2025年探傷工（中級探傷工）考試試卷考試時間：______分鐘總分：______分姓名：______一、單項選擇題（本大題共20小題，每小題4分，共80分。在每小題列出的四個選項中，只有一項是最符合題目要求的。請將正確選項字母填涂在答題卡相應(yīng)位置上）1.探傷前對射線探傷設(shè)備進(jìn)行檢查時，發(fā)現(xiàn)高壓電纜有破損，正確的處理方法是（）。A.繼續(xù)使用，但減少探傷時間B.用膠帶纏住破損處繼續(xù)使用C.立即停止使用并報修D(zhuǎn).更換新的高壓電纜再使用2.當(dāng)使用超聲波探傷儀進(jìn)行檢測時，如果發(fā)現(xiàn)探傷儀的指示燈不亮，可能的原因是（）。A.探頭與工件接觸不良B.探傷儀電源線接觸不良C.探傷儀內(nèi)部電路故障D.工件表面有油污影響3.在進(jìn)行射線探傷時，為了減少輻射對周圍環(huán)境的影響，應(yīng)該采取的措施是（）。A.在探傷區(qū)域周圍設(shè)置遮蔽物B.增加探傷時間以減少輻射量C.降低探傷電壓以減少輻射D.讓無關(guān)人員遠(yuǎn)離探傷區(qū)域4.超聲波探傷中，當(dāng)使用直探頭進(jìn)行檢測時，探測到的信號最強(qiáng)的情況是（）。A.探頭與工件成45度角接觸B.探頭與工件成90度角接觸C.探頭與工件成30度角接觸D.探頭與工件成60度角接觸5.射線探傷中，當(dāng)發(fā)現(xiàn)工件存在缺陷時，應(yīng)該首先采取的措施是（）。A.立即停止探傷并報修B.增加探傷時間以確認(rèn)缺陷C.更換探頭重新檢測D.記錄缺陷位置并繼續(xù)探傷6.在超聲波探傷中，當(dāng)使用斜探頭進(jìn)行檢測時，探測到的信號最強(qiáng)的情況是（）。A.探頭與工件成30度角接觸B.探頭與工件成45度角接觸C.探頭與工件成60度角接觸D.探頭與工件成90度角接觸7.射線探傷中，當(dāng)使用膠片進(jìn)行檢測時，為了提高圖像的清晰度，應(yīng)該采取的措施是（）。A.增加曝光時間B.降低曝光電壓C.使用更薄的膠片D.提高工件表面光潔度8.在超聲波探傷中，當(dāng)使用直探頭進(jìn)行檢測時，探測到的信號最弱的情況是（）。A.探頭與工件成45度角接觸B.探頭與工件成90度角接觸C.探頭與工件成30度角接觸D.探頭與工件成60度角接觸9.射線探傷中，當(dāng)使用膠片進(jìn)行檢測時，為了減少輻射對操作人員的影響，應(yīng)該采取的措施是（）。A.使用鉛衣進(jìn)行防護(hù)B.增加曝光時間C.降低曝光電壓D.使用更薄的膠片10.在超聲波探傷中，當(dāng)使用斜探頭進(jìn)行檢測時，探測到的信號最弱的情況是（）。A.探頭與工件成30度角接觸B.探頭與工件成45度角接觸C.探頭與工件成60度角接觸D.探頭與工件成90度角接觸11.射線探傷中，當(dāng)使用膠片進(jìn)行檢測時，為了提高圖像的對比度，應(yīng)該采取的措施是（）。A.增加曝光時間B.降低曝光電壓C.使用更厚的膠片D.提高工件表面光潔度12.在超聲波探傷中，當(dāng)使用直探頭進(jìn)行檢測時，探測到的信號最弱的情況是（）。A.探頭與工件成45度角接觸B.探頭與工件成90度角接觸B.探頭與工件成30度角接觸D.探頭與工件成60度角接觸13.射線探傷中，當(dāng)使用膠片進(jìn)行檢測時，為了減少偽缺陷的產(chǎn)生，應(yīng)該采取的措施是（）。A.使用更薄的膠片B.降低曝光電壓C.提高工件表面光潔度D.使用鉛衣進(jìn)行防護(hù)14.在超聲波探傷中，當(dāng)使用斜探頭進(jìn)行檢測時，探測到的信號最強(qiáng)的情況是（）。A.探頭與工件成30度角接觸B.探頭與工件成45度角接觸C.探頭與工件成60度角接觸D.探頭與工件成90度角接觸15.射線探傷中，當(dāng)使用膠片進(jìn)行檢測時，為了提高圖像的清晰度，應(yīng)該采取的措施是（）。A.增加曝光時間B.降低曝光電壓C.使用更薄的膠片D.提高工件表面光潔度16.在超聲波探傷中，當(dāng)使用直探頭進(jìn)行檢測時，探測到的信號最弱的情況是（）。A.探頭與工件成45度角接觸B.探頭與工件成90度角接觸C.探頭與工件成30度角接觸D.探頭與工件成60度角接觸17.射線探傷中，當(dāng)使用膠片進(jìn)行檢測時，為了減少輻射對操作人員的影響，應(yīng)該采取的措施是（）。A.使用鉛衣進(jìn)行防護(hù)B.增加曝光時間C.降低曝光電壓D.使用更薄的膠片18.在超聲波探傷中，當(dāng)使用斜探頭進(jìn)行檢測時，探測到的信號最弱的情況是（）。A.探頭與工件成30度角接觸B.探頭與工件成45度角接觸C.探頭與工件成60度角接觸D.探頭與工件成90度角接觸19.射線探傷中，當(dāng)使用膠片進(jìn)行檢測時，為了提高圖像的對比度，應(yīng)該采取的措施是（）。A.增加曝光時間B.降低曝光電壓C.使用更厚的膠片D.提高工件表面光潔度20.在超聲波探傷中，當(dāng)使用直探頭進(jìn)行檢測時，探測到的信號最強(qiáng)的情況是（）。A.探頭與工件成45度角接觸B.探頭與工件成90度角接觸C.探頭與工件成30度角接觸D.探頭與工件成60度角接觸二、多項選擇題（本大題共10小題，每小題4分，共40分。在每小題列出的五個選項中，有兩項或兩項以上是最符合題目要求的。請將正確選項字母填涂在答題卡相應(yīng)位置上）1.射線探傷中，影響圖像質(zhì)量的因素包括（）。A.曝光參數(shù)B.膠片類型C.工件表面光潔度D.探傷距離E.操作人員的經(jīng)驗2.超聲波探傷中，常用的探頭類型包括（）。A.直探頭B.斜探頭C.楔塊探頭D.探測器E.霍爾探頭3.射線探傷中，為了減少輻射對周圍環(huán)境的影響，應(yīng)該采取的措施包括（）。A.在探傷區(qū)域周圍設(shè)置遮蔽物B.使用鉛衣進(jìn)行防護(hù)C.降低曝光電壓D.使用更薄的膠片E.讓無關(guān)人員遠(yuǎn)離探傷區(qū)域4.超聲波探傷中，影響探測信號質(zhì)量的因素包括（）。A.探頭與工件接觸良好B.探頭與工件成合適的角度C.工件表面有油污D.探傷距離合適E.探頭頻率合適5.射線探傷中，常用的膠片類型包括（）。A.碘化銀膠片B.溴化銀膠片C.碘化鎵膠片D.溴化鎵膠片E.硫酸銀膠片6.超聲波探傷中，常用的探頭材料包括（）。A.硫化鋅B.鍺酸鉍C.碲化鎘D.鉛酸鎘E.鍺酸鉍7.射線探傷中，為了提高圖像的清晰度，應(yīng)該采取的措施包括（）。A.增加曝光時間B.降低曝光電壓C.使用更薄的膠片D.提高工件表面光潔度E.使用鉛衣進(jìn)行防護(hù)8.超聲波探傷中，影響探測信號強(qiáng)度的因素包括（）。A.探頭頻率B.探頭與工件接觸良好C.工件表面有油污D.探傷距離合適E.探頭類型9.射線探傷中，為了減少偽缺陷的產(chǎn)生，應(yīng)該采取的措施包括（）。A.使用更薄的膠片B.降低曝光電壓C.提高工件表面光潔度D.使用鉛衣進(jìn)行防護(hù)E.使用合適的曝光參數(shù)10.超聲波探傷中，常用的檢測方法包括（）。A.垂直探傷B.斜向探傷C.楔塊探傷D.探測器探傷E.霍爾探傷三、判斷題（本大題共10小題，每小題4分，共40分。請判斷下列各題的表述是否正確，正確的填“√”，錯誤的填“×”。請將答案填涂在答題卡相應(yīng)位置上）1.射線探傷時，為了提高檢測效率，可以適當(dāng)提高曝光電壓。（√）2.超聲波探傷中，直探頭只能用于檢測表面缺陷。（×）3.射線探傷中，使用鉛衣進(jìn)行防護(hù)可以有效減少輻射對操作人員的影響。（√）4.超聲波探傷中，斜探頭只能用于檢測內(nèi)部缺陷。（×）5.射線探傷時，為了提高圖像的對比度，可以適當(dāng)增加曝光時間。（√）6.超聲波探傷中，探頭與工件接觸良好可以減少信號的衰減。（√）7.射線探傷中，使用碘化銀膠片可以提高圖像的清晰度。（√）8.超聲波探傷中，探頭頻率越高，探測深度越深。（×）9.射線探傷時，為了減少偽缺陷的產(chǎn)生，可以適當(dāng)降低曝光電壓。（√）10.超聲波探傷中，常用的檢測方法包括垂直探傷和斜向探傷。（√）四、簡答題（本大題共5小題，每小題8分，共40分。請根據(jù)題目要求，簡要回答問題）1.簡述射線探傷前的準(zhǔn)備工作有哪些？在進(jìn)行射線探傷前，首先需要對探傷設(shè)備進(jìn)行檢查，確保高壓電纜、電源線等沒有損壞，并且探傷儀工作正常。其次，要準(zhǔn)備好膠片、暗盒、鉛衣等防護(hù)用品，并且對工件進(jìn)行清潔，去除表面的油污和雜物，以保證探傷圖像的清晰度。此外，還要選擇合適的曝光參數(shù)，包括曝光時間和曝光電壓，以獲得最佳的探傷效果。最后，要確保探傷區(qū)域周圍沒有無關(guān)人員，并且設(shè)置好警示標(biāo)志，以保證探傷過程的安全。2.超聲波探傷中，直探頭和斜探頭的區(qū)別是什么？直探頭主要用于檢測表面缺陷，并且探測深度較淺，適用于檢測薄工件。而斜探頭可以用于檢測內(nèi)部缺陷，并且探測深度較深，適用于檢測厚工件。此外，直探頭的探測信號較強(qiáng)，而斜探頭的探測信號較弱，需要更高的增益才能獲得清晰的信號。在實際應(yīng)用中，需要根據(jù)工件的厚度和缺陷類型選擇合適的探頭類型。3.射線探傷中，如何減少輻射對周圍環(huán)境的影響？為了減少輻射對周圍環(huán)境的影響，首先要在探傷區(qū)域周圍設(shè)置遮蔽物，例如鉛板或混凝土墻，以阻擋輻射的傳播。其次，要使用鉛衣、鉛帽等防護(hù)用品對操作人員進(jìn)行防護(hù)，以減少輻射對操作人員的傷害。此外，還要盡量縮短曝光時間，并使用合適的曝光參數(shù)，以減少輻射的輸出量。最后，要讓無關(guān)人員遠(yuǎn)離探傷區(qū)域，并設(shè)置好警示標(biāo)志，以防止無關(guān)人員進(jìn)入探傷區(qū)域。4.超聲波探傷中，影響探測信號質(zhì)量的因素有哪些？影響超聲波探傷信號質(zhì)量的因素有很多，包括探頭與工件接觸是否良好、探頭與工件的角度是否合適、工件表面是否有油污、探傷距離是否合適、探頭頻率是否合適等。此外，操作人員的經(jīng)驗和技術(shù)水平也會影響探測信號的質(zhì)量。在實際應(yīng)用中，要確保探頭與工件接觸良好，并選擇合適的角度和探傷距離，以獲得清晰的信號。同時，操作人員要經(jīng)過專業(yè)培訓(xùn)，并積累一定的經(jīng)驗，以提高探測信號的質(zhì)量。5.射線探傷中，如何提高圖像的清晰度？為了提高射線探傷圖像的清晰度，首先要選擇合適的膠片類型，例如碘化銀膠片或溴化銀膠片，這些膠片具有較高的靈敏度和清晰度。其次，要確保工件表面清潔，去除表面的油污和雜物，以減少偽缺陷的產(chǎn)生。此外，要選擇合適的曝光參數(shù)，包括曝光時間和曝光電壓，以獲得最佳的圖像質(zhì)量。最后，要使用合適的暗室處理技術(shù)，例如顯影和定影，以進(jìn)一步提高圖像的清晰度。本次試卷答案如下一、單項選擇題答案及解析1.C解析：射線探傷設(shè)備的高壓電纜如果有破損，會存在嚴(yán)重的漏電和安全隱患，繼續(xù)使用不僅可能損壞設(shè)備，更可能導(dǎo)致人員觸電事故，因此必須立即停止使用并報修，確保安全后再進(jìn)行處理。2.B解析：探傷儀的指示燈不亮，首先應(yīng)檢查電源連接是否正常，電源線接觸不良會導(dǎo)致電流無法正常流通，從而引起指示燈不亮，而探頭接觸不良、內(nèi)部電路故障等問題雖然也可能導(dǎo)致指示燈不亮，但電源線接觸不良是最常見和最容易排查的問題。3.D解析：減少輻射對周圍環(huán)境的影響，最有效的方法是讓無關(guān)人員遠(yuǎn)離探傷區(qū)域，因為輻射的衰減隨著距離的增加而迅速減小，無關(guān)人員遠(yuǎn)離可以最大程度地減少受到的輻射劑量，而設(shè)置遮蔽物、增加探傷時間、降低曝光電壓等措施雖然也有一定作用，但效果不如讓無關(guān)人員遠(yuǎn)離明顯。4.B解析：使用直探頭進(jìn)行檢測時，探頭與工件成90度角接觸，即垂直于工件表面接觸，這樣可以最大程度地減少表面波和其他雜波的干擾，獲得最強(qiáng)的反射信號，而其他角度接觸會導(dǎo)致信號衰減和干擾增加，信號強(qiáng)度減弱。5.A解析：發(fā)現(xiàn)工件存在缺陷時，首要任務(wù)是確保操作安全，立即停止探傷并報修是最正確的做法，因為缺陷的性質(zhì)和位置可能存在未知風(fēng)險，繼續(xù)探傷可能導(dǎo)致更嚴(yán)重的事故，而增加探傷時間、更換探頭或記錄缺陷位置等措施都無法解決根本問題，甚至可能延誤處理時機(jī)。6.B解析：使用斜探頭進(jìn)行檢測時，探頭與工件成45度角接觸，這樣可以最大程度地利用探頭的聚焦效應(yīng)，提高信號強(qiáng)度，并減少表面波和其他雜波的干擾，而其他角度接觸會導(dǎo)致信號衰減和干擾增加，信號強(qiáng)度減弱。7.D解析：提高圖像清晰度的關(guān)鍵在于提高工件表面的反差度，而工件表面光潔度越高，反差度越大，圖像越清晰，增加曝光時間、降低曝光電壓或使用更薄的膠片雖然也可能對圖像質(zhì)量有一定影響，但提高工件表面光潔度是最直接和有效的方法。8.A解析：使用直探頭進(jìn)行檢測時，探頭與工件成45度角接觸，會導(dǎo)致信號反射角度過大，信號衰減嚴(yán)重，從而探測到的信號最弱，而其他角度接觸雖然也有信號衰減，但程度較輕，信號強(qiáng)度相對較強(qiáng)。9.A解析：減少輻射對操作人員的影響，最有效的方法是使用鉛衣進(jìn)行防護(hù)，鉛衣可以有效地阻擋輻射，保護(hù)操作人員免受輻射傷害，而增加曝光時間、降低曝光電壓或使用更薄的膠片等措施雖然也有一定作用，但效果不如使用鉛衣明顯。10.D解析：使用斜探頭進(jìn)行檢測時，探頭與工件成90度角接觸，即垂直于工件表面接觸，會導(dǎo)致信號反射角度過大，信號衰減嚴(yán)重，從而探測到的信號最弱，而其他角度接觸雖然也有信號衰減，但程度較輕，信號強(qiáng)度相對較強(qiáng)。11.A解析：提高圖像對比度的關(guān)鍵在于增加圖像中不同區(qū)域的亮度差異，增加曝光時間可以使圖像中的明亮區(qū)域更亮，暗淡區(qū)域更暗，從而提高對比度，而降低曝光電壓、使用更厚的膠片或提高工件表面光潔度雖然也可能對圖像對比度有一定影響，但增加曝光時間是最直接和有效的方法。12.A解析：使用直探頭進(jìn)行檢測時，探頭與工件成45度角接觸，會導(dǎo)致信號反射角度過大，信號衰減嚴(yán)重，從而探測到的信號最弱，而其他角度接觸雖然也有信號衰減，但程度較輕，信號強(qiáng)度相對較強(qiáng)。13.C解析：減少偽缺陷的產(chǎn)生，關(guān)鍵在于提高工件表面的質(zhì)量，提高工件表面光潔度可以減少表面缺陷和雜波的干擾，從而減少偽缺陷的產(chǎn)生，而使用更薄的膠片、降低曝光電壓或使用鉛衣進(jìn)行防護(hù)雖然也有一定作用，但提高工件表面光潔度是最直接和有效的方法。14.B解析：使用斜探頭進(jìn)行檢測時，探頭與工件成45度角接觸，這樣可以最大程度地利用探頭的聚焦效應(yīng)，提高信號強(qiáng)度，并減少表面波和其他雜波的干擾，而其他角度接觸會導(dǎo)致信號衰減和干擾增加，信號強(qiáng)度減弱。15.D解析：提高圖像清晰度的關(guān)鍵在于提高工件表面的反差度，而工件表面光潔度越高，反差度越大，圖像越清晰，增加曝光時間、降低曝光電壓或使用更薄的膠片雖然也可能對圖像質(zhì)量有一定影響，但提高工件表面光潔度是最直接和有效的方法。16.A解析：使用直探頭進(jìn)行檢測時，探頭與工件成45度角接觸，會導(dǎo)致信號反射角度過大，信號衰減嚴(yán)重，從而探測到的信號最弱，而其他角度接觸雖然也有信號衰減，但程度較輕，信號強(qiáng)度相對較強(qiáng)。17.A解析：減少輻射對操作人員的影響，最有效的方法是使用鉛衣進(jìn)行防護(hù)，鉛衣可以有效地阻擋輻射，保護(hù)操作人員免受輻射傷害，而增加曝光時間、降低曝光電壓或使用更薄的膠片等措施雖然也有一定作用，但效果不如使用鉛衣明顯。18.D解析：使用斜探頭進(jìn)行檢測時，探頭與工件成90度角接觸，即垂直于工件表面接觸，會導(dǎo)致信號反射角度過大，信號衰減嚴(yán)重，從而探測到的信號最弱，而其他角度接觸雖然也有信號衰減，但程度較輕，信號強(qiáng)度相對較強(qiáng)。19.A解析：提高圖像對比度的關(guān)鍵在于增加圖像中不同區(qū)域的亮度差異，增加曝光時間可以使圖像中的明亮區(qū)域更亮，暗淡區(qū)域更暗，從而提高對比度，而降低曝光電壓、使用更厚的膠片或提高工件表面光潔度雖然也可能對圖像對比度有一定影響，但增加曝光時間是最直接和有效的方法。20.B解析：使用直探頭進(jìn)行檢測時，探頭與工件成90度角接觸，即垂直于工件表面接觸，這樣可以最大程度地減少表面波和其他雜波的干擾，獲得最強(qiáng)的反射信號，而其他角度接觸會導(dǎo)致信號衰減和干擾增加，信號強(qiáng)度減弱。二、多項選擇題答案及解析1.ABCD解析：射線探傷圖像的質(zhì)量受到多種因素的影響，包括曝光參數(shù)（如曝光時間和曝光電壓）、膠片類型（不同的膠片具有不同的靈敏度和清晰度）、工件表面光潔度（表面光潔度越高，圖像越清晰）以及探傷距離（探傷距離過遠(yuǎn)會導(dǎo)致信號衰減和圖像模糊），操作人員的經(jīng)驗雖然也會影響探傷結(jié)果，但不是直接影響圖像質(zhì)量的因素。2.ABC解析：超聲波探傷中常用的探頭類型包括直探頭（用于檢測表面缺陷）、斜探頭（用于檢測內(nèi)部缺陷）和楔塊探頭（用于改善聲能耦合和調(diào)整聲束角度），探測器通常指用于其他檢測方法的傳感器，而霍爾探頭是一種特殊的傳感器，主要用于檢測磁場，不適用于超聲波探傷。3.ABE解析：減少輻射對周圍環(huán)境的影響，可以采取的措施包括在探傷區(qū)域周圍設(shè)置遮蔽物（如鉛板或混凝土墻）以阻擋輻射的傳播、使用鉛衣、鉛帽等防護(hù)用品對操作人員進(jìn)行防護(hù)、盡量縮短曝光時間并使用合適的曝光參數(shù)以減少輻射的輸出量，以及讓無關(guān)人員遠(yuǎn)離探傷區(qū)域并設(shè)置好警示標(biāo)志，降低曝光電壓和使用更薄的膠片雖然也有一定作用，但效果不如上述措施明顯。4.ABDE解析：超聲波探傷信號質(zhì)量受到多種因素的影響，包括探頭與工件接觸是否良好（良好的接觸可以減少聲能損失和信號衰減）、探頭與工件的角度是否合適（合適的角度可以確保聲束正確進(jìn)入工件并反射回探頭）、探傷距離是否合適（過遠(yuǎn)或過近都會導(dǎo)致信號衰減和圖像模糊）、探頭頻率是否合適（不同的頻率適用于不同的探測深度和缺陷類型），工件表面是否有油污雖然也會影響探傷結(jié)果，但不是直接影響信號質(zhì)量的因素。5.ABD解析：提高射線探傷圖像清晰度的方法包括選擇合適的膠片類型（如碘化