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(19)國家知識產(chǎn)權(quán)局(12)發(fā)明專利(10)授權(quán)公告號CN119389065B(21)申請?zhí)?02510005853.2(22)申請日2025.01.03(65)同一申請的已公布的文獻(xiàn)號申請公布號CN119389065A(43)申請公布日2025.02.07(73)專利權(quán)人合肥市山海半導(dǎo)體技術(shù)有限公司地址230088安徽省合肥市高新區(qū)天元路2號菲特科技綜合樓220室(74)專利代理機(jī)構(gòu)北京禎新理藝知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙)專利代理師沈超H01M10/42(2006.01)(56)對比文件權(quán)利要求書1頁說明書7頁附圖4頁(54)發(fā)明名稱一種電池管理系統(tǒng)及電池管理的方法(57)摘要本申請涉及一種電池管理系統(tǒng),包括MCU;多個電芯組;多個AFE芯片,配置為在MCU控制下采樣多個電芯組的數(shù)據(jù);收到MCU開始采樣指令后以及對多個電芯組采樣前,多個AFE芯片中至少一個配置為等待相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù);相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù)至少基于多個AFE芯片的數(shù)量、多個AFE芯片接收開始采樣指令的先后順序、每個AFE芯片在先后順序中的位置、以及MCU向前后兩個AFE芯片發(fā)送開始采樣指令的間隔時鐘周期數(shù)或者相鄰兩個AFE芯片間傳遞開始采樣指令的時鐘周期數(shù)。本申請還涉及一種電池管理的方法。本申請的電池管理系統(tǒng)使所有AFE芯片同步2多個電芯組;多個AFE芯片,與所述多個電芯組一對一電連接,配置為在所述MCU的控制下分別采樣所述多個電芯組的電芯數(shù)據(jù)并報(bào)告;其中,在收到所述MCU的開始采樣指令后以及在對所述多個電芯組采樣前,所述多個AFE芯片中的至少一個配置為等待相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù);其中,所述相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù)至少基于所述多個AFE芯片的數(shù)量、所述多個AFE芯片接收所述開始采樣指令的先后順序、每個AFE芯片在所述先后順序中的位置;其中所述多個AFE芯片中的多個第一AFE芯片分別與所述MCU電連接,針對第一AFE芯片,相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù)還基于所述MCU向前后兩個第一AFE芯片發(fā)送所述開始采樣指令的間隔時鐘周期數(shù);其中,所述MCU配置為計(jì)算延遲時鐘周期數(shù),并在發(fā)送所述開始采樣指令之前將所述延遲時鐘周期數(shù)發(fā)送給每個AFE芯片。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其中最后一個接收到所述開始采樣指令的AFE芯片配置為在對與其電連接的電芯組采樣前等待的相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù)為零。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的系統(tǒng),其中所述多個AFE芯片中的多個第二AFE芯片分別與相應(yīng)的第一AFE芯片串聯(lián)電連接,所述相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù)還基于相鄰兩個串聯(lián)的AFE芯片之間傳遞所述開始采樣指令的時鐘周期數(shù)。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其中所述多個第一AFE芯片需要等待的延遲時鐘周期數(shù)包括所述多個第一AFE芯片的數(shù)量與當(dāng)前第一AFE芯片在所述多個第一AFE芯片接收所述開始采樣指令的先后順序中的位置的差值與所述MCU向前后兩個第一AFE芯片發(fā)送所述開始采樣指令的間隔時鐘周期數(shù)之積。5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的系統(tǒng),其中所述串聯(lián)的第一AFE芯片和第二AFE芯片需要等待的延遲時鐘周期數(shù)包括所述串聯(lián)的第一AFE芯片和第二AFE芯片的數(shù)量與當(dāng)前AFE芯片在所述串聯(lián)的第一AFE芯片和第二AFE芯片接收所述開始采樣指令的先后順序中的位置的差值與相鄰串聯(lián)的AFE芯片之間傳遞所述開始采樣指令的時鐘周期數(shù)之積。3技術(shù)領(lǐng)域[0001]本申請涉及電池領(lǐng)域,特別地涉及一種電池管理系統(tǒng)及電池管理的方法。背景技術(shù)[0002]電池管理系統(tǒng)(BMS)是動力電池系統(tǒng)的核心組成部分之一,負(fù)責(zé)監(jiān)控并計(jì)算電池的實(shí)時狀態(tài)參數(shù)和健康狀態(tài)等,并將相關(guān)信息上報(bào)給整車控制器,同時協(xié)同整車控制器執(zhí)行動力電池高壓回路的上下電操作,與車輛上的其他系統(tǒng)協(xié)調(diào)工作。隨著目前采樣頻率和同步性要求不斷提高,控制器的性能也越來越好,評估電池狀態(tài)的模型越來越復(fù)雜,需要的數(shù)據(jù)維度越來越多,在這個過程中,同步采樣是保證數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性和系統(tǒng)安全的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。[0003]在實(shí)際應(yīng)用中,由于串聯(lián)的電芯越來越多,電芯數(shù)據(jù)的采集由很多的芯片來執(zhí)行,由于技術(shù)、成本等因素的限制,完全同步采樣可能難以實(shí)現(xiàn)。目前常見的解決方案是盡量的確保單一芯片采集的電芯數(shù)據(jù)的同步性,而對于不同芯片之間的同步性,通常很難精確的進(jìn)行控制。發(fā)明內(nèi)容電芯組的電芯數(shù)據(jù)并報(bào)告;其中,在收到MCU的開始采樣指令后以及在對多個電芯組采樣前,多個AFE芯片中的至少一個配置為等待相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù);其中,相應(yīng)的延遲時鐘芯片在先后順序中的位置、以及MCU向前后兩個AFE芯片發(fā)送開始采樣指令的間隔時鐘周期數(shù)或者相鄰兩個AFE芯片之間傳遞開始采樣指令的時鐘周期數(shù)。[0005]特別地,其中最后一個接收到開始采樣指令的AFE芯片配置為在對與其電連接的電芯組采樣前等待的相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù)為零。[0006]特別地,其中多個AFE芯片MCU串聯(lián)電連接,相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù)至少基于相鄰兩個AFE芯片之間傳遞開始采樣指令的時鐘周期數(shù)。[0007]特別地,其中多個AFE芯片分別與MCU電連接,相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù)至少基于MCU向前后兩個AFE芯片發(fā)送開始采樣指令的間隔時鐘周期數(shù)。[0008]本申請還提出了一種電池管理的方法,包括:對多個AFE芯片進(jìn)行初始化;基于初始化中的參數(shù)確定每個AFE芯片在收到開始采樣指令后以及對與其電連接的電芯組采樣前,需要等待的相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù);其中,相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù)至少基于多個AFE芯片的數(shù)量、多個AFE芯片接收開始采樣指令的先后順序、每個AFE芯片在先后順序中的位置、以及MCU向前后兩個AFE芯片發(fā)送開始采樣指令的間隔時鐘周期數(shù)或者相鄰兩個AFE芯片之間傳遞開始采樣指令的時鐘周期數(shù)。連接時,設(shè)置開始采樣指令在串聯(lián)電連接中傳輸?shù)捻樞?;設(shè)置每個AFE芯片在順序中的位4置;設(shè)置相鄰兩個AFE芯片之間傳遞開始采樣指令的時鐘周期數(shù)。[0010]特別地,其中基于初始化中的參數(shù)確定每個AFE芯片在收到開始采樣指令后以及對與其電連接的電芯組采樣前,需要等待的相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù),包括:確定多個AFE芯片的數(shù)量與其中一個AFE芯片在順序中的位置的差值;獲得差值與相鄰兩個AFE芯片之間傳遞開始采樣指令的時鐘周期數(shù)之積,作為相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù)。置;設(shè)置MCU向前后兩個AFE芯片發(fā)送開始采樣指令的間隔時鐘周期數(shù)。[0012]特別地,其中基于初始化中的參數(shù)確定每個AFE芯片在收到開始采樣指令后以及對與其電連接的電芯組采樣前,需要等待的相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù),包括:確定多個AFE芯片數(shù)量與其中一個AFE芯片在順序中的位置的差值;獲得差值與MCU向前后兩個AFE芯片發(fā)送開始采樣指令的間隔時鐘周期數(shù)之積,作為相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù)。[0013]本申請?zhí)岢龅碾姵毓芾硐到y(tǒng)能夠使系統(tǒng)內(nèi)的所有AFE芯片同步采樣,且結(jié)構(gòu)簡單,無需增加額外的芯片或電路。本申請?zhí)岢龅碾姵毓芾淼姆椒ㄊ且环N內(nèi)置在各個AFE芯片內(nèi)部的自動實(shí)現(xiàn)同步采樣的方法,BMU中的MCU在完成所有AFE芯片初始化操作的同時,各個AFE芯片內(nèi)部自適應(yīng)地調(diào)整了自身的同步采樣延遲,從而實(shí)現(xiàn)了較高精度的自動同步采樣。附圖說明[0014]下面,將結(jié)合附圖對本申請的優(yōu)選實(shí)施方式進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)的說明,其中:[0015]圖1是根據(jù)本申請的一個實(shí)施例的BMS結(jié)構(gòu)示意圖;[0016]圖2是根據(jù)本申請的一個實(shí)施例的圖1所示BMS相應(yīng)的同步采樣方法流程示意圖;[0017]圖3是根據(jù)本申請的一個實(shí)施例的BMS結(jié)構(gòu)示意圖;[0018]圖4是根據(jù)本申請的一個實(shí)施例的圖3所示BMS相應(yīng)的同步采樣方法流程示意圖。具體實(shí)施方式[0019]為使本申請實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合本申請實(shí)施例中的附圖,對本申請實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例是本申請一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒旧暾堉械膶?shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本申請保護(hù)的范圍。[0020]在以下的詳細(xì)描述中,可以參看作為本申請一部分用來說明本申請的特定實(shí)施例的各個說明書附圖。在附圖中,相似的附圖標(biāo)記在不同圖式中描述大體上類似的組件。本申請的各個特定實(shí)施例在以下進(jìn)行了足夠詳細(xì)的描述,使得具備本領(lǐng)域相關(guān)知識和技術(shù)的普通技術(shù)人員能夠?qū)嵤┍旧暾埖募夹g(shù)方案。應(yīng)當(dāng)理解,還可以利用其它實(shí)施例或者對本申請的實(shí)施例進(jìn)行結(jié)構(gòu)、邏輯或者電性的改變。[0021]對于相關(guān)領(lǐng)域普通技術(shù)人員已知的技術(shù)、方法和設(shè)備可能不作詳細(xì)討論,但在適當(dāng)情況下,所述技術(shù)、方法和設(shè)備應(yīng)當(dāng)被視為說明書的一部分。對于附圖中的各單元之間的連線,僅僅是為了便于說明,其表示至少連線兩端的單元是相互通信的,并非旨在限制未連線的單元之間無法通信。另外,兩個單元之間線條的數(shù)目旨在表示該兩個單元之間通信至少所涉及的信號數(shù)或至少具備的輸出端,并非用于限定該兩個單元之間只能如圖中所示的5信號來進(jìn)行通信。[0022]針對目前實(shí)際應(yīng)用中的解決方案存在的問題,本申請?zhí)岢隽艘环N能夠?qū)δM前端(AFE)芯片同步采樣的BMS及相應(yīng)方法。[0023]圖1是根據(jù)本申請的一個實(shí)施例的BMS結(jié)構(gòu)示意圖。[0024]根據(jù)一個實(shí)施例,圖1所示的BMS100可以包括電池管理單元(BMU)110。[0025]根據(jù)一個實(shí)施例,圖1所示的BMU110可以包括微控制單元(MCU)111。[0026]根據(jù)一個實(shí)施例,圖1所示的BMS100可以包括電芯監(jiān)測單元(CMU)121和CMU122。[0027]根據(jù)一個實(shí)施例,圖1所示的CMU121可以包括AFE芯片131和AFE芯片132。[0028]根據(jù)一個實(shí)施例,AFE芯片131與BMU110電連接。[0029]根據(jù)一個實(shí)施例,AFE芯片131與AFE芯片132串聯(lián)電連接。[0030]根據(jù)一個實(shí)施例,圖1所示的CMU122可以包括AFE芯片133和AFE芯片134。[0031]根據(jù)一個實(shí)施例,AFE芯片132與AFE芯片133串聯(lián)電連接。[0032]根據(jù)一個實(shí)施例,AFE芯片133與AFE芯片134串聯(lián)電連接。[0033]根據(jù)一個實(shí)施例,AFE芯片134與BMU110電連接。[0034]也就是說彼此串聯(lián)的多個AFE芯片中,只有兩端的兩個AFE芯片分別與BMU電連接。[0035]根據(jù)一個實(shí)施例,圖1所示的BMS100可以包括電池模組140,其可以包括多個電芯組,每個電芯組分別與一個AFE芯片電連接;例如:在圖1所示的BMS100中,電池模組140可以包括4個電芯組(未示出),每個電芯組分別與AFE芯片131至134一對一電連接。[0036]根據(jù)一個實(shí)施例,AFE芯片131至134配置為在MCU111的控制下分別采樣與自身電連接的相應(yīng)電芯組的電芯數(shù)據(jù),例如:電芯電壓、電芯電流、傳感器數(shù)據(jù)等。[0037]根據(jù)一個實(shí)施例,BMU110中的MCU111配置為向AFE芯片131或AFE芯片134發(fā)送指令,并獲得電池模組140中所有電芯的數(shù)據(jù),并根據(jù)電芯數(shù)據(jù)對電池模組140的狀態(tài)進(jìn)行實(shí)時監(jiān)控和評估。[0038]根據(jù)一個實(shí)施例,對電池模組140狀態(tài)的評估可以包括:荷電狀態(tài)估計(jì)(SOC)、健康狀態(tài)估計(jì)(SOH)、安全狀態(tài)估計(jì)(SOS)、功能狀態(tài)估計(jì)(SOF)、以及可用能量狀態(tài)估計(jì)(SOE),[0039]根據(jù)一個實(shí)施例,本申請的BMS可以包括至少1個CMU。[0040]根據(jù)一個實(shí)施例,本申請的BMS可以包括至少2個AFE芯片,并且至少2個AFE芯片可以包括在同一個CMU中,也可以包括在不同的CMU中。[0041]圖2是根據(jù)本申請的一個實(shí)施例的圖1所示BMS相應(yīng)的同步采樣方法流程示意圖。[0042]S101:當(dāng)BMU110中的MCU111需要監(jiān)控電芯數(shù)據(jù)時,對AFE芯片131至134進(jìn)行上電或者喚醒操作。[0043]S102:BMU110中的MCU111對AFE芯片131至134進(jìn)行初始化。[0044]出于降低功耗的目的,AFE芯片131至134在上電或者被喚醒后一般處于默認(rèn)狀態(tài),無法進(jìn)行有效通信和采樣,MCU111需要對它們進(jìn)行初始化。[0045]根據(jù)一個實(shí)施例,初始化可以包括下列步驟S1021至S1023:[0046]S1021:MCU111設(shè)置AFE芯片131至134之間的通信方向,即AFE芯片131至134接收MCU111所發(fā)送開始采樣指令的先后順序。[0047]根據(jù)一個實(shí)施例,AFE芯片131至134之間的通信可以按照由131-132-133-134的方6向進(jìn)行。此時,MCU111的指令會先發(fā)送給AFE芯片131,AFE芯片131在內(nèi)部判斷該指令是否需要轉(zhuǎn)發(fā),如果確定需要轉(zhuǎn)發(fā)就按照預(yù)定的協(xié)議轉(zhuǎn)發(fā)給AFE芯片132,以此類推,直到該指令[0048]根據(jù)另一實(shí)施例,AFE芯片131至134之間的通信可以按照由134-133-132-131的方向進(jìn)行。此時,MCU111的指令會先發(fā)送給AFE芯片134,AFE芯片134在內(nèi)部判斷該指令是否需要轉(zhuǎn)發(fā),如果確定需要轉(zhuǎn)發(fā)就按照預(yù)定的協(xié)議轉(zhuǎn)發(fā)給AFE芯片133,以此類推,直到該指令[0049]根據(jù)一個實(shí)施例,按照預(yù)定的通信協(xié)議,開始采樣指令在相鄰兩個AFE芯片之間傳遞具有固定的時鐘周期數(shù)T1,即T1個系統(tǒng)時鐘周期。[0050]S1022:MCU111按照預(yù)定的協(xié)議,根據(jù)S1021中設(shè)置的通信方向,給AFE芯片131至134分別設(shè)置一個地址標(biāo)識A;其中,A的取值范圍為從1開始的連續(xù)整數(shù)。每個AFE芯片的地址標(biāo)識A表示該芯片在所有AFE芯片接收開始采樣指令的先后順序中的位置。例如:當(dāng)S1021中設(shè)置的通信方向?yàn)?31-132-133-134時,AFE芯片131的地址標(biāo)識A可以設(shè)置為1,AFE芯片132的地址標(biāo)識A可以設(shè)置為2,AFE芯片133的地址標(biāo)識A可以設(shè)置為3,AFE芯片134的地址標(biāo)識A可以設(shè)置為4。[0051]S1023:MCU111配置堆疊個數(shù)標(biāo)識N,并按照預(yù)定的協(xié)議,根據(jù)S1021中設(shè)置的通信[0052]S103:AFE芯片131至134分別根據(jù)自身在前述初始化中接收到的參數(shù),例如:通信方向、地址標(biāo)識A、堆疊個數(shù)標(biāo)識N,以及時鐘周期數(shù)T1,計(jì)算自身相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù)M;開始采樣指令的先后順序是從AFE芯片131到AFE芯片134.為了實(shí)現(xiàn)同步采樣,需要對AFE芯片131至133的采樣開始時間分別等待各自相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù)M,使AFE芯片131至133的采樣開始時間與AFE芯片134的采樣開始時間同步。片134至132的采樣開始時間分別等待各自相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù)M,使AFE芯片134至132的采樣開始時間與AFE芯片131的采樣開始時間同步。[0057]根據(jù)其他實(shí)施例,每個AFE芯片相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù)M,也可以由MCU進(jìn)行計(jì)算之后分別轉(zhuǎn)發(fā)給每個AFE芯片。在這種情況下,MCU只需要將相應(yīng)的延遲時鐘周期數(shù)M發(fā)送給每個AFE芯片,而不需要發(fā)送初始化的參數(shù)。[0058]S104:MCU111根據(jù)需要發(fā)送開始采樣指令,每個AFE芯片收到指令后,開啟自身的[0059]根據(jù)一個實(shí)施例,BMS中的所有AFE芯片將會同步開始采樣,同步的精度在一個時鐘周期內(nèi)。7照預(yù)定的通信協(xié)議獲取AFE芯片131至134同步采樣后的電芯數(shù)據(jù)。[0061]圖3是根據(jù)本申請的一個實(shí)施例的BMS結(jié)構(gòu)示意圖。[0062]根據(jù)一個實(shí)施例,圖3所示的BMS200可以包括BMU210。[0063]根據(jù)一個實(shí)施例,圖3所示的BMU210可以包括MCU211。[0064]根據(jù)一個實(shí)施例,圖3所示的BMS200可以包括CMU221和CMU222。[0065]根據(jù)一個實(shí)施例,圖3所示的CMU221可以包括AFE芯片231和AFE芯片232。[0066]根據(jù)一個實(shí)施例,AFE芯片231與BMU210電連接。[0067]根據(jù)一個實(shí)施例,AFE芯片232與BMU210電連接。[0068]根據(jù)一個實(shí)施例,圖3所示的CMU222可以包括AFE芯片233和AFE芯片234。[0069]根據(jù)一個實(shí)施例,AFE芯片233與BMU210電連接。[0070]根據(jù)一個實(shí)施例,AFE芯片234與BMU210電連接。[0071]也就是說多個AFE芯片分別與BMU電連接,但多個AFE彼此之間沒有電連接。[0072]根據(jù)一個實(shí)施例,圖3所示的BMS200可以包括電池模組240,其可以包括多個電芯組,每個電芯組分別與一個AFE芯片電連接;例如:圖3所示的BMS200可以包括4個電芯組(未示出),每個電芯組分別與AFE芯片231至234一對一電連接。[0073]根據(jù)一個實(shí)施例,AFE芯片231至234配置為在MCU111的控制下分別采樣與自身連接的相應(yīng)電芯組的電芯數(shù)據(jù),例如:電芯電壓、電芯電流、傳感器數(shù)據(jù)等。[0074]根據(jù)一個實(shí)施例,BMU210中的MCU211配置為向AFE芯片231至234發(fā)送指令,并獲得電池模組240中所有電芯的數(shù)據(jù),并根據(jù)電芯數(shù)據(jù)對電池模組240的狀態(tài)進(jìn)行實(shí)時監(jiān)控和評估。[0075]根據(jù)一個實(shí)施例,對電池模組240狀態(tài)的評估可以包括:荷電狀態(tài)估計(jì)(SOC)、健康狀態(tài)估計(jì)(SOH)、安全狀態(tài)估計(jì)(SOS)、功能狀態(tài)估計(jì)(SOF)、以及可用能量狀態(tài)估計(jì)(SOE),[0076]根據(jù)一個實(shí)施例,本申請的BMS可以包括至少1個CMU。[0077]根據(jù)一個實(shí)施例,本申請的BMS可以包括至少2個AFE芯片,并且至少2個AFE芯片可以包括在同一個CMU中,也可以包括在不同的CMU中。[0078]圖4是根據(jù)本申請的一個實(shí)施例的圖3所示BMS相應(yīng)的同步采樣方法流程示意圖。[0079]S201:當(dāng)BMU210中的MCU211需要監(jiān)控電芯數(shù)據(jù)時,對AFE芯片231至234進(jìn)行上電或者喚醒操作。[0080]S202:BMU210中的MCU211對AFE芯片231至234進(jìn)行初始化操作。[0081]出于降低功耗的目的,AFE芯片231至234在上電或者被喚醒后一般處于默認(rèn)狀態(tài),無法進(jìn)行有效通信和采樣,MCU211需要對它們進(jìn)行初始化。[0082]根據(jù)一個實(shí)施例,初始化可以包括下列步驟S2021至S2024:[0083]S2021:MCU211設(shè)置向所有AFE芯片發(fā)送開始采樣指令時的觸發(fā)順序,即AFE芯片231至234接收開始采樣指令的先后順序。[0084]根據(jù)一個實(shí)施例,AFE芯片231至234之間的觸發(fā)順序可以是從231-232-233-234。此時,MCU211發(fā)送指令時會按照從AFE芯片231到AFE芯片234的先后順序逐一發(fā)送。[0085]根據(jù)另一實(shí)施例,AFE芯片231至234之間的觸發(fā)順序可以是從234-233-232-231。此時,MCU211發(fā)送指令時會按照從AFE芯片234到AFE芯片231的先后順序逐一發(fā)送。8[0086]根據(jù)一個實(shí)施例,觸發(fā)順序也可以是其他順序,觸發(fā)順序與AFE芯片的物理排列順序無關(guān)。[0087]S2022:MCU211按照預(yù)定的協(xié)議,根據(jù)S2021中設(shè)置的觸發(fā)順序,給AFE芯片231至234分別設(shè)置一個地址標(biāo)識A;其中,A的取值范圍為從1開始的連續(xù)整數(shù)。每個AFE芯片的地址標(biāo)識A表示該芯片在觸發(fā)順序中的位置。例如:當(dāng)S2021中設(shè)置的觸發(fā)采樣順序?yàn)閺?31-232-233-234時,AFE芯片231的地址標(biāo)識A可以設(shè)置為1,AFE芯片232的地址標(biāo)識A可以設(shè)置為2,AFE芯片233的地址標(biāo)識A可以設(shè)置為3,AFE芯片234的地址標(biāo)識A可以設(shè)置為4。[0088]S2023:MCU211配置堆疊個數(shù)標(biāo)識N,并按照預(yù)定的協(xié)議,根據(jù)S2021中設(shè)置的觸發(fā)[0089]S2024:MCU211設(shè)定間隔時鐘周期數(shù)P,并按照S2021中設(shè)置的觸發(fā)順序,將間隔時鐘周期數(shù)P轉(zhuǎn)發(fā)給所有AFE芯片。[0090]根據(jù)一個實(shí)施例,基于圖3所示的BMS200中BMU210和各個AFE芯片的連接方式,間隔時鐘周期數(shù)P是BMU210中的MCU211按照S2021中設(shè)置的觸發(fā)順序向前后兩個AFE芯片發(fā)送開始采樣指令的間隔時鐘周期數(shù),即P個系統(tǒng)時鐘周期。[0091]S203:AFE芯片231至234分別根據(jù)自身在前述初始化中接收到的
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