晶體光學(xué)與造巖礦物模擬題一名詞解釋1光率體是表示光波在晶體中傳播時(shí)，光波振動(dòng)方向與相應(yīng)折射率值之間關(guān)系的一種光性指示體。也可以說光率體是表示光波在晶體中各振動(dòng)方向上折射率和雙折率變化規(guī)律的一個(gè)立體幾何圖形。2補(bǔ)色法則在正交偏光鏡的45位置放置兩個(gè)互相重疊的非均質(zhì)體礦片垂直光軸切片除外，在光波通過此二礦片后，其總的光程差增減法則稱補(bǔ)色法則。3光性方位光率體主軸與晶體結(jié)晶軸之間的關(guān)系就是光性方位，表示光率體的主軸N；NE和NO，或者NG、NM、NP與晶體的結(jié)晶軸A、B、C之間的關(guān)系。4多色性與吸收性由于光波在晶體中振動(dòng)方向不同,而使薄片顏色發(fā)生改變的現(xiàn)象稱為多色性,這種顏色深淺變化也稱為吸收性。5邊緣和貝克線在兩個(gè)折射率不同的物質(zhì)（礦物顆粒之間或者礦物與樹膠）接觸處，存在一條較黑暗的界線和一條比較明亮的細(xì)線，前者稱為礦物的邊緣或輪廓，后者稱為貝克線或亮帶，光帶。6消光角指礦片消光時(shí)，其光率體橢圓半徑與解理縫、雙晶縫、晶體延長(zhǎng)方向之間的夾角。（也就是目鏡十字絲與解理縫、雙晶縫、晶體延長(zhǎng)方向之間的夾角。）二單項(xiàng)選擇題1隨著目鏡焦矩平面的變化，薄片中相鄰2個(gè)礦物之間的貝克線會(huì)發(fā)生移動(dòng)，若提升鏡筒（遠(yuǎn)離薄片），貝克線向A礦物移動(dòng)；下降鏡筒（靠近薄片），貝克線向B礦物移動(dòng)。A折射率大的B折射率小的C樹膠D不移動(dòng)2二級(jí)藍(lán)干涉色的光程差是C。A1200NMB230NMC680NMD1700NM3橄欖石NM平行晶體延長(zhǎng)方向，其延性為C。A正延性B負(fù)延性C延性可正可負(fù)4垂直普通角閃石B軸測(cè)得的消光角是C。A最小消光角B對(duì)稱消光角C最大消光角5以下的礦物中，D是負(fù)高突起；B是正高突起；A是正極高突起；C具有明顯的閃突起。A鋯石B輝石C方解石D螢石6某礦物的干涉色為二級(jí)綠，加入石膏試板后使其異名軸一致，礦物將出現(xiàn)A。AI級(jí)干涉色BII級(jí)干涉色CIII級(jí)干涉色DIV級(jí)干涉色7某礦物主折射率為1616,1609,1606其軸性為A，光性符號(hào)為D。A二軸晶B一軸晶C負(fù)光符D正光符8在干涉色級(jí)序中，第一級(jí)干涉色出現(xiàn)特有的C，第二級(jí)最鮮艷和典型的干涉色是A，第三級(jí)最鮮艷和典型的干涉色是B。A二級(jí)藍(lán)B三級(jí)綠CI級(jí)灰D三級(jí)黃9觀察礦物閃突起應(yīng)在A。A單偏光下觀察B正交偏光下觀察C錐光下觀察10某巖石標(biāo)本中長(zhǎng)石種類較多，其中有20的微斜長(zhǎng)石、40的更長(zhǎng)石、30的正長(zhǎng)石和10條紋長(zhǎng)石，那么鉀長(zhǎng)石和斜長(zhǎng)石含量分別為B。A20的斜長(zhǎng)石和80的鉀長(zhǎng)石B40的斜長(zhǎng)石和60的鉀長(zhǎng)石C30的斜長(zhǎng)石和70的鉀長(zhǎng)石D60的斜長(zhǎng)石和40的鉀長(zhǎng)石11二軸晶垂直BXA的切面干涉圖，且2V角小于45，可以觀察到B。A一個(gè)光軸出入點(diǎn)，一個(gè)黑色彎臂B兩個(gè)光軸出入點(diǎn)，兩個(gè)黑色彎臂C無法觀察到光軸出入點(diǎn)12垂直光軸的薄片的切片，在正交偏光鏡下旋轉(zhuǎn)物臺(tái)時(shí)具有A，插入石膏試板后出現(xiàn)C。A全消光B四次消光C一級(jí)紫紅D二級(jí)黃13礦物的折射率值以D光為標(biāo)準(zhǔn)。A白光B紫光C紅光D黃光14在單偏光下觀察薄片中礦物的邊緣、貝克線、糙面和突起等現(xiàn)象，歸根到底最主要的影響因素為礦物的A。A折射率B切面方向C晶族三填空題1用偏光顯微鏡觀察透明礦物薄片，單偏光下可觀察礦物形態(tài)、解理、顏色和多色性和吸收性；正交鏡下可觀察消光類型、消光角、干涉色級(jí)序、雙晶和延性；錐光下可觀察軸性、光性符號(hào)、光軸角和切面方向。注單偏光下填寫如下的任意4個(gè)即可礦物形態(tài)解理顏色多色性和吸收性邊緣貝克線糙面突起閃突起2二軸晶負(fù)光性的礦物，在垂直光軸的切面上可測(cè)NM主折射率、BXA切面上可測(cè)NG、NM主折射率，在BXO切面上可測(cè)NM、NP主折射率，在平行光軸面的切面上可測(cè)NG、NP主折射率。3石膏試板是一種補(bǔ)色器，它的光程差是550/530NM，其干涉色為一級(jí)紫紅，加入石膏試板后，礦物的干涉色將升高或降低一個(gè)級(jí)序（選擇級(jí)序或色序）。4當(dāng)二軸正晶的光率體中NMNP時(shí),它與一軸正晶的光率體相同；當(dāng)NMNG時(shí)它與一軸負(fù)晶的光率體相同；當(dāng)NGNMNP時(shí)，它與光性均質(zhì)體（或者均質(zhì)體）的光率體相同。5影響解理可見性的因素為解理的完善程度、切片方向、礦物折射率與樹膠折射率的差值。6二軸晶光率體的主要切面包括垂直光軸OA的切面，平行光軸面AP的切面，垂直BXA的切面，垂直BXO的切面，斜交切面。7二軸晶正光性的礦物，在垂直光軸的切面上可測(cè)NM主折射率、BXA切面上可測(cè)NM、NP主折射率，在BXO切面上可測(cè)NG、NM主折射率，在平行光軸面的切面上可測(cè)NG、NP主折射率。8根據(jù)礦物消光時(shí)，礦物解理、雙晶縫和晶面軌線與十字絲的關(guān)系，把礦物的消光類型分為三種類型，它們分別是平行消光，斜消光，和對(duì)稱消光。9已知橄欖石的3個(gè)主折射率分別是NG1670,NM1651，NP1635，則橄欖石的軸性為二軸晶，光性符號(hào)為正晶。10巖漿巖中最主要的7種造巖礦物是橄欖石、輝石、角閃石、黑云母、斜長(zhǎng)石、鉀長(zhǎng)石和石英。11錐光裝置為上偏光下偏光聚光鏡高倍物鏡勃氏鏡（或去掉目鏡）。四問答題1請(qǐng)用以下的表格和圖示的方法描述一軸正晶的三種主要切面及其特征切面類型切面形狀光率體半徑名稱垂直該切面入射光特征雙折率（N）有幾個(gè)這樣的切面示意圖123答切面類型切面形狀光率體半徑垂直該切面入射光特征雙折率（N）有幾個(gè)這樣的切面示意圖1垂直O(jiān)A切面圓NO不發(fā)生雙折射0只有1個(gè)2平行OA切面橢圓NE，NO發(fā)生雙折射，分解為兩束偏光，振動(dòng)方向分別平行于橢圓切面兩個(gè)半徑NE，NO，兩個(gè)主折射率為NE和NONE與NO之差，是最大雙折率無數(shù)個(gè)此切面3斜交OA切面橢圓NO，NE發(fā)生雙折射，分解為兩束偏光，振動(dòng)方向分別平行于橢圓切面兩個(gè)半徑NE，NO，兩個(gè)主折射率為NE和NONE與NO之差無數(shù)個(gè)此切面示意圖為2求證BXO切面的干涉色永遠(yuǎn)高于BXA切面的干涉色。答（1）當(dāng)晶體為正光性晶體時(shí)BXANG,（1分）則NGNMNMNP（2分）其中NGNM是BXO切面的雙折射率（1分），NMNP是BXA切面的雙折射率（1