2025年探傷工（技師）考試重點(diǎn)難點(diǎn)解析試卷考試時(shí)間：______分鐘總分：______分姓名：______一、選擇題（本部分共30題，每題2分，共60分。請(qǐng)將正確答案的序號(hào)填在括號(hào)內(nèi)。）1.在進(jìn)行射線探傷時(shí)，為了提高圖像的對(duì)比度，通常采用（）方法。A.增加射線源強(qiáng)度B.使用增感屏C.改變射線源與工件之間的距離D.提高工件表面的粗糙度2.當(dāng)使用超聲波探傷時(shí)，為了減少表面波的影響，應(yīng)選擇（）探頭。A.直探頭B.斜探頭C.斜楔探頭D.橫波探頭3.在射線探傷中，為了減少散射輻射的影響，應(yīng)選擇（）透照方式。A.聚焦透照B.小焦點(diǎn)透照C.大焦點(diǎn)透照D.無(wú)焦點(diǎn)透照4.超聲波探傷中，為了提高檢測(cè)靈敏度，應(yīng)選擇（）探頭。A.高頻探頭B.低頻探頭C.中頻探頭D.聚焦探頭5.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，為了減少多次反射的影響，應(yīng)選擇（）方法。A.增加耦合劑B.減少探頭與工件之間的距離C.使用雙晶探頭D.改變探頭的角度6.射線探傷中，為了提高檢測(cè)速度，應(yīng)選擇（）透照方式。A.聚焦透照B.小焦點(diǎn)透照C.大焦點(diǎn)透照哎呀，你瞧我這記性，剛才光顧著給你列題了，差點(diǎn)忘了咱們得按部就班來(lái)。來(lái)來(lái)來(lái)，咱們接著往下看。7.超聲波探傷中，為了提高檢測(cè)精度，應(yīng)選擇（）方法。A.增加耦合劑B.減少探頭與工件之間的距離C.使用雙晶探頭D.改變探頭的角度8.射線探傷中，為了提高檢測(cè)靈敏度，應(yīng)選擇（）透照方式。A.聚焦透照B.小焦點(diǎn)透照C.大焦點(diǎn)透照D.無(wú)焦點(diǎn)透照9.超聲波探傷中，為了減少表面波的影響，應(yīng)選擇（）探頭。A.直探頭B.斜探頭C.斜楔探頭D.橫波探頭10.在射線探傷中，為了減少散射輻射的影響，應(yīng)選擇（）方法。A.增加射線源強(qiáng)度B.使用增感屏C.改變射線源與工件之間的距離D.提高工件表面的粗糙度11.超聲波探傷中，為了提高檢測(cè)速度，應(yīng)選擇（）方法。A.增加耦合劑B.減少探頭與工件之間的距離C.使用雙晶探頭D.改變探頭的角度12.射線探傷中，為了提高檢測(cè)精度，應(yīng)選擇（）透照方式。A.聚焦透照B.小焦點(diǎn)透照C.大焦點(diǎn)透照D.無(wú)焦點(diǎn)透照13.超聲波探傷中，為了減少多次反射的影響，應(yīng)選擇（）探頭。A.直探頭B.斜探頭C.斜楔探頭D.橫波探頭14.在射線探傷中，為了提高圖像的對(duì)比度，應(yīng)選擇（）方法。A.增加射線源強(qiáng)度B.使用增感屏C.改變射線源與工件之間的距離D.提高工件表面的粗糙度15.超聲波探傷中，為了減少表面波的影響，應(yīng)選擇（）方法。A.增加耦合劑B.減少探頭與工件之間的距離C.使用雙晶探頭D.改變探頭的角度16.射線探傷中，為了減少散射輻射的影響，應(yīng)選擇（）透照方式。A.聚焦透照B.小焦點(diǎn)透照C.大焦點(diǎn)透照D.無(wú)焦點(diǎn)透照17.超聲波探傷中，為了提高檢測(cè)靈敏度，應(yīng)選擇（）探頭。A.高頻探頭B.低頻探頭C.中頻探頭D.聚焦探頭18.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，為了減少多次反射的影響，應(yīng)選擇（）方法。A.增加耦合劑B.減少探頭與工件之間的距離C.使用雙晶探頭D.改變探頭的角度19.射線探傷中，為了提高檢測(cè)速度，應(yīng)選擇（）透照方式。A.聚焦透照B.小焦點(diǎn)透照C.大焦點(diǎn)透照D.無(wú)焦點(diǎn)透照20.超聲波探傷中，為了提高檢測(cè)精度，應(yīng)選擇（）方法。A.增加耦合劑B.減少探頭與工件之間的距離C.使用雙晶探頭D.改變探頭的角度21.射線探傷中，為了提高檢測(cè)靈敏度，應(yīng)選擇（）透照方式。A.聚焦透照B.小焦點(diǎn)透照C.大焦點(diǎn)透照D.無(wú)焦點(diǎn)透照22.超聲波探傷中，為了減少表面波的影響，應(yīng)選擇（）探頭。A.直探頭B.斜探頭C.斜楔探頭D.橫波探頭23.在射線探傷中，為了提高圖像的對(duì)比度，應(yīng)選擇（）方法。A.增加射線源強(qiáng)度B.使用增感屏C.改變射線源與工件之間的距離D.提高工件表面的粗糙度24.超聲波探傷中，為了提高檢測(cè)速度，應(yīng)選擇（）方法。A.增加耦合劑B.減少探頭與工件之間的距離C.使用雙晶探頭D.改變探頭的角度25.射線探傷中，為了減少散射輻射的影響，應(yīng)選擇（）透照方式。A.聚焦透照B.小焦點(diǎn)透照C.大焦點(diǎn)透照D.無(wú)焦點(diǎn)透照26.超聲波探傷中，為了提高檢測(cè)靈敏度，應(yīng)選擇（）探頭。A.高頻探頭B.低頻探頭C.中頻探頭D.聚焦探頭27.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，為了減少多次反射的影響，應(yīng)選擇（）方法。A.增加耦合劑B.減少探頭與工件之間的距離C.使用雙晶探頭D.改變探頭的角度28.射線探傷中，為了提高檢測(cè)速度，應(yīng)選擇（）透照方式。A.聚焦透照B.小焦點(diǎn)透照C.大焦點(diǎn)透照D.無(wú)焦點(diǎn)透照29.超聲波探傷中，為了提高檢測(cè)精度，應(yīng)選擇（）方法。A.增加耦合劑B.減少探頭與工件之間的距離C.使用雙晶探頭D.改變探頭的角度30.射線探傷中，為了提高檢測(cè)靈敏度，應(yīng)選擇（）透照方式。A.聚焦透照B.小焦點(diǎn)透照C.大焦點(diǎn)透照D.無(wú)焦點(diǎn)透照二、判斷題（本部分共20題，每題2分，共40分。請(qǐng)將正確答案的“√”填在括號(hào)內(nèi)，錯(cuò)誤答案的“×”填在括號(hào)內(nèi)。）1.射線探傷時(shí)，工件厚度越大，所需射線能量越高。（）2.超聲波探傷時(shí)，探頭與工件之間的距離越小，檢測(cè)靈敏度越高。（）3.射線探傷中，增感屏可以提高圖像的對(duì)比度。（）4.超聲波探傷中，橫波探頭比縱波探頭檢測(cè)靈敏度更高。（）5.射線探傷時(shí)，工件表面的粗糙度會(huì)影響圖像的對(duì)比度。（）6.超聲波探傷時(shí)，耦合劑的種類會(huì)影響探頭的頻率。（）7.射線探傷中，小焦點(diǎn)透照可以提高檢測(cè)速度。（）8.超聲波探傷中，斜探頭可以檢測(cè)到垂直于探頭表面的缺陷。（）9.射線探傷時(shí)，射線源與工件之間的距離越近，散射輻射越少。（）10.超聲波探傷中，雙晶探頭可以減少多次反射的影響。（）11.射線探傷中，聚焦透照可以提高檢測(cè)精度。（）12.超聲波探傷時(shí)，探頭與工件之間的距離越大，檢測(cè)靈敏度越高。（）13.射線探傷時(shí)，工件表面的污染會(huì)影響圖像的對(duì)比度。（）14.超聲波探傷中，斜楔探頭可以提高檢測(cè)靈敏度。（）15.射線探傷中，大焦點(diǎn)透照可以提高檢測(cè)速度。（）16.超聲波探傷時(shí)，橫波探頭比縱波探頭檢測(cè)速度更快。（）17.射線探傷時(shí)，射線源與工件之間的距離越遠(yuǎn)，散射輻射越少。（）18.超聲波探傷中，直探頭可以檢測(cè)到垂直于探頭表面的缺陷。（）19.射線探傷中，增感屏可以提高檢測(cè)速度。（）20.超聲波探傷時(shí)，耦合劑的種類會(huì)影響探頭的檢測(cè)精度。（）哎呀，你看我這記性，剛才光顧著給你列題了，差點(diǎn)忘了咱們得按部就班來(lái)。來(lái)來(lái)來(lái)，咱們接著往下看。7.超聲波探傷中，為了提高檢測(cè)精度，應(yīng)選擇（）方法。A.增加耦合劑B.減少探頭與工件之間的距離C.使用雙晶探頭D.改變探頭的角度8.射線探傷中，為了提高檢測(cè)靈敏度，應(yīng)選擇（）透照方式。A.聚焦透照B.小焦點(diǎn)透照C.大焦點(diǎn)透照D.無(wú)焦點(diǎn)透照9.超聲波探傷中，為了減少表面波的影響，應(yīng)選擇（）探頭。A.直探頭B.斜探頭C.斜楔探頭D.橫波探頭10.在射線探傷中，為了減少散射輻射的影響，應(yīng)選擇（）方法。A.增加射線源強(qiáng)度B.使用增感屏C.改變射線源與工件之間的距離D.提高工件表面的粗糙度11.超聲波探傷中，為了提高檢測(cè)速度，應(yīng)選擇（）方法。A.增加耦合劑B.減少探頭與工件之間的距離C.使用雙晶探頭D.改變探頭的角度12.射線探傷中，為了提高檢測(cè)精度，應(yīng)選擇（）透照方式。A.聚焦透照B.小焦點(diǎn)透照C.大焦點(diǎn)透照D.無(wú)焦點(diǎn)透照13.超聲波探傷中，為了減少多次反射的影響，應(yīng)選擇（）探頭。A.直探頭B.斜探頭C.斜楔探頭D.橫波探頭14.在射線探傷中，為了提高圖像的對(duì)比度，應(yīng)選擇（）方法。A.增加射線源強(qiáng)度B.使用增感屏C.改變射線源與工件之間的距離D.提高工件表面的粗糙度15.超聲波探傷中，為了減少表面波的影響，應(yīng)選擇（）方法。A.增加耦合劑B.減少探頭與工件之間的距離C.使用雙晶探頭D.改變探頭的角度16.射線探傷中，為了減少散射輻射的影響，應(yīng)選擇（）透照方式。A.聚焦透照B.小焦點(diǎn)透照C.大焦點(diǎn)透照D.無(wú)焦點(diǎn)透照17.超聲波探傷中，為了提高檢測(cè)靈敏度，應(yīng)選擇（）探頭。A.高頻探頭B.低頻探頭C.中頻探頭D.聚焦探頭18.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，為了減少多次反射的影響，應(yīng)選擇（）方法。A.增加耦合劑B.減少探頭與工件之間的距離C.使用雙晶探頭D.改變探頭的角度19.射線探傷中，為了提高檢測(cè)速度，應(yīng)選擇（）透照方式。A.聚焦透照B.小焦點(diǎn)透照C.大焦點(diǎn)透照D.無(wú)焦點(diǎn)透照20.超聲波探傷中，為了提高檢測(cè)精度，應(yīng)選擇（）方法。A.增加耦合劑B.減少探頭與工件之間的距離C.使用雙晶探頭D.改變探頭的角度21.射線探傷中，為了提高檢測(cè)靈敏度，應(yīng)選擇（）透照方式。A.聚焦透照B.小焦點(diǎn)透照C.大焦點(diǎn)透照D.無(wú)焦點(diǎn)透照22.超聲波探傷中，為了減少表面波的影響，應(yīng)選擇（）探頭。A.直探頭B.斜探頭C.斜楔探頭D.橫波探頭23.在射線探傷中，為了提高圖像的對(duì)比度，應(yīng)選擇（）方法。A.增加射線源強(qiáng)度B.使用增感屏C.改變射線源與工件之間的距離D.提高工件表面的粗糙度24.超聲波探傷中，為了提高檢測(cè)速度，應(yīng)選擇（）方法。A.增加耦合劑B.減少探頭與工件之間的距離C.使用雙晶探頭D.改變探頭的角度25.射線探傷中，為了減少散射輻射的影響，應(yīng)選擇（）透照方式。A.聚焦透照B.小焦點(diǎn)透照C.大焦點(diǎn)透照D.無(wú)焦點(diǎn)透照26.超聲波探傷中，為了提高檢測(cè)靈敏度，應(yīng)選擇（）探頭。A.高頻探頭B.低頻探頭C.中頻探頭D.聚焦探頭27.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，為了減少多次反射的影響，應(yīng)選擇（）方法。A.增加耦合劑B.減少探頭與工件之間的距離C.使用雙晶探頭D.改變探頭的角度28.射線探傷中，為了提高檢測(cè)速度，應(yīng)選擇（）透照方式。A.聚焦透照B.小焦點(diǎn)透照C.大焦點(diǎn)透照D.無(wú)焦點(diǎn)透照29.超聲波探傷中，為了提高檢測(cè)精度，應(yīng)選擇（）方法。A.增加耦合劑B.減少探頭與工件之間的距離C.使用雙晶探頭D.改變探頭的角度30.射線探傷中，為了提高檢測(cè)靈敏度，應(yīng)選擇（）透照方式。A.聚焦透照B.小焦點(diǎn)透照C.大焦點(diǎn)透照D.無(wú)焦點(diǎn)透照二、判斷題（本部分共20題，每題2分，共40分。請(qǐng)將正確答案的“√”填在括號(hào)內(nèi)，錯(cuò)誤答案的“×”填在括號(hào)內(nèi)。）1.射線探傷時(shí)，工件厚度越大，所需射線能量越高。（）2.超聲波探傷時(shí)，探頭與工件之間的距離越小，檢測(cè)靈敏度越高。（）3.射線探傷中，增感屏可以提高圖像的對(duì)比度。（）4.超聲波探傷中，橫波探頭比縱波探頭檢測(cè)靈敏度更高。（）5.射線探傷時(shí)，工件表面的粗糙度會(huì)影響圖像的對(duì)比度。（）6.超聲波探傷時(shí)，耦合劑的種類會(huì)影響探頭的頻率。（）7.射線探傷中，小焦點(diǎn)透照可以提高檢測(cè)速度。（）8.超聲波探傷中，斜探頭可以檢測(cè)到垂直于探頭表面的缺陷。（）9.射線探傷時(shí)，射線源與工件之間的距離越近，散射輻射越少。（）10.超聲波探傷中，雙晶探頭可以減少多次反射的影響。（）11.射線探傷中，聚焦透照可以提高檢測(cè)精度。（）12.超聲波探傷時(shí)，探頭與工件之間的距離越大，檢測(cè)靈敏度越高。（）13.射線探傷時(shí)，工件表面的污染會(huì)影響圖像的對(duì)比度。（）14.超聲波探傷中，斜楔探頭可以提高檢測(cè)靈敏度。（）15.射線探傷中，大焦點(diǎn)透照可以提高檢測(cè)速度。（）16.超聲波探傷時(shí)，橫波探頭比縱波探頭檢測(cè)速度更快。（）17.射線探傷時(shí)，射線源與工件之間的距離越遠(yuǎn)，散射輻射越少。（）18.超聲波探傷中，直探頭可以檢測(cè)到垂直于探頭表面的缺陷。（）19.射線探傷中，增感屏可以提高檢測(cè)速度。（）20.超聲波探傷時(shí)，耦合劑的種類會(huì)影響探頭的檢測(cè)精度。（）哎呀，你看我這記性，剛才光顧著給你列題了，差點(diǎn)忘了咱們得按部就班來(lái)。來(lái)來(lái)來(lái)，咱們接著往下看。三、簡(jiǎn)答題（本部分共5題，每題4分，共20分。請(qǐng)根據(jù)題目要求，簡(jiǎn)要回答問(wèn)題。）1.簡(jiǎn)述射線探傷中，增加射線源強(qiáng)度的作用。2.超聲波探傷中，如何減少表面波的影響？3.射線探傷中，小焦點(diǎn)透照和大焦點(diǎn)透照各有什么特點(diǎn)？4.超聲波探傷中，雙晶探頭與單晶探頭相比，有哪些優(yōu)點(diǎn)？5.在進(jìn)行射線探傷時(shí)，如何減少散射輻射的影響？四、簡(jiǎn)答題（本部分共5題，每題4分，共20分。請(qǐng)根據(jù)題目要求，簡(jiǎn)要回答問(wèn)題。）1.射線探傷中，增感屏的作用是什么？2.超聲波探傷時(shí)，探頭與工件之間的距離對(duì)檢測(cè)靈敏度有什么影響？3.射線探傷中，聚焦透照有什么作用？4.超聲波探傷中，斜探頭有什么特點(diǎn)？5.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，如何減少多次反射的影響？五、簡(jiǎn)答題（本部分共5題，每題4分，共20分。請(qǐng)根據(jù)題目要求，簡(jiǎn)要回答問(wèn)題。）1.射線探傷時(shí)，工件表面的粗糙度對(duì)圖像的對(duì)比度有什么影響？2.超聲波探傷時(shí)，耦合劑的種類對(duì)探頭的頻率有什么影響？3.射線探傷中，小焦點(diǎn)透照有什么優(yōu)點(diǎn)？4.超聲波探傷中，橫波探頭與縱波探頭相比，有哪些特點(diǎn)？5.在進(jìn)行射線探傷時(shí)，如何提高檢測(cè)速度？本次試卷答案如下一、選擇題答案及解析1.答案：B解析：使用增感屏可以增強(qiáng)射線與物質(zhì)的相互作用，從而提高圖像的對(duì)比度。2.答案：C解析：斜楔探頭可以有效地將超聲波導(dǎo)向工件內(nèi)部，減少表面波的影響。3.答案：B解析：小焦點(diǎn)透照可以減少散射輻射，提高圖像質(zhì)量。4.答案：A解析：高頻探頭具有更高的檢測(cè)靈敏度，可以更容易地檢測(cè)到小缺陷。5.答案：C解析：使用雙晶探頭可以減少多次反射，提高檢測(cè)精度。6.答案：C解析：大焦點(diǎn)透照可以提高檢測(cè)速度，適用于較厚的工件。7.答案：C解析：使用雙晶探頭可以提高檢測(cè)精度，減少誤差。8.答案：B解析：小焦點(diǎn)透照可以提高檢測(cè)靈敏度，更容易發(fā)現(xiàn)缺陷。9.答案：A解析：直探頭適用于檢測(cè)平行于探頭表面的缺陷。10.答案：C解析：改變射線源與工件之間的距離可以減少散射輻射。11.答案：B解析：減少探頭與工件之間的距離可以提高檢測(cè)靈敏度。12.答案：A解析：聚焦透照可以提高檢測(cè)精度，減少偽影。13.答案：C解析：斜探頭可以檢測(cè)到垂直于探頭表面的缺陷，具有更廣的檢測(cè)范圍。14.答案：B解析：使用增感屏可以提高圖像的對(duì)比度，使缺陷更明顯。15.答案：A解析：增加耦合劑可以減少聲阻抗差，提高超聲波的傳播效率。16.答案：D解析：改變探頭的角度可以減少多次反射的影響。17.答案：A解析：高頻探頭具有更高的檢測(cè)靈敏度，可以更容易地檢測(cè)到小缺陷。18.答案：C解析：使用雙晶探頭可以減少多次反射，提高檢測(cè)精度。19.答案：C解析：大焦點(diǎn)透照可以提高檢測(cè)速度，適用于較厚的工件。20.答案：D解析：改變探頭的角度可以提高檢測(cè)精度，減少誤差。21.答案：B解析：小焦點(diǎn)透照可以提高檢測(cè)靈敏度，更容易發(fā)現(xiàn)缺陷。22.答案：A解析：直探頭適用于檢測(cè)平行于探頭表面的缺陷。23.答案：B解析：使用增感屏可以提高圖像的對(duì)比度，使缺陷更明顯。24.答案：A解析：增加耦合劑可以減少聲阻抗差，提高超聲波的傳播效率。25.答案：D解析：改變探頭的角度可以減少多次反射的影響。26.答案：A解析：高頻探頭具有更高的檢測(cè)靈敏度，可以更容易地檢測(cè)到小缺陷。27.答案：C解析：使用雙晶探頭可以減少多次反射，提高檢測(cè)精度。28.答案：C解析：大焦點(diǎn)透照可以提高檢測(cè)速度，適用于較厚的工件。29.答案：D解析：改變探頭的角度可以提高檢測(cè)精度，減少誤差。30.答案：B解析：小焦點(diǎn)透照可以提高檢測(cè)靈敏度，更容易發(fā)現(xiàn)缺陷。二、判斷題答案及解析1.答案：√解析：工件厚度越大，所需射線能量越高，以穿透工件。2.答案：√解析：探頭與工件之間的距離越小，檢測(cè)靈敏度越高，因?yàn)槌暡ǖ哪芰繐p失較小。3.答案：√解析：增感屏可以增強(qiáng)射線與物質(zhì)的相互作用，從而提高圖像的對(duì)比度。4.答案：×解析：橫波探頭檢測(cè)靈敏度通常低于縱波探頭，因?yàn)闄M波的傳播速度較慢，能量損失較大。5.答案：√解析：工件表面的粗糙度會(huì)影響圖像的對(duì)比度，粗糙表面會(huì)導(dǎo)致散射增加，降低圖像質(zhì)量。6.答案：×解析：耦合劑的種類主要影響超聲波的傳播效率，而不是探頭的頻率。7.答案：√解析：小焦點(diǎn)透照可以減少散射輻射，提高圖像質(zhì)量，從而提高檢測(cè)速度。8.答案：√解析：斜探頭可以檢測(cè)到垂直于探頭表面的缺陷，具有更廣的檢測(cè)范圍。9.答案：×解析：射線源與工件之間的距離越近，散射輻射越多，因?yàn)樯渚€能量在近距離內(nèi)損失較大。10.答案：√解析：雙晶探頭可以減少多次反射，提高檢測(cè)精度。11.答案：√解析：聚焦透照可以提高檢測(cè)精度，減少偽影，因?yàn)榻裹c(diǎn)越小，圖像越清晰。12.答案：×解析：探頭與工件之間的距離越大，檢測(cè)靈敏度越低，因?yàn)槌暡ǖ哪芰繐p失較大。13.答案：√解析：工件表面的污染會(huì)影響圖像的對(duì)比度，污染表面會(huì)導(dǎo)致散射增加，降低圖像質(zhì)量。14.答案：√解析：斜楔探頭可以提高檢測(cè)靈敏度，因?yàn)樾毙梢杂行У貙⒊暡▽?dǎo)向工件內(nèi)部。15.答案：√解析：大焦點(diǎn)透照可以提高檢測(cè)速度，適用于較厚的工件。16.答案：×解析：橫波探頭檢測(cè)速度通常低于縱波探頭，因?yàn)闄M波的傳播速度較慢。17.答案：√解析：射線源與工件之間的距離越遠(yuǎn)，散射輻射越少，因?yàn)樯渚€能量在遠(yuǎn)距離內(nèi)損失較小。18.答案：×解析：直探頭適用于檢測(cè)平行于探頭表面的缺陷，而不是垂直于探頭表面的缺陷。19.答案：×解析：增感屏主要提高圖像的對(duì)比度，而不是檢測(cè)速度。20.答案：√解析：耦合劑的種類主要影響超聲波的傳播效率，從而影響檢測(cè)精度。三、簡(jiǎn)答題答案及解析1.答案：增加射線源強(qiáng)度可以提高射線的穿透能力，從而提高圖像的對(duì)比度和檢測(cè)靈敏度。解析：射線源強(qiáng)度越高，射線的穿透能力越強(qiáng)，可以更好地穿透工件，提高圖像的對(duì)比度和檢測(cè)靈敏度。2.答案：使用斜楔探頭或增加耦合劑可以減少表面波的影響。解析：斜楔探頭可以將超聲波導(dǎo)向工件內(nèi)部，減少表面波的影響。增加耦合劑可以減少聲阻抗差，提高超聲波的傳播效率，從而減少表面波的影響。3.答案：小焦點(diǎn)透照可以提高檢測(cè)精度，減少偽影；大焦點(diǎn)透照可以提高檢測(cè)速度，適用于較厚的工件。解析：小焦點(diǎn)透照可以提高檢測(cè)精度，減少偽影，因?yàn)榻裹c(diǎn)越小，圖像越清晰。大焦點(diǎn)透照可以提高檢測(cè)速度，適用于較厚的工件，因?yàn)榇蠼裹c(diǎn)可以更快地穿透工件。4.答案：雙晶探頭具有更高的檢測(cè)精度和靈敏度，可以減少多次反射的影響。解析：雙晶探頭由兩塊晶體組成，可以減少多次反射，提高檢測(cè)精度和靈敏度。雙晶探頭可以