1、美國瓦里安公司 Varian Inc.,瓦里安公司新一代ICP介紹,Vista - the new CCD Simultaneous ICP from Varian,Varian 的ICP “家族”Liberty 和 Vista,Liberty Series II - 世界上最好的單道掃描式 ICP-AES,Vista - 世界上速度最快的全譜直讀式ICP-AES,What is a Plasma?,A plasma is a stream of highly ionized gas containing an equal number of electrons and positive io

2、ns A plasma is electrically conductive A plasma is affected by a magnetic field,Quantitation in Atomic Emission,Concentration proportional to intensity emitted at the analyte wavelength.,Concentration,Emission,0,1,Standard,Blank,sample emission,sample concentration,Axial Channel ZonesVisual Determin

3、ation,Yttrium Test Aspirate 1000 mg/L Y solution,Blue Ionic,Red Atomic,ICP 技術(shù)特點(diǎn),背景低 對(duì)70 多個(gè)元素有較低的檢出限 為多元素分析技術(shù) 極高的分析效率 很寬的線性范圍 可分析溶液中的主量, 微量 和痕量元素 干擾少 主要為光譜干擾 操作簡單,ICP 儀器組成,RF 發(fā)生器,計(jì)算機(jī),打印機(jī),炬管系統(tǒng),光學(xué)系統(tǒng),檢測器,進(jìn)樣泵,發(fā) 射 光 譜 的 發(fā) 展,全譜直讀 固體檢測器(CCD) 單道掃描 PMT 多道 PMT 攝譜儀 感光板,ICP-OES Basic Concepts多道光譜儀,ICP-OES Basic

4、Concepts單道掃描光譜儀,多道 ICP 和單道掃描 ICP 的優(yōu)缺點(diǎn),多道ICP單道掃描ICP 優(yōu)點(diǎn):速度快靈活 效率高易于建立方法 缺點(diǎn):死板速度慢, 消耗成本高 扣背景不準(zhǔn)確精度較差 共同缺點(diǎn): 背景和信號(hào)不能同時(shí)測定, 存在時(shí)間誤差 扣背景速度慢,Echelle optics,88o,19o,ICP-AES市場概況,Varian所占市場份額(現(xiàn)狀),ICP-AES市場概況,Varian所占市場份額(預(yù)期),Vista CCD 全譜直讀 ICP設(shè)計(jì)理念（一）,設(shè)計(jì)制造盡可能好的最先進(jìn)的全譜直讀式ICP 優(yōu)異的性能 強(qiáng)大的靈活性 快速、節(jié)省消耗成本 易于使用 能夠分析廣泛的樣品 能夠擴(kuò)

5、展到雙向觀察的動(dòng)態(tài)范圍 高技術(shù)水平,Vista CCD 全譜直讀 ICP設(shè)計(jì)理念（二）,什么是儀器的先進(jìn)性? 能夠集以往儀器的優(yōu)點(diǎn)于一身, 同時(shí)又能克服其各自缺點(diǎn)的儀器. 怎樣實(shí)現(xiàn)? 采用更新、更先進(jìn)的技術(shù),Vista CCD 全譜直讀 ICP設(shè)計(jì)理念（三）：技術(shù)分析,當(dāng)前市場狀況：有兩種全譜直讀式ICP 分段式CCD，可同時(shí)測UV、VIS，但波長不連續(xù)，覆蓋6譜線，SCD飽和溢出。 CID 作檢測器，波長基本連續(xù)，但UV、VIS不能同時(shí)，CID 分析性能差, 需UV轉(zhuǎn)換膜,壽命問題。 均不能徹底實(shí)現(xiàn)全譜直讀，速度不夠快。 垂直、水平、雙向：均不能同時(shí)具備兩者優(yōu)點(diǎn) 檢測器：PMT，CID，CC

6、D？ CCD：分析性能優(yōu)于光電倍增管。 CID：分析性能不如光電倍增管，需要有機(jī)涂膜。,Instrumentation for Optical Emission Spectroscopy,Table 3.11 A. Comparison Between the Minimum Detectable Signals of PDA, ISPDA, CID, PMT, and CCD Minimum detectable signal(S/N=2), photon/S/detector element aquisition PDA ISPDA CID PMT CCD _ time(s) UV VIS

7、 UV VIS UV VIS UV VIS UV VIS 10 671 363 32 53 41 32 6.3 26 3.1 1.7 100 112 62 10 17 4.2 3.3 1.8 7.3 0.3 0.2 Table 3.11B Parameters Used in Caculating the Minimum Detactable Signal Parameter PDA ISPDA CID PMT CCD QE at 600nm73% 6% 37% 5% 84% QE at 300nm40% 10% 19% 21% 50% Dark count rate36000 4000 0.

8、008 3 0.001,Vista Measured Quantum Efficiency,CCD 器件在光學(xué)儀器中的應(yīng)用,孫 長 明 上海光學(xué)儀器研究所 摘要近年來CCD應(yīng)用技術(shù)的發(fā)展尤為引人注目，CCD器件已顯示了突出的功效，在光學(xué)儀器領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用。本文介紹應(yīng)用CCD器件開發(fā)光學(xué)儀器所取得的進(jìn)展。 CCD的特點(diǎn)： 一、靈敏度高，噪聲低，靈敏度超過光電倍增管 二、光譜范圍寬 三、動(dòng)態(tài)響應(yīng)范圍寬，達(dá)10個(gè)數(shù)量級(jí) 四、幾何性能很穩(wěn)定，耐過度曝光，比PMT結(jié)實(shí)耐用 五、可以多道采樣，得到波長強(qiáng)度時(shí)間的三維譜圖 六、在近幾年內(nèi)，CCD會(huì)成為各種光譜儀器的檢測器，從而取代光電倍增管。 光學(xué)儀器

9、，1993年第一期,Varian的Liberty Series II是全球銷售最好的單道掃描式ICP之一（約占市場的40，共1000臺(tái)） 歷經(jīng)4年的潛心研究，公司本部成立專門的項(xiàng)目組與工廠聯(lián)合開發(fā) Vista的設(shè)計(jì)目標(biāo)：以世界上最好的全譜直讀式ICP走入市場 采用了新一代的CCD芯片 主要措施： 以CCD 的速度和性能實(shí)現(xiàn)全波長覆蓋 以成熟的 Liberty 射頻技術(shù)和進(jìn)樣技術(shù)保證儀器的可靠性,Vista CCD 全譜直讀 ICP推出背景,Vista CCD 全譜直讀 ICP主要特色,VistaChip CCD以70,000個(gè)感光元保證全波長范圍覆蓋(167nm-785nm),具有強(qiáng)大的靈活性

10、和良好的動(dòng)態(tài)范圍 第一臺(tái)真正意義上的全譜直讀式ICP 快速：35 秒檢測 73 種元素！ 高效的射頻系統(tǒng)保證難以測量的樣品得以檢測 冷錐接口技術(shù)將水平、垂直式的優(yōu)點(diǎn)集于一身 優(yōu)異的分析性能：檢出限、精度、分辨率、穩(wěn)定性 全面節(jié)省成本 易學(xué)易用、功能強(qiáng)大的軟件系統(tǒng),Vista 的設(shè)計(jì)理念（二）,儀器性能 實(shí)現(xiàn)CID的波長選擇靈活性 達(dá)到SCD的檢出限 分辨率優(yōu)于0.01nm 實(shí)現(xiàn)優(yōu)于光電倍增管的檢測效率,Varian的專利設(shè)計(jì) 70,000個(gè)感光元以連續(xù)傾角陣列排列 波長連續(xù)測定 圖象匹配技術(shù) (I-MAP) 電信號(hào)處理速度提高40倍 1 MHz的感光元處理速度 高保真的信號(hào)再現(xiàn)性,CCD檢測器

11、 VistaChip,改進(jìn)的檢出限和靈敏度,Vista的突出特色之一 VistaChip CCD 檢測器,特別定做的、ICP專用的專利CCD檢測器 70,000個(gè)感光元保證全波長覆蓋 各感光元精確地與二維中階梯光柵圖象相匹配 (I-MAP技術(shù)) 復(fù)式讀出電路節(jié)省一半的讀數(shù)時(shí)間 電信號(hào)處理速度提高40倍 1 MHz的感光元處理速度 半導(dǎo)體冷卻保持檢測器部分-35oC恒溫以降低噪聲 電子信號(hào)處理在CCD芯片外進(jìn)行以保證高量子化效率,CCD檢測器工作原理（1）,70,000個(gè)感光元以連續(xù)傾角排列 3 級(jí)高速寄存器 A - 集光 B - 臨時(shí)儲(chǔ)存 C - 快速讀出,CCD檢測器工作原理（2）,中階梯光

12、柵多色儀的焦面落在檢測器的感光元（A寄存器）上 光敏寄存器A把光信號(hào)轉(zhuǎn)化為電信號(hào),每個(gè)感光元上都有溢流保護(hù)以防信號(hào)過載,Vista - Anti-blooming 防止過飽和溢出,0.5 mg/L Pb in 5000 mg/L Al,Vista譜圖三維圖象,CCD檢測器工作原理（3）,經(jīng)一段時(shí)間的累積，電子從寄存器A轉(zhuǎn)移到臨時(shí)寄存器B,A,B,CCD檢測器工作原理（4）,然后電子又從寄存器B轉(zhuǎn)移到讀出寄存器C，并以1MHz的頻率順序讀出,35秒檢測73種元素,包括25秒的進(jìn)樣時(shí)間！ 1MHz的感光元讀出速度 從芯片兩側(cè)讀取數(shù)據(jù)的復(fù)式電路,光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖,CCD檢測器,光柵,棱鏡,光柵和棱鏡的

13、二維分光,19o,Vista 完美的光學(xué)系統(tǒng),集成化、臺(tái)式的中階梯光柵光譜儀 35oC恒溫保證了光路的穩(wěn)定性 采用 94.7線/mm的中階梯光柵的1988級(jí)衍射光 CaF2 晶體棱鏡做交叉色散 Ar或N2 吹掃提供優(yōu)異的190nm以下波長的檢測 計(jì)算機(jī)控制的前置光路用于優(yōu)化等離子體的視場,Vista無與倫比的40MHz射頻系統(tǒng),集成化的內(nèi)置40MHz自激式射頻系統(tǒng) 采用空氣冷卻且無移動(dòng)部件保證了系統(tǒng)的高可靠性 DISC - 直接耦合系統(tǒng) 無二級(jí)匹配網(wǎng)絡(luò) 80%的耦合效率 出色的MgII/MgI比率 功率輸出穩(wěn)定性0.1 % 完美的有機(jī)溶劑和高鹽含量溶液的檢測特性,DISC - Direct S

14、erial Coupling System,Direct coupling - 75 to 85 % efficient Conventional RF supply 50 -60 % efficient Auto-tune provides high stability for organics Water cooled power tube improves plasma stability,等離子體的強(qiáng)度,0.8,0.9,1,1.1,1.2,1.3,1.4,1.5,Mg Ratio,0.00,2.00,4.00,6.00,8.00,10.00,12.00,14.00,Ratio,Powe

15、r (kW),Vista的等離子體強(qiáng)度的測試結(jié)果,以Mg (II)280.270nm對(duì)Mg (I)285.213nm的強(qiáng)度比表征，Mg (II)/Mg(I)10表明是高強(qiáng)度的等離子體,Vista獨(dú)特的軸向觀察技術(shù)等離子體的結(jié)構(gòu)示意圖,Vista CCD ICP-AES Axial 軸向冷錐接口技術(shù),怎樣使水平方式在改善檢出限的同時(shí)，又得到垂直式的抗基體干擾能力？ 獨(dú)特的冷錐接口專利技術(shù),軸向等離子體冷錐接口的橫截面圖 顯示“低溫尾焰”已從光路中完全消除,軸向尾焰消除技術(shù),Varian 特有的冷錐接口技術(shù)CCI,橫向“ 吹尾 ”,使用剪切氣對(duì)等離子體低溫尾焰進(jìn)行橫向吹掃時(shí)， “低溫尾焰”干擾不可

16、能被完全排除（圖中紅色部分），并有噪聲,橫向“ 吹尾 ” 實(shí)物照片,Extraction snout,Cool zone,其他抽氣方式,Vista優(yōu)越的軸向檢測,高強(qiáng)度的等離子體可容許高含量的固體溶解 冷錐接口技術(shù)克服了剪切氣的離子化干擾 無需雙向檢測系統(tǒng) 全波長選擇擴(kuò)展了動(dòng)態(tài)范圍 無需如雙向觀測系統(tǒng)那樣兩次對(duì)樣品進(jìn)行分析,紫外短波段檢測的優(yōu)化設(shè)計(jì),體積極小的中階梯光柵多色儀 0.7 L/min的常規(guī)吹掃 對(duì)190nm以下波段采用3.0 L/min的加壓吹掃 不用時(shí)加壓吹掃處于關(guān)閉狀態(tài) 使用氮?dú)饣驓鍤?對(duì)178nm只需30分鐘的吹掃 對(duì) S (180.652, 181.960, 182.542

17、 nm) 對(duì) P (178.192 nm),ICP的運(yùn)轉(zhuǎn)費(fèi)用,與直接用戶密切相關(guān)的要因！ 儀器運(yùn)轉(zhuǎn)費(fèi)用主要包括： 氣：使用氣體的種類、純度和用量 電：一個(gè)不容忽視的因素 水：我國目前嚴(yán)重缺水！ 維護(hù)：盡量避免光路和電路的污染 維修： 故障分析及時(shí)準(zhǔn)確 零部件的價(jià)格和持續(xù)性,Vista大幅度降低了運(yùn)轉(zhuǎn)費(fèi)用,預(yù)熱時(shí)間短（30分鐘），快速啟動(dòng) 快速分析縮短了分析時(shí)間，極大降低了分析成本 冷錐接口的軸向設(shè)計(jì)避免了大量剪切氣的使用 高效的吹掃系統(tǒng)僅須0.7或3.7 L/min的氣體流量 高效的射頻系統(tǒng)消耗較少的氬氣和電能 優(yōu)良的恒溫系統(tǒng)大大縮短了運(yùn)行時(shí)間 無移動(dòng)部件的射頻系統(tǒng)和光學(xué)系統(tǒng)降低了維修費(fèi)用,方

18、便快捷的遠(yuǎn)程診斷功能,遠(yuǎn)程診斷 - Modem連接使遠(yuǎn)端的Varian技術(shù)服務(wù)部門和應(yīng)用支持部門能夠?qū)x器實(shí)現(xiàn)完全控制 有效地降低了維護(hù)/維修費(fèi)用，并減少了停機(jī)時(shí)間,Vista 功能強(qiáng)大的高智能化軟件,Familiar Spreadsheet concept same look as Plasma 96 Easy to use Windows 95，98 & NT 4 compatible Improved user interface operations cut and paste, copy and paste Inter-element corrections FACT Fitted

19、background correction,Ease of Use,在線譜圖庫表示-圖形,VISTA - QCP,Vista 高智能分析軟件,Adaptive Integration automatically sets integration time to intensity FACT Spectral deconvolution Programmable QCP enhanced error actions eg recalibrate & repeat Automax Fast auto-optimization wizard Sequence Wizard Quickly set u

20、p complex sequences,Vista Automax 自動(dòng)最佳化分析條件,Uses 3 different criteria Signal to Background Ratio (SBR), Intensity, Signal to Root Background ratio (SRBR). Optimize all or sub-set of Improves weak Iteratively optimize for non-compromised conditions Optimizes major instrument parameters RF power, view

21、ing height & nebulizer flow,Why Optimize?,Power = 1.2kW Nebulizer flow = 1.00L/min Viewing height = 10mm,Power = 1.5kW Nebulizer flow = 1.70L/min Viewing height = 5mm,Automax 自動(dòng)最佳化,Vista - 自動(dòng)最佳化,Ease of Use .,儀器工作條件自動(dòng)最佳化,Vista 自動(dòng)調(diào)適積分時(shí)間,Instrument measures sample for 0.1 second Sets read time for eac

22、h according to intensity If read time is appropriate continues to measure until replicate read time If too short read time increased If too long integration time decreased and data from first read is not accepted Intensity display is normalised,Vista Adaptive Integration,To set acquisition time only

23、 need to set replicate read time number of replicates If replicate read time = 10 sec Very intense 100 x 0.1 sec strong might read 10 x 1 sec weak read 1 x 10 sec,Vista Adaptive Integration,Advantages of adaptive Integration statistics for weak improved by long integration time For intense large num

24、ber of readings averaged to improve results Unlike Optima, VistaChip is able to handle different integration times for different simultaneously Works in the presence of very intense lines because of blooming protection between pixels,Vista MultiCal Extends Linear Dynamic Range,Extends linear dynamic

25、 range by calibration with lines of different sensitivity - ppb to % Easy to use simply specify valid concentration range for each line Improved productivity c.f. dual view as no need to re-run samples Reduces sample consumption May overlap for concentration ranges for improved confidence,Vista - Mu

26、ltiCal 擴(kuò)展工作範(fàn)圍 Ca from 20 ug/L - 4000 mg/L,393.366 nm - 0-2 ug/L 422.673 nm - 0-20ug/L 430.253 nm - 0-4000 ug/L,Vista MultiCal Extended Range,Mg 279.553 valid between 0 - 20 ppm Mg 285.213 valid between 20 - 40 ppm,Vista - Retrospective Editing,Edit Replicate results Weight and volume Calibration par

27、ameters Background correction type Background correction position,Vista強(qiáng)大的軟件功能 FACT 譜圖解析軟件,Fast Automated Curve -fitting Technique 快速自動(dòng)匹配曲線擬合技術(shù) 使用一系列的高斯曲線對(duì)分析元素的譜線和干擾元素的譜線進(jìn)行精確模擬 該模擬可以精確地校正極?。?/10感光元）的波長漂移 干擾校正不影響分析速度,FAST!,FACT 譜圖解析軟件的設(shè)計(jì)原理,使用FACT軟件的解析結(jié)果,Resolved spectra using FACT,Vista - FACT,Cd 214

28、.438 nm interfered by Fe 214.443,實(shí)際性能測試,Vista全譜直讀式ICP-AES,檢出限ICP最基本的性能指標(biāo)之一,所有檢出限數(shù)據(jù)的測定基于以下條件: 采用軸向觀察 測定10秒鐘的積分時(shí)間內(nèi)的檢出限 測定3噪聲 對(duì)185nm以下的波段采用3 L/min的氬氣對(duì)光路系統(tǒng)加壓吹掃 沒有采用內(nèi)標(biāo)法 沒有進(jìn)行背景校正,實(shí)際測得的檢出限,實(shí)際測得的檢出限,元素,與其他品牌儀器的檢出限對(duì)比(ppb),Vista Analytical performance,Vista Measured Resolution,實(shí)測的分辨率,元素 波 長 分辨率 (nm) (pm) As 1

29、88.979 7.5 Mo 202.030 7.6 Zn 213.856 8.4 Pb 220.353 8.6 Cr 267.716 10 Cu 327.396 13 Ba 614.172 38,Vista - 分辨率,P 213.618 vs Cu 213.598 nm (0.020 nm difference),4小時(shí)的穩(wěn)定性實(shí)驗(yàn)結(jié)果,4小時(shí)的穩(wěn)定性優(yōu)于1,0,5000,10000,15000,20000,25000,30000,0,15,30,45,60,75,90,105,120,135,150,165,180,195,210,225,240,時(shí)間 (min),凈 光 強(qiáng),Al 396

30、.152,As 188.979,Ba 493.409,Cd 214.438,Cu 327.396,K 766.49,Mn 257.61,Pb 220.353,Se 196.026,Zn 213.856,Cu 324.754,雜散光水平測試,一項(xiàng)重要的光學(xué)質(zhì)量測試 樣品：10,000 ppm Ca溶液 測量As 193.696 nm波長處的信號(hào) 該信號(hào)與基準(zhǔn)線的偏差表明雜散光的水平 Vista的雜散光水平 2 ppm As當(dāng)量,穩(wěn)定時(shí)間測試,35 minutes,應(yīng) 用 實(shí) 例,Vista 全譜直讀式 ICP-AES,水和土壤樣品的分析,水中成分的分析Recoveries of NIST SRM

31、 1643 c,ElementMeasuredCertified nmug/Lug/L Ag328.0682.262.21+0.3 As188.97983.582.1+1.2 Ba233.52746.649.6+3.1 Be265.04523.123.1+2.2 Cd226.50212.112.2+1 Co228.61621.523.5+0.8 Cr205.55217.419+0.6 Cu324.75416.222.3+2.8 Mn257.61035.735.1+2.2 Mo202.030100104.3+1 Ni231.60458.060.6+7.3 Pb220.35332.735.3+0.

32、9 Tl190.7906.07.9 V292.40228.131.4+2.8,飲用水中金屬元素的分析by Axial Vista,ElementMeasuredCertified* nmug/Lug/L Ag328.0682.222.00 As188.97980.680 Ba233.52749.350 Cd226.5029.310 Co228.61622.125 Cr205.55218.320 Cu324.75419.020 Mn260.56942.740 Ni231.60461.060 Pb220.3533540 Sb206.8339.110 Tl190.7901410 V292.46425

33、30 Zn206.20069.770,VistaChip wavelength selection flexibility choose any no need for dual viewed optics simultaneous analysis of trace and major elements,飲用水中主量金屬元素的分析Major Elements by Axial Vista,ElementMeasuredCertified* nmmg/Lmg/L Ca318.12836.535 Mg279.0799.69 K766.4902.12.5 Na589.5926.76,* High

34、Purity Standards Co.,土壤中的主量和痕量元素分析by Axial Vista after 1:10 dilution,ElementMeasuredCertified* nmmg/Lmg/L As188.9796.06.3 Ba233.5276.67.0 Cd214.4380.20.2 Co228.6160.070.1 Cu324.7543.13.0 Ni231.6040.100.15 Sb206.8330.160.1 Zn206.20068.870 Fe260.709348350 Al257.510649650 K766.490221210 Na589.592123100

35、,* High Purity Standards Co.,分析結(jié)果Water Samples,GFAAS 1GFAAS 4 ElementFound* CertifiedFoundCertified Al0.062 0.050.620.50 V0.027 0.0250.270.25 Cr0.010 0.010.0990.10 Co0.01 0.010.100.10 Cu0.011 0.010.1020.10 Cd0.0024 0.00250.024 0.025 Se0.050 0.00250.0500.025 *All results mg/L,Analysis of impurities i

36、n acidsby Vista,Impurities in acids are important to semiconductor industry Acids e.g. HCl, HNO3, HF, H2O2, etc Due to the ultra trace level of impurities, acid sample is evaporated to dryness in a quartz beaker Then redissolve the impurities in high purity acids Ultrasonic nebuliser is recommended

37、USN offers generally 10 times improvement in detection limit,Metallurgy 冶金分析,Analysis of Palladium compounds樣品前處理,Use 0.1 - 1 g sample, accurately weighed Dissolve in 5 mL aqua regia Make up to 100 mL Standards and blank prepared in 5% aqua regia,基體中的檢測限5 % 王水 vs 5 g/L Pd solution,Element5% Aqua reg

38、ia5g/L Pd solution (ug/L) (ug/L) Al 167.0160.360.43 Au 267.5952.113.56 B 182.5801.282.82 Cu 224.7002.344.97 P 177.4358.0116.0 Pt 265.9458.9412.3 Ru 240.2722.423.56 Sn 189.9263.037.90 Zr 343.8231.54 1.62,Analysis of Palladium compoundsRepeatability Test - 20 samples,Precision ranged from 0.27 - 1.10

39、%RSD,貴金屬分析4 hours stability test,Precision ranged from 0.92 - 1.09 %RSD,Copper alloy sample樣品前處理,Use 0.1 g sample, accurately weighed dissolve in 5 mL HCl and 5 mL HNO3 Make up to 100 mL,銅合金的分析by Axial Vista,ElementMeasuredExpected (mg/L) (mg/L) MicroCo4.65 Cr0.170.2 K1.52 Si0.40.3 Al4.65 Na11.812 M

40、inorAs151150 Ni159 150 Fe19.920,礦石分析 （ axial Vista）Reference Material GS-12,ElementFound Certified (mg/L) (mg/L) TracesAg0.30.4 As6.36.4 Ba3.73.8 Bi1.01.5 Cr3.53.4 Mo0.140.17 P6.56.9 Sc0.120.14 Sr0.680.66 V2.02.3,礦石分析 （ axial Vista）Reference Material GS-12,ElementFound Certified (mg/L) (mg/L) Majors

41、Al397399 Ca125126 Fe18551870 K10596 Mg107108 Mn6063 Ni16.216 Pb6367 S301305,Geochemical地質(zhì)化學(xué)分析,魚和貝類的樣品分析,分析條件,魚類和貝類的肉質(zhì)樣品 使用硝酸消解 最終在8% HNO3中濃縮處理 標(biāo)樣在8% HNO3中制備,儀器條件,Power1.3 kW Plasma gas15 L/min Auxiliary gas1.5 L/min Nebulizer typeglass concentric Nebulizer pressure215 kPa Pump speed15 rpm Uptake rat

42、e1.0 mL/min Integration time5.0 seconds Replicates3 Background CorrectionOff peak and fitted,分析結(jié)果Fish Reference Materials,ElementFoundCertified (g/L) (g/L) 8G-2Se4030 As37.820 Cd2.012 Pb20.420 8G-5Se345300 As224200 Cd20.320 Pb193.2200,分析結(jié)果Water Samples,EPA 4EPA 12 Element Found CertifiedFound Certified (mg/L)(mg/L)(mg/L) (mg/L) As 0.0400.025