生率太高，SAL率難以完成目標(biāo)。 以上顧客對(duì)此提出強(qiáng)烈改善要求。,Project選擇,綜檢、ITC無MASK堵孔。 批量性、事故性不良（AL脫落、熒光粉脫落）沒有。 堵孔修理后不可再現(xiàn)或

5、引起其它關(guān)聯(lián)性不良（SE、LEAKAGE）,MASK堵孔不良下線率為“0”。. 不能有AL膜、熒光粉、內(nèi)涂石墨等管內(nèi)涂敷物大面積脫落。 導(dǎo)體堵孔：A區(qū)異物SIZE低于30%孔徑，B區(qū)異物低于100% 不導(dǎo)體堵孔沒有。,D M A I C,五大外部顧客,TSED,JinYang,EMC,外部顧客CTQ,內(nèi)部顧客CTQ,ACER,G/WALL,顧客需求,D M A I C,綜檢MASK堵孔不良定義為Y. Y的測量量方法：Y=（綜檢堵孔不良數(shù)/綜檢作業(yè)數(shù)）*100% 注：數(shù)據(jù)取自綜檢每日報(bào)表。 Y=Y1+Y2+Y3+Y4+Y5+Y6+Y7+Y8 Y1:金屬異物堵孔 Y3:焊接異物堵孔 Y5:AL膜堵

6、孔 Y7:熒光粉堵孔 Y2:黑化皮膜堵孔 Y4:燃燒類異物堵孔 Y6:GLASS碎片堵孔 Y8:電子槍異物堵孔 注：Yi測量工具：90倍microscope和綜檢特性檢查臺(tái)。,Y & 不良定義,D M A I C,MASK堵孔發(fā)生率現(xiàn)況（ 2001.12-2002.02）,2001年12-2002年02月間MASK堵孔平均發(fā)生率為1.57%，修理后品質(zhì)信賴性差。 工程處于一種極不穩(wěn)定的狀態(tài),經(jīng)常出現(xiàn)品質(zhì)事故,造成批量不良，散布也很大。 顧客堵孔及相關(guān)的異物性不良仍然未有根本改善，顧客對(duì)我們品質(zhì)仍經(jīng)常抱怨。,Instable process,問題水準(zhǔn),AVERAGE:1.57%,D M A I

7、C,1. MASK堵孔解體分析結(jié)果表明：金屬異物、銹、焊接異物、熒光粉、石墨是最主要的因素。 2.上述各因素中金屬毛刺是造成堵孔的最主要因素，應(yīng)強(qiáng)化金屬部件入庫品質(zhì)和脫脂管理。,問題水準(zhǔn),D M A I C,2001.12-2002.02 MASK堵孔發(fā)生現(xiàn)況,目標(biāo)設(shè)定,D M A I C,Process: 2#line & 3#line,機(jī)工部品入庫檢查,機(jī)工部品MASK 脫脂、黑化、 焊接,SCN 工程 石墨熒光膜 AL膜涂敷,Product: 17”CDT (NOR & DF),電子槍封入 管殼,排氣/ AGING,Banding/檢查/ Coating/ITC,Project 范圍,F

8、 加工 石墨涂敷除塵,M=A*（B-C）%*N*300天,D M A I C,預(yù)想財(cái)務(wù)效果,D M A I C,Project 組織,D M A I C,Project 日程,D M A I C,Macro Process Mapping,Process Mapping,D M A I C,Process Mapping,影響Y（MASK堵孔發(fā)生率）的關(guān)鍵的工程輸入是： 脫脂液污染度 、 脫脂時(shí)間、 P除塵NOZZLE TIP污染度 、 脫脂U/S強(qiáng)度 、 B/P除塵AIR壓力 、 B/P除塵U/S強(qiáng)度 排氣HEAD上污染度、 封接爐內(nèi)污染度、 B/P NOZZLE轉(zhuǎn)動(dòng)狀態(tài)、 FRAME入庫異

9、物數(shù)量、 MASK焊接電極狀態(tài) 脫脂干燥時(shí)間、 黑化爐溫度、 焊接電流、 焊接壓力、 焊接時(shí)間、 MASK洗凈U/S強(qiáng)度、 MASK洗凈水污染狀態(tài) P除塵NOZZLE TIP污染狀態(tài)、NECK洗凈方式。,D M A I C,C&E Matrix (排序后),D M A I C,一次 FMEA,FMEA 部分高的RPN改善圖例,D M A I C,立即改善,FMEA-35: FRAME表面污染度改善,FMEA-05: PRESS 模具污染度改善,FMEA-56: 黑化爐MESH BRUSH增設(shè),FMEA-4:脫脂液染度改善,FMEA-61:除塵噴NOZZLE染度改善,FMEA-20: 排氣小車清

10、掃裝置,再進(jìn)行一次FMEA并對(duì)目前的RPN重新排序,然后尋找最關(guān)鍵的工程輸入進(jìn)行多變量分析。,D M A I C,二次 FMEA,多次改善后確定了最重要5個(gè)的工程輸入： X1=B/P除塵NOZZLE 轉(zhuǎn)速RPM X2= B/P除塵U/S強(qiáng)度 X3=脫脂U/S強(qiáng)度 X4=MASK焊接壓力 X5=黑化爐溫度,D M A I C,測量系統(tǒng)分析,收集整理2001年12月到2002年02月3個(gè)月綜檢MASK堵孔數(shù)據(jù)計(jì)算當(dāng)前Y的工程能力。,工程能力嚴(yán)重不足,D M A I C,確認(rèn)工程能力,上面的分析結(jié)果表明： 黑化爐溫度、MASK焊接壓力、B/P除塵U/S強(qiáng)度、B/P NOZZLE轉(zhuǎn)速RPM對(duì)Y似乎有比

11、較明顯的影響，但仍需統(tǒng)計(jì)分析確認(rèn)。,D M A I C,多變量的主效果分析,自然狀態(tài)下觀察黑化爐溫度和MASK堵孔發(fā)生率狀況并記錄，使用一元ANOVA分析。 統(tǒng)計(jì)時(shí)間：4/23-5/7，擔(dān)當(dāng)：*）,One-way ANOVA: MASK堵孔發(fā)生率 versus 黑化溫度 Analysis of Variance for MASK堵孔 Source DF SS MS F P 黑化溫度 2 0.219182 0.109591 123.21 0.000 Error 10 0.008895 0.000889 Total 12 0.228077 Individual 95% CIs For Mean B

12、ased on Pooled StDev Level N Mean StDev -+-+-+-+- 570 4 1.4050 0.0129 (-*-) 590 4 1.0825 0.0512 (-*-) 610 5 1.3040 0.0114 (-*-) -+-+-+-+- Pooled StDev = 0.0298 1.08 1.20 1.32 1.44,H0：黑化溫度3LEVEL間MASK堵孔發(fā)生率無差異。 Ha：黑化溫度3LEVEL間MASK堵孔發(fā)生率有差異。 P0.05表明：黑化溫度3LEVEL間Y值有有顯著差異。,D M A I C,關(guān)鍵因子1的ANOVA,D M A I C,主要改

13、善事項(xiàng): 預(yù)熱區(qū)間HEATER增加，增大加熱功率，保證加熱能力。 脫脂干燥區(qū)間延長，改善干燥狀態(tài)，同時(shí)提高部件入爐前溫度。 黑化爐保溫系統(tǒng)保全,減少爐內(nèi)熱量散失。,改善前CPK=0.07,改善后CPK=0.57,黑化爐溫度改善前后CAPA分析,關(guān)鍵因子1的改善,自然狀態(tài)下觀察NOZZLE RPM和MASK堵孔發(fā)生率狀況并記錄，使用一元ANOVA分析。 統(tǒng)計(jì)時(shí)間：4/25-5/9，擔(dān)當(dāng)：*）,One-way ANOVA: MASK堵孔發(fā)生率 versus NOZZLE RPM： Analysis of Variance for MASK堵孔 Source DF SS MS F P B/P U/S

14、 2 0.219182 0.109591 123.21 0.000 Error 10 0.008895 0.000889 Total 12 0.228077 Individual 95% CIs For Mean Based on Pooled StDev Level N Mean StDev -+-+-+-+- 30 4 1.4050 0.0129 (-*-) 35 4 1.0825 0.0512 (-*-) 40 5 1.3040 0.0114 (-*-) -+-+-+-+- Pooled StDev = 0.0298 1.08 1.20 1.32 1.44,H0: NOZLLE RPM

15、3LEVEL間Y無差異。 Ha：NOZLLE RPM 3LEVEL間Y有差異。 P0.05表明NOZZLE RPM取不同LEVEL時(shí)Y值有差異。,D M A I C,關(guān)鍵因子2的ANOVA,Analysis of Variance for MASK焊接 Source DF SS MS F P C3 2 2.40858 1.20429 202.20 0.000 Error 11 0.06551 0.00596 Total 13 2.47409 Level N Mean StDev -+-+-+-+- -1 5 3.5640 0.0647 (-*-) 0 4 4.0025 0.0932 (-*-)

16、 1 5 4.5440 0.0754 (-*-) -+-+-+-+- Pooled StDev = 0.0772 3.50 3.85 4.20 4.55,自然狀態(tài)下觀察MASK焊接壓力和MASK堵孔發(fā)生率狀況并記錄，使用一元ANOVA分析。 統(tǒng)計(jì)時(shí)間：4/23-5/7，擔(dān)當(dāng)：*）,H0:MASK焊接壓力3LEVEL間Y無差異。 Ha：MASK焊接壓力3LEVEL間Y有差異。 P0.05表明MASK焊接壓力取不同LEVEL時(shí)Y值有差異。,D M A I C,關(guān)鍵因子3的ANOVA,D M A I C,關(guān)鍵因子3的改善,改善前,改善后,主要改善事項(xiàng)： AIR DUCT增設(shè)，MAIN壓力提升。 增加

17、AIR穩(wěn)定調(diào)節(jié)閥。 DUTCT LEAK改善。,改善前CPK=0.86,改善后CPK=1.56,MASK焊接壓力改善前后CAPA分析,自然狀態(tài)下觀察B/P除塵U/S強(qiáng)度 與MASK堵孔發(fā)生率狀況，使用一元ANOVA分析。 統(tǒng)計(jì)時(shí)間：4/23-5/7，擔(dān)當(dāng)：*）,One-way ANOVA: MASK堵孔發(fā)生率 versus B/P U/S強(qiáng)度 Analysis of Variance for MASK堵孔 Source DF SS MS F P NOZZLE R 2 0.219182 0.109591 123.21 0.000 Error 10 0.008895 0.000889 Total

18、12 0.228077 Individual 95% CIs For Mean Based on Pooled StDev Level N Mean StDev -+-+-+-+- 30 4 1.4050 0.0129 (-*-) 35 4 1.0825 0.0512 (-*-) 40 5 1.3040 0.0114 (-*-) -+-+-+-+- Pooled StDev = 0.0298 1.08 1.20 1.32 1.44,H0: B/P U/S強(qiáng)度3LEVEL間Y無差異。 Ha：B/P U/S強(qiáng)度3LEVEL間Y有差異。 P0.05： B/PU/S 3LEVEL間Y有顯著差異。,D

19、M A I C,關(guān)鍵因子4的ANOVA,D M A I C,B/P除塵U/S強(qiáng)度改善前后CAPA分析,主要改善事項(xiàng)： 周期性更換B/P HORN確保 HORN與BULB 之間 接觸良好。 磨損的HORN再加工， 確保HORN頭部形態(tài)。 HORN長度標(biāo)準(zhǔn)化。 Clamp加大改善BULB定位。,改善前CPK=-0.16,改善后CPK=1.1,關(guān)鍵因子4的改善,D M A I C,主要改善事項(xiàng) 制造技術(shù)、設(shè)備技術(shù)共同對(duì)超聲波輸出能力每周測定一次。 輸出弱的震子及時(shí)更換掉，并送達(dá)專業(yè)廠家維修。 超生波輸出條件SEETING 檢查表1回/班確認(rèn)并記錄。,改善前CPK=0.56,改善后CPK=1.12,脫脂U/S強(qiáng)度改善前后CAPA分析,關(guān)鍵因子5的改善,進(jìn)展到目前Y值現(xiàn)況如何？ 距離GOAL LINE 還有多遠(yuǎn)？,經(jīng)過多次改善后現(xiàn)在工程的穩(wěn)定性良好，自5月份中期MASK堵