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文檔簡介

2025年無損檢測員(一級)無損檢測技術(shù)操作試題及答案一、單項選擇題(每題1分,共30分)1.在射線照相檢測中,決定膠片對比度的主要因素是A.射線能量??B.膠片類型??C.曝光時間??D.焦距答案:B2.采用A型脈沖反射式超聲檢測儀時,屏幕上橫坐標(biāo)代表A.回波幅度??B.聲程時間??C.缺陷深度??D.探頭頻率答案:B3.滲透檢測中,乳化劑的作用是A.溶解缺陷內(nèi)滲透液??B.降低表面張力??C.使多余滲透液易被水洗凈??D.提高熒光亮度答案:C4.磁粉檢測時,周向磁化最適合發(fā)現(xiàn)的缺陷方向是A.與工件軸線平行??B.與工件軸線垂直??C.與磁場方向平行??D.與磁場方向成45°答案:B5.射線底片上出現(xiàn)“樹枝狀”黑影,最可能的原因是A.曝光量不足??B.散射??C.靜電放電??D.顯影液溫度過高答案:C6.超聲檢測中,當(dāng)探頭與工件之間加入耦合劑,主要是為了A.增加聲波頻率??B.減少聲能損失??C.提高分辨率??D.降低噪聲答案:B7.在滲透檢測的顯像階段,顯像劑層厚度一般控制在A.0.1~0.3mm??B.0.5~1.0mm??C.1.0~2.0mm??D.越厚越好答案:A8.磁粉檢測中,連續(xù)法與剩磁法相比,其優(yōu)點是A.檢測速度快??B.適合大型工件??C.對表面缺陷靈敏度高??D.不需電源答案:C9.射線實時成像系統(tǒng)空間分辨力常用A.像質(zhì)計??B.雙線型像質(zhì)計??C.階梯塊??D.對比度計答案:B10.超聲斜探頭K值為2,則折射角約為A.45°??B.56°??C.63°??D.70°答案:C11.對同一缺陷,射線底片黑度從1.5提高到3.0,其對比度A.線性增大??B.線性減小??C.先增后減??D.基本不變答案:A12.滲透檢測時,若清洗不足,最可能出現(xiàn)的偽缺陷是A.背景過度??B.缺陷顯示模糊??C.顯像劑剝落??D.干式顯像劑結(jié)塊答案:A13.磁粉檢測中,白光照度一般要求不低于A.100lx??B.300lx??C.500lx??D.1000lx答案:C14.射線管焦點尺寸增大,幾何不清晰度A.增大??B.減小??C.不變??D.先增后減答案:A15.超聲檢測中,若材料聲速為5900m/s,回波時間間隔為10μs,則缺陷深度為A.29.5mm??B.59mm??C.118mm??D.5.9mm答案:A16.在滲透檢測中,熒光滲透劑亮度測量采用A.照度計??B.黑光輻照計??C.亮度計??D.輻照度計答案:C17.射線防護三要素中最經(jīng)濟有效的是A.時間??B.距離??C.屏蔽??D.劑量監(jiān)測答案:B18.超聲檢測時,若出現(xiàn)“草狀回波”,最可能原因是A.探頭磨損??B.材料晶粒粗大??C.耦合不良??D.儀器增益過低答案:B19.磁粉檢測中,A型試片的作用是A.校驗黑光強度??B.校驗綜合性能??C.測量剩磁??D.測量矯頑力答案:B20.射線底片黑度用A.照度計??B.黑度計??C.劑量筆??D.輻照計答案:B21.滲透檢測中,顯像時間一般控制在A.1~5min??B.7~30min??C.30~60min??D.越長越好答案:B22.超聲直探頭近場長度與A.頻率成反比??B.晶片直徑平方成正比??C.聲速成反比??D.密度成正比答案:B23.射線實時成像的圖像延遲稱為A.滯后??B.拖影??C.抖動??D.噪聲答案:A24.磁粉檢測中,若磁懸液濃度過高,會導(dǎo)致A.背景干凈??B.缺陷顯示清晰??C.背景過度掩蓋缺陷??D.檢測速度加快答案:C25.超聲檢測時,若缺陷回波在二次界面波之后出現(xiàn),則該缺陷位于A.表面??B.近表面??C.中部??D.底面附近答案:D26.射線管電壓升高,主因是A.增大管電流??B.提高射線能量??C.延長曝光時間??D.降低散射線答案:B27.滲透檢測中,親水性乳化劑可用水直接清洗,其HLB值范圍一般為A.1~3??B.3~6??C.8~18??D.20~30答案:C28.磁粉檢測中,交流電磁化對A.近表面缺陷靈敏??B.表面缺陷靈敏??C.內(nèi)部缺陷靈敏??D.厚大工件靈敏答案:B29.超聲檢測時,若儀器重復(fù)頻率過高,可能出現(xiàn)A.幻影回波??B.草狀回波??C.遲到回波??D.底波降低答案:A30.射線底片評定室觀片燈亮度一般不低于A.100cd/m2??B.1000cd/m2??C.3000cd/m2??D.10000cd/m2答案:D二、判斷題(每題1分,共20分)31.超聲檢測中,頻率越高,衰減越小。??答案:×32.射線能量越高,膠片對比度越高。??答案:×33.滲透檢測可檢出開口到表面的疲勞裂紋。??答案:√34.磁粉檢測可檢出奧氏體不銹鋼的裂紋。??答案:×35.射線底片黑度越大,缺陷對比度一定越高。??答案:×36.超聲直探頭可準(zhǔn)確測定缺陷自身高度。??答案:×37.顯像劑顆粒越細(xì),缺陷顯示越清晰。??答案:√38.射線實時成像不需曝光時間控制。??答案:×39.磁粉檢測中,反向磁場可降低剩磁。??答案:√40.滲透檢測后,工件可立即進行噴漆。??答案:×41.超聲檢測中,K值探頭即折射角正切值。??答案:√42.射線管焦點越小,幾何放大倍數(shù)可越大。??答案:√43.磁粉檢測中,熒光磁粉需配合黑光使用。??答案:√44.超聲檢測時,底波消失即說明存在大面積缺陷。??答案:√45.射線底片評定時,環(huán)境光照度越低越好。??答案:√46.滲透檢測中,顯像時間越短,靈敏度越高。??答案:×47.磁粉檢測后,需進行退磁處理。??答案:√48.超聲檢測中,縱波聲速大于橫波聲速。??答案:√49.射線能量越高,膠片顆粒度越明顯。??答案:√50.滲透檢測不能檢出多孔性材料缺陷。??答案:√三、填空題(每空1分,共20分)51.超聲檢測中,聲波在鋼/水界面聲壓反射系數(shù)約為________。答案:0.9452.射線照相中,曝光量定義為管電流與________的乘積。答案:曝光時間53.滲透檢測的基本步驟是:預(yù)清洗→________→清洗→顯像→觀察。答案:滲透54.磁粉檢測時,常用________試片校驗系統(tǒng)靈敏度。答案:A型55.射線實時成像系統(tǒng)動態(tài)范圍一般不小于________bit。答案:1256.超聲檢測中,若缺陷回波幅度為滿屏80%,則衰減器讀數(shù)應(yīng)調(diào)________dB至滿屏100%。答案:?257.滲透檢測中,黑光波長范圍為________nm。答案:315~40058.磁粉檢測中,交流電磁化電流有效值一般按________計算。答案:I=(3.2~4.5)D59.射線底片黑度差ΔD與缺陷厚度差ΔT的關(guān)系式為________。答案:ΔD=?0.434μGΔT60.超聲檢測時,若探頭延遲塊高度為10mm,聲波在延遲塊中往返時間為________μs。答案:3.461.滲透檢測中,親油性乳化劑可用________法去除。答案:乳化后水噴62.射線防護中,半價層HVL與線性衰減系數(shù)μ的關(guān)系為________。答案:HVL=0.693/μ63.磁粉檢測中,周向磁化電流按________計算。答案:I=25D64.超聲檢測中,若頻率為5MHz,晶片直徑為20mm,鋼中縱波近場長度約為________mm。答案:8465.射線底片顆粒度與________速度有關(guān)。答案:膠片66.滲透檢測中,顯像劑與滲透劑應(yīng)________相容。答案:化學(xué)67.磁粉檢測后,剩磁應(yīng)不大于________mT。答案:0.368.超聲檢測中,橫波探頭標(biāo)識“5P8×12K2”中“5”表示________。答案:頻率5MHz69.射線實時成像系統(tǒng)圖像延遲不大于________ms。答案:10070.滲透檢測中,熒光亮度單位是________。答案:cd/m2四、簡答題(每題6分,共30分)71.簡述射線照相中,影響圖像對比度的三大因素并給出改善措施。答案:1.膠片對比度:選用高梯度膠片,控制黑度2.0~3.5;2.散射:采用鉛箔增感屏、光闌、背襯鉛板;3.幾何因素:減小焦點—工件距離,增大工件—膠片距離,選擇小焦點管頭。72.超聲檢測時,如何利用底波高度法測定大面積分層缺陷的范圍?答案:1.選用直探頭,校準(zhǔn)聲程;2.掃描工件,記錄底波高度下降50%以上的區(qū)域;3.用6dB法圈定邊界,標(biāo)記缺陷范圍;4.對邊界復(fù)測,確保精度±2mm;5.出具掃查圖及缺陷坐標(biāo)。73.滲透檢測出現(xiàn)“虛假顯示”的常見原因及排除方法。答案:原因:1.清洗不足殘留滲透液;2.顯像劑過厚;3.工件表面銹蝕、劃痕;4.手印、油污。排除:1.重新預(yù)清洗,采用溶劑或超聲波;2.顯像劑薄而均勻;3.打磨或酸洗去除氧化皮;4.戴清潔手套操作。74.磁粉檢測中,如何正確選擇磁化方法以確保檢出不同方向缺陷?答案:1.縱向缺陷:采用周向磁化(直接通電或中心導(dǎo)體);2.橫向缺陷:采用縱向磁化(線圈或磁軛);3.任意方向:采用復(fù)合磁化(交叉磁軛或旋轉(zhuǎn)磁場);4.大型工件:分段磁化,每段重疊25mm;5.用A型試片驗證,靈敏度達到中級以上。75.射線實時成像系統(tǒng)日常校驗項目及合格標(biāo)準(zhǔn)。答案:1.空間分辨力:雙線型像質(zhì)計最細(xì)可識別線對≥圖像系統(tǒng)指標(biāo)90%;2.對比度靈敏度:階梯孔型像質(zhì)計最淺階梯可見;3.圖像延遲:≤100ms;4.灰度等級:≥256級;5.幾何精度:標(biāo)尺誤差≤2%。五、綜合計算題(每題10分,共20分)76.用Ir192射線源透照20mm厚鋼焊縫,已知:源活度20Ci,焦距600mm,曝光系數(shù)K=0.8,求獲得黑度2.5所需曝光時間。解:曝光量E=K·T·F2=0.8×20×(0.6)2=5.76Ci·min;查Ir192曝光曲線,20mm鋼黑度2.5對應(yīng)曝光量5.76Ci·min;故t=E/A=5.76/20=0.288min=17.3s。答案:17.3s7

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