有質(zhì)量評(píng)定的石英晶體元件 第1部分：總規(guī)范 編制說(shuō)明_第1頁(yè)
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《有質(zhì)量評(píng)定的石英晶體元件第1部分：（征求意見(jiàn)稿）編制說(shuō)明牽頭單位組織和落實(shí)了標(biāo)準(zhǔn)編制組成員。編制組首先對(duì)標(biāo)準(zhǔn)原文IEC60122-1：本文件負(fù)責(zé)起草單位為北京晨晶電子有限公司、唐山國(guó)芯晶源電子有限公二、標(biāo)準(zhǔn)編制原則和確定主要內(nèi)容的論據(jù)及解決的主要問(wèn)題等同采用IEC60122-1：2002/AMD1:2017國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。本文件與等同采用IEC60122-1：2002/AMD1:2017的編寫(xiě)保持一致。編制過(guò)程中遵守GB/T1.1-2020的IEC60122-1：2002/AMD1:2017本文件的制定有利于加快我國(guó)石英晶體元件整體技術(shù)水平和應(yīng)用能力與國(guó)五、與國(guó)際、國(guó)外同類標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)內(nèi)容的對(duì)比情況a）“老化（非破壞性的）”改為“驗(yàn)證用標(biāo)準(zhǔn)老化試驗(yàn)”，細(xì)化了試驗(yàn)程序，六、以國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)的起草情況本文件與等同采用IEC60122-1：2002/AMD1:2017的編寫(xiě)保持一致。本文件七、與有關(guān)法律、行政法規(guī)及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的關(guān)系十、貫徹標(biāo)準(zhǔn)的要求和措施建議十一、替代或

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