材料分析與測試技術(shù)智慧樹知到期末考試答案+章節(jié)答案2024年湖南科技大學(xué)背散射電子產(chǎn)額隨樣品平均原子序數(shù)增大而減小。（）

答案:錯(cuò)吸收電子像襯度和背散射電子像襯度均為原子序數(shù)襯度，且二者像襯度相同。（）

答案:錯(cuò)單晶電子衍射花樣的標(biāo)定中，嘗試-校核法，衍射斑點(diǎn)指數(shù)的標(biāo)定具有唯一性。（）

答案:錯(cuò)一束X射線照射一個(gè)原子列(一維晶體)，只有鏡面反射方向上才有可能產(chǎn)生衍射。（）

答案:錯(cuò)紅外光譜不能用水做溶劑，不能用玻璃作為容器。（）

答案:對K系輻射形成的X射線強(qiáng)度高，因此X射線光源通常采Kα線系。()

答案:對透射電子顯微鏡中像差包括（）

答案:色差;球差;像散常用的X射線的探測器主要有()

答案:蓋革計(jì)數(shù)器;正比計(jì)數(shù)器;Si(Li)檢測器;閃爍計(jì)數(shù)器掃描電子顯微鏡中掃描線圈的作用是使電子束偏轉(zhuǎn)，并在樣品表面作有規(guī)則的掃描。（）

答案:對衍射幾何條件的形式包括（）

答案:布拉格方程+反射定律;勞厄方程;衍射矢量方程掃描電鏡二次電子像提供的表面形貌襯度應(yīng)用極其廣泛，主要包括（）。

答案:金相分析;磨損及腐蝕分析;粉末形貌分析;斷口分析干涉指數(shù)能夠同時(shí)對晶面的空間方位與晶面的間距進(jìn)行標(biāo)識。()

答案:對根據(jù)特征X射線的產(chǎn)生機(jī)理和命名規(guī)則，可知λKβ＜λKα。()

答案:對通常X射線光管中產(chǎn)生的焦點(diǎn)形狀包括（）

答案:線;點(diǎn)透射電子顯微鏡中主要是電磁透鏡，由于電磁透鏡不存在凹透鏡，因此不能像光學(xué)顯微鏡那樣通過凹凸透鏡的組合設(shè)計(jì)來減小或消除像差，因此透射電鏡中的像差都是不可以消除的。()

答案:錯(cuò)衍射儀法中進(jìn)行X射線數(shù)據(jù)采集時(shí)，測角儀半徑（）

答案:不變掃描電子顯微鏡的基本部分組成包括（）。

答案:電子光學(xué)系統(tǒng);真空系統(tǒng);信號收集和圖像顯示記錄系統(tǒng)光譜分析方法信號的產(chǎn)生的主要過程有（）。

答案:產(chǎn)生被檢測的信號;電磁輻射與物質(zhì)的相互作用;能源提供能量X射線衍射儀聚焦圓變化規(guī)律為（）

答案:隨衍射角度增大而減小能譜儀成分分析的缺點(diǎn)是（）。

答案:能譜儀的分辨率比波譜儀低;能譜儀的Si(Li)晶體必須在低溫下使用下列哪種定量方法適合來進(jìn)行河水中重金屬元素的含量測定。（）

答案:標(biāo)準(zhǔn)加入法X射線衍射定量分析，預(yù)先繪制內(nèi)標(biāo)曲線時(shí)（）

答案:保持內(nèi)標(biāo)物濃度不變X射線衍射強(qiáng)度和以下哪些因素有關(guān)()

答案:衍射角度;原子類別;入射X射線強(qiáng)度;原子坐標(biāo)分子能級包括（）。

答案:轉(zhuǎn)動(dòng)能級;電子能級;振動(dòng)能級原子的反常散射會(huì)使原子散射因子（）

答案:變小光柵是利用其對光的（）作用來分光的。

答案:衍射作用進(jìn)行斷口形貌觀察時(shí)，通常采用何種信號成像（）。

答案:二次電子入射X射線和散射X射線波長關(guān)系為（）

答案:二者可能相等掃描電子顯微鏡的電子光學(xué)系統(tǒng)包括（）。

答案:電子槍、電磁透鏡、掃描線圈和樣品室電子探針的信號檢測系統(tǒng)是（）。

答案:X射線譜儀氯化銫晶體的消光規(guī)律為（）

答案:無消光現(xiàn)象粉末X射線衍射儀測定的樣品通常為（）

答案:多晶在入射電子激發(fā)樣品的特征X射線過程中，如果原子內(nèi)層電子能級躍遷過程中釋放出來的能量并不以X射線的形式發(fā)射出去，而是用這部分能量把空位層內(nèi)的另一個(gè)電子發(fā)射出去，這個(gè)電離出來的電子稱為（）。

答案:俄歇電子分析材料物相組成的最佳檢測手段為（）

答案:X射線衍射儀以下哪種X射線衍射定量方法最適用于物相種類固定且經(jīng)常性的大批量樣品分析工作（）

答案:內(nèi)標(biāo)曲線法X射線照射到材料上發(fā)生衍射，X射線本質(zhì)上是作用于（）

答案:電子掃描電子顯微鏡的分辨率指用以下何種信號成像時(shí)的分辨率（）。

答案:二次電子首次發(fā)現(xiàn)X射線衍射現(xiàn)象的人物是（）

答案:勞厄?qū)Y(jié)構(gòu)因子計(jì)算公式進(jìn)行化簡的前提條件是（）

答案:滿足衍射幾何條件需要測定化合物中是否含有羰基，可以采用的光譜方法為（）。

答案:紅外吸收光譜電子衍襯成像操作是將（）

答案:中間鏡的物平面與物鏡的像平面重合下列哪種振動(dòng)方式可以產(chǎn)生拉曼散射。（）

答案:碳碳雙鍵的對稱伸縮振動(dòng)可以提高透射電子顯微鏡襯度的光闌是（）

答案:物鏡光闌當(dāng)樣品原子的內(nèi)層電子被入射電子激發(fā)或電離時(shí)，原子處于能量較高的激發(fā)態(tài)，此時(shí)外層電子將向內(nèi)層躍遷填補(bǔ)內(nèi)層空位，多余的能量將以何種信號釋放出來（）。

答案:特征X射線以下哪種X射線衍射定量方法無需加入內(nèi)標(biāo)物（）

答案:任意內(nèi)標(biāo)法（）是指在程序控溫下，測量單位時(shí)間內(nèi)輸入到樣品和參比物之間的功率差隨溫度變化的一種技術(shù)。

答案:差示掃描量熱法熱機(jī)械分析包括（）

答案:靜態(tài)熱機(jī)械分析;動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析;熱膨脹法（）是在程序控溫下，測量物質(zhì)形變與溫度關(guān)系的一種技術(shù)。

答案:熱機(jī)械分析差熱分析是指在程序控溫下，測量試樣物質(zhì)與參比物的（）隨溫度或時(shí)間變化的一種技術(shù)。

答案:溫差參比物在測定的溫度范圍內(nèi)（）

答案:不可以發(fā)生任何熱效應(yīng)與光譜分析方法緊密相關(guān)的電磁輻射與物質(zhì)的相互作用有（）

答案:吸收;發(fā)射;散射分子光譜包括（）

答案:拉曼光譜;分子熒光磷光光譜;紫外可見吸收光譜;紅外吸收光譜光譜分析儀器的信號發(fā)生器主要有下列哪些部件構(gòu)成（）

答案:波長選擇系統(tǒng);光源;樣品引入系統(tǒng)原子光譜包括（）

答案:原子的X射線分析;原子發(fā)射光譜;原子吸收光譜;原子熒光光譜光譜的定量分析方法主要有（）

答案:標(biāo)準(zhǔn)曲線法;內(nèi)標(biāo)法;標(biāo)準(zhǔn)加入法能譜儀的元素分析范圍比波譜儀更大。（）

答案:錯(cuò)能譜儀可作為附件安裝在掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡上,進(jìn)行微觀組織、晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分三位一體的原位分析。（）

答案:對掃描電子顯微鏡的分辨率的主要影響因素有（）。

答案:檢測信號的種類電子束與固體樣品相互作用產(chǎn)生的信號中，能產(chǎn)生表面形貌襯度的有（）。

答案:背散射電子;二次電子明場像是質(zhì)厚襯度，暗場像是衍射襯度。（）

答案:錯(cuò)選區(qū)光闌在透射電鏡中的位置是（）。

答案:物鏡的像平面透射電子顯微鏡的成像系統(tǒng)包括（）

答案:中間鏡;物鏡;投影鏡電磁透鏡的像差包括（）。

答案:象散;色差;幾何像差;球差透射電鏡分辨只受像差的影響.（）。

答案:錯(cuò)無需加入內(nèi)標(biāo)物的X射線定量分析方法包括（）。

答案:任意內(nèi)標(biāo)法;直接法由布拉格方程變形而引入的干涉指數(shù)描述正確的是（）。

答案:干涉指數(shù)表示的晶面不一定存在原子特征X射線的波長僅與靶材(Z)有關(guān)，而與X射線光管的加速電壓(超過激發(fā)電壓)無關(guān)（）

答案:對X射線多晶衍射