ICS19.100CCSF24團 體 標 準T/JSREA9005—2025真空斷路器滅弧室真空度的測定太赫茲時域光譜法Determinationofvacuumdegreeofvacuumcircuitbreakerarcchamber—Terahertztime-domainspectroscopy2025-12-22發(fā)布 2026-01-22實施江蘇省可再生能源行業(yè)協(xié)會??發(fā)布T/JSREA9005T/JSREA9005—2025PAGE\*ROMANPAGE\*ROMANII目 次前言 II范圍 1規(guī)范性引用文件 1術語和定義 1測試原理 1試驗條件 2試驗方法 3測試報告 3附錄A（資料性） 真空斷路器滅弧室太赫茲信號示例 5附錄B（規(guī)范性） 數(shù)據(jù)庫建立 6附錄C（規(guī)范性） 真空度模型建立 7參考文獻 8前 言本文件按照GB/T1.1—2020《標準化工作導則 第1部分：標準化文件的結構和起草規(guī)則》的規(guī)起草。請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構不承擔識別專利的責任。本文件由江蘇省可再生能源行業(yè)協(xié)會提出并歸口。（南京市質量發(fā)展與先進技術應用研究院本文件主要起草人：謝佩章、楊德維、張潮海、孫肖林、胡鑒清、楊杰、趙衍、張恩澤、霍洪強、劉盛麗、李凱琪、徐玉玲、孫詩琪、許竹萱、楊玉鵬、武子含。T/JSREA9005T/JSREA9005—2025PAGEPAGE1真空斷路器滅弧室真空度的測定太赫茲時域光譜法范圍本文件適用于真空斷路器滅弧室真空度的測定。規(guī)范性引用文件（包括所有的修改單適用于本文件。JJF1603 (0.1～2.5)THz太赫茲光譜儀校準規(guī)范術語和定義下列術語和定義適用于本文件。真空滅弧室 vacuuminterrupter一種開合原件，其中的高壓電氣觸頭在高真空中、氣密密封的環(huán)境中動作。[來源：DL/T593—2016，3.4.1]太赫茲波 terahertzwaves頻率在0.1THz～10THz之間，波長為0.03mm～3mm的電磁波。[來源：GB/T46149—2025，3.2]太赫茲反射法 terahertzwavesreflectionmethod通過樣品反射的太赫茲光譜特性實現(xiàn)樣品檢測的方法。[來源：GB/T46149—2025，3.4]測試原理太赫茲檢測方法是利用太赫茲波的反射性對真空斷路器滅弧室真空度進行測定的方法。太赫茲時域光譜法圖1 太赫茲時域光譜法工作原理示意圖滅弧室真空度測試原理圖2為太赫茲波脈沖在滅弧室傳播示意圖。附錄A給出了典型的真空斷路器滅弧室太赫茲光譜信號示例。說明：EEEEEEnEEE；注：信號強度隨著反射次數(shù)的增加逐漸衰減，文本件只考慮顯著可被觀測到E3。EE。圖2 太赫茲波脈沖在滅弧室傳播示意圖試驗條件太赫茲光譜儀太赫茲光譜儀應滿足以下要求：光譜范圍至少包含（0.1～3）THz；0.5mm；30μm；8.4GHz。數(shù)據(jù)的處理、存儲處理軟件應具有信號采集、分析和記錄功能。處理軟件應具有數(shù)據(jù)、波形的顯示功能。存儲的數(shù)據(jù)可通過數(shù)據(jù)處理軟件進行回看及分析。檢測環(huán)境環(huán)境溫度、濕度應符合儀器制造商的相關要求。儀器的檢查、維護和校準儀器應定期檢查、維護和校準，儀器的校準按照JJF1603的相關要求執(zhí)行。試驗方法太赫茲波入射角度采用正入射太赫茲鏡頭作為探測鏡頭，太赫茲波垂直入射。真空度分級表1 真空等級及氣壓范圍真空等級氣壓范圍，Pa粗真空1.0×105～9.9×102低真空1.0×102～6.6×10-2高真空6.6×10-2～9.9×10-5超高真空1.0×10-5～9.9×10-10極高真空＜1.0×10-10建立數(shù)據(jù)庫應按照附錄B建立數(shù)據(jù)庫。建立真空度模型應按照附錄C的方法建立真空度模型M。特征值獲取EEEE與EE真空度計算將檢測得到的特征值，代入6.4條得到的真空度模型中進行計算，得到真空度等級。測試結果準確度連續(xù)2次得到的真空度的等級應保持一致。測試報告測試報告至少應給出以下內(nèi)容：——測試方法；——環(huán)境溫度、濕度；——樣品的名稱、規(guī)格、型號、材質、編號；——設備名稱、型號；——使用的標準編號；——被測樣品的折射率；——檢測人員、審核人員、檢測時間；——檢測中間過程數(shù)據(jù)及結果。附 錄 A（資料性）真空斷路器滅弧室太赫茲信號示例圖A.1給出了以陶瓷、玻璃材質外殼，外殼厚度均為1mm的兩種真空斷路器滅弧室太赫茲光譜信號。圖A.1 太赫茲光譜信號樣品要求標準樣品制備應符合以下要求：外殼材質應與被測品保持一致；

附 錄 B（規(guī)范性）數(shù)據(jù)庫建立1mm5mm、15mm、20mm、25mm、30mm52mm5mm、15mm、20mm、25mm、30mm53mm5mm、15mm、20mm、25mm、30mm54mm5mm、15mm、20mm、25mm、30mm5真空度要求1規(guī)定的氣壓范圍進行5信號預處理特征值獲取EEE與EE外殼材料的折射率按T/JSREA·9004—2025中6.2條的規(guī)定進行。輸出特征值為真空度等級。特征數(shù)據(jù)庫的建立20附 錄 C（規(guī)范性）式中：

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