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文檔簡介
1、固體礦產(chǎn)勘查原始地質(zhì)編錄固體礦產(chǎn)勘查原始地質(zhì)編錄(張金振)參考文獻(xiàn):固體礦產(chǎn)勘查原始地質(zhì)編錄規(guī)程(試行)DD2006- 01主要內(nèi)容1、總則2、礦區(qū)地質(zhì)觀察點(diǎn)、地質(zhì)剖面、探礦工程代號、 編號及編錄工作用品3、礦區(qū)實(shí)測地質(zhì)剖面4、地質(zhì)填圖5、探槽原始地質(zhì)編錄6、探井原始地質(zhì)編錄7、坑道原始地質(zhì)編錄8、鉆孔原始地質(zhì)編錄9、采樣及編錄1、總則1.1 原始地質(zhì)編錄的基本內(nèi)容原始地質(zhì)編錄的基本內(nèi)容原始地質(zhì)編錄包括現(xiàn)場編錄和整理兩部分。1.1.1 現(xiàn)場編錄:指在野外現(xiàn)場,編錄人員用適當(dāng)?shù)男畔⒂涗浭侄?,保留下來的宏觀和微觀地質(zhì)現(xiàn)象的記錄。1.1.2 整理:指在室內(nèi),編錄人員根據(jù)野外測量結(jié)果和采集到的標(biāo)本、樣
2、品的鑒定及測試數(shù)據(jù),對現(xiàn)場編錄的內(nèi)容進(jìn)行修正、補(bǔ)充、制圖、制表、整飾和歸檔的過程。1.2 原始地質(zhì)編錄的基本要求原始地質(zhì)編錄的基本要求1.2.1 原始地質(zhì)編錄必須真實(shí)、客觀、全面原始地質(zhì)編錄中,對地質(zhì)現(xiàn)象的觀察研究要認(rèn)真、細(xì)致、全面,記錄要真實(shí)、客觀。測量地質(zhì)體的產(chǎn)狀、形態(tài)、大小等數(shù)據(jù)要準(zhǔn)確,采集標(biāo)本、樣品的規(guī)格和數(shù)量要滿足要求。編錄時(shí),應(yīng)將實(shí)際觀測資料與推斷解釋資料加以區(qū)分。編錄工作必須在現(xiàn)場進(jìn)行,嚴(yán)禁事后記錄。1.2.2 原始地質(zhì)編錄應(yīng)及時(shí)進(jìn)行原始地質(zhì)編錄應(yīng)隨工作進(jìn)展逐日或隨施工進(jìn)展及時(shí)進(jìn)行。用掌上電子計(jì)算機(jī)編錄時(shí),原始資料和數(shù)據(jù)應(yīng)按規(guī)定格式及時(shí)存盤、入庫。1.2.3 原始地質(zhì)編錄的文、圖
3、、表應(yīng)吻合原始地質(zhì)編錄的文、圖、表必須互相對應(yīng)、吻合、一致,整潔、美觀、字跡工整,字體規(guī)范。1.2.4 工具、量具原始地質(zhì)編錄應(yīng)使用符合質(zhì)量要求的測量、繪圖工具和量具,量具必須按有關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)定期檢驗(yàn),檢驗(yàn)報(bào)告應(yīng)與原始地質(zhì)編錄一同歸檔。1.2.5 計(jì)量單位名稱和符號原始地質(zhì)編錄必須采用中華人民共和國法定計(jì)量單位規(guī)定的計(jì)量單位名稱和符號。數(shù)值要反映其精確程度,寫出全部有效數(shù)值。在其精確范圍內(nèi)修約時(shí),按CB 8170數(shù)值修約規(guī)則進(jìn)行。1.2.6 記錄設(shè)備和材料原始地質(zhì)編錄應(yīng)使用規(guī)定的記錄設(shè)備和材料。文字記錄使用野外記錄本,圖、表用80克以上的紙張繪、印,幅面尺寸為185260mm或其2n倍(n0,1
4、,2,3,4)?,F(xiàn)場記錄及繪圖時(shí),應(yīng)使用碳素或2H繪圖鉛筆。對鉛筆記錄部分,整理時(shí)要用碳素墨水將圖線及重要數(shù)據(jù)著墨。用掌上電子計(jì)算機(jī)編錄時(shí),按有關(guān)規(guī)定執(zhí)行。1.2.7 編錄方法及圖件、表格應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的方法進(jìn)行原始地質(zhì)編錄。編錄中所使用的圖件樣式見附錄A,使用的表格格式見附錄B。1.2.8 原始地質(zhì)編錄中的手圖與清圖在野外進(jìn)行原始地質(zhì)編錄時(shí),先作野外手圖。手圖上可簡化某些要素,用臨時(shí)代號、簡單的注記等代替,待工作告一段落,修訂地質(zhì)界線和制圖要素后,再按要求整理轉(zhuǎn)繪成清圖,清圖經(jīng)質(zhì)量檢查確認(rèn),項(xiàng)目技術(shù)負(fù)責(zé)人核實(shí)批準(zhǔn)后,作為原始資料保存。1.2.9 編錄人員應(yīng)深入施工現(xiàn)場進(jìn)行質(zhì)量監(jiān)督1.2.9.
5、1 鉆探施工的質(zhì)量監(jiān)督a)鉆孔編錄人員要隨時(shí)到施工現(xiàn)場檢查核對巖礦心擺放順序及采取率、孔斜、簡易水文觀測等質(zhì)量指標(biāo)是否滿足要求,配合施工單位搞好質(zhì)量管理工作。b)對鉆探施工人員填寫的鉆探施工班報(bào)表,鉆孔施工概況表、孔深校正和彎曲度測量記錄表、鉆孔回次記錄表和提交的巖礦心要認(rèn)真查看,若發(fā)現(xiàn)問題應(yīng)要求施工單位立即采取補(bǔ)救措施。1.2.9.2 槽、井、坑探施工的質(zhì)量監(jiān)督槽、井、坑探編錄人員應(yīng)到施工現(xiàn)場檢查施工的工程是否符合“地質(zhì)勘查坑探規(guī)程”要求。1.2.10 編錄人員技術(shù)準(zhǔn)備編錄人員在編錄前,必須熟悉礦區(qū)的地質(zhì)設(shè)計(jì)、地質(zhì)情況和與礦區(qū)勘查有關(guān)技術(shù)規(guī)范、規(guī)程、規(guī)定。1.2.11 原始地質(zhì)編錄資料的修改
6、原始地質(zhì)編錄資料形成后,一般情況下不允許改動。除非經(jīng)研究、論證、實(shí)地核對、項(xiàng)目負(fù)責(zé)人批準(zhǔn),可對原始編錄中的地層及地質(zhì)體代號、編號、礦體編號、工程編號、巖礦石名稱、術(shù)語及與此有關(guān)的文字描述部分進(jìn)行修改。但這些改動必須采用批注的形式進(jìn)行,注明修改原因、批注人及修改日期,不得在原始資料上涂抹修改。2、 礦區(qū)地質(zhì)觀察點(diǎn)、地質(zhì)剖面、探礦工程礦區(qū)地質(zhì)觀察點(diǎn)、地質(zhì)剖面、探礦工程代號、編號及編錄工作用品代號、編號及編錄工作用品 2.1 礦區(qū)常用地質(zhì)編錄用語及代號表1 礦區(qū)常用地質(zhì)編錄用語及代號表項(xiàng)目項(xiàng)目代號代號項(xiàng)目項(xiàng)目代號代號地質(zhì)觀察點(diǎn)D組合分析樣ZH勘探線1、2、3水樣S剝土BT老硐(老窿)LD采場CC鉆孔
7、ZK探槽TC水文鉆孔SHK園井YJ照片ZP淺井QJ電影DY豎井SJ錄音帶LY斜井XJ錄像帶LX平坑(平硐)PD磁帶(電算用)CD斜坑(斜硐)XD磁盤(電算用)CP沿脈坑道YM(激光)光盤JP項(xiàng)目項(xiàng)目代號代號項(xiàng)目項(xiàng)目代號代號穿脈坑道CM標(biāo)本B石門SM定向標(biāo)本DB采坑CK構(gòu)造標(biāo)本GB薄片b水化學(xué)分析樣SH光片g土壤地球化學(xué)測量樣 TR煤巖標(biāo)本MY原生暈樣Y化石標(biāo)本HB次生暈樣C動物化石標(biāo)本DH水系沉積物樣SW植物化石標(biāo)本ZH風(fēng)(氧)化帶樣FY孢粉化石標(biāo)本BF巖(土)力學(xué)試驗(yàn)樣 YL自然重砂樣Z物性測定樣WX基本化學(xué)分析樣H大體重樣T光譜分析樣GP小體重樣XT化學(xué)全分析樣HQ同位素年齡樣TW巖石全分
8、析樣YQ選礦試驗(yàn)樣XU單礦物分析樣DF外檢樣WJ 2.2 地質(zhì)點(diǎn)與剖面編號地質(zhì)點(diǎn)與剖面編號 地質(zhì)點(diǎn)、實(shí)測剖面、錄像、錄音、磁帶、磁盤、標(biāo)本、樣品,均用全礦區(qū)順序編號。即:礦區(qū)代號、類別號、順序號順次連接而成。號碼允許不連續(xù)、缺號,但不許有重號。 2.3 勘探線編號勘探線編號 勘探線按勘探階段最密的間隔等距離編號。中央為0線,兩側(cè)分別為奇數(shù)號和偶數(shù)號。在預(yù)查普查階段,可以預(yù)留那些暫不布置工程的勘探線。 例:某礦區(qū)在勘探階段深部工程間距應(yīng)為200200m,地表工程線距為100m,主礦體為東西走向,勘探線布置為南北向,則中央為0線,往西每100m依次編號為1、3、5、7、 ;由中央往東每100m依次
9、編號為2、4、6、8、 。如在預(yù)、普查階段,只設(shè)計(jì)800m或400m間距勘探線,為了減少圖面負(fù)擔(dān),可以只保留800m或400m間距的勘探線(而預(yù)留其余線號,隨勘探程度提高逐漸補(bǔ)充),見圖1。圖圖1 勘探線編號示意圖勘探線編號示意圖 2.4 工程編號工程編號 2.4.1 探礦工程由工程代號、勘探線號及勘探線上(包括勘探線附近)該類工程順序號順次連接而成。如礦區(qū)2號勘探線上的第一個(gè)探槽編號為TC201,18號勘探線上的第一個(gè)鉆孔編號為ZK1801。 2.4.2 在勘查程度很低,尚無法確定勘探線的礦區(qū)和工程少的小礦區(qū),可按工程類別及施工順序統(tǒng)一編號。例如:鉆孔ZK1、ZK2,探槽TC1、TC2,但需
10、在設(shè)計(jì)中作出規(guī)定。 2.4.3 對遠(yuǎn)離勘探線的采場、采坑、石門、豎井、老硐等及其它零星工程可按全礦區(qū)順序編號。表2 地質(zhì)編錄工作所需用品一覽表2.5 地質(zhì)編錄工作用品地質(zhì)編錄工作用品地質(zhì)編錄工作所需用品見表2。工作用品名稱剖面測制填圖槽探井探坑探鉆探化探采樣水工環(huán)地質(zhì)錘 羅盤 放大鏡 測繩(皮尺) 鋼卷尺 手持GPS 計(jì)算器 數(shù)碼相機(jī) 三角板 量角器 圖板 講義夾 圖包 礦區(qū)地形圖 厘米紙(5035cm) 鉛筆(2H) 工作用品名稱剖面測制填圖槽探井探坑探鉆探化探采樣水工環(huán)小刀 橡皮擦 文具盒 基點(diǎn)用木樁 毛筆、油漆或防水符號筆 照明燈具 大鐵釘 重球 斧頭 標(biāo)桿(23m) 樣樁 樣品袋 標(biāo)本
11、包裝紙 剖面及坑探工作基點(diǎn)基線記錄表 剖面及坑探工程原始地質(zhì)記錄表 地表及坑道工程樣品記錄表 礦區(qū)標(biāo)本記錄表 樣品簽、標(biāo)本簽 地質(zhì)點(diǎn)線記錄表 照相記錄表 工作用品名稱剖面測制填圖槽探井探坑探鉆探化探采樣水工環(huán)坑探工程記錄表 園井記錄表 鉆孔地質(zhì)記錄表 鉆孔采樣記錄表 鉆孔質(zhì)量驗(yàn)收報(bào)告 小體重樣記錄表 大體重樣記錄表 水文地質(zhì)點(diǎn)卡片 坑道水文地質(zhì)工程地質(zhì)編錄表 坑道地下水動態(tài)觀測記錄表 鉆孔簡易水文地質(zhì)觀測記錄表 河流(緩溝)記錄表 3.礦區(qū)實(shí)測地質(zhì)剖面礦區(qū)實(shí)測地質(zhì)剖面 礦區(qū)實(shí)測地質(zhì)剖面包括:實(shí)測地質(zhì)剖面(簡稱實(shí)測剖面)和實(shí)測勘探線剖面。 3.1 實(shí)測剖面實(shí)測剖面 3.1.1 目的 為了研究礦區(qū)
12、地層、巖體、構(gòu)造及礦體的基本特征,劃分填圖單元,統(tǒng)一技術(shù)要求。礦區(qū)填圖前至少應(yīng)實(shí)測12條完整的剖面。 3.1.2 準(zhǔn)備工作 3.1.2.1 剖面位置的選擇 剖面位置應(yīng)選擇在地質(zhì)體相對出露齊全、基巖露頭較好、構(gòu)造較清楚或較簡單、巖石變質(zhì)或蝕變較淺、礦層(體)與圍巖關(guān)系清楚的地段,剖面線方向應(yīng)盡量垂直地質(zhì)體走向。3.1.2.2 剖面踏勘剖面線的位置基本選定后,應(yīng)實(shí)地踏勘,了解露頭出露情況,構(gòu)造種類及形態(tài),地層組合及巖性特征,侵入巖種類、分布、巖性及巖相變化、接觸關(guān)系等;確定填圖單元、標(biāo)志層劃分和位置、礦化帶、含礦層或蝕變特征及位置、化石層位、主要構(gòu)造性質(zhì)、特征,重要標(biāo)本、樣品采集位置,剖面總體方位
13、、工程揭露地段等。3.1.2.3 編制實(shí)測剖面設(shè)計(jì)書實(shí)測剖面設(shè)計(jì)可單獨(dú)編寫,也可在項(xiàng)目工作設(shè)計(jì)中編寫。主要內(nèi)容包括:剖面線位置、總體方向、工作量、完成期限、比例尺及精度,標(biāo)本及樣品的采集位置、編號、規(guī)格、數(shù)量等。實(shí)測剖面比例尺可參照表3 在設(shè)計(jì)中予以確定。實(shí)測剖面的分層精度可根據(jù)剖面的比例尺大小確定。凡在剖面圖上寬度達(dá)1mm的地質(zhì)體均應(yīng)劃分和表示,對于一些重要的或具特殊意義的地質(zhì)體,如標(biāo)志層、化石層、礦化層、火山巖中的沉積巖夾層等,如厚度達(dá)不到圖上1mm,也應(yīng)將其放大到1mm表示。 表表3 實(shí)測剖面比例尺參考表實(shí)測剖面比例尺參考表礦區(qū)地質(zhì)圖實(shí)測剖面圖勘探線剖面圖1 250001 20001 1
14、0001 50001 100001 100001 10001 5001 20001 50001 50001 5001 2001 20001 50001 20001 2001 1001 10001 20001 10001 1001 5001 10003.1.3 剖面測制3.1.3.1 測制組人員組成及分工測制組一般由34人組成,包括組長、前后測手及作圖員。組長由地質(zhì)工程師以上技術(shù)人員(含地質(zhì)工程師)擔(dān)任,全面負(fù)責(zé)剖面測制技術(shù)工作。具體擔(dān)任地質(zhì)觀察、分層、布樣和地質(zhì)記錄;前后測手及繪圖員,由技術(shù)員或地質(zhì)工擔(dān)任,主要負(fù)責(zé)測量剖面導(dǎo)線方位、長度、坡度、標(biāo)注導(dǎo)線點(diǎn)、打樁、測量巖層產(chǎn)狀、采樣(標(biāo)本)、繪制
15、自然剖面圖和剖面導(dǎo)線平面圖。主干剖面(指完整的地質(zhì)剖面)測制時(shí),礦區(qū)所有技術(shù)人員都應(yīng)參加。3.1.3.2 測制方法在剖面的起點(diǎn)處打入寫有A0(A剖面)編號的木樁,后測手持測繩的端點(diǎn)站于A0處,前測手持測繩向剖面前進(jìn)方向推進(jìn),在地形明顯變化處或與A0點(diǎn)有一定距離處設(shè)置導(dǎo)線點(diǎn)1打入編號為1的木樁或用油漆在基巖上寫上編號1。前測手用測繩丈量該導(dǎo)線斜長,前、后測手分別用羅盤測量導(dǎo)線方位和坡度(均要求誤差3內(nèi)取平均值),并將上述測量數(shù)據(jù)記錄于剖面記錄表中。以此類推,測制A01,12、23導(dǎo)線的斜長、方向、坡度(坡度角記錄時(shí),上坡為正、下坡為負(fù))繪出剖面導(dǎo)線平面位置圖,見圖2。圖圖2 剖面導(dǎo)線平面位置圖剖
16、面導(dǎo)線平面位置圖在導(dǎo)線布置的同時(shí),要求作剖面導(dǎo)線平面圖和自然剖面圖地形線。3.1.3.3 繪制剖面導(dǎo)線平面圖根據(jù)各導(dǎo)線的斜長和坡度,計(jì)算出各自的平距,然后在確定了正北方向的圖紙上,按各導(dǎo)線方位角及平距將剖面位置繪制在礦區(qū)實(shí)際材料圖上。如:03剖面導(dǎo)線已知:01斜長22m,方位角20,坡度1512斜長30m,方位角30,坡度2023斜長26m,方向25,坡度30根據(jù)公式:平距斜長坡度角余弦則:01平距22mCOS 1521.25m12平距30mCOS 2028.19m23平距26mCOS 3022.52m依次將上述各導(dǎo)線按方向及平距展繪到實(shí)際材料圖上即成剖面導(dǎo)線平面圖,見圖3。圖圖 3 剖面導(dǎo)線
17、平面圖剖面導(dǎo)線平面圖 3.1.3.4 繪制自然剖面圖地形線 在剖面導(dǎo)線平面圖的基礎(chǔ)上,按各導(dǎo)線點(diǎn)相對標(biāo)高和比例尺及地形地貌特征,將導(dǎo)線徒手勾繪為較園滑的地形線。即成為自然剖面圖地形線。見圖4。圖圖4 剖面導(dǎo)線平面圖及自然剖面圖地形線剖面導(dǎo)線平面圖及自然剖面圖地形線3.1.3.5 分層仔細(xì)觀察導(dǎo)線附近出露的基巖,根據(jù)比例尺及礦區(qū)的實(shí)際要求,按野外地質(zhì)標(biāo)志將巖性、成分、結(jié)構(gòu)、構(gòu)造、生物組合等具明顯特征,顯著區(qū)別于相鄰地質(zhì)體的地層或巖石,劃分為不同的巖性層或巖相帶等,作為描述、反映礦區(qū)地層特征的基本組成部分。3.1.3.6 剖面投影投影方法有:鉛直投影法、直接讀數(shù)投影法和產(chǎn)狀投影法。a)鉛直投影法或
18、直接讀數(shù)投影法一般用于剖面地形線和分層界線的投影上。見圖5。圖中:A23導(dǎo)線,坡度與地形坡度一致,地形線不需投影,J1與J2界線直接與導(dǎo)線相交,交點(diǎn)在導(dǎo)線上讀數(shù)(5m、13.2m)即為界線位置。A34導(dǎo)線地形線形態(tài)變化較大,J31、J41分別為界線點(diǎn)J3、J4在導(dǎo)線上的垂直投影點(diǎn),上述投影點(diǎn)在導(dǎo)線上讀數(shù)點(diǎn)與地形線上的鉛直高度為點(diǎn)的實(shí)際位置。圖圖5 剖面投影示意圖剖面投影示意圖b)產(chǎn)狀投影法用于在導(dǎo)線兩側(cè)一定范圍內(nèi)測量產(chǎn)狀和采集的標(biāo)本、樣品等的投影。作法是將測量出的產(chǎn)狀和采集的標(biāo)本、樣品,按巖層走向或傾向方向投影到導(dǎo)線上,并在導(dǎo)線相應(yīng)的地形線上標(biāo)注。3.1.3.7 記錄剖面測制中,應(yīng)將實(shí)測的數(shù)據(jù)
19、和觀察到的地質(zhì)現(xiàn)象記錄在實(shí)測地質(zhì)剖面記錄表中,實(shí)測地質(zhì)剖面記錄表見附錄B 表B.1。表中的分層地質(zhì)描述部分應(yīng)記錄:巖石名稱、巖石特征、顏色、礦物成分、風(fēng)化、其他物理特征、古生物及遺跡化石、蝕變及礦化、巖(礦)脈、地質(zhì)構(gòu)造、標(biāo)本、樣品采集等內(nèi)容。對有特殊意義的地質(zhì)現(xiàn)象可作素描圖或照相(見附錄B表B.2)。3.1.3.8 物化探工作視需要開展物化探工作,物化探工作應(yīng)與剖面測制同時(shí)進(jìn)行,如巖石化學(xué)剖面測量(原生暈)等。3.1.3.9 地物地貌標(biāo)注剖面通過的居民點(diǎn)、水系、地形制高點(diǎn)、重要地物及探礦工程等,可視需要選擇性的標(biāo)注在剖面圖上或?qū)Ь€平面圖上。 3.1.4 野外資料整理 剖面測制資料必須當(dāng)天整理
20、,避免造成資料積壓、混亂或出錯。 3.1.4.1 文字記錄 文字記錄應(yīng)當(dāng)表述清楚、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確,語句通順,層次分明。文、圖、樣品應(yīng)對應(yīng)吻合,數(shù)據(jù)著墨。 3.1.4.2 自然剖面圖 應(yīng)核對、完善自然剖面圖。 3.1.4.3 標(biāo)本、樣品整理 應(yīng)整理標(biāo)本、檢查樣品,按附錄B中表B.18“標(biāo)本登記表”的要求逐一登記,確認(rèn)無丟失、無遺漏后,填寫巖礦與測試樣品送樣單,及時(shí)送實(shí)驗(yàn)室鑒定和化驗(yàn)。 3.1.5 剖面圖的室內(nèi)繪制 室內(nèi)繪制剖面圖的方法有展開法和投影法。 3.1.5.1 展開法 當(dāng)導(dǎo)線方向變化不大時(shí),用展開法繪制剖面圖。將各次所測的不同方向的導(dǎo)線,按其斜距和坡度角依次連接。在每一導(dǎo)線的起點(diǎn)標(biāo)注導(dǎo)線方位角
21、,分層等位置就是野外投影在導(dǎo)線上的斜距讀數(shù),導(dǎo)線上的傾角按換算后的視傾角繪制。但產(chǎn)狀為實(shí)測傾向、傾角,見圖6。展開法繪制剖面圖時(shí),下方的導(dǎo)線平面圖意義不大,成圖時(shí)可以省略不繪。圖圖 6 展開法實(shí)測剖面圖展開法實(shí)測剖面圖3.1.5.2 投影法導(dǎo)線方向多變、轉(zhuǎn)折點(diǎn)較多時(shí),用投影法(一次投影)繪制剖面圖。首先在圖紙的下方,繪出一條代表剖面總體方向的水平投影基線,然后把各種地質(zhì)要素標(biāo)繪在這條基線的相應(yīng)位置上,構(gòu)成路線地質(zhì)圖。當(dāng)導(dǎo)線方向變化不大時(shí),可將路線地質(zhì)圖上地質(zhì)界線與導(dǎo)線交匯點(diǎn)直接投影在剖面圖上進(jìn)行剖面繪制。如:實(shí)測導(dǎo)線01斜長20m,方向31,坡度+5導(dǎo)線12 斜長15m,方向29,坡度8導(dǎo)線2
22、3 斜長21m,方向30,坡度10導(dǎo)線34 斜長16m,方向31,坡度6總剖面方向?yàn)?0根據(jù)各導(dǎo)線斜長和坡度,計(jì)算得出各導(dǎo)線平距和導(dǎo)線兩端高差。導(dǎo)線01平距20Cos519.92m,高差20Sin51.74m導(dǎo)線12平距15Cos814.85m,高差15Sin82.09m導(dǎo)線23平距21Cos1020.68m,高差21Sin103.65m導(dǎo)線34平距16Cos615.91m,高差16Sin61.67m依據(jù)上述數(shù)據(jù)繪制成剖面圖,見圖7所示。圖圖 7 一次投影法繪制剖面圖及導(dǎo)線平面圖一次投影法繪制剖面圖及導(dǎo)線平面圖 路線地質(zhì)圖是根據(jù)導(dǎo)線計(jì)算的平距和方向所繪。根據(jù)各地質(zhì)要素在剖面導(dǎo)線上的斜距,計(jì)算為
23、平距后,繪于導(dǎo)線平面圖的相應(yīng)位置上,地質(zhì)界線則繪出走向線或分層界線,其它地質(zhì)內(nèi)容(如產(chǎn)狀、標(biāo)本等),按規(guī)定的圖示標(biāo)注在平面圖上。 3.1.6 地層厚度計(jì)算 地層厚度按各導(dǎo)線分層進(jìn)行計(jì)算。 厚度計(jì)算公式:D L(SinCosSinCosSin) 式中 D:地層真厚度(m) L:導(dǎo)線斜距(m) :巖層真傾角() :地形坡度角() :剖面導(dǎo)線與地層走向線的銳夾角() (注:當(dāng)坡向與巖層傾向相反時(shí),公式中用加號計(jì)算;當(dāng)坡向與巖層傾向相同時(shí),公式中用減號計(jì)算。) 例如:某實(shí)測剖面中某段導(dǎo)線記錄如下: 導(dǎo)線23,斜距25m,方向35,坡度+10 05m:砂巖 523m:白云質(zhì)灰?guī)r,產(chǎn)狀200/60(20m
24、處) 2325m:泥巖 計(jì)算白云質(zhì)灰?guī)r層厚度: L23518m,60,10, 走向110方向35 代入公式 D 18(Sin60Cos10Sin75Cos60Sin10) 13.27m 推薦公式:(1982年成都地院文樸) M=L(sin cos-cos sin cos(-) 式中: M巖層真厚度 L導(dǎo)線斜長 導(dǎo)線坡角 巖層傾角 巖層傾向 導(dǎo)線前進(jìn)方位 該公式的優(yōu)點(diǎn)是不論導(dǎo)線如何轉(zhuǎn)向只需將計(jì)算結(jié)果求代數(shù)和后取正值即可。3.1.7 實(shí)測剖面圖的內(nèi)容3.1.7.1 實(shí)測剖面圖的圖面內(nèi)容實(shí)測剖面圖上應(yīng)有圖名、圖例、比例尺、剖面起點(diǎn)坐標(biāo)、方位、垂直標(biāo)尺、水平標(biāo)尺、剖面圖、平面圖及責(zé)任簽等(見附錄A 圖
25、A.1)。作圖時(shí),剖面圖的西、北西、南西、南端應(yīng)放置在剖面圖的左邊,而東、北東、南東、北端放在剖面圖的右邊。剖面圖自左至右總體方位應(yīng)小于180。如果有物化探工作,其曲線圖可視情況放在實(shí)測剖面圖的上方或單獨(dú)成圖。3.1.7.2 實(shí)測剖面圖上的主要內(nèi)容剖面起點(diǎn)坐標(biāo)、方位、垂直標(biāo)尺、水平標(biāo)尺、導(dǎo)線號、地層界線、地層代號、巖漿巖代號、巖性、礦體、蝕變帶、斷層、采樣點(diǎn)及標(biāo)本、樣品編號、探礦工程、地質(zhì)產(chǎn)狀、各地質(zhì)內(nèi)容編號及代號、重要地物等(如圖8 b 和附錄A圖A.1所示)。如有放大素描圖應(yīng)在剖面上方繪制并用箭頭指示位置。3.1.7.3 導(dǎo)線平面圖上的主要內(nèi)容方位、導(dǎo)線(長度以平距計(jì))和導(dǎo)線號、地層界線、
26、地層代號、巖漿巖代號、礦體、蝕變帶、斷層、采樣點(diǎn)、探礦工程、地質(zhì)產(chǎn)狀、各地質(zhì)內(nèi)容編號及代號、重要地物等(如圖8a 所示)。圖圖 8 AA實(shí)測地質(zhì)剖面圖實(shí)測地質(zhì)剖面圖 3.1.8 綜合地層巖礦體柱狀圖 3.1.8.1 編制綜合地層巖礦體柱狀圖 在實(shí)測地質(zhì)剖面工作(野外測制、文字圖件整理、標(biāo)本樣品測試、地層厚度計(jì)算、作剖面、平面圖等)全部完成后,應(yīng)對測制的若干剖面進(jìn)行對比和綜合分析,在此基礎(chǔ)上,編制礦區(qū)綜合地層巖礦體柱狀圖。 3.1.8.2 綜合地層巖礦體柱狀圖的內(nèi)容 比例尺(能表達(dá)地層、巖體和礦體結(jié)構(gòu)基本特征)、圖例(采用礦區(qū)統(tǒng)一圖例)、地層時(shí)代、地層名稱、地層符號、分層號、分層厚度、巖層厚度、
27、柱狀圖(用規(guī)定的線條、花紋符號表示不同的地層巖體、礦體及其接觸關(guān)系)、簡單巖性描述(注明有代表性的樣品、標(biāo)本、化石和礦產(chǎn))、責(zé)任簽等。見附錄A中圖A.2。3.1.9 實(shí)測剖面小結(jié)實(shí)測剖面工作結(jié)束后,應(yīng)編寫剖面小結(jié),內(nèi)容如下:一、前言敘述目的;剖面線位置、方向、坐標(biāo)、測量方法;工作起止時(shí)間、工作單位、主要工作人員;完成主要工作量:剖面長度、工程工作量、標(biāo)本及樣品數(shù)量等。二、地質(zhì)成果1、區(qū)域地質(zhì):簡述測區(qū)的區(qū)域構(gòu)造部位、地層、巖漿巖構(gòu)造及礦產(chǎn)特征。2、地層:依地層年代由新至老對剖面進(jìn)行分層敘述。每一時(shí)代中地層可按地層組合單位敘述其組合特征,再按不同巖性分層或填圖單元詳述巖性特征、接觸關(guān)系,特別是不
28、整合接觸或斷層接觸關(guān)系及標(biāo)志層特征和分層的識別標(biāo)志。3、巖漿巖:巖漿巖形態(tài)、產(chǎn)狀、巖性(巖相)組合、穿插關(guān)系、接觸蝕變類型及礦化情況。4、構(gòu)造:包括斷裂及褶皺,分別描述其類型、性質(zhì)、規(guī)模、形態(tài)、產(chǎn)狀、對地層或礦層破壞,以及控礦特征等。5、礦產(chǎn):含礦層、礦體及礦化線索應(yīng)作詳細(xì)敘述。6、新發(fā)現(xiàn)、新進(jìn)展及新認(rèn)識。 三、存在問題及建議 編寫剖面小結(jié)時(shí),不同礦區(qū)可根據(jù)實(shí)際情況,對剖面小結(jié)的內(nèi)容作適當(dāng)調(diào)整。 3.1.10 實(shí)測剖面應(yīng)提交下列資料 a)實(shí)測地質(zhì)剖面記錄表 b)標(biāo)本、樣品登記表 c)實(shí)測地質(zhì)剖面圖 d)綜合地層-巖礦體柱狀圖 e)音像記錄表 f ) 巖礦石標(biāo)本、樣品及送樣單 g)鑒定及測試成果
29、 h)實(shí)測剖面小結(jié) 3.2 實(shí)測勘探線剖面實(shí)測勘探線剖面 3.2.1 礦區(qū)勘探線剖面布設(shè) 布設(shè)礦區(qū)勘探線剖面時(shí),應(yīng)照顧到礦區(qū)各地段或相鄰礦區(qū),勘探線剖面應(yīng)盡可能垂直礦體(帶)走向、等間距布設(shè),也可根據(jù)實(shí)際情況布設(shè)為放射狀或網(wǎng)格狀,主要控制礦體的探礦工程應(yīng)沿勘探線布置。 3.2.2 勘探線地形剖面測制 勘探線地形剖面用儀器法測制。對剖面上的探礦工程(槽、井、坑、鉆)位置和各種主要地質(zhì)界線(如礦體頂?shù)装褰缇€、重要斷層線等)必須用儀器定位??碧骄€的端點(diǎn)要埋設(shè)水泥樁,水泥樁要編號并測量位置坐標(biāo)(X、Y、Z)。 3.2.3 勘探線剖面的內(nèi)容 勘探線剖面要反映探礦工程的種類、數(shù)量、位置間距及相關(guān)關(guān)系,樣品
30、分布與品位,從而反映礦區(qū)勘查工程對礦體的控制程度、礦體形態(tài)、產(chǎn)狀及變化特征,礦體圈定的合理性及各類資源儲量分布的合理性。4.地質(zhì)填圖地質(zhì)填圖 4.1 目的任務(wù)目的任務(wù) 7.1.1 1 100001 25000 地質(zhì)填圖(以下簡稱填圖)的目的任務(wù)是:了解測區(qū)地質(zhì)構(gòu)造背景和成礦地質(zhì)條件及區(qū)域成礦規(guī)律,擴(kuò)大礦床(區(qū))遠(yuǎn)景。 4.1.2 1 50001 1000 填圖的目的任務(wù)是全面而詳細(xì)研究礦床(區(qū))地層、巖石、構(gòu)造特征;查明礦體分布形態(tài)、規(guī)模、產(chǎn)狀、礦石質(zhì)量、礦石類型及其空間分布;了解礦體與圍巖的關(guān)系及圍巖蝕變等。為探礦工程布置、儲量計(jì)算提供礦區(qū)基礎(chǔ)地質(zhì)資料。 4.2 準(zhǔn)備工作準(zhǔn)備工作 4.2.1
31、 設(shè)計(jì)編寫階段的準(zhǔn)備工作 4.2.1.1 充分利用前人工作成果 收集工作區(qū)內(nèi)或大一些范圍內(nèi)有關(guān)前人工作的成果資料,并進(jìn)行認(rèn)真研究、分析,應(yīng)收集的資料主要包括: a)測區(qū)內(nèi)沉積巖、巖漿巖、變質(zhì)巖方面的資料,如地層、巖石類型特征等。如果有包括測區(qū)的小比例尺(1 500001 250000)地質(zhì)圖也應(yīng)收集。 b)測區(qū)內(nèi)發(fā)現(xiàn)的礦產(chǎn)種類、賦存層位、礦體規(guī)模、礦物成分、礦石類型、品位等。 c)測區(qū)內(nèi)褶皺、斷裂的分布、形態(tài)特征、規(guī)模、性質(zhì)、產(chǎn)狀以及對巖(礦)層的破壞和影響程度的資料。 d)測區(qū)地形圖(應(yīng)與填圖比例尺相同或更大的比例尺)、測量控制點(diǎn)等資料。如果收集不到與礦區(qū)填圖比例尺相當(dāng)?shù)牡匦螆D,可以用較小比
32、例尺地形圖放大后使用或新測地形草圖。 e)測區(qū)內(nèi)物化探、重砂、航遙解釋等資料。 4.2.1.2 確定填圖比例尺 依據(jù)礦區(qū)的勘查程度及范圍大小、地質(zhì)復(fù)雜程度、礦體形態(tài)復(fù)雜程度等因素,確定礦區(qū)填圖比例尺。 4.2.1.3 確定填圖范圍 a)1 100001 25000填圖范圍,一般在礦區(qū)外圍有與已知礦床有地質(zhì)聯(lián)系的地質(zhì)體及礦(化)點(diǎn),找礦標(biāo)志明顯地段,各種找礦手段(包括地質(zhì)、物化探、重砂等)發(fā)現(xiàn)或圈定的綜合異常地段。 b)1 10001 5000填圖范圍,通常為礦區(qū)或礦段(局限于礦體和近礦圍巖分布地段),探礦工程集中布置的地段應(yīng)位于填圖范圍的中部。 4.2.2 填圖準(zhǔn)備工作 4.2.2.1 準(zhǔn)備礦
33、區(qū)地形圖 礦區(qū)地形圖可以收集或由專業(yè)人員實(shí)測,地形圖的精度應(yīng)符合礦區(qū)設(shè)計(jì)要求,比例尺應(yīng)大于或等于填圖比例尺。 4.2.2.2 踏勘 針對擬定的工作重點(diǎn)和需要解決的問題,礦區(qū)技術(shù)負(fù)責(zé)人應(yīng)組織地質(zhì)、水文、物化探、測量等工種的主要人員,對測區(qū)進(jìn)行踏勘和實(shí)測剖面,并在綜合研究的基礎(chǔ)上,統(tǒng)一填圖單元、統(tǒng)一野外巖礦石命名、統(tǒng)一填圖方法和要求、統(tǒng)一圖式圖例。 4.2.2.3 人員組成 填圖組一般由23人組成,組長應(yīng)由工程師以上人員擔(dān)任。 4.3 填圖方法與技術(shù)要求填圖方法與技術(shù)要求 4.3.1 觀察路線布置 填圖工作應(yīng)遵循從已知到未知的原則。首先將實(shí)測剖面及確定的填圖單元界線、斷層線、侵入體界線、礦層頂?shù)装?/p>
34、界線、產(chǎn)狀等的位 置,繪到 手圖上, 再從實(shí)測 地質(zhì)剖面 兩側(cè)逐漸 展開。圖圖 9 穿越法填圖穿越法填圖4.3.1.1 穿越法填圖以手圖上實(shí)測剖面線為起點(diǎn),按照填圖精度要求的觀察路線距離,垂直(或大致垂直)巖層走向布置觀察路線。觀察路線要根據(jù)填圖精度和基巖出露情況考慮點(diǎn)距和線距,見圖9。4.3.1.2 追索法填圖選擇標(biāo)志層、含礦層或礦體、蝕變帶、主要斷層(或斷裂帶)等,采用沿走向追索填圖。觀察路線一般采用“之”字形迂回布置,以控制其頂?shù)捉缇€和了解變化情況,見圖10。圖圖 10 追索法填圖追索法填圖 4.3.2 地質(zhì)點(diǎn)布置 4.3.2.1 地質(zhì)點(diǎn)主要分為基本點(diǎn)、加密點(diǎn)、巖性或產(chǎn)狀點(diǎn)三類 a)基本
35、點(diǎn):為控制測區(qū)地質(zhì)界線和基本構(gòu)造形態(tài)布置的觀察點(diǎn)?;军c(diǎn)應(yīng)布置在測區(qū)填圖單元的地質(zhì)界線、含礦層或礦體、蝕變帶界線、巖體界線、斷層面及褶皺軸等位置上?;军c(diǎn)要求作詳細(xì)的文字記錄(必要時(shí)作放大素描圖)。 b)加密點(diǎn):為進(jìn)一步控制地質(zhì)界線和構(gòu)造形態(tài)的變化,在滿足基本點(diǎn)密度要求的前提下,在基本點(diǎn)之間沿地質(zhì)界線加密布置的觀察點(diǎn)。加密點(diǎn)只作簡要的文字記錄。 c)巖性或產(chǎn)狀點(diǎn):為控制和了解地質(zhì)界線之間巖層產(chǎn)狀變化及巖性特征、滿足基本點(diǎn)密度和數(shù)量要求而布置的觀察點(diǎn),巖性或產(chǎn)狀點(diǎn)只需記錄巖層產(chǎn)狀和巖性特征。 4.3.2.2 地質(zhì)點(diǎn)密度及數(shù)量 a)地質(zhì)點(diǎn)布置的密度及數(shù)量應(yīng)根據(jù)填圖比例尺大小、構(gòu)造復(fù)雜程度、基巖出露
36、情況、自然地理?xiàng)l件等因素確定,見表4。 表表4 地質(zhì)點(diǎn)密度及數(shù)量(正測精度)表地質(zhì)點(diǎn)密度及數(shù)量(正測精度)表注:地質(zhì)界限上的點(diǎn)距根據(jù)實(shí)際情況而定,要求保證對重要地質(zhì)界限的有效控制。b)基本點(diǎn)數(shù)與加密點(diǎn)數(shù)之和,應(yīng)大于地質(zhì)點(diǎn)總數(shù)的70%。c)簡測的地質(zhì)點(diǎn)密度及數(shù)量為正測的70%,草測為50%。填圖比例尺地質(zhì)界線上的點(diǎn)距(m)每平方千米地質(zhì)點(diǎn)數(shù)(個(gè))構(gòu)造簡單構(gòu)造中等構(gòu)造復(fù)雜構(gòu)造復(fù)雜1 100001002004060801 500050100801201501 200020501602403001 10001025320480600 4.3.3 地質(zhì)點(diǎn)定位 4.3.3.1 現(xiàn)場標(biāo)注點(diǎn)位 將寫有地質(zhì)點(diǎn)編
37、號的木樁(竹樁)打入地質(zhì)點(diǎn)處的基巖裂縫中,或者用紅油漆在基巖上劃“ ”以示點(diǎn)位,并在“ ”旁邊寫上地質(zhì)點(diǎn)號。若需要儀器定測的地質(zhì)點(diǎn),應(yīng)在地質(zhì)點(diǎn)附近掛上小紅布條,以方便找點(diǎn)。 4.3.3.2 測量坐標(biāo) 所有地質(zhì)點(diǎn)都應(yīng)用手持GPS,結(jié)合地形圖定位,將點(diǎn)位標(biāo)注在手圖上,用直徑2mm的實(shí)心園點(diǎn)()和空心小圈()分別表示實(shí)測和推測的地質(zhì)點(diǎn),并標(biāo)注點(diǎn)號。 4.3.3.3 精確定位 對精度要求很高的重要地質(zhì)點(diǎn),須用經(jīng)緯儀進(jìn)行精確定位。一般的做法是:填圖人員在現(xiàn)場經(jīng)觀察確定地質(zhì)點(diǎn),用GPS測量點(diǎn)位坐標(biāo)后,將這類地質(zhì)點(diǎn)及坐標(biāo)通知礦區(qū)專業(yè)測量人員進(jìn)行精確測量定位。 4.3.4 地質(zhì)點(diǎn)記錄 在地質(zhì)點(diǎn)測量到的坐標(biāo)數(shù)據(jù)
38、及觀察到的地質(zhì)現(xiàn)象都要記錄在地質(zhì)點(diǎn)記錄表中(表式及內(nèi)容見附錄B中表B.3)。如果采用照相、錄音等形式記錄地質(zhì)現(xiàn)象時(shí),應(yīng)按附錄B中表B.2的要求,填寫音像記錄表。 4.3.4.1 礦區(qū)名稱:用礦區(qū)代號(在礦區(qū)設(shè)計(jì)中規(guī)定)表示。 4.3.4.2 點(diǎn)號:指地質(zhì)點(diǎn)編號。一個(gè)礦區(qū)如果兩個(gè)填圖組最好一組用單號D1、D3、D5 ,另一組用雙號D2、D4、D6 。 4.3.4.3 位置:GPS 的定位坐標(biāo)及明顯地物地貌的特定位置。 4.3.4.4 地質(zhì)點(diǎn)性質(zhì)指界線點(diǎn)、構(gòu)造點(diǎn)、礦化點(diǎn)、巖性點(diǎn)等。 4.3.4.5 路線地質(zhì) 指相鄰兩個(gè)地質(zhì)點(diǎn)之間的觀察路線,如D1D2 表示1 號地質(zhì)點(diǎn)到2 號地質(zhì)點(diǎn)之間的路 線。記
39、錄內(nèi)容主要是描述兩點(diǎn)間先后觀察到的地質(zhì)現(xiàn)象。但必須: a)記錄的地質(zhì)現(xiàn)象要有準(zhǔn)確位置(對應(yīng)某個(gè)地質(zhì)點(diǎn)的方位和平距)。 b)應(yīng)記錄地質(zhì)現(xiàn)象的性質(zhì)和特征,并說明與已知地質(zhì)點(diǎn)有無差異或變化。 c)路線上盡可能多地實(shí)測巖層產(chǎn)狀,注意產(chǎn)狀變化并分析原因。 d)每條路線的觀察記錄具有連續(xù)性。必要時(shí)可作路線剖面圖或平面圖表示地質(zhì)體形態(tài)特征和變化規(guī)律。4.3.4.6 地質(zhì)描述每個(gè)地質(zhì)點(diǎn)所具有的地質(zhì)意義不完全相同,在描述地質(zhì)現(xiàn)象時(shí),應(yīng)有重點(diǎn),切忌千篇一律或平淡敘述。內(nèi)容主要有:巖石組合特征、巖石名稱、巖石特征(顏色、風(fēng)化特征、礦物成分、結(jié)構(gòu)、構(gòu)造等)等;古生物及遺跡化石;蝕變及礦化現(xiàn)象;礦脈(層)、巖脈的巖礦石
40、名稱、巖礦石特征、產(chǎn)狀、厚度、穿插關(guān)系;地質(zhì)體及地質(zhì)構(gòu)造(褶皺、斷裂、破碎帶等)的產(chǎn)狀、性質(zhì)、接觸關(guān)系、垂直及水平方向上的變化、地貌及水文地質(zhì)等。4.3.4.7 巖礦石標(biāo)本、樣品編號:地質(zhì)點(diǎn)及沿途采集的標(biāo)本、樣品,應(yīng)在露頭和手圖的相應(yīng)位置上標(biāo)注和編號。4.3.5 地質(zhì)界線勾繪地質(zhì)界線勾繪是指將控制同一地質(zhì)界線上的相鄰兩個(gè)地質(zhì)點(diǎn)相連接。地質(zhì)界限勾繪應(yīng)在野外實(shí)地進(jìn)行,勾繪時(shí),應(yīng)充分考慮兩點(diǎn)間距離的遠(yuǎn)近、產(chǎn)狀及變化、有無斷層切割及地形變化(按“V”字形法則勾繪)等因素。實(shí)測的地質(zhì)界線用實(shí)線表示,推測界線用虛線表示。4.4 野外資料整理野外資料整理野外填圖中形成的文字、圖、實(shí)物等資料,要求當(dāng)天內(nèi)完成整
41、理,不允許多天后累計(jì)整理。4.4.1 文、圖、實(shí)物資料的核對整理文字記錄、手圖、實(shí)物(標(biāo)本、樣品、照像)資料時(shí),應(yīng)核對點(diǎn)號、層位代號、標(biāo)本及樣品編號、位置及各種數(shù)據(jù)等,確認(rèn)無誤后,再分別進(jìn)行整理。若發(fā)現(xiàn)問題,必須到野外核實(shí),方能補(bǔ)充和修正,不允許回憶補(bǔ)充修正。4.4.2 地質(zhì)點(diǎn)記錄表的整理應(yīng)檢查地質(zhì)點(diǎn)記錄表中填寫內(nèi)容是否齊全,文字是否通順、有無錯漏字、用語是否準(zhǔn)確;素描圖是否需要完善;檢查后,給數(shù)據(jù)和素描圖上墨。4.4.3 手圖整理檢查手圖中的地質(zhì)點(diǎn)、觀察路線、產(chǎn)狀、填圖單元代號、標(biāo)本、樣品、照片等位置、數(shù)據(jù)以及界線勾繪有無錯漏,確認(rèn)無誤后著墨。4.4.4 編制實(shí)際材料圖4.4.4.1 用與手
42、圖同版的、未折疊、無皺紋、無缺損的地形圖作為底圖,將手圖中填繪的全部內(nèi)容(地質(zhì)點(diǎn)、路線地質(zhì)、標(biāo)本、樣品、產(chǎn)狀、已施工工程、各種地質(zhì)界線、斷層線等的位置、編號、代號)轉(zhuǎn)繪到底圖上,加上圖框、圖名、圖例(按礦區(qū)統(tǒng)一圖例)、比例尺、責(zé)任箋等,形成實(shí)際材料圖(樣式見附錄A 圖A.8)。實(shí)際材料圖應(yīng)在野外填圖過程中逐步完成,以保證填圖中出現(xiàn)的遺漏、錯誤、爭議等問題能在野外得到彌補(bǔ)、修正和統(tǒng)一。4.4.4.2 實(shí)際材料圖轉(zhuǎn)繪方法與要求首先丈量手圖上地質(zhì)點(diǎn)及其它內(nèi)容的坐標(biāo)數(shù)據(jù),然后依據(jù)手圖上各點(diǎn)的位置展繪到實(shí)際材料圖上(也可以用燈箱透視將手圖上的內(nèi)容展繪到實(shí)際材料圖上)。展繪過程中做到:a)按坐標(biāo)方格網(wǎng),依
43、一定順序逐個(gè)進(jìn)行;b)先用鉛筆展繪,待自檢和組內(nèi)檢查無誤后,再上墨。對地質(zhì)界線或斷層線的推測地段不要急于上墨,要等證據(jù)確鑿后再上墨;c)在展繪點(diǎn)丈量坐標(biāo)時(shí),要對手圖經(jīng)野外使用、折疊出現(xiàn)的圖紙收縮誤差進(jìn)行平差處理,將誤差消除在每個(gè)方格網(wǎng)中,避免產(chǎn)生累計(jì)誤差。4.5 地質(zhì)填圖應(yīng)提交的資料地質(zhì)填圖應(yīng)提交的資料4.5.1 資料清單a)地質(zhì)觀察點(diǎn)記錄表b)音像記錄表c)標(biāo)本登記表d)地質(zhì)填圖工作總結(jié)e) 實(shí)際材料圖f ) 巖礦石標(biāo)本(實(shí)物)及送樣單g)鑒定及測試成果h)地質(zhì)圖(反映填圖階段成果)4.5.2 地質(zhì)填圖工作總結(jié)的內(nèi)容a)概況:目的任務(wù),交通位置及自然地理,以往地質(zhì)工作評述(主要成果及存在問題
44、),完成實(shí)物工作量;b)工作方法及質(zhì)量評述;c)礦區(qū)地質(zhì):地層、構(gòu)造、變質(zhì)巖、巖漿巖、礦床;d)結(jié)語:主要成果、存在問題、下步工作意見。5 . 探槽原始地質(zhì)編錄探槽原始地質(zhì)編錄探槽原始地質(zhì)編錄的對象是經(jīng)地質(zhì)、施工管理及施工人員三方現(xiàn)場驗(yàn)收,施工質(zhì)量符合要求并已達(dá)到地質(zhì)目的的探槽(含樣溝、剝土、采場以及其它的天然露頭)。5.1 準(zhǔn)備工作準(zhǔn)備工作8.1.1 組成編錄組探槽編錄組一般由23人組成。包括:組長、作圖員,測手(可兼任)。5.1.1.1 組長一般由熟悉探槽編錄工作的助理工程師以上技術(shù)人員擔(dān)任。全面負(fù)責(zé)編錄工作,主要承擔(dān)地質(zhì)觀察、分層、布樣和文字紀(jì)錄工作。組長應(yīng)掌握有關(guān)規(guī)范、設(shè)計(jì)及工作細(xì)則,
45、熟悉探槽周圍地質(zhì)情況。5.1.1.2 作圖員作圖員一般由熟悉探槽編錄繪圖工作的技術(shù)人員擔(dān)任。協(xié)助組長工作,主要負(fù)責(zé)素描圖的編制,同時(shí)兼任組內(nèi)合適的其他工作。5.1.1.3 測手測手一般由技術(shù)人員或熟練的地質(zhì)工擔(dān)任。主要負(fù)責(zé)編號、打樁,基線布置、測量各類數(shù)據(jù)、采集標(biāo)本及各種揀塊樣。5.2 原始地質(zhì)編錄原始地質(zhì)編錄5.2.1 觀察、分層、布樣組長帶領(lǐng)編錄人員共同觀察擬編錄探槽中的地質(zhì)現(xiàn)象(必要時(shí)還應(yīng)觀察探槽附近有關(guān)地質(zhì)現(xiàn)象),確定編錄壁及基巖面、分層并布樣。5.2.1.1 確定編錄槽壁探槽素描一般只作一壁一底展開圖。當(dāng)兩壁上基巖露頭的地質(zhì)現(xiàn)象可對應(yīng)吻合時(shí),東西向或大致東西向的探槽選北壁,南北向或大
46、致南北向探槽選東壁。若首選壁的基巖露頭不理想時(shí),可選擇對應(yīng)的另一壁。一般情況下以首選壁為主、對應(yīng)壁為輔。5.2.1.2 確定基巖面槽壁上的風(fēng)化基巖高度應(yīng)不小于30cm,通過觀察正確判斷殘坡積物與風(fēng)化基巖的界線。5.2.1.3 分層應(yīng)首先確定分層單元,分層單元視礦體復(fù)雜程度而定,一般同礦區(qū)填圖單元一致,復(fù)雜礦體的分層單元應(yīng)小于礦區(qū)填圖單元。分層厚度及夾石剔除厚度,按工業(yè)指標(biāo)或設(shè)計(jì)要求進(jìn)行,不同礦(化)體層,不同礦石類型和工業(yè)品級、不同巖石類型和較大構(gòu)造應(yīng)分開。5.2.1.4 布樣應(yīng)根據(jù)探槽對礦體的剝露情況布置樣品,在保證樣品代表性及槽樣規(guī)格的前提下,可在槽底布樣,也可在槽壁上布樣。化學(xué)分析樣應(yīng)按
47、規(guī)格連續(xù)布置,必須穿越礦層及礦化層,并且在礦層頂、底板有控制樣。樣槽應(yīng)盡量垂直于礦層走向布置,樣品對礦層控制既不間斷也不重復(fù),同一個(gè)樣品不可垮跨層布設(shè)。 5.2.2 設(shè)置基線 5.2.2.1 基線位置選擇 基線位置宜選擇在基巖與浮土的分界線附近,但工程起、止兩個(gè)端點(diǎn)應(yīng)布在地表。當(dāng)探槽過長或有拐彎時(shí),應(yīng)分段設(shè)置基點(diǎn)及基線,見圖11。圖圖 11 基線布設(shè)圖基線布設(shè)圖5.2.2.2 操作方法在基點(diǎn)處打上編好號的基線樁,然后用皮尺拉緊,固定在兩個(gè)基線樁上部就成為基線,第一條基線起點(diǎn)為零。5.2.2.3 測量方位角及坡度角組長及測手分別作為前、后測手,用羅盤測定皮尺的方位角和坡度角,二者的讀數(shù)誤差在3之
48、內(nèi)時(shí),取平均值作為基線的方位角和坡角。5.2.2.4 基點(diǎn)基線記錄將測量的基點(diǎn)基線數(shù)據(jù)記錄于槽、井、坑探工程基點(diǎn)基線記錄表中,表式及要求見附錄B中表B.4。5.2.2.5 文字記錄槽探編錄的文字記錄,按附錄B中表B.5“槽井坑探工程原始地質(zhì)記錄表”的內(nèi)容和要求進(jìn)行。如果采用攝像、照片等形式記錄地質(zhì)現(xiàn)象,應(yīng)按附錄B中表B.2的要求,另外填寫音像記錄表。a)槽底不同的巖性層、含礦層(體)、蝕變帶、斷層及破碎帶等界線,以槽底(壁交)界線(點(diǎn))鉛直投影到基線交點(diǎn)的讀數(shù)為準(zhǔn),槽壁地質(zhì)現(xiàn)象以及樣品、標(biāo)本、產(chǎn)狀等位置,則按產(chǎn)狀水平投影在基線上讀數(shù)為準(zhǔn)。b)記錄時(shí),應(yīng)針對該段反映的主要地質(zhì)體或地質(zhì)現(xiàn)象,有側(cè)重
49、的進(jìn)行。例如描述礦層(體),要抓住礦石特征,重點(diǎn)描述礦石成因的特征和現(xiàn)象。描述斷層,應(yīng)記錄斷層特征(含斷層面、破碎帶、兩盤相對移動方向等),達(dá)到反映斷層性質(zhì)和破壞程度等要求。c)文字記錄內(nèi)容應(yīng)與素描圖上的內(nèi)容完全吻合,在編錄過程中,記錄人員和作圖者應(yīng)經(jīng)常核對,發(fā)現(xiàn)問題現(xiàn)場修正。5.2.3 繪制素描圖素描圖是通過測量槽壁及槽底上的各類地質(zhì)編錄要素(界線、產(chǎn)狀、標(biāo)本及樣品位置等)與基線的相對位置,按比例縮小后描繪到坐標(biāo)紙上的槽壁、槽底展開圖。根據(jù)探槽長度和地質(zhì)復(fù)雜程度,素描圖比例尺一般為1 1001 200。見附錄A 中圖A.3。5.2.3.1 基本要求5.2.3.1.1 槽壁圖一般繪于素描圖的上
50、方,槽底圖繪于素描圖的下方,槽底與槽壁之間應(yīng)留1cm以上間隔(以便標(biāo)注產(chǎn)狀、樣號等),槽底按正投影繪成等寬的長方形,其寬度一般為11.5cm;若遇特殊情況,需繪另一槽壁時(shí),應(yīng)投繪在槽底的下方,見圖12。 5.2.3.1.2 作圖時(shí),應(yīng)根據(jù)地質(zhì)體的形態(tài)(如透鏡狀、波狀、分枝狀等)特征勾繪,保持素描圖中地質(zhì)體的形態(tài)與實(shí)際吻合。 5.2.3.1.3 一般按比例縮小后寬度 大于1mm 的地質(zhì)體均應(yīng)勾繪到 素描圖上。有特殊意義的小礦體 或地質(zhì)現(xiàn)象雖小于1mm,也應(yīng)放 大表示,其方法是從該點(diǎn)引出圖 外,作一幅放大素描圖。見圖13。圖圖 13 特殊地質(zhì)現(xiàn)象放大素描圖特殊地質(zhì)現(xiàn)象放大素描圖 5.2.3.1.4
51、 作大坡度槽壁圖時(shí),槽壁圖可分段垂直上下移動,形成鋸齒狀(槽底圖仍連續(xù))。這時(shí)要注意各段之間的地質(zhì)要素應(yīng)嚴(yán)格吻合,見圖14。圖圖 14 上下移動槽壁示意圖上下移動槽壁示意圖5.2.3.2 作圖基本步驟作圖員應(yīng)面向編錄壁作圖。a)合理布置各繪圖要素。首先準(zhǔn)備好坐標(biāo)紙。然后根據(jù)探槽的長度、高差等,確定圖名、比例尺、基線起點(diǎn)、槽壁、槽底、責(zé)任表及樣品分析結(jié)果表在坐標(biāo)紙上的相應(yīng)位置,原則上應(yīng)布局合理,整齊美觀。使用礦區(qū)統(tǒng)一圖例。b)繪制基點(diǎn)、基線。以圖上確定的第一條基線為起點(diǎn),編號為0(基點(diǎn)位置畫2mm直徑的園圈、園心加點(diǎn),下同)開始,用測出的坡度角在坐標(biāo)紙上畫出基線并按比例尺確定基線在圖上的長度、基
52、線的終點(diǎn)為基點(diǎn)1。c)測手測量各地質(zhì)要素點(diǎn)坐標(biāo)。測手測量并報(bào)出各地質(zhì)要素特征點(diǎn)相對于基線的坐標(biāo)位置。d)槽壁素描。各導(dǎo)線起點(diǎn)讀數(shù)均為0m,設(shè)各點(diǎn)鉛垂投影到基線上的位置為Xm,即皮尺上的讀數(shù),該點(diǎn)距基線的鉛垂距離為Ym(分基線上或基線下,用標(biāo)桿丈量出數(shù)據(jù)),作圖員可據(jù)此將各點(diǎn)位置投到圖上、并分類連接成圖。如圖15,圖圖15 槽壁投影素描示意圖槽壁投影素描示意圖地表點(diǎn)a垂直投在導(dǎo)線上的點(diǎn)為a,a在皮尺(導(dǎo)線)上的讀數(shù)為5.5m。a點(diǎn)距導(dǎo)線的垂距aa為1.9m(讀成基上1.9m),則a點(diǎn)的X坐標(biāo)5.5m。Y坐標(biāo)基上1.9m,據(jù)此可在圖上確定出a點(diǎn)位置,再依次確定出地表b點(diǎn)的位置。這樣依次連接o、a、
53、b點(diǎn)即成地形線(地表線)。將c、d、e點(diǎn)相聯(lián)為基巖線;將f、q、j點(diǎn)相聯(lián)為槽底線;將k、i點(diǎn)相聯(lián)為礦體頂界;將n、m點(diǎn)相聯(lián)為礦體底界。e)槽底素描測手將槽底上的各編錄要素點(diǎn)先按地質(zhì)走向投到槽底與槽壁交界處,然后再垂直投到基線上報(bào)出該點(diǎn)在基線上的一個(gè)讀數(shù)點(diǎn)(X坐標(biāo)),作圖員即可將該點(diǎn)自基線上投影到槽底圖上將地質(zhì)體、樣品等繪出(因槽底為平面圖,故無Y坐標(biāo)點(diǎn))。破碎帶控制點(diǎn)a、b及樣槽控制點(diǎn)c、d、e、f各點(diǎn)在基線上的投影點(diǎn)分別為a、b、c、d及f,據(jù)其在導(dǎo)線上的讀數(shù)在圖上反投影到槽底上,然后根據(jù)走向素描成圖,見圖16。f)測量的產(chǎn)狀、采集的標(biāo)本、揀塊樣的位置應(yīng)用符號標(biāo)注在圖上(方法同上)。 5.3
54、 探槽原始地質(zhì)編錄應(yīng)提交的資料探槽原始地質(zhì)編錄應(yīng)提交的資料 a)音像記錄表 b)槽、井、坑探工程基點(diǎn)基線記錄表 c)槽、井、坑探工程原始地質(zhì)記錄表 d)槽、井、坑探工程采樣記錄表及送樣單 e)標(biāo)本登記表 f)巖礦石標(biāo)本 g)鑒定及測試成果 h)探槽素描圖6 探井原始地質(zhì)編錄探井原始地質(zhì)編錄探井包括園井和淺井。園井主要用于地質(zhì)填圖中遇到第四系覆蓋,而槽探又達(dá)不到地質(zhì)目的時(shí),用以了解第四系厚度及下伏基巖巖性。因其施工方便,在礦區(qū)勘查中經(jīng)常使用。淺井主要用于覆蓋區(qū)揭露礦化、蝕變帶、礦層和物化探、重砂異常。6.1 園井園井6.1.1 園井施工6.1.1.1 園井的施工深度一般不超過5m,但如果第四系穩(wěn)
55、定性好、井下不充水或少水,經(jīng)安全人員實(shí)地查看批準(zhǔn),在有預(yù)防措施的條件下,園井深度可適當(dāng)加深。6.1.1.2 園井揭露至基巖0.30.6m 深度即視為達(dá)到地質(zhì)目的。當(dāng)施工條件有利,而且礦層厚度較小,在允許的施工深度內(nèi)可以揭穿礦層時(shí),園井可起到淺井的探礦作用,這時(shí),園井也要求刻槽取樣。 6.1.2 園井地質(zhì)編錄 6.1.2.1 編錄組人員組成 編錄組一般由23人組成。組長全面負(fù)責(zé)編錄工作,安排并協(xié)調(diào)其他組員工作。 6.1.2.2 基點(diǎn)、基線布設(shè) 園井基點(diǎn)設(shè)在平行勘探線方向的直徑與西半圓交匯處的井口邊?;€自基點(diǎn)用皮尺鉛直布設(shè)到井底,由基線處沿逆時(shí)針方向展開、素描。 6.1.2.3 文字記錄和作圖
56、依次將基線通過的地質(zhì)界線、產(chǎn)狀、樣品的位置和觀察到的地質(zhì)現(xiàn)象記錄于“園井地質(zhì)記錄表(附素描圖)”(見附錄A中圖A.4)中,并作圖。由于園井范圍小,所揭示的地質(zhì)現(xiàn)象有限,編錄時(shí)可以作簡單的素描圖和文字記錄。6.2 淺井淺井6.2.1 淺井施工6.2.1.1 淺井的施工深度較大,為便于井壁支護(hù),一般施工成方井,有時(shí)也施工長方形井。6.2.1.2 施工淺井時(shí),為防止井壁支護(hù)對所揭露地質(zhì)現(xiàn)象的遮蓋,施工人員應(yīng)及時(shí)通知編錄人員及時(shí)編錄和采樣后,再作支護(hù)。6.2.2 淺井地質(zhì)編錄6.2.2.1 編錄組人員組成編錄組一般由23人組成。組長全面負(fù)責(zé)編錄工作,安排并協(xié)調(diào)其他組員工作。6.2.2.2 淺井素描圖比
57、例尺用于揭露礦層(體)或地質(zhì)界線時(shí),素描圖比例尺一般為1 100,對某些有特殊要求的礦種和地質(zhì)現(xiàn)象,可放大到1 50。6.2.2.3 淺井編錄壁一般淺井編錄第一壁首選正北壁、北西壁、北東壁、正東壁。各礦區(qū)應(yīng)作統(tǒng)一規(guī)定。淺井基點(diǎn)布置在第一壁的左上角,基線自基點(diǎn)鉛垂布設(shè)(見圖17)。圖圖17 基點(diǎn)、基點(diǎn)基線布設(shè)圖基點(diǎn)、基點(diǎn)基線布設(shè)圖 6.2.2.4 作圖方法 6.2.2.4.1 淺井壁展開作圖法 選北壁作第一壁后,北壁不動,從北壁與西壁交線處斷開,將西、南、東三個(gè)壁同時(shí)作逆時(shí)針旋轉(zhuǎn),直至與第一壁構(gòu)成一個(gè)平面,則為淺井四壁展開圖,見圖18、圖19。圖圖 18 四壁展開平面示意圖四壁展開平面示意圖圖圖
58、19 井壁展開剖面示意圖井壁展開剖面示意圖6.2.2.4.2 淺井壁地質(zhì)要素投影方法淺井壁上各地質(zhì)要素采用垂直投影方法,基線作鉛垂坐標(biāo),鋼卷尺作水平坐標(biāo)進(jìn)行投影作圖。a)點(diǎn)的投影方法點(diǎn)的投影如圖20所示,在淺井第一壁和第二壁上分別采了薄片標(biāo)本b1、b2兩塊。b1位置投影,用鋼卷尺自b1點(diǎn)呈水平狀交于基線1.5mA點(diǎn)處,A點(diǎn)至b1水平距1.4m,即b1坐標(biāo)為基線1.5m,水平1.4m。b2位置投影,用鋼卷尺自b2點(diǎn)呈水平狀交于第一壁與第二壁交線上B點(diǎn),再自B點(diǎn)水平延長交于基線上B點(diǎn)2.3m處,b2至B水平距1.5m,即b2坐標(biāo)(第二壁上)為基線上2.3m,水平1.5m。最后利用b1、b2坐標(biāo)數(shù)值
59、展繪于淺井展開圖的第一壁和第二壁上。圖圖 20 淺井中點(diǎn)的投影圖淺井中點(diǎn)的投影圖b)界線投影方法在圖21a中,選北西壁為第一壁(注:第一壁為主壁,應(yīng)選圖示的第二壁),它垂直勘查線方向,所以第一壁和第三壁上反映了鐵礦層的走向方向,第二壁和第四壁平行勘查線方向,壁上表現(xiàn)的是鐵礦層的傾斜方向。ABCD及EFGH分別為鐵礦層的頂、底界面,投影素描鐵礦界線時(shí),只需要投影A、B、C、D、E、E、G、H 8個(gè)點(diǎn)的垂直坐標(biāo)即可,因?yàn)樗鼈兎謩e位于淺井四壁的交線上,它們的水平坐標(biāo)均可視為零值。圖圖 21 界線投影示意圖界線投影示意圖用點(diǎn)的投影方法,A、B、C、D四點(diǎn)的坐標(biāo)為:A點(diǎn)鉛直坐標(biāo)數(shù)1.8m;B點(diǎn)鉛直坐標(biāo)數(shù)
60、1.8m;C點(diǎn)鉛直坐標(biāo)數(shù)4.8m;D點(diǎn)鉛直坐標(biāo)數(shù)4.8m。最后將各點(diǎn)的鉛直坐標(biāo),在淺井展開圖(見圖21b)每兩壁交線上分別找到A、B、C、D點(diǎn)的位置,根據(jù)地質(zhì)界線的實(shí)際情況連接相鄰?fù)队包c(diǎn),即為淺井展開圖上四個(gè)壁的鐵礦層頂界線,按此方法再依次投影E、F、G、H 4個(gè)鐵礦層底界線點(diǎn)。6.2.2.5 淺井素描圖的內(nèi)容及要求a)圖面上應(yīng)有圖名、圖例、比例尺、垂直標(biāo)尺、方位、分析結(jié)果表和責(zé)任簽。圖內(nèi)應(yīng)有巖性分層界線、礦層(體)界線、蝕變帶,斷層及破碎帶、樣品位置及編號、產(chǎn)狀等,見附件A中圖A.5。b)素描圖應(yīng)真實(shí)、準(zhǔn)確地反映地質(zhì)現(xiàn)象,凡地質(zhì)體或地質(zhì)現(xiàn)象在不同比例尺的素描圖上寬(厚)度1mm,長度3mm者
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