電子產(chǎn)品認(rèn)證中出現(xiàn)的不合格項(xiàng)目第1頁/共78頁2

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)電子產(chǎn)品認(rèn)證中,常出現(xiàn)的不合格項(xiàng)目一．輻射不能滿足實(shí)驗(yàn)的要求二．傳導(dǎo)不能滿足實(shí)驗(yàn)的要求三．靜電不能滿足實(shí)驗(yàn)的要求對(duì)不能滿足實(shí)驗(yàn)的測(cè)試項(xiàng)目.有兩種辦法進(jìn)行去考慮Ａ．設(shè)計(jì)前期沒有考慮、或者考慮不周-----事后補(bǔ)救(整改)Ｂ．設(shè)計(jì)前期考慮EMC問題---------從源頭做起.國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第2頁/共78頁3一．輻射不能滿足實(shí)驗(yàn)的要求輻射發(fā)射的原理電子電器設(shè)備在正常工作時(shí)，會(huì)同時(shí)向周圍空間輻射騷擾．導(dǎo)致產(chǎn)品的EMI測(cè)試通不過，在解決產(chǎn)品輻射發(fā)射問題，需要了解發(fā)射的原因．這樣才能更好有效的解決問題．一般產(chǎn)品的對(duì)外輻射干擾分為共模發(fā)射和差模發(fā)射．檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第3頁/共78頁4檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院差模輻射何共模輻射場(chǎng)強(qiáng)計(jì)算公式

共模輻射場(chǎng)強(qiáng)：E=1.26×I×L×f/r

其中：I為共模電流強(qiáng)度；L為共模電流路徑長(zhǎng)度；f為共模電流頻率；r為測(cè)試點(diǎn)距離共模路徑的距離。減小共模發(fā)射，減小共模電流路徑的長(zhǎng)度，減小共模電流．

差模輻射場(chǎng)強(qiáng)：E=6.2×I×A×f2/r

其中：I為差模電流強(qiáng)度；A為差模電流環(huán)路面積；f為差模電流頻率；r為測(cè)試點(diǎn)距離差模環(huán)路的距離。

減小差模發(fā)射：減小環(huán)路面積，減小差模電流．第4頁/共78頁5檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院減小差模和共模干擾的關(guān)鍵根據(jù)對(duì)產(chǎn)品輻射模型的了解，我們可以初步得出產(chǎn)品ＥＭＩ問題設(shè)計(jì)解決的關(guān)鍵．減小設(shè)計(jì)單板中差模信號(hào)的環(huán)路面積減小設(shè)計(jì)單板中共模信號(hào)的回路路徑加大共模阻抗，減小高頻噪聲電流（濾波．隔離．及匹配等措施）增大干擾源與對(duì)敏感電路之間的距離第5頁/共78頁6檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院EMC三要素明確EMC三要素，是工程師定位與整改EMC問題的前提，明確了輻射發(fā)射的源頭與耦和路徑，工程師整改對(duì)策才能有的放失，快速有效的解決問題．第6頁/共78頁7檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院EMC三要素干擾源耦合路徑敏感設(shè)備缺少一個(gè)都不能構(gòu)成EMC問題，因此只要解決其中的一個(gè)因素就可以解決EMC問題．第7頁/共78頁8檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院電子產(chǎn)品的干擾源開關(guān)電源，繼電器，馬達(dá)，時(shí)鐘等，同時(shí)由時(shí)鐘輸出到數(shù)字芯片，數(shù)字芯片輸出的數(shù)字信號(hào)都可能導(dǎo)致產(chǎn)品的輻射發(fā)射超標(biāo)．第8頁/共78頁9檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院耦合路徑分析線路板上的干擾源主要是通過傳導(dǎo)和輻射的方式，直接或間接導(dǎo)致系統(tǒng)輻射超標(biāo)！比如：時(shí)鐘信號(hào)通過空間輻射耦合到電纜，再通過電纜空間輻射耦合到天線接收，最終導(dǎo)致產(chǎn)品輻射發(fā)射超標(biāo)！

第9頁/共78頁10對(duì)輻射的定位●整改的前提是定位●定位有兩種手段：一種是直覺判斷，需要完全依靠工程師積累的EMC經(jīng)驗(yàn)來判斷，另一種是比較測(cè)試，依靠測(cè)試儀器和EMC經(jīng)驗(yàn)的結(jié)合來對(duì)問題進(jìn)行詳細(xì)的定位判斷。檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第10頁/共78頁11對(duì)電子產(chǎn)品輻射不合格的定位分析檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第11頁/共78頁12附一張輻射的圖：

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第12頁/共78頁13

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)對(duì)輻射的圖進(jìn)行分析：1.如果在30-300Mhz之間呈現(xiàn)包狀掃描圖。判斷是電源問題引起的。2.如果在掃描圖中，發(fā)現(xiàn)是尖點(diǎn)時(shí)，需要計(jì)算，肯定是電路中的晶振電路的倍頻引起的。國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第13頁/共78頁14

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)利用頻譜分析利用頻譜在樣機(jī)上面找遠(yuǎn)場(chǎng)中找到的頻點(diǎn)。。國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第14頁/共78頁15

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)解決電路板上處理是一種方法，下面的幾種方法同樣也可以用．具體如下：１．連接線處加磁環(huán)２．電纜采用屏蔽線３．對(duì)PCB板的接口進(jìn)行濾波處理國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第15頁/共78頁16

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)舉例－－－導(dǎo)線加磁環(huán)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第16頁/共78頁17

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)舉例－－采用屏蔽電纜

國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第17頁/共78頁18

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)

舉例－－對(duì)PCB板的接口進(jìn)行濾波處理

國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第18頁/共78頁19

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)對(duì)開關(guān)電源的整改寬帶噪聲抑制方法譜線問題描述：30～300MHz頻段內(nèi)出現(xiàn)寬帶噪聲超標(biāo)，如下圖：?jiǎn)栴}定位：一般由電源(或者是低頻工作的產(chǎn)品)地噪聲輻射引起。問題整改：通過在電源線上增加去耦磁環(huán)（可開合）進(jìn)行驗(yàn)證，如果有改善則說明和電源線有關(guān)系，采用以下整改方法：國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院30MHz第19頁/共78頁20

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)A濾波器是否良好接地如果設(shè)備有一體化濾波器，檢查濾波器的接地是否良好，接地線是否盡可能短．建議：金屬外殼的濾波器的接地最好直接通過其外殼和地之間的大面積搭接。國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第20頁/共78頁21

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)B濾波器或?yàn)V波電路的輸入輸出是否隔離檢查濾波器的輸入、輸出線是否互相靠近。國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院濾波器輸出模塊PCB輸入第21頁/共78頁22

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)C適當(dāng)調(diào)整濾波器件參數(shù)適當(dāng)調(diào)整X/Y電容的容值、差模電感及共模扼流圈的感量；調(diào)整Y電容時(shí)要注意安全問題；改變參數(shù)可能會(huì)改善某一段的輻射，但是卻會(huì)導(dǎo)致另外頻度變差，所以需要不斷的試，才能找到最好的組合。國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院CxCyL1L2L4L3CyL1、L2:差模電感Cx:差模電容L3、L4:共模電感Cy:共模電容第22頁/共78頁23D在PCB布線時(shí)一定要控制好各回路的回流面積，可以大大減小差模輻射。檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第23頁/共78頁24

整改中用到的元器件檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)濾波的元器件國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第24頁/共78頁25

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)濾波電路中需要考慮的元器件磁珠。國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第25頁/共78頁26

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)濾波電路中的電容的選?。畤?guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第26頁/共78頁27

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)濾波電路中的電感的選?。畤?guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第27頁/共78頁28

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)對(duì)連接線上加磁環(huán),進(jìn)行濾波處理.國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第28頁/共78頁29

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)案例：便攜式DVD的整改輻射整改案例國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第29頁/共78頁30

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)輻射整改案線上加磁環(huán)和導(dǎo)電棉國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第30頁/共78頁31

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)輻射整改案例通過噴導(dǎo)電漆對(duì)樣機(jī)屏蔽處理.國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第31頁/共78頁32

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)整改后輻射掃描圖:.國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第32頁/共78頁33

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)整改案例２（銀行卡讀卡器）.國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第33頁/共78頁34

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)整改案例２.國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第34頁/共78頁35

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)整改案例２.國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第35頁/共78頁36

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)傳導(dǎo)整改：.國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第36頁/共78頁37

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)適當(dāng)調(diào)整濾波器件參數(shù)（整改傳導(dǎo)問題）國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第37頁/共78頁38

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)靜電整改

1.采用抗干擾能力強(qiáng)的IC2.對(duì)IC的供電加TVS.壓敏電阻

國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第38頁/共78頁39

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)

產(chǎn)品在設(shè)計(jì)當(dāng)中需要考慮EMC問題國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第39頁/共78頁40

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)

產(chǎn)品原理設(shè)計(jì)階段需要考慮１．濾波和防護(hù)器件的考慮（電源輸入的接口濾波器根據(jù)產(chǎn)品功率。電源口防雷的設(shè)計(jì)、檢查芯片、時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)、風(fēng)扇、電機(jī)的濾波電路）２．電源濾波設(shè)計(jì)３．接口防護(hù)濾波的處理４．關(guān)鍵電路設(shè)計(jì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第40頁/共78頁41檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院

PCB的設(shè)計(jì)需要考慮的階段１．層結(jié)構(gòu)的安排２．電源、地的分割３．重要器件的布局４．濾波電容的布局５．防護(hù)器件的擺放位置第41頁/共78頁42檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院PCB板上局部方案的設(shè)計(jì)1.接口電路的走線控制2.晶振時(shí)鐘走線的處理3.其他高速走線的處理4.其他關(guān)鍵走線的控制（復(fù)位信號(hào)、串口走線）第42頁/共78頁43檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院通過具體的案例進(jìn)行分析在對(duì)PCB設(shè)計(jì)中，對(duì)主芯片和電源管腳增加0.001uf小電容。第43頁/共78頁44檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院結(jié)合出現(xiàn)的問題圖，電路設(shè)計(jì)中如何考慮EMC問題從原理圖分析---主芯片電源濾波沒有高頻濾波電容，只有0.1uf電容第44頁/共78頁45檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院原理圖設(shè)計(jì)分析---電源接口沒有濾波處理第45頁/共78頁46檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)原理圖設(shè)計(jì)分析----信號(hào)接口沒有濾波設(shè)計(jì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第46頁/共78頁47

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)

其他時(shí)鐘問題：

1.主芯片的時(shí)鐘沒有濾波處理

2.高速信號(hào)線沒有濾波處理國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第47頁/共78頁48檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)

時(shí)鐘源外殼是否接地在PCB板上：晶體外殼應(yīng)該接地處理；晶振的接地腳應(yīng)該接地；國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院PCBGND晶振第48頁/共78頁49檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)時(shí)鐘輸出匹配設(shè)計(jì)時(shí)鐘的輸出根據(jù)信號(hào)質(zhì)量的要求使用始端匹配，適當(dāng)變緩時(shí)鐘沿，減小發(fā)射。需要注意的是，使用時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)器時(shí)，時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)的時(shí)鐘輸出同樣需要匹配．

國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院GND晶振RRR第49頁/共78頁50檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)時(shí)鐘源的電源濾波設(shè)計(jì)采用磁珠＋大電容＋高頻電容的濾波方式給時(shí)鐘源進(jìn)行濾波．國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院GND晶振RBEADGND電容第50頁/共78頁51檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)單層板或雙層板上時(shí)鐘線的處理單層板或雙層板上的時(shí)鐘建議盡可能在時(shí)鐘線的兩側(cè)包地線，條件不允許，也應(yīng)該使時(shí)鐘線和地線緊鄰走線，即時(shí)鐘線的一側(cè)起碼有地線，以減小時(shí)鐘線的回流面積，減小差模輻射。國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院PCB包地線包地線時(shí)鐘源第51頁/共78頁52檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)多層板上時(shí)鐘線的處理時(shí)鐘線走內(nèi)層；國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院GND平面走線層第52頁/共78頁53檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)時(shí)鐘源是否盡可能靠近其負(fù)載。如下圖，時(shí)鐘源靠近負(fù)載的目的是使時(shí)鐘走線即可能短．國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院GND晶振RPCB第53頁/共78頁54

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)

PCB板的分析:

信號(hào)回路大，對(duì)電源線適當(dāng)?shù)牡胤郊覥減小環(huán)面積

國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第54頁/共78頁55

檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)對(duì)電源的走線電源的主板設(shè)計(jì)中若采用兩層板，電源走線附近必須有地線與其相鄰，平行走線。主要的目的是減小電源電流回路面積。

國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院第55頁/共78頁56檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院信號(hào)走線的注意事項(xiàng)PCB上不能有直角走線，直角走線導(dǎo)致阻抗不連續(xù)，導(dǎo)致信號(hào)發(fā)射，從而產(chǎn)生振鈴或過沖，形成強(qiáng)烈的EMI輻射。第56頁/共78頁57檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院直角走線導(dǎo)致的振鈴和過沖圖第57頁/共78頁58檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院對(duì)電源接口和信號(hào)接口濾波的處理。第58頁/共78頁59檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院防護(hù)與濾波

如果接口處既有濾波又有防護(hù)電路，應(yīng)總從先防護(hù)后濾波的原則。防護(hù)電路用來進(jìn)行外來過壓和過流抑制，如果將防護(hù)電路放置在濾波電路之后，濾波電路會(huì)被過壓和過流損壞。第59頁/共78頁60檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院時(shí)鐘電路增加RC濾波器。第60頁/共78頁61檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院元器件晶振擺放不合理：

第61頁/共78頁62檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院

零歐姆電阻的應(yīng)用在電路設(shè)計(jì)中對(duì)一些干擾性很強(qiáng)的線，在設(shè)計(jì)時(shí)考慮加設(shè)計(jì)0ohm電阻，以便在設(shè)計(jì)成的PCB做EMI元件調(diào)節(jié)參數(shù)。第62頁/共78頁63檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院對(duì)接地，屏蔽在電路設(shè)計(jì)中的考慮單片機(jī)接地單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)的電源采用一點(diǎn)接地，數(shù)字部分采用多點(diǎn)接地，而I/O緩沖部分采用混合接地的形式，原因在于：電路中寄生電感的存在和很大的地線電流的存在會(huì)造成器件的引腳與真正地電位之間的電位差，這會(huì)導(dǎo)致共模輻射問題。而采用了上述接地形式可有效的消除此問題。第63頁/共78頁64檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院?jiǎn)吸c(diǎn)接地與多點(diǎn)接地的示意圖第64頁/共78頁65檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院PCB設(shè)計(jì)的接地舉例

第65頁/共78頁66檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的不合理，導(dǎo)致接地不好．第66頁/共78頁67檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院電路板上考慮屏蔽（對(duì)DSP或干擾比較強(qiáng)的IC考慮屏蔽）第67頁/共78頁68檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院屏蔽的例子第68頁/共78頁69檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)國(guó)家數(shù)字電子產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心深圳計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院PCB設(shè)計(jì)中地的考慮雙層板，保證一面走線，另一面鋪地。地平面可以抵消電路中的干擾信號(hào)．第69頁/共78頁70檢測(cè)成就未來，檢測(cè)成就品質(zhì)PCB設(shè)