JJF(晉)113—20252025-06-20發(fā)布2025-09-01實施CalibrationSpecificationforJJF(晉)113—2025歸口單位：山西省市場監(jiān)督管理局山西省檢驗檢測中心(山西省標(biāo)準(zhǔn)計量技術(shù)研究院)JJF(晉)113—2025任小虎(大同市綜合檢驗檢測中心)劉向峰(大同市綜合檢驗檢測中心)張益愷(山西省檢驗檢測中心(山西省標(biāo)準(zhǔn)計量技術(shù)研究院))李強(大同市綜合檢驗檢測中心)趙亞婷(大同市綜合檢驗檢測中心)于潔(大同市綜合檢驗檢測中心) 1.范圍 2.引用文件 3.概述 4.計量特性 4.1刻線寬度及寬度差 4.2測力和測力變化 4.3微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離 4.4微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對位置 4.5測量面的表面粗糙度 4.6測量面的平行度 4.7示值誤差 5.校準(zhǔn)條件 5.1環(huán)境條件 5.2校準(zhǔn)項目和標(biāo)準(zhǔn)器及配套設(shè)備 6.校準(zhǔn)項目和校準(zhǔn)方法 6.1校準(zhǔn)項目 6.2校準(zhǔn)方法 7.校準(zhǔn)結(jié)果表達 8.復(fù)校時間間隔 附錄A校準(zhǔn)原始記錄格式(推薦) 附錄B校準(zhǔn)證書內(nèi)頁格式(推薦) 附錄C凹槽千分尺示值誤差測量結(jié)果的不確定度評定(示例) JJF1001—2011《通用計量術(shù)語及定義》、JJF1071—2010《國家計量校準(zhǔn)規(guī)范編寫規(guī)則》、JJF1059.1—2012《測量不確定度評定與表示》共同構(gòu)成支撐本規(guī)范制定工作的基礎(chǔ)性文件。本規(guī)范為首次發(fā)布。本規(guī)范適用于外尺寸測量上限至100mm;內(nèi)尺寸測量上限至101.5mm凹槽千分尺的校準(zhǔn)。2引用文件JJG21—2008千分尺JJG82—2010公法線千分尺GB/T1216—2018外徑千分尺GB/T1217—2022公法線千分尺凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本規(guī)范；凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本規(guī)范。凹槽千分尺是應(yīng)用螺旋副原理，把測微螺桿的旋轉(zhuǎn)角度轉(zhuǎn)換成測微螺桿的軸向位移，主要用于測量凹槽內(nèi)/外孔和管材內(nèi)外凹槽深度和位置關(guān)系的一種計量器具。它由活動測頭、固定測頭、活動測桿、固定套管、微分筒、外測量面、內(nèi)測量面、帽體等組成。雙向測力裝置凹槽千分尺結(jié)構(gòu)示意圖如圖1所示。4.1刻線寬度及寬度差固定套管的毫米刻線和微分筒上的刻線寬度為(0.08～0.20)mm;刻線寬度差2應(yīng)不大于0.03mm。4.2測力和測力變化凹槽千分尺的活動測頭外尺寸測量面和內(nèi)尺寸測量面與數(shù)顯量儀測力儀的測力盤測量面接觸時的測力應(yīng)為(5～10)N,測力變化不大于2N。4.3微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離應(yīng)不大于0.40mm。4.4微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對位置當(dāng)微分筒零刻線與固定套管縱刻線對準(zhǔn)后，微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線右邊緣應(yīng)相切；若不相切，壓線應(yīng)不大于0.05mm,離線應(yīng)不大于0.10mm。4.5測量面的表面粗糙度外測量面和內(nèi)測量面的表面粗糙度Ra應(yīng)不大于0.2μm。4.6測量面的平行度凹槽千分尺兩工作面的平行度應(yīng)不超過10μm。4.7示值誤差凹槽千分尺示值最大允許誤差見表1。內(nèi)尺寸測量范圍/mm5校準(zhǔn)條件5.1環(huán)境條件相對濕度：≤85%。5.1.2測量前被測凹槽千分尺和量塊在實驗室內(nèi)平衡溫度的時間應(yīng)不小于2h。5.2測量標(biāo)準(zhǔn)及其他設(shè)備凹槽千分尺的校準(zhǔn)項目和計量標(biāo)準(zhǔn)及配套設(shè)備見表2。3序號設(shè)備名稱1MPE:0.010mm用于刻線寬度及寬度差的2分度值不大于0.2N,MPE:±2%用于測力和測力變化的測量3工具顯微鏡4MPE:±0.048mm5塊用于測量面的表面粗糙度的測量6用于內(nèi)尺寸測量面平行度7內(nèi)尺寸測量專用檢具—與量塊配套使用，用于內(nèi)6校準(zhǔn)項目和校準(zhǔn)方法6.1校準(zhǔn)項目校準(zhǔn)項目見表3。序號校準(zhǔn)項目1刻線寬度及寬度差23微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離45測量面的表面粗糙度6測量面的平行度7示值誤差6.2校準(zhǔn)方法6.2.1刻線寬度及寬度差用讀數(shù)顯微鏡對微分筒和固定套管刻線進行測量。微分筒和固定套管上的4刻線寬度至少各均勻分布地抽檢3條。測量每條刻線的寬度值，作為刻線寬度測量結(jié)果。刻線寬度差取測量結(jié)果中的最大值與最小值之差確定。6.2.2測力和測力變化選取凹槽千分尺測量范圍內(nèi)前、中、后的三個位置，使用數(shù)顯測力儀對測力機構(gòu)進行測量，在數(shù)顯測力儀上分別讀取三個位置的測力數(shù)值，三次數(shù)值均應(yīng)在(5～10)N范圍內(nèi)，且三次數(shù)值的最大值與最小值之差不應(yīng)超過2N。內(nèi)、外尺寸測力均需測量，在測量內(nèi)尺寸測力時，需調(diào)整測力計，使千分尺活動測桿上內(nèi)測量面的平面接觸到測力盤正測量面上的鋼珠，旋轉(zhuǎn)微分筒上的內(nèi)尺寸測力裝置，在數(shù)顯量儀測力儀上讀取測力值。6.2.3微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離用0.40mm的塞尺置于固定套管刻線表面上以比較法進行測量，微分筒錐面的棱邊上邊緣不應(yīng)高于塞尺的表面。測量時應(yīng)在微分筒轉(zhuǎn)動一周內(nèi)不少于3個位置上進行，也可用工具顯微鏡測量，見圖2。06.2.4微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對位置首先將凹槽千分尺測量下限調(diào)整正確后，轉(zhuǎn)動微分筒使其零刻線與固定套管的縱刻線對準(zhǔn)，觀察微分筒錐面的端面是否與固定套管毫米標(biāo)尺標(biāo)記線右邊緣相切。若不相切，轉(zhuǎn)動微分筒使其相切，在微分筒上讀出其零刻線對固定套管縱刻線的偏移量，該偏移量即為離線或壓線的數(shù)值，見圖3。56.2.5測量面的表面粗糙度用表面粗糙度比較樣塊進行比較測量。比較時，所用的表面粗糙度比較樣塊和被測尺的測量面兩者加工方法應(yīng)該相同，表面粗糙度比較樣塊的材料、形狀、表面色澤等也應(yīng)盡可能與被測尺的測量面一致。以最接近測量面的表面粗糙度比較樣塊的標(biāo)稱值作為測量結(jié)果。6.2.6測量面的平行度用量塊進行測量。選用一合適的量塊以其同一部位放入圖4所示測量面間的4個位置上分別在微分筒上讀數(shù)，4個讀數(shù)中最大值與最小值之差為被檢千分尺兩測量面的平行度。測量內(nèi)尺寸測量面的平行度時，量塊與內(nèi)尺寸測量專用檢具的組合方式參照圖5。16.2.7示值誤差6.2.7.1外尺寸示值誤差測量凹槽千分尺外尺寸示值誤差時，首先將外尺寸的測量下限調(diào)至正確位置。6凹槽千分尺外尺寸示值誤差應(yīng)在測量范圍內(nèi)均勻分布的5點上用5等量塊進行測量，校準(zhǔn)點的量塊尺寸見表4規(guī)定。每個點測量四個位置，量塊以同一部位放入，在距兩內(nèi)測量面邊緣1/2范圍內(nèi)的相互垂直的四個位置上分別進行測量(見圖4),每個校準(zhǔn)點四個位置讀數(shù)值的最大值與各相應(yīng)量塊實際尺寸的差值作為該點示值誤差，取各校準(zhǔn)點中示值誤差絕對值中最大的作為該凹槽千分尺外尺寸示值誤外測量點/內(nèi)測量點示值誤差按下式求得：L,——量塊的實際尺寸，mm。測量凹槽千分尺內(nèi)尺寸示值誤差時，用相應(yīng)尺寸的5等量塊和1.5mm量塊與內(nèi)尺寸測量專用檢具組合進行測量(見圖5),對于內(nèi)尺寸測量范圍為(1.6~26.5)mm凹槽千分尺，首先用1.5mm量塊與內(nèi)尺寸測量專用檢具組合，將凹槽千分尺兩內(nèi)測量面與內(nèi)尺寸測量專用檢具內(nèi)的兩個夾塊接觸來調(diào)整零位，并用相應(yīng)尺寸的5等量塊和1.5mm量塊與內(nèi)尺寸測量專用檢具組合進行測量；對其它測量范圍的凹槽千分尺，用相應(yīng)尺寸測量下限的5等量塊和1.5mm量塊調(diào)整零凹槽千分尺內(nèi)尺寸示值誤差的測量方法和計算方法同外尺寸示值誤差的測量方法和計算方法一致。校準(zhǔn)點的量塊尺寸見表4規(guī)定。每個點測量4個位置，兩內(nèi)測量面以同一部位放入內(nèi)尺寸測量專用檢具的兩個夾塊內(nèi)，在距兩內(nèi)測量面邊緣1/2范圍內(nèi)的相互垂直的四個位置上分別進行測量(見圖4),每個校準(zhǔn)點四個位置讀數(shù)值的最大值與各相應(yīng)量塊實際尺寸的差值作為該點示值誤差，取各校準(zhǔn)點中絕對值最大值的作為該凹槽千分尺內(nèi)尺寸示值誤差。7測力旋轉(zhuǎn)方向合會05合會05K0-25mm內(nèi)尺寸測力裝置內(nèi)尺寸測量專用檢具量塊研合內(nèi)尺寸測量專用檢具A+5.12;A+10.24;A+15.36;A+21.50;A+255.12+1.5;10.24+1.5;15.36+1.5;21A+5.12+1.5;A+10.24+1.5;A+15.36+1.5;A+21.50+1.5;A+25+注：表中A為測量下限值，也可根據(jù)客戶要求選擇其它校準(zhǔn)點校準(zhǔn)。7校準(zhǔn)結(jié)果表達經(jīng)校準(zhǔn)的凹槽千分尺發(fā)給校準(zhǔn)證書。校準(zhǔn)結(jié)果應(yīng)在校準(zhǔn)證書上反映，校準(zhǔn)證書至少應(yīng)包括以下信息：b)實驗室名稱和地址；c)進行校準(zhǔn)的地點(如果與實驗室的地址不同);d)證書的唯一性標(biāo)識(如編號),每頁及總頁數(shù)的標(biāo)識；e)客戶的名稱和地址；f)被校對象的描述和明確標(biāo)識：8g)進行校準(zhǔn)的日期，如果與校準(zhǔn)結(jié)果的有效性和應(yīng)用有關(guān)時，應(yīng)說明被校對象的接收日期；h)如果與校準(zhǔn)結(jié)果的有效性和應(yīng)用有關(guān)時，應(yīng)對被校樣品的抽樣程序進行i)校準(zhǔn)所依據(jù)的技術(shù)規(guī)范和標(biāo)識，包括名稱及代號；j)本次校準(zhǔn)所使用的測量標(biāo)準(zhǔn)和溯源性及有效性說明；k)校準(zhǔn)環(huán)境的描述；1)校準(zhǔn)結(jié)果及測量不確定度的說明；m)對校準(zhǔn)規(guī)范的偏離的說明；n)校準(zhǔn)證書或校準(zhǔn)報告簽發(fā)人的簽名、職務(wù)或等效標(biāo)識；o)校準(zhǔn)結(jié)果僅對被校對象有效的聲明；p)未經(jīng)實驗室書面批準(zhǔn)，不得部分復(fù)制證書的聲明。8復(fù)校時間間隔一般情況下，建議復(fù)校時間間隔為一年。由于復(fù)校時間間隔的長短是由凹槽千分尺的使用情況、使用者、凹槽千分尺本身質(zhì)量等諸因素所決定的，因此，送校單位可根據(jù)實際使用情況自主決定復(fù)校時間間隔。9附錄A校準(zhǔn)原始記錄格式(推薦)校準(zhǔn)地點制造廠儀器編號校準(zhǔn)日期測量范圍環(huán)境溫度℃相對濕度%校準(zhǔn)所依據(jù)的規(guī)范證書編號編號測量范圍有效期至準(zhǔn)確度等級/測量不確定度序號1刻線寬度及寬度差(mm)2測力和測力變化(N)3微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離(mm)4微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對位置(mm)壓線：離線：5測量面的表面粗糙度(μm)6測量面的平行度(μm)7外尺寸示值誤差校準(zhǔn)點尺寸讀數(shù)誤差(μm)正值測量點誤差1234最大值與最小值之差內(nèi)尺寸示值誤差測量不確定度U=人校準(zhǔn)員：核驗員：附錄B校準(zhǔn)證書內(nèi)頁格式(推薦)序號校準(zhǔn)項目校準(zhǔn)結(jié)果1刻線寬度及寬度差(mm)2測力和測力變化(N)3微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離(mm)4微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對位置(mm)5測量面的表面粗糙度(μm)6測量面的平行度(μm)7外尺寸示值誤差內(nèi)尺寸示值誤差測量不確定度凹槽千分尺示值誤差測量結(jié)果的不確定度評定(示例)C.1概述C.1.2環(huán)境條件：溫度(20±5)℃;相對濕度≤85%。C.1.4測量標(biāo)準(zhǔn)：5等量塊。C.1.5測量過程：用5等量塊對凹槽千分尺的示值誤差進行校準(zhǔn)，示值誤差以該點讀數(shù)值與量塊標(biāo)稱值之差確定。C.2測量模型凹槽千分尺的示值誤差e:e=Lm-Lb+Lm·αm·△tm-Lbαb·△tb式中：Lm——凹槽千分尺的示值(20℃條件下);Lb——量塊的長度值(20℃條件下);△tm和△tb——分別是凹槽千分尺和量塊偏離參考溫度20℃的數(shù)值。C.3方差和靈敏度系數(shù)在公式(C.1)中：為簡化運算，舍去微小量，并轉(zhuǎn)化相關(guān)項影響。靈敏系數(shù)C?:依據(jù)不確定度