地質(zhì)調(diào)查員職業(yè)技能考試題(附答案))一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共40分）1.下列關(guān)于礦物硬度的描述，正確的是（）。A.方解石硬度大于石英B.摩氏硬度計(jì)中，石膏硬度為2C.指甲可刻劃的礦物硬度≤5D.金剛石是自然界硬度最大的礦物，硬度為102.某地層剖面中，泥巖與砂巖呈互層狀，頂部發(fā)育古土壤層，最可能形成于（）環(huán)境。A.深海沉積B.河流泛濫平原C.冰川堆積D.火山噴發(fā)3.下列哪種構(gòu)造是沉積巖的典型原生構(gòu)造？（）A.片理構(gòu)造B.流紋構(gòu)造C.交錯(cuò)層理D.氣孔構(gòu)造4.地質(zhì)填圖中，“穿越法”適用于（）地區(qū)。A.地形平緩、巖層產(chǎn)狀穩(wěn)定B.地形陡峭、巖層產(chǎn)狀復(fù)雜C.植被覆蓋嚴(yán)重、露頭少D.第四系覆蓋廣泛5.手持GPS定位時(shí)，若顯示“PDOP=5”，表示（）。A.定位精度極高B.水平定位誤差約5米C.空間位置精度因子較大，需增加觀測(cè)時(shí)間D.衛(wèi)星信號(hào)被遮擋6.野外測(cè)量巖層產(chǎn)狀時(shí)，羅盤長(zhǎng)水準(zhǔn)泡的作用是（）。A.確定走向B.確定傾向C.確定傾角D.校準(zhǔn)磁偏角7.某巖石手標(biāo)本呈暗綠色，粒狀結(jié)構(gòu)，主要礦物為輝石和基性斜長(zhǎng)石，可能為（）。A.花崗巖B.玄武巖C.輝長(zhǎng)巖D.片麻巖8.下列物探方法中，最適用于探測(cè)地下含水?dāng)鄬拥氖牵ǎ.高精度磁法B.電測(cè)深法C.重力勘探D.地震折射法9.區(qū)域地質(zhì)調(diào)查中，“地質(zhì)點(diǎn)”的密度要求主要取決于（）。A.調(diào)查比例尺B.調(diào)查人員數(shù)量C.天氣條件D.交通便利性10.第四系沉積物中，“沖積物”的典型特征是（）。A.分選差、磨圓度低B.層理不明顯、含大量棱角狀碎石C.分選好、磨圓度高、具水平或交錯(cuò)層理D.含大量生物貝殼碎片11.下列關(guān)于地質(zhì)年代單位的排序，正確的是（）。A.宙—代—紀(jì)—世—期B.代—宙—紀(jì)—世—期C.宙—紀(jì)—代—世—期D.代—紀(jì)—宙—世—期12.野外調(diào)查中，發(fā)現(xiàn)某地層產(chǎn)狀為傾向150°、傾角30°，其走向應(yīng)為（）。A.60°或240°B.150°或330°C.30°或210°D.90°或270°13.采樣時(shí)，“系統(tǒng)采樣”的主要目的是（）。A.快速獲取代表性樣品B.控制采樣成本C.反映區(qū)域地球化學(xué)場(chǎng)連續(xù)變化D.減少重復(fù)采樣14.某地質(zhì)圖中，兩條正斷層傾向相反、中間斷塊相對(duì)下降，形成（）。A.地壘B.地塹C.階梯狀斷層D.疊瓦狀構(gòu)造15.遙感圖像解譯中，“假彩色合成”的主要作用是（）。A.增強(qiáng)特定地物的波譜差異B.提高圖像分辨率C.還原真實(shí)色彩D.簡(jiǎn)化圖像信息16.野外記錄中，“地質(zhì)點(diǎn)描述”必須包含的內(nèi)容是（）。A.調(diào)查人員姓名B.點(diǎn)號(hào)、坐標(biāo)、露頭情況、巖性及構(gòu)造特征C.當(dāng)日天氣D.附近居民點(diǎn)信息17.下列關(guān)于火山巖相的描述，錯(cuò)誤的是（）。A.溢流相以熔巖流為主，具塊狀或流動(dòng)構(gòu)造B.爆發(fā)相以火山碎屑巖為主，分選差C.火山通道相巖石結(jié)晶粗大，多為深成巖D.次火山相巖石與火山巖成分相似，但產(chǎn)狀近于侵入體18.土壤地球化學(xué)測(cè)量中，采樣層位一般選擇（）。A.表層腐殖土（0-5cm）B.淋濾層（A層）C.殘積層（C層）D.母質(zhì)層（B層）19.地質(zhì)剖面圖編制時(shí)，水平比例尺與垂直比例尺的關(guān)系通常為（）。A.水平比例尺小于垂直比例尺（夸大垂直方向）B.水平比例尺等于垂直比例尺C.水平比例尺大于垂直比例尺（壓縮垂直方向）D.無固定要求，根據(jù)需要調(diào)整20.野外遇到突發(fā)泥石流時(shí)，正確的避險(xiǎn)方式是（）。A.沿泥石流流動(dòng)方向奔跑B.向溝谷兩側(cè)的山坡高地撤離C.躲在溝谷中的大樹后D.原地蹲下等待救援二、填空題（每空1分，共20分）1.三大類巖石中，由巖漿噴出地表冷卻形成的巖石稱為______；由已存在的巖石經(jīng)變質(zhì)作用形成的巖石稱為______。2.地質(zhì)填圖的基本步驟包括______、______、______和室內(nèi)整理。3.野外測(cè)量產(chǎn)狀時(shí)，羅盤的“北針”指向______，需根據(jù)測(cè)區(qū)______調(diào)整磁偏角。4.常見的地質(zhì)構(gòu)造包括褶皺、______、______和節(jié)理。5.第四系沉積物按成因可分為沖積、______、______、冰磧和殘坡積等類型。6.物探方法中，______法主要用于探測(cè)磁性礦物或構(gòu)造，______法通過觀測(cè)電場(chǎng)變化探測(cè)地下電性差異。7.地質(zhì)調(diào)查中，“樣品標(biāo)簽”需標(biāo)注______、______、采樣位置和采樣人等信息。8.遙感圖像的解譯標(biāo)志包括______、______、紋理、形狀和陰影等。9.地質(zhì)報(bào)告中，“結(jié)論”部分需總結(jié)調(diào)查成果、______及______。10.野外安全“三查”指查天氣、查裝備、______。三、簡(jiǎn)答題（每題8分，共40分）1.簡(jiǎn)述野外識(shí)別斷層的主要標(biāo)志。2.說明地質(zhì)剖面測(cè)量的主要步驟及注意事項(xiàng)。3.列舉5種常見的地質(zhì)調(diào)查儀器，并簡(jiǎn)述其用途。4.如何利用“V”字形法則判斷巖層傾向與地形坡度的關(guān)系？5.簡(jiǎn)述土壤地球化學(xué)采樣的技術(shù)要求（包括采樣密度、深度、處理方法）。四、綜合分析題（20分）某山區(qū)開展1:5萬區(qū)域地質(zhì)調(diào)查，工作區(qū)出露地層為奧陶系灰?guī)r（O）、泥盆系砂巖（D）、二疊系頁(yè)巖（P），其中灰?guī)r與砂巖呈角度不整合接觸，砂巖與頁(yè)巖為整合接觸；區(qū)內(nèi)發(fā)育一條走向北東-南西的斷層（F1），斷層帶內(nèi)見斷層角礫巖，上盤為灰?guī)r，下盤為頁(yè)巖，斷層兩盤地層產(chǎn)狀明顯錯(cuò)開。問題：1.繪制區(qū)域地質(zhì)剖面示意圖（要求標(biāo)注地層時(shí)代、接觸關(guān)系、斷層及產(chǎn)狀）。2.分析斷層F1的性質(zhì)（正斷層/逆斷層/平移斷層）及形成時(shí)代。3.簡(jiǎn)述該區(qū)域地質(zhì)調(diào)查中需重點(diǎn)關(guān)注的地質(zhì)問題。參考答案一、單項(xiàng)選擇題1.B2.B3.C4.A5.C6.A7.C8.B9.A10.C11.A12.A13.C14.B15.A16.B17.C18.C19.A20.B二、填空題1.火山巖（噴出巖）；變質(zhì)巖2.前期準(zhǔn)備；野外填圖；剖面測(cè)量3.磁北；磁偏角數(shù)據(jù)4.斷層；劈理5.洪積；風(fēng)積（或湖積、海積等）6.磁法；電法（或激發(fā)極化法）7.樣品編號(hào)；巖性（或樣品類型）8.色調(diào)（顏色）；影紋結(jié)構(gòu)9.存在問題；建議10.查路線三、簡(jiǎn)答題1.野外識(shí)別斷層的主要標(biāo)志包括：（1）地層重復(fù)或缺失（最直接標(biāo)志）；（2）斷層破碎帶（如斷層角礫巖、糜棱巖等構(gòu)造巖）；（3）斷層面上的擦痕、階步；（4）牽引褶皺（斷層兩盤巖層受錯(cuò)動(dòng)牽引形成的小褶皺）；（5）地貌標(biāo)志（如斷層崖、斷層三角面、串珠狀泉水）；（6）水文異常（如河流突然轉(zhuǎn)向、地下水出露成泉）。2.地質(zhì)剖面測(cè)量步驟及注意事項(xiàng)：步驟：（1）選線：垂直巖層走向或構(gòu)造線方向，穿過主要地層和構(gòu)造；（2）定點(diǎn)：用GPS或羅盤測(cè)量剖面起點(diǎn)、終點(diǎn)及關(guān)鍵地質(zhì)點(diǎn)（如巖性變化點(diǎn)、構(gòu)造點(diǎn)）的位置；（3）測(cè)量產(chǎn)狀：記錄各巖層的走向、傾向、傾角；（4）記錄描述：包括巖性、厚度、化石、構(gòu)造特征及接觸關(guān)系；（5）繪制草圖：現(xiàn)場(chǎng)勾繪剖面示意圖，標(biāo)注關(guān)鍵信息；（6）室內(nèi)整理：結(jié)合野外記錄和儀器數(shù)據(jù)，編制正式剖面圖。注意事項(xiàng)：（1）剖面線需具代表性，避免穿過覆蓋區(qū)；（2）分層厚度測(cè)量需準(zhǔn)確（可用皮尺或視距法）；（3）構(gòu)造現(xiàn)象（如小斷層、褶皺）需詳細(xì)記錄；（4）接觸關(guān)系（整合、平行不整合、角度不整合）需重點(diǎn)標(biāo)注；（5）化石、礦化等特殊現(xiàn)象需采樣并記錄位置。3.常見地質(zhì)調(diào)查儀器及用途：（1）地質(zhì)羅盤：測(cè)量巖層產(chǎn)狀（走向、傾向、傾角）、地形坡度；（2）手持GPS：定位地質(zhì)點(diǎn)坐標(biāo)（經(jīng)緯度、海拔）；（3）便攜式XRF分析儀：快速測(cè)定巖石、土壤的元素含量（地球化學(xué)調(diào)查）；（4）測(cè)繩/皮尺：測(cè)量巖層厚度、剖面長(zhǎng)度；（5）地質(zhì)錘：敲擊巖石觀察新鮮面，采集樣品；（6）放大鏡（10倍）：觀察礦物顆粒、結(jié)構(gòu)構(gòu)造；（7）激光測(cè)距儀：快速測(cè)量地形起伏或目標(biāo)距離（替代視距法）。4.“V”字形法則的應(yīng)用：（1）當(dāng)巖層傾向與地形坡向相反時(shí)，巖層界線在溝谷中呈“V”字形，尖端指向溝谷上游（與等高線彎曲方向一致）；（2）當(dāng)巖層傾向與地形坡向相同且傾角大于坡度時(shí)，“V”字形尖端指向溝谷下游（與等高線彎曲方向相反）；（3）當(dāng)巖層傾向與地形坡向相同且傾角小于坡度時(shí)，“V”字形尖端指向溝谷上游（與等高線彎曲方向一致，但“V”形更開闊）。5.土壤地球化學(xué)采樣技術(shù)要求：（1）采樣密度：1:5萬調(diào)查一般為4-8點(diǎn)/km2，根據(jù)目標(biāo)礦種調(diào)整；（2）采樣深度：一般采集殘積層（C層），深度20-50cm（避開耕作層）；（3）采樣方法：?jiǎn)吸c(diǎn)采樣或多點(diǎn)組合（同一網(wǎng)格內(nèi)3-5個(gè)子樣混合）；（4）樣品重量：每樣約200-500g，裝入布袋或塑料袋；（5）處理：現(xiàn)場(chǎng)去除礫石、植物根系，自然風(fēng)干后過20目篩；（6）記錄：標(biāo)注樣品編號(hào)、坐標(biāo)、地形部位、母巖類型及采樣時(shí)間。四、綜合分析題1.地質(zhì)剖面示意圖要點(diǎn)：-橫坐標(biāo)為水平距離，縱坐標(biāo)為海拔；-自下而上依次為奧陶系灰?guī)r（O）、泥盆系砂巖（D）、二疊系頁(yè)巖（P）；-灰?guī)r與砂巖之間標(biāo)注角度不整合（用波浪線+鋸齒線表示）；-砂巖與頁(yè)巖之間標(biāo)注整合接觸（用直線表示）；-斷層F1走向北東-南西，上盤（灰?guī)r）相對(duì)下盤（頁(yè)巖）的運(yùn)動(dòng)方向需根據(jù)產(chǎn)狀錯(cuò)開判斷（假設(shè)上盤上升則為逆斷層）；-標(biāo)注斷層帶（寬度、構(gòu)造巖類型）及兩盤地層產(chǎn)狀（如O傾向NW∠45°，P傾向SE∠30°）。2.斷層性質(zhì)及形成時(shí)代分析：（1）性質(zhì)判斷：上盤為奧陶系灰?guī)r，下盤為二疊系頁(yè)巖，若灰?guī)r相對(duì)上沖（地層老的在上盤），則為逆斷層；若灰?guī)r相對(duì)下滑（地層老的在下盤），則為正斷層。結(jié)合斷層帶內(nèi)見斷層角礫巖（脆性變形），推測(cè)為逆斷層（需結(jié)合產(chǎn)狀錯(cuò)開方向確認(rèn)）。（2）形成時(shí)代：斷層切割二疊系頁(yè)巖（P），未切割上覆地層（假設(shè)無更年輕地層），故形成于二疊紀(jì)之后；同時(shí)，斷層未影響角度不整合面（O與D之間），說