1、課程名稱：集成電路測試技術(shù)基礎(chǔ)課程編碼：7050601課程學(xué)分：4學(xué)分課程學(xué)時：64學(xué)時適用專業(yè)：微電子學(xué)集成電路測試技術(shù)基礎(chǔ)（testing technology foundation of integrated circuits）教學(xué)大綱一、課程性質(zhì)與任務(wù)性質(zhì)：本課程的授課對彖為微電子學(xué)專業(yè)本科生，課程屬性為專業(yè)基礎(chǔ)必修課。該課 程在電子器件、半導(dǎo)體工藝原理與技術(shù)、超大規(guī)模集成電路設(shè)汁基礎(chǔ)等課程的基礎(chǔ) 上，全面系統(tǒng)地介紹集成電路測試的基本原理、基本分析方法，為集成電路測試實踐和 集成電路可靠性的學(xué)習(xí)打下基礎(chǔ)。任務(wù)：通過此課程學(xué)習(xí)，使學(xué)生了解集成電路測試的重要性，了解集成電路測試技術(shù) 的發(fā)展

2、現(xiàn)狀、發(fā)展趨勢；使學(xué)生對集成電路測試的主要兒種方法有明確的概念；與數(shù)字集 成電路、模擬集成電路相結(jié)合，使學(xué)生對集成電路可測試性設(shè)計、測試原理和設(shè)計方法 有明確的概念。二、教學(xué)基本內(nèi)容及基本要求第一章集成電路測試概述（一）基本要求1、掌握：集成電路測試的基本概念，主要任務(wù)。2、理解：集成電路測試技術(shù)在整個集成電路產(chǎn)業(yè)鏈中的地位和作用。3、了解：集成電路測試技術(shù)發(fā)展的趨勢。（二）教學(xué)及考核內(nèi)容1. 1測試哲學(xué)1.2測試的作用1.3數(shù)字和模擬vlsi測試1.4 vlsi技術(shù)的發(fā)展趨勢對測試的影響第二章集成電路測試過程和測試設(shè)備（一）基本要求1、掌握：集成電路測試過程。2、理解：基本的測試原理。3、了

3、解：常見的測試設(shè)備。（二）教學(xué)及考核內(nèi)容2. 1如何測試芯片2.2常用的自動測試設(shè)備及測試原理2.3電學(xué)參數(shù)測試第三章數(shù)字集成電路中常見的故障（一）基本要求1、掌握：常用的故障模型如單固定故障模型。2、理解：故障的支配性原理和等價性原理。3、了解：故障模型和故障模型術(shù)語。（二）教學(xué)及考核內(nèi)容3.1缺陷、錯誤和故障3. 2功能測試與結(jié)構(gòu)測試3.3故障模型的級別3.4故障模型屮的常見術(shù)語3.5單固定故障第四章組合電路的測試生成（一）基木要求1、掌握：一維敏感路徑、d算法等測試向量生成算法。2、理解：故障診斷的基本原理、方法。3、了解：非冗余電路的概念。（二）教學(xué)及考核內(nèi)容4. 1數(shù)字電路的故障診斷

4、4.2組合邏輯電路的向量生成技術(shù)4.3組合邏輯電路屮多故障的檢測第五章時序電路的測試方法（一）基本要求1、掌握：時序電路的特點，四種序列的概念及推導(dǎo)過程。2、理解：chose提岀的基于機構(gòu)的測試方法。3、了解：迭代法的原理。（二）教學(xué)及考核內(nèi)容5. 1時序電路特點5.2使用迭代法對時序電路進行測試5. 3狀態(tài)表驗證法5.4基于電路結(jié)構(gòu)的測試方法第六章可測試性設(shè)計（一）基本要求1、掌握：可控制性和可觀測性的涵義，電平敏感型掃描電路的時序分析。2、理解：可診斷時序電路的設(shè)計及測試方法。3、了解：兒種提高可測試性的ad hoc設(shè)計規(guī)則。（二）教學(xué)及考核內(nèi)容6. 1可控制性和可觀察性6.2提髙可測試性

5、的ad hoc設(shè)計規(guī)則6.3可診斷時序電路的設(shè)計6.4可測試時序電路設(shè)計中的掃描路徑技術(shù)6.5電平敏感型掃描設(shè)計第七章邊界掃描技術(shù)（一）基本要求1、裳握：邊界掃描技術(shù)的基本原理和測試結(jié)構(gòu)。2、理解：邊界掃描技術(shù)的主要思想。3、了解：邊界掃描技術(shù)的指令。（二）教學(xué)及考核內(nèi)容7. 1邊界掃描的由來7. 2邊界掃描測試基本原理7.3邊界掃描測試結(jié)構(gòu)7. 4邊界掃描指令第八章內(nèi)建自測試（一）基本要求1、掌握：內(nèi)建自測試的原理和測試向量生成技術(shù)。2、理解：內(nèi)建自測試的規(guī)則。3、了解：內(nèi)建自測試的結(jié)構(gòu)。（二）教學(xué)及考核內(nèi)容8. 1 bist的測試向量生成技術(shù)8.2輸出響應(yīng)分析8. 3循環(huán)型bist8.4

6、soc設(shè)計中的bist第九章混合信號測試（一）基本要求1、掌握：adc的轉(zhuǎn)換原理，adc和dac的電路結(jié)構(gòu)。2、理解：adc在時域和頻域內(nèi)的測試方法。3、了解：adc和dac的特性參數(shù)和故障模型。（二）教學(xué)及考核內(nèi)容9. 1模數(shù)轉(zhuǎn)換器（adc）簡介9.2 adc和dac的電路結(jié)構(gòu)9. 3 adc和dac的特性參數(shù)和故障模型9.4 ieee 1057 標準9.5 adc在時域內(nèi)的測試9. 6頻域adc的測試第十章測試開發(fā)系統(tǒng)（一）基本要求1、掌握：測試語言和程序的編寫。3、理解：測試開發(fā)的基本原則理。3、了解：常用測試語言及開發(fā)環(huán)境。（二）教學(xué)及考核內(nèi)容10. 1測試語言10. 2測試程序10.

7、 3測試開發(fā)環(huán)境10.4測試轉(zhuǎn)換系統(tǒng)10. 5測試設(shè)備脫機開發(fā)環(huán)境三、本課程與其它相關(guān)課程的聯(lián)系與分工在學(xué)習(xí)本課程之前，應(yīng)對電子器件、半導(dǎo)體工藝原理等有深入的了解，并且應(yīng)該至少了 解集成電路設(shè)計以及數(shù)字電路、模擬電路的基本知識。本課程的先修課程：電子器件、半導(dǎo)體工藝原理與技術(shù)、超大規(guī)模集成電路設(shè)計基 礎(chǔ)。本課程的后續(xù)課程：集成電路測試實踐和集成電路可靠性。四、實踐性教學(xué)內(nèi)容安排與要求主要包括集成電路測試過程和測試設(shè)備1、數(shù)字集成電路的測試2、混合信號電路測試3 和測試開發(fā)系統(tǒng)4,通過實驗，學(xué)生應(yīng)全面掌握測試設(shè)備的使用，特別是常用集成電路的測 試方法和測試程序的開發(fā)，將理論和實際應(yīng)用切實結(jié)合起來

8、。1. 集成電路測試過程和測試設(shè)備1 （演示性性實驗）4學(xué)時2. 數(shù)字集成電路的測試2 （驗證性、設(shè)計性實驗）8學(xué)時3. 混合信號電路測試3 （驗證性、設(shè)計性實驗）8學(xué)吋4. 測試開發(fā)系統(tǒng)4 （設(shè)計性實驗）12學(xué)時五、課程各篇章（節(jié)）學(xué)時分配總學(xué)時為64學(xué)時，其屮課程講授32學(xué)時，實驗32學(xué)時。課程各章節(jié)學(xué)時分配如下：章節(jié)內(nèi)容總課時講授課時實驗課時第一章集成電路測試概述22第一章vlsi測試過程和測試設(shè)備624第三章數(shù)字集成電路屮常見的故障22第四章組合電路的測試生成1064第五章時序電路的測試方法844第六章可測試性設(shè)計22第七章邊界掃描技術(shù)44第八章內(nèi)建自測試44第九章混合信號測試448第

9、卜章測試開發(fā)系統(tǒng)14212合計643232六、本課程在課外練習(xí)方面的要求課內(nèi)/外學(xué)時比：1:1課外作業(yè)：主要作業(yè)以習(xí)題為主，還有論文（大作業(yè)）；除第一章、第二章外，每章習(xí)題量為2道左右，要求學(xué)生獨立完成，限期提交。七、本課程釆用的教學(xué)方法和教學(xué)手段1、本課程采用課堂講授、課下輔導(dǎo)的方式，以課堂講授為主，附以一定比例的實踐教學(xué) 時間。2、使用powerpoint幻燈片作為主要教學(xué)輔助工具，以模式教學(xué)網(wǎng)或課程網(wǎng)站為主要載 體，根據(jù)上課內(nèi)容教師選擇演示軟件的分析運行進行教學(xué)。八、教材及教學(xué)參考書教材：姜巖峰、張曉波等編著，集成電路測試技術(shù)基礎(chǔ)，化學(xué)工業(yè)出版社，2008年9月參考書：1、雷紹充等編著，超大規(guī)模集成電路測試，電子工業(yè)出版社，2008年5月2、時萬春等編著，現(xiàn)代集成電路測試技術(shù)，化學(xué)工業(yè)出版社，2006年5月九、本課程成績的考核方式、成績評定標準及英它有關(guān)問題的說明采用百分制，總評成績由平時成績、