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CCSA.29...

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T6462—2025

代替GB/T6462—2005

金屬和氧化物覆蓋層厚度測(cè)量

顯微鏡法

Metallicandoxidecoatings—Measurementofcoatingthinckness—

Microscopicalmethod

ISO14632021MOD

(:,)

2025-10-31發(fā)布2026-05-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T6462—2025

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………1

原理

4………………………1

影響測(cè)量不確定度的因素

5………………1

表面粗糙度

5.1…………………………1

橫截面的斜度

5.2………………………1

覆蓋層的變形

5.3………………………2

覆蓋層邊緣倒角

5.4……………………2

附加鍍層

5.5……………2

浸蝕

5.6…………………2

遮蓋

5.7…………………2

放大倍數(shù)

5.8……………2

測(cè)微尺的校準(zhǔn)

5.9………………………2

顯微鏡長(zhǎng)度測(cè)量設(shè)備的校準(zhǔn)

5.10………………………2

放大倍數(shù)的一致性

5.11…………………3

透鏡的質(zhì)量

5.12…………………………3

測(cè)量線的方位

5.13………………………3

鏡筒的長(zhǎng)度

5.14…………………………3

橫截面的制備

6……………3

試驗(yàn)步驟

7…………………4

測(cè)量不確定度

8……………4

試驗(yàn)報(bào)告

9…………………4

附錄資料性關(guān)于橫截面制備和測(cè)量的指南

A()………5

概述

A.1…………………5

鑲嵌

A.2…………………5

研磨和拋光

A.3…………………………6

浸蝕

A.4…………………6

其他先進(jìn)制樣方法

A.5…………………6

測(cè)量

A.6…………………6

附錄資料性橫截面的斜度和齒狀結(jié)構(gòu)覆蓋層的測(cè)量

B()……………8

橫截面的斜度

B.1………………………8

Ⅰ

GB/T6462—2025

齒狀結(jié)構(gòu)覆蓋層的測(cè)量

B.2……………8

通過使用光學(xué)顯微鏡獲得的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)偏差的經(jīng)驗(yàn)值σ

B.3…………9

附錄資料性室溫下使用的一些典型浸蝕劑

C()………11

參考文獻(xiàn)

……………………12

Ⅱ

GB/T6462—2025

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件代替金屬和氧化物覆蓋層厚度測(cè)量顯微鏡法與

GB/T6462—2005《》。GB/T6462—

相比除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動(dòng)外主要技術(shù)變化如下

2005,,:

增加了顯微鏡長(zhǎng)度測(cè)量設(shè)備的校準(zhǔn)見

———(5.10)。

本文件修改采用金屬和氧化物覆蓋層厚度測(cè)量顯微鏡法

ISO1463:2021《》。

本文件與的技術(shù)差異及其原因如下

ISO1463:2021:

增加了顯微鏡長(zhǎng)度測(cè)量設(shè)備校準(zhǔn)頻率的要求見以增加可操作性

———(5.10.3),。

本文件做了下列編輯性改動(dòng)

:

刪除了第章術(shù)語(yǔ)數(shù)據(jù)庫(kù)網(wǎng)址

———3IEC、ISO;

更改了局部厚度的來源見

———“”(3.1);

增加了ddddd和d的標(biāo)引序號(hào)和符號(hào)說明見附錄

———“1,2,3,4,5,6,1,2,3,4,56”(B);

更改了關(guān)于橫截面制備和測(cè)量的指南見附錄

———(A);

刪除了附錄中存在危險(xiǎn)的浸蝕劑見附錄

———C6(C)。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任

。。

本文件由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出

。

本文件由全國(guó)金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC57)。

本文件起草單位中國(guó)機(jī)械總院集團(tuán)武漢材料保護(hù)研究所有限公司東方電氣集團(tuán)東方汽輪機(jī)有限

:、

公司湖南常德納菲爾新材料科技有限公司北京科技大學(xué)深圳市晉銘航空技術(shù)股份有限公司美的集

、、、、

團(tuán)股份有限公司東營(yíng)市工業(yè)產(chǎn)品檢驗(yàn)與計(jì)量檢定中心中電建武漢鐵塔有限公司南京市鍋爐壓力容

、、、

器檢驗(yàn)研究院

。

本文件主要起草人陳亞平鞏秀芳雷同鑫韋雨齊王偉連勇羅東文楊明易娟王立瑩張志濤

:、、、、、、、、、、、

張長(zhǎng)科汪英薛俊鵬徐斐劉英坤

、、、、。

本文件于年首次發(fā)布年第一次修訂本次為第二次修訂

1986,2005,。

Ⅲ

GB/T6462—2025

金屬和氧化物覆蓋層厚度測(cè)量

顯微鏡法

警告應(yīng)用本文件可能涉及危險(xiǎn)的材料操作和裝置的使用本文件沒有提出使用過程中的所有健

:、。

康危害和安全問題在應(yīng)用本文件前使用者有責(zé)任根據(jù)國(guó)家或當(dāng)?shù)氐囊?guī)定制定合適的健康和安全條

。,

例并采取相應(yīng)的措施

,。

1范圍

本文件描述了運(yùn)用光學(xué)顯微鏡檢測(cè)橫截面以測(cè)量金屬覆蓋層氧化膜層和瓷釉或玻璃搪瓷覆蓋層

,、

的局部厚度的方法

。

本文件適用于金屬和氧化物覆蓋層厚度的測(cè)量

。

2規(guī)范性引用文件

本文件沒有規(guī)范性引用文件

。

3術(shù)語(yǔ)和定義

下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

。

31

.

局部厚度localthickness

在參比面內(nèi)進(jìn)行規(guī)定次數(shù)厚度測(cè)量的平均值

。

來源

[:GB/T12334—2001,3.4]

4原理