標準解讀
《GB/T 11297.12-2012 光學晶體消光比的測量方法》相比于其前版《GB/T 11297.12-1989》,主要在以下幾個方面進行了更新和修訂:
-
技術內容的更新:新版標準依據(jù)近年來光學晶體技術和測試手段的發(fā)展,對消光比測量的理論基礎、實驗條件、儀器設備要求等方面進行了修訂,以更準確地反映當前技術水平和測量需求。
-
測量方法的優(yōu)化:詳細規(guī)定了更為精確和高效的測量步驟,可能包括對光源、探測器的選擇和校準方法的改進,以及數(shù)據(jù)處理流程的標準化,旨在提高測量結果的準確性和可重復性。
-
術語和定義的明確:對相關專業(yè)術語進行了重新定義或補充,確保了標準中所有術語的準確性和一致性,便于讀者理解和執(zhí)行。
-
試驗條件的細化:對測量環(huán)境(如溫度、濕度控制)、樣品制備及處理方法給出了更具體的要求,以減少外界因素對測量結果的影響。
-
質量控制與驗證:增加了對測量過程中質量控制措施的說明,包括儀器校驗、數(shù)據(jù)有效性判斷及誤差分析等,確保測量結果的可靠性。
-
標準適用范圍的調整:根據(jù)光學晶體材料和技術的進步,可能對標準的適用范圍進行了擴展或限定,以覆蓋更多種類的光學晶體或特定應用領域。
-
參考文獻的更新:引用了最新的科研成果和國際標準,為標準提供了更堅實的理論和實踐支撐。
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....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2012-12-31 頒布
- 2013-06-01 實施
文檔簡介
ICS31140
L21.
中華人民共和國國家標準
GB/T1129712—2012
代替.
GB/T11297.12—1989
光學晶體消光比的測量方法
Testmethodforextinctionratioofopticalcrystal
2012-12-31發(fā)布2013-06-01實施
中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布
中國國家標準化管理委員會
GB/T1129712—2012
.
前言
本部分按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本部分代替電光晶體鈮酸鋰磷酸二氫鉀和磷酸二氘鉀消光比的測量方
GB/T11297.12—1989《、
法
》。
本部分與相比主要有如下變動
GB/T11297.12—1989,:
對原部分的名稱進行了修改原部分名稱電光晶體鈮酸鋰磷酸二氫鉀和磷酸二氘鉀消光比
———?!啊?/p>
的測量方法改為光學晶體消光比的測量方法本部分還將標準適用范圍擴展到采用其他
”“”。
波長測量的單軸和等軸光學晶體
;
對原部分測量系統(tǒng)消光比指標進行了修改原部分測量系統(tǒng)指標為需配備輸出功
———,100000∶1,
率較高的氦氖激光器現(xiàn)部分測量系統(tǒng)指標修訂為采用輸出功率大
(P≥15mW)。50000∶1,
于的氦氖激光器
2mW;
原部分消光比指標表示方法只有本部分增加了分貝表示方法
———×××××∶1。;
本部分增加了將被測晶體置于正交偏光系統(tǒng)中時透射光強取最大值
———;
本部分增加了測量系統(tǒng)應采用必要的光屏蔽措施的要求
———;
本部分增加了測量環(huán)境條件要求
———;
本部分增加了被測晶體兩通光端面的粗糙度要求
———;
本部分增加了測試系統(tǒng)的通光孔徑為的規(guī)定供需雙方還可根據(jù)樣品尺寸協(xié)商確定通
———5mm,、
光孔徑的大小
;
本部分增加了光束直徑為被測樣品直徑的的規(guī)定供需雙方還可根據(jù)樣品尺寸協(xié)商確
———90%,、
定光束直徑的大小
。
本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出
。
本部分由中國電子技術標準化研究所歸口
。
本部分由中國電子科技集團公司第二十六研究所負責起草
。
本部分主要起草人謝克誠金中洪楊潔張曉梅
:、、、。
本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為
:
———GB/T11297.12—1989。
Ⅰ
GB/T1129712—2012
.
光學晶體消光比的測量方法
1范圍
的本部分規(guī)定了采用波長為的光波沿單軸光學晶體光軸方向消光比的測
GB/T11297632.8nm
量方法
。
本部分適用于采用波長為的光波對單軸和
632.8nm、1064nm、830nm、514nm、488nm、458nm
等軸光學晶體的消光比測量
。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
固體激光材料名詞術語
GB/T11293—1989
3術語和定義
界定的術語和定義適用于本文件
GB/T11293—1989。
4測量原理
波長為的一束光波沿被測晶體光軸方向透過一個置于正交偏光系統(tǒng)中的被測晶體時
632.8nm,
以光軸為軸旋轉晶體測量出透射光強最大值然后轉動檢偏器成平行偏光系統(tǒng)測量出透射光強值通
,,,,
過式計算消光比E
(1)(X):
E=II
X‖/⊥…………(1)
式中
:
E被測晶體的消光比
X———;
I平行偏光系統(tǒng)中透射光強值單位為毫伏
‖———,(mV);
I正交偏光系統(tǒng)中透射光強最大值單位為毫伏
⊥———,(mV)。
也可用式表示
(2):
E′=×II
X10lg(‖/⊥)…………………(2)
式中消光比E的單位為分貝
X′(dB)。
5測量系統(tǒng)
消光比測量系統(tǒng)示意圖如圖所示采用波長為
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