ICS77.040.01CCSN77ICS77.040.01CCSN77山 東 省 地 方 標(biāo) 準(zhǔn)DB37/T4361—2021螺栓相控陣超聲檢測(cè)技術(shù)規(guī)程ThetechnicalcodeofPhased-arrayUltrasonicTestingforinspectingbolts20212021031120210411山東省市場(chǎng)監(jiān)督管理局發(fā)布目 次前言 II112范引文件 13語(yǔ)定義 14般求 15測(cè)法 56據(jù)析評(píng)定 87989附錄A（范）試塊 10附錄B（范）相陣探晶靈度異有效測(cè)試 12附錄C（范）相陣檢系定精測(cè)試 13附錄E（料）螺相控超檢典缺圖譜 16附錄E（料）螺相控超檢典缺圖譜 16參考獻(xiàn) 20前 言本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。本文件主要起草人：孫望軍、丁成海、王敬昌、齊高君、岳大慶、徐學(xué)堃、蘇敏。螺栓相控陣超聲檢測(cè)技術(shù)規(guī)程范圍本文件規(guī)定了緊固件螺栓相控陣超聲檢測(cè)工藝方法和質(zhì)量評(píng)定要求。本文件適用于直徑大于等于32mm的緊固件螺栓相控陣超聲檢測(cè)。其他規(guī)格及粗晶材質(zhì)的螺栓，經(jīng)過(guò)工藝驗(yàn)證試驗(yàn)?zāi)軌驖M足檢測(cè)靈敏度要求，參照本文件內(nèi)容執(zhí)行。（GB/T11259無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)用鋼參考試塊的制作和控制方法GB/T12604.1無(wú)損檢測(cè)術(shù)語(yǔ)超聲檢測(cè)GB/T29302無(wú)損檢測(cè)儀器相控陣超聲檢測(cè)系統(tǒng)的性能與檢驗(yàn)GB/T23905無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)用試塊JB/T11731無(wú)損檢測(cè)超聲相控陣探頭通用技術(shù)條件3術(shù)語(yǔ)和定義GB/T12604.1界定的術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。JB/T11731無(wú)損檢測(cè)超聲相控陣探頭通用技術(shù)條件3術(shù)語(yǔ)和定義GB/T12604.1界定的術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。4一般要求中級(jí)ldB；-3dB1MHz，15MHz；681355nsJB/T1173110-6dB554dB試塊AB（）ABLS-1AGB/T23905。耦合劑AB1338B110mm2dB2dB1mm，CSBCD3D6.3μm聚焦法則參數(shù)應(yīng)考慮以下因素：16檢測(cè)前，應(yīng)對(duì)扇形掃描角度范圍內(nèi)的各角度聲束進(jìn)行校準(zhǔn)修正，縱波法、橫波法調(diào)試均可通過(guò)B型試塊B1區(qū)系列Φ1橫通孔或同類型的其他試塊進(jìn)行調(diào)試，探頭放置位置見(jiàn)圖1。圖1角度增益補(bǔ)償探頭位置）；（）查方法的選擇、掃查面的準(zhǔn)備、掃查面及探頭位置的確定等，以及檢測(cè)系統(tǒng)的設(shè)置（）150～50性，同時(shí)驗(yàn)證檢測(cè)的可操作性和可靠性。螺栓相控陣超聲檢測(cè)主要采用縱波法，縱波無(wú)法滿足時(shí)可用采用橫波法。超聲柱面導(dǎo)波相控陣技術(shù)（見(jiàn)附錄D）、相控陣全聚焦技術(shù)可作為輔助檢測(cè)。檢測(cè)方法選擇應(yīng)符合下列要求：10mm相控陣縱波法主要適用于：超過(guò)表1中規(guī)定；b)有中心孔螺栓的本側(cè)及內(nèi)壁缺陷檢測(cè)。表1螺栓單側(cè)有效檢測(cè)長(zhǎng)度參考表超過(guò)表1中規(guī)定；b)有中心孔螺栓的本側(cè)及內(nèi)壁缺陷檢測(cè)。表1螺栓單側(cè)有效檢測(cè)長(zhǎng)度參考表5.2.2探頭選擇相控陣探頭頻率一般為2MHz～5MHz，探頭有效面積不小于80mm2，主動(dòng)激發(fā)孔徑不小于8mm，晶片16～64規(guī)格（無(wú)中心孔）mm可探裂紋深度mm有效檢測(cè)長(zhǎng)度mmM32≥1180M38≥1225M42≥1260M48≥1310M52≥1340M56≥1370M64≥1440M72≥1500M76≥1535相控陣縱波法檢測(cè)靈敏度可根據(jù)LS-Ⅰ對(duì)比試塊、槽型對(duì)比試塊、模擬試塊進(jìn)行靈敏度調(diào)整，具體見(jiàn)表2。表2縱波檢測(cè)靈敏度調(diào)整方法試塊檢測(cè)靈敏度調(diào)整裂紋檢測(cè)能力LS-Ⅰ試塊將試塊上與被檢螺栓最遠(yuǎn)端螺紋距離相近的Φ1mmA802dB～6dB1mm槽型對(duì)比試塊A示的80%屏高作為基準(zhǔn)靈敏度，再增益2dB～6dB作為檢測(cè)靈敏度1mm模擬試塊1mmA60屏高作為基準(zhǔn)靈敏度，在增益2dB～4dB作為檢測(cè)靈敏度1mm注1：檢測(cè)時(shí)，螺栓的螺紋和光桿區(qū)域應(yīng)分開(kāi)設(shè)置基準(zhǔn)靈敏度；注2：當(dāng)檢測(cè)軸向范圍超過(guò)200mm時(shí)，每增加10mm，應(yīng)在原有的檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上再增加1dB；注3：直切槽尺寸長(zhǎng)10mm，寬0.3mm，深1mm。檢測(cè)時(shí)，根據(jù)螺栓的結(jié)構(gòu)形式選擇探頭位置及掃查方式，應(yīng)符合下列規(guī)定：33圖2縱波法無(wú)中心孔掃查圖3縱波法有中心孔掃查5.2.5缺陷指示長(zhǎng)度測(cè)定指示長(zhǎng)度的測(cè)定應(yīng)按下述方法進(jìn)行：（-6dBI（1） I=L×(1)式中：Lmm；Rmm；r——中心孔半徑，mm。螺栓光桿表面、螺紋根部處以及中心孔內(nèi)壁的缺陷檢測(cè)。35°～702MHz～7.5MHz，16～320.50.5mm，如圖4圖4探頭楔塊邊緣與螺栓光桿表面間隙的示意圖5.3.4檢測(cè)靈敏度相控陣橫波法檢測(cè)靈敏度可根據(jù)模擬試塊、待檢螺栓本體進(jìn)行靈敏度調(diào)整，具體見(jiàn)表3。表3橫波檢測(cè)靈敏度調(diào)整方法試塊檢測(cè)靈敏度調(diào)整裂紋檢測(cè)能力模擬試塊1mmA602dB～4dB深1mm模擬裂紋螺栓本體10～145～7A602dB2dB～4dB深1mm模擬裂紋注：直切槽尺寸長(zhǎng)10mm，寬0.3mm，深1mm。檢測(cè)時(shí)，根據(jù)螺栓的結(jié)構(gòu)形式選擇探頭位置及掃查方式，應(yīng)符合下列規(guī)定：5623；10圖5橫波法無(wú)中心孔掃查圖6橫波法有中心孔掃查指示長(zhǎng)度的測(cè)定應(yīng)按下述方法進(jìn)行：（-6螺紋處缺陷指示長(zhǎng)度的測(cè)定：測(cè)定缺陷螺紋其后第一個(gè)螺紋反射波幅降幅超過(guò)504.2.5b）。6數(shù)據(jù)分析及評(píng)定10紋。10mm5010mmE7記錄每次檢測(cè)應(yīng)做好原始記錄，逐個(gè)記錄檢測(cè)結(jié)果。記錄內(nèi)容至少應(yīng)包括如下信息：8報(bào)告8報(bào)告附錄A（規(guī)范性）試塊用于螺栓相控陣超聲檢測(cè)的校準(zhǔn)試塊，簡(jiǎn)稱A型和B型試塊，其制造要求應(yīng)符合GB/T11259和JB/T8428的規(guī)定，形狀和尺寸如圖A.1、A.2所示。圖A.1相控陣A型試塊圖A.2相控陣B型試塊（聲束控制評(píng)定試塊）用于螺栓相控陣超聲檢測(cè)的對(duì)比試塊有LS-1試塊、槽型對(duì)比試塊，其制造要求應(yīng)符合GB/T和JB/T8428A.3、圖A.4圖A.3LS-1試塊圖A.4槽型對(duì)比試塊附錄B（規(guī)范性）相控陣探頭晶片靈敏度差異與有效性測(cè)試該項(xiàng)測(cè)試要求儀器軟件能夠?qū)ο嗫仃囂筋^的每個(gè)晶片進(jìn)行逐一激發(fā)。80（判斷如出現(xiàn)以下情況，認(rèn)定為晶片為壞晶片：12dB9dBB.4對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行復(fù)核B.4對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行復(fù)核B.2附錄C（規(guī)范性）相控陣檢測(cè)系統(tǒng)定位精度測(cè)試C.150mm80°～80C.2.2.3將相控陣探頭置于C.1的試塊表面，以所選取的聲束找到與該聲束相同角度位置孔的最高回波，記錄儀器中測(cè)得的孔的位置信息，并與實(shí)際值相比較。C.2.2.3將相控陣探頭置于C.1的試塊表面，以所選取的聲束找到與該聲束相同角度位置孔的最高回波，記錄儀器中測(cè)得的孔的位置信息，并與實(shí)際值相比較。圖C.1相控陣試塊附錄D（資料性）螺栓超聲柱面導(dǎo)波相控陣檢測(cè)GB/T29302探頭探頭應(yīng)滿足如下技術(shù)要求：2.0MHz～10.0MHz2mm～5注：周向線陣指同一平面上多個(gè)晶片眼周向排列形成一個(gè)單層圓環(huán)形（控制方向）的平面陣列探頭。試塊D.3.1標(biāo)準(zhǔn)試塊儀器系統(tǒng)性能測(cè)試和系統(tǒng)校準(zhǔn)應(yīng)采用對(duì)比試塊。D.3.2對(duì)比試塊D.3.2對(duì)比試塊Φ1mmD.110mm、深1mm、寬0.3mm圖D.1導(dǎo)波模擬試塊D.3.3其他等效試塊靈敏度的設(shè)定應(yīng)符合下列規(guī)定1233A2012220檢測(cè)D.5a）D.1D.5b）D.11