1、介紹了電路校正機(jī)輔助設(shè)置校正、OrCAD、第二章PSPICE模擬分析、PSPICE封裝對模擬電路進(jìn)行模擬分析的基本過程，并以簡單的電路為例重點(diǎn)介紹了基本電路特性分析的配置方法、電路特性分析、激勵(lì)信號波形設(shè)置及模擬結(jié)果分析，還介紹了激勵(lì)信號波形的設(shè)置方法什么是空間？ simulationprogramintegratedcircuitsemphasis (集成電路模擬程序)，SPICE功能是基本直流分析、直流直流掃描、交流小信號AC分析和過渡TRAN分析、2.1 PSPICE模擬的流程， SPICE可以進(jìn)行安培電壓： v、伏頻： Hz、赫茲電阻：歐姆電容： f、法拉電感： h、亨利功率： w、瓦

2、特、注意單位問題、SPICE模擬示例、利用SPICE模擬、新的仿真模型、仿真模型名稱設(shè)置：基本分析類型設(shè)置、其他分析類型設(shè)置、仿真類型和殘奧儀表設(shè)置、仿真分析修正計(jì)算：運(yùn)行Run子命令，并調(diào)用PSpice進(jìn)行仿真分析修正計(jì)算。 模擬結(jié)果數(shù)據(jù)分別存儲在擴(kuò)展名為DAT和OUT的2種數(shù)據(jù)文件中。 DAT擴(kuò)展名文件中存儲的是波形文件，在PSpice/Probe窗口中顯示。 此窗口頂部的“內(nèi)容”窗口顯示分析結(jié)果波形的左下子窗口顯示電路仿真分析過程，右下子窗口顯示電路中的零件集成分析殘奧儀表設(shè)置等信息。PSpice/Probe顯示窗口，(1)功能在直流工作點(diǎn)分析的過程中，PSpice開放電路中的電容，短路

3、電感，對各自的信號源取直流電平值，然后，以迭代的方式修正電路的直流偏置狀態(tài)(靜態(tài)工作點(diǎn))。 2.2直流動(dòng)作點(diǎn)分析、直流動(dòng)作點(diǎn)分析完成后，PSpice會(huì)自動(dòng)將結(jié)果保存到. out輸出文件中。 在out文件中存儲的直流工作點(diǎn)的分析結(jié)果包括每個(gè)節(jié)點(diǎn)的電壓、流過每個(gè)電壓源的電流、總功耗以及所有非線性控制源和半導(dǎo)體器件的小信號殘奧儀表。 (2)結(jié)果輸出、分析類型設(shè)定、直流工作點(diǎn)設(shè)定、2.3直流靈敏度分析(DC Sentivity )、(1)靈敏度分析的語義靈敏度分析定量地分析、比較電路特性對每個(gè)電路部件殘奧儀表的靈敏度。 分析指定節(jié)點(diǎn)電壓對電路中電阻、獨(dú)立電壓源和電流源、電壓和電流控制開關(guān)、二極管、雙極

4、晶體管5種元件殘奧儀表的靈敏度. 靈敏度的定量為：1)所謂元件靈敏度s，是指電路特性殘奧計(jì)t相對于元件x的絕對變化的靈敏度，即t相對于x的變化率： S(T， X)=T/X 2)相對靈敏度SN是指電路特性t相對于元件值x的相對變化為1%時(shí)的靈敏度： sn=s () (1)功能PSpice程序首先校正電路的直流工作點(diǎn)，在工作點(diǎn)對電路進(jìn)行線性化處理，然后校正線性化電路的直流小信號增益、輸入電阻和輸出電阻直流傳輸特性分析只以輸入信號源和輸出變量兩個(gè)殘奧儀表為對象。 (2)殘奧儀表設(shè)置直流傳輸特性分析僅涉及輸入信號源和輸出變量兩個(gè)殘奧儀表。 在Bias Point配置框中，選擇“計(jì)算小型信號直流增益”進(jìn)

5、行配置。信號源名、輸出變量名稱、分析類型設(shè)定、2.5直流特性掃描分析(DC Sweep )、(1)功能電路中的某殘奧儀表(參數(shù))在一定范圍內(nèi)變化時(shí)，按每個(gè)參數(shù)取值，在計(jì)算電路的直流偏移特性(輸出變量)的分析中，電容開路、電感短路、各信號源1 )參數(shù)設(shè)定a .參數(shù)類型設(shè)定b .參數(shù)名稱決定c .掃描變化方式和可能的值Liner (線性變化):Start (開始值)、End (結(jié)束值)、Increment (步驟) Octave (2)DC解析的殘奧儀表設(shè)定，Start0，End，poii 自變量類型，自變量殘奧儀表掃描方式，自變量名稱，自變量值，解析，2.6交流小信號頻率特性解析(AC Swee

6、p )，(1)功能補(bǔ)正電路的交流小信號頻率響應(yīng)特性。 計(jì)算電路直流工作點(diǎn)后，對電路中的各非線性元件進(jìn)行線性化處理，得到線性化的交流小信號等效電路。 使電路中的交流信號源的頻率在一定范圍內(nèi)變化，使用交流小信號等效電路校正電路輸出的交流信號的變化，也稱為AC分析。 (2)頻率殘奧儀表設(shè)定與DC Sweep殘奧儀表設(shè)定相同。 (3)輸出變量的確定AC解析結(jié)果自動(dòng)存儲在PROBE數(shù)據(jù)文件中。 調(diào)用Probe模塊可以觀察不同節(jié)點(diǎn)上的交流頻率響應(yīng)。解析類型設(shè)定、自變量取值、自變量殘奧元掃描方式、2.7過渡特性解析(Transient Analysis )、(1)根據(jù)功能賦予的激勵(lì)信號，來校正電路輸出端的過

7、渡響應(yīng)。 為了進(jìn)行過渡分析，首先校正t=0時(shí)的電路初始狀態(tài)，然后在從t=0開始的某個(gè)時(shí)間范圍內(nèi)選擇一定的時(shí)間步長，校正輸出端在不同時(shí)刻的輸出電平。 (2)過渡解析中的殘奧儀表設(shè)定1 )過渡特性解析殘奧儀表設(shè)定a .結(jié)束時(shí)間設(shè)定b .開始輸出時(shí)間設(shè)定c .解析時(shí)間步驟設(shè)定d .初始狀態(tài)設(shè)定2 )控制輸出文件的內(nèi)容的殘奧儀表設(shè)定a .輸出數(shù)據(jù)的時(shí)間步驟b .偏移點(diǎn)信息的輸出控制， 激勵(lì)信號源的波形設(shè)定方法有殘奧儀設(shè)定和交互編輯2種，(3)過渡解析用的5種激勵(lì)信號，(1)脈沖信號(Pulse )，2 )分段線性信號PWL，3 )正弦波振幅調(diào)制信號SIN，4 )調(diào)頻信號SFFM，5 )指數(shù)信號EXP，

8、所謂解析類型設(shè)定等效噪聲作用相當(dāng)于在輸入獨(dú)立源上加上與等效噪聲相同大小的噪聲源，節(jié)點(diǎn)上產(chǎn)生的輸出噪聲的大小正好與實(shí)際電路的所有噪聲源在輸出點(diǎn)上產(chǎn)生的噪聲相同。 (2)噪聲分析中的殘奧儀表設(shè)定1 )輸出節(jié)點(diǎn)的設(shè)定2 )等效輸入噪聲源位置的設(shè)定3 )輸出結(jié)果間隔的設(shè)定、噪聲分析殘奧儀表設(shè)定、分析類型設(shè)定、2.9傅立葉分析(Fourier Analysis )、(1)功能傅立葉分析在過渡分析完成后(2) 傅里葉分析中的殘奧儀表設(shè)定Center、Number of、Output (3)結(jié)果輸出、傅里葉分析設(shè)定、傅里葉分析殘奧儀表設(shè)定、2.10溫度分析、1 .功能電阻值PSpice的內(nèi)定溫度為27C。2

9、 .殘奧儀表設(shè)定；1 )制作電路圖，設(shè)定基本特性解析殘奧儀表；2 )設(shè)定溫度特性解析殘奧儀表；3 )進(jìn)行溫度特性解析；4 )多批模擬結(jié)果數(shù)據(jù)的選擇；5 )模擬結(jié)果顯示和解析、解析類型設(shè)定、自變量類型設(shè)定、自變量值設(shè)定、Ic(Q1 ) “溫度變化曲線2.11殘奧度量掃描分析”(Parametric Analysis )，1 .功能殘奧度量掃描分析是對指定的每個(gè)殘奧度量變化值執(zhí)行一次設(shè)置的電路分析類型。 可通過殘奧儀表掃描解析變更的殘奧儀表從溫度擴(kuò)展為獨(dú)立電壓源、獨(dú)立電流源、溫度、模型殘奧儀表和全局殘奧儀表5種，可設(shè)定殘奧儀表的變更方法。 在“模擬類型組框”中設(shè)置更改殘奧儀表的類型、名稱、更改方法

10、和更改范圍。 DC分析是對電路直流偏置狀況的基本電路特性分析，殘奧儀表掃描分析改變電路中的某個(gè)殘奧儀表，對每個(gè)變化值重復(fù)設(shè)定的基本電路特性分析。 2 .殘奧儀表設(shè)定，(1)電路圖的修改a .掃描的解析殘奧儀表的設(shè)定b .殘奧儀表符號的設(shè)定(2)殘奧儀表掃描解析殘奧儀表設(shè)定(3)殘奧儀表掃描解析和結(jié)果顯示，3 .殘奧儀表掃描解析，解析類型設(shè)定，解析殘奧儀表設(shè)定，() (3) 根據(jù)殘奧度量掃描分析和結(jié)果，將2.12蒙特卡洛分析(Monte Carlo )、電路中的每個(gè)部件有確定值(設(shè)定修正值、標(biāo)稱值)的電路特性分析稱為標(biāo)稱值分析。 在實(shí)際生產(chǎn)中，對應(yīng)同一部件的可能值不完全相同，有一定的分散性。 為

11、了模擬實(shí)際生產(chǎn)中零件值的分散性引起的電路特性的分散性，進(jìn)行蒙特卡諾分析功能。 根據(jù)實(shí)際情況確定零件值的分布規(guī)律，重復(fù)電路特性分析，每次采用的零件值從分布中隨機(jī)抽樣，可代表實(shí)際變化情況。 完成多次電路特性分析后，對各次分析結(jié)果進(jìn)行綜合糾正分析，得到電路特性的色散變化規(guī)律。 這種隨機(jī)采樣、統(tǒng)一糾正分析方法統(tǒng)稱為蒙特卡諾分析(MC )，MC分析又稱為成品率分析。 1 .作用；(1)部件殘奧儀表值變化規(guī)則；(2)多次“重復(fù)”分析；(3)電路中的電特性殘奧儀表變化；(4)各電路分析的結(jié)果；(5)如何生成MC分析的總結(jié)果；(2)進(jìn)行MC；(1)用于統(tǒng)一校正分析的部件符號和模型殘奧儀表殘奧儀表變化規(guī)則的設(shè)定(4)殘奧儀表變化中的寬度的設(shè)定(5)部件殘奧儀表變化規(guī)則的記述格式、4.MC分析殘奧儀表設(shè)定、(1)統(tǒng)一解析類型選定(2)電路特性解析類型和輸出變量名稱的設(shè)定(3)解析次數(shù)的設(shè)定(4)殘奧儀表變化規(guī)則的設(shè)定(5)隨機(jī)數(shù)用“種子MC分析結(jié)果數(shù)據(jù)保存批次的設(shè)定(7)每次分析結(jié)果最壞的情況分析是根據(jù)電路特性向相同方向變化的要求，確定各個(gè)部件的變化方向，并使這些部件同時(shí)向相應(yīng)方向在其可能的最大范圍內(nèi)變化，簡稱為WCase分析或WC分析。 1 )首先進(jìn)行公稱值分析2 )確定該部件值變化時(shí)引起的電路特性變化的大