1、 是非題 1. 影像顆粒度完全取決于膠片乳劑層中鹵化銀微粒尺寸的大小。 （ ） 2. 像質(zhì)計(jì)靈敏度1.5%，就意味著尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被查出。 （ ） 3. 使用較低能量射線可得到較高的主因?qū)Ρ榷取?（ ） 4. 射線照相時(shí)，若千伏值提高，將會(huì)使膠片對(duì)比度降低。 （ ） 5. 一般來(lái)說(shuō)，對(duì)厚度差較大的工件，應(yīng)使用較高能量射線透照，其目的是降低對(duì)比度，增大寬容度。 （ ） 6. 增大曝光量可提高主因?qū)Ρ榷取?（ ） 7. 射線照相主因?qū)Ρ榷扰c入射線的能量有關(guān)，與強(qiáng)度無(wú)關(guān)。 （ ） 8. 用增大射源到膠片距離的辦法可降低射線照相固有不清晰度。 （ ） 9. 減小幾何不清晰度的途徑之

2、一，就是使膠片盡可能地靠近工件。 （ ） 10. 利用陽(yáng)極側(cè)射線照相所得到的底片的幾何不清晰度比陰極側(cè)好。 （ ） 11. 膠片的顆粒越粗，則引起的幾何不清晰度就越大。 （ ） 12. 使用射線源可以消除幾何不清晰度。 （ ） 13. 增加源到膠片的距離可以減小幾何不清晰度，但同時(shí)會(huì)引起固有不清晰度增大。 （ ） 14. 膠片成像的顆粒性會(huì)隨著射線能量的提高而變差。 （ ） 15. 對(duì)比度、清晰度、顆粒度是決定射線照相靈敏度的三個(gè)主要因素。 （ ） 16. 膠片對(duì)比度和主因?qū)Ρ榷染c工件厚度變化引起的黑度差有關(guān)。 （ ） 17. 使用較低能量的射線可提高主因?qū)Ρ榷?，但同時(shí)會(huì)降低膠片對(duì)比度。 （

3、 ） 18. 膠片的粒度越大，固有不清晰度也就越大。 （ ） 19. 顯影不足或過(guò)度，會(huì)影響底片對(duì)比度，但不會(huì)影響顆粒度。 （ ） 20. 可以采取增大焦距的辦法使尺寸較大的源的照相幾何不清晰度與尺寸較小的源完全一樣。 （ ） 21. 散射線只影響主因?qū)Ρ榷?，不影響膠片對(duì)比度。 （ ） 22. 底片黑度只影響膠片對(duì)比度，與主因?qū)Ρ榷葻o(wú)關(guān)。 （ ） 23. 射線的能量同時(shí)影響照相的對(duì)比度、清晰度、顆粒度。 （ ） 24. 透照有余高的焊縫時(shí)，所選擇的“最佳黑度”就是指能保證焊縫部位和母材部位得到相同像質(zhì)計(jì)靈敏度顯示的黑度值。 （ ） 25. 底片黑度只影響對(duì)比度，不影響清晰度。 （ ） 26.

4、固有不清晰度是由于使溴化銀感光的電子在乳劑層中有一定的穿越行程而造成的。 （ ） 27. 底片能夠記錄的影像細(xì)節(jié)的最小尺寸取決于顆粒度。 （ ） 選擇題 1. 從可檢出最小缺陷的意義上說(shuō)，射線照相靈敏度取決于（ D） A. 底片成像顆粒度 B. 底片上缺陷圖像不清晰度 C. 底片上缺陷圖像對(duì)比度 D. 以上都是 2. 射線底片上兩個(gè)不同區(qū)域之間的黑度差叫做（B ） A. 主因反差 B. 底片反差 C. 清晰度 D. 膠片反差 3. 影響主因?qū)Ρ榷鹊氖牵?D） A. 射線的波長(zhǎng) B. 散射線 C. 工件的厚度差 D. 以上都是 4. 射線底片上缺陷輪廓鮮明的程度叫做（C ） A. 主因?qū)Ρ榷?B

5、. 顆粒度 C. 清晰度 D. 膠片對(duì)比度 5. 幾何不清晰度也可以稱為（D ） A. 固有不清晰度 B幾何放大 C. 照相失真 D. 半影 6. 射線透照的幾何不清晰度（C ） A. 與工件厚度成正比，與焦點(diǎn)尺寸成反比 B. 與工件厚度成反比，與焦點(diǎn)尺寸成反比 C. 與焦點(diǎn)尺寸成正比，與焦距成反比 D. 與焦點(diǎn)尺寸成反比，與焦距成正比 7. 決定細(xì)節(jié)在射線底片上可記錄最小尺寸的是（ C） A對(duì)比度 B. 不清晰度 C. 顆粒度 D. 以上都是 8. 射線底片的顆粒性是由什么因素造成的（D ） A. 影像顆?；蝾w粒團(tuán)塊的不均與分布 B. 底片單位面積上顆粒數(shù)的統(tǒng)計(jì)變化 C. 顆粒團(tuán)塊的重重疊疊

6、 D. 以上都是 9. 下列四種因素中，不能減小幾何不清晰度的因素是（ C） A. 射源到膠片的距離 B. 膠片到工件的距離 C. 射源的強(qiáng)度 D. 射源的尺寸 10. 減小幾何不清晰度的方法是（ C） A. 選用焦點(diǎn)較大的射源 B. 使用感光速度較快的膠片 C. 增大射源到膠片的距離 D. 增大工件到膠片的距離 11. 固有不清晰度與下列哪一因素有關(guān)（ D） A. 源尺寸 B. 膠片感光度 C. 膠片粒度 D. 射線能量 12. 為了提高透照底片的清晰度，選擇焦距時(shí)，應(yīng)該考慮的因素是（ D） A. 射源的尺寸，射源的強(qiáng)度，膠片類型 B. 工件厚度，膠片類型，射源類型 C. 射源強(qiáng)度，膠片類型

7、，增感屏類型 D. 射源尺寸，幾何不清晰度，工件厚度 13. 下列四種因素中對(duì)底片的清晰度無(wú)任何影響的是（D ） A. 射源的焦點(diǎn)尺寸 B. 增感屏的類型 C. 射線的能量 D. 底片的黑度 14. 在射線照相中，使缺陷影象發(fā)生畸變最重要的原因是（ D） A. 射源尺寸 B. 射源到缺陷的距離 C. 缺陷到膠片的距離 D. 缺陷相對(duì)于射源和膠片的位置和方向 15. 下面關(guān)于幾何修正系數(shù)的敘述，那一條是錯(cuò)誤的（D ） A. 當(dāng)缺陷尺寸小于射源尺寸時(shí)，才需要引入對(duì)底片對(duì)比度進(jìn)行修正 B. 值越小，幾何條件對(duì)底片對(duì)比度的影響越大 C. 為提高而改變透照位置，常用的方法是增大焦距 D. 為提高底片對(duì)比

8、度，應(yīng)盡量采用1的透射布置 16. 透照有余高的焊縫時(shí)，為使像質(zhì)計(jì)金屬絲在焊縫和母材部位得到相同顯示，應(yīng)（A ） A. 根據(jù)焊縫的余高X選擇合適的射線能量 B. 盡量選擇較高能量射線 C. 盡量選擇較低能量射線 D. 以上都不對(duì) 17. 以下哪一個(gè)參數(shù)不被認(rèn)為是影響裂紋檢出的關(guān)鍵參數(shù)（ A） A. 長(zhǎng)度L B. 開(kāi)口寬度W C. 自身高度d D. 裂紋與射線角度 18. 透照板厚一定且有余高的焊縫，散射比隨有效能量的提高而（B ） A. 增大 B. 減小 C. 不變 D. 不一定 19. 用單壁外透法透照同一筒體時(shí)，如不考慮焦點(diǎn)投影尺寸的變化，焊縫Ug與環(huán)縫Ug的區(qū)別是：在一張底片的不同部位（

9、 A）A. 縱縫Ug值各處都一樣，而環(huán)縫Ug值隨部位而變化B. 環(huán)縫Ug值各處都一樣，而縱縫Ug值隨部位而變化C. 無(wú)論縱縫、環(huán)縫，Ug值在任何部位都相同，不發(fā)生變化D. 以上都不是。 20. 用置于透照區(qū)中心附近的鉑鎢雙絲透度計(jì)可以從射線底片上測(cè)出一定管電壓下的（ C） A. 吸收系數(shù) B. 散射因子 C. 固有不清晰度 D. 形狀修正系數(shù) 21. 下列哪一因素的變化不會(huì)改變射線照相的主因?qū)Ρ榷龋― ） A. 試件的材質(zhì) B. 射線的能譜 C. 散射線的分布 D. 毫安分或居里分 22. 下列哪一因素對(duì)照相底片顆粒性無(wú)明顯影響？（ B） A. 顯影程度 B. 使用鉛增感屏 C. 射線穿透力

10、D. 使用熒光增感屏 23. 工件中靠近射源一側(cè)的缺陷圖像，在下列哪種情況下清晰度最差？（ C） A. 焦距增大 B. 焦點(diǎn)尺寸減小 C. 工件厚度增大 D.膠片與工件距離減小 24. 下列哪一參數(shù)不是影響小缺陷射線照相清晰度和對(duì)比度的共同因素？（ B） A. 焦點(diǎn)或射源尺寸 B. 黑度 C. 焦距 D. 射線線質(zhì) 25. 決定缺陷在射線透照方向上可檢出最小厚度差的因素是（A ） A. 對(duì)比度 B. 不清晰度 C. 顆粒度 D. 以上都不是 26. 膠片與增感屏貼合不緊，會(huì)明顯影響射線照相的（B ） A. 對(duì)比度 B. 不清晰度 C. 顆粒度 D. 以上都不是 問(wèn)答題： 1、什么是射線照相靈敏

11、度？絕對(duì)靈敏度和相對(duì)靈敏度的概念又是什么？ 2、簡(jiǎn)述像質(zhì)計(jì)靈敏度和自然缺陷靈敏度的區(qū)別和聯(lián)系？ 3、什么是影響射線照相影像質(zhì)量的三要素？ 4、什么叫主因?qū)Ρ榷?？什么叫膠片對(duì)比度？它們與射線照相對(duì)比度的關(guān)系如何？5、就像質(zhì)計(jì)金屬絲的底片對(duì)比度公式討論提高對(duì)比度的主要途徑，并說(shuō)明通過(guò)這些途徑提高對(duì)比度可能會(huì)帶來(lái)什么缺點(diǎn)？6、何謂固有不清晰度？7、固有不清晰度大小與哪些因素有關(guān)？8、何謂幾何不清晰度？其主要影響因素有哪些？ 9、實(shí)際照相中，底片上各點(diǎn)的值是否變化？有何規(guī)律？ 10、試述和關(guān)系以及對(duì)照相質(zhì)量的影響。 11、試述底片影響顆粒度及影響因素。 12、采用源在外的透照方式比源在內(nèi)透照方式更有利

12、于內(nèi)壁表面裂紋的檢出，這一說(shuō)法是否正確，為什么？ 13、在底片黑度，像質(zhì)計(jì)靈敏度符合要求的情況下，哪些缺陷仍會(huì)漏檢？ 參考答案： 1、 答：射線照相靈敏度是評(píng)價(jià)射線照相質(zhì)量的最重要的指標(biāo)，從定量方面來(lái)說(shuō)，是指在射線底片上可以觀察到的最小缺陷尺寸或最小細(xì)節(jié)尺寸；從定性方面來(lái)說(shuō)，是指發(fā)現(xiàn)和識(shí)別細(xì)小影像的難易程度。 絕對(duì)靈敏度是指在射線照相底片上所能發(fā)現(xiàn)的沿射線穿透方向上的最小缺陷尺寸。 相對(duì)靈敏度是指該最小缺陷尺寸與射線透照厚度的百分比。 2、 答：為便于定量評(píng)價(jià)射線照相靈敏度，常用與被檢工件或焊縫的厚度有一定百分比關(guān)系的人工結(jié)構(gòu)，如金屬絲、孔、槽等組合所謂透度計(jì)，又稱為像質(zhì)計(jì)，作為底片影像質(zhì)量的

13、監(jiān)測(cè)工具，由此得到的靈敏度稱為像質(zhì)計(jì)靈敏度。 自然缺陷靈敏度是指在射線照相底片上所能發(fā)現(xiàn)的工件中的最小缺陷尺寸。 像質(zhì)計(jì)靈敏度不等于自然缺陷靈敏度，因?yàn)樽匀蝗毕蒽`敏度是缺陷的形狀系數(shù)、吸收系數(shù)和三維位置的函數(shù)；但像質(zhì)計(jì)靈敏度的提高，表示底片像質(zhì)水平也相應(yīng)提高，因而也能間接地反映出射線照相相對(duì)最小自然缺陷檢出能力的提高。3、答：影響射線照相影像質(zhì)量的三個(gè)要素是：對(duì)比度、清晰度、顆粒度。射線照相對(duì)比度定義為射線照相底片上某一小區(qū)域和相鄰區(qū)域的黑度差。 射線照相清晰度定義為射線照相底片上的黑度變化過(guò)渡區(qū)域的寬度。用來(lái)定量描述清晰度的是“不清晰度”。 射線照相顆粒度是根據(jù)測(cè)微光密度計(jì)測(cè)出的數(shù)據(jù)，按一定

14、方法求出的所謂底片黑度漲落的客觀量值。 4、 答：由于不同區(qū)域射線強(qiáng)度存在差異所產(chǎn)生的對(duì)比度稱為主因?qū)Ρ榷龋鋽?shù)學(xué)表達(dá)式為： I/I=(T)/(1+n) 式中：I：透過(guò)試件到達(dá)膠片的射線強(qiáng)度；I：局部區(qū)域射線強(qiáng)度增量； ：射線的吸收系數(shù)；T：局部區(qū)域透射厚度差；n：散射比。 由上式可以看出，主因?qū)Ρ榷热Q于透照厚度差、射線的質(zhì)以及散射比。 膠片對(duì)比度就是膠片梯度，用膠片平均反差系數(shù)定量表示，數(shù)學(xué)式為：G =D/lgE 式中：G：膠片平均反差系數(shù)；D：底片黑度差；lgE：曝光量對(duì)數(shù)值的增量。 影響膠片對(duì)比度的因素有：膠片類型、底片黑度、顯影條件。 射線照相底片對(duì)比度是主因?qū)Ρ榷群湍z片對(duì)比度的綜合

15、結(jié)果，主因?qū)Ρ榷仁菢?gòu)成底片對(duì)比度的根本因素，膠片對(duì)比度可以看作是主因?qū)Ρ榷鹊姆糯笙禂?shù)。5、答：像質(zhì)計(jì)金屬絲底片對(duì)比度公式： D=0.434Gd(1+n)提高對(duì)比度主要途徑和由此帶來(lái)的缺點(diǎn):1、增大v值。在保證穿透力的前提下，盡量采用能量較低的射線，但這樣會(huì)使曝光時(shí)間增加。2、增大G值。可選用G值更高的微粒膠片；由于非增感型膠片G值和黑度成正比，也可通過(guò)提高底片黑度增大G值。但高G值的微粒膠片感光速度往往較慢，需要增大曝光時(shí)間，提高黑度也需要增加曝光時(shí)間，此外，黑度的提高會(huì)增大最小可見(jiàn)對(duì)比度D，對(duì)靈敏度產(chǎn)生不利影響。3、提高F值?？蛇x擇焦點(diǎn)尺寸大小的射源，或增大焦距，這樣做也會(huì)使曝光時(shí)間延長(zhǎng)。4

16、、減小N值。要減小散射線，就要使用鉛窗口與鉛屏蔽，這些也將降低工作效率，使曝光時(shí)間延長(zhǎng)。 6、 答：當(dāng)射線穿過(guò)膠片時(shí)，會(huì)在乳劑層中激發(fā)出電子，這些電子具有一定動(dòng)能，會(huì)向各個(gè)方向飛散，并能使途經(jīng)的鹵化銀晶體感光，其結(jié)果使得試件輪廓或缺陷在底片上的影像產(chǎn)生一個(gè)黑度過(guò)渡區(qū)，造成影像模糊，這個(gè)過(guò)渡區(qū)稱為固有不清晰度Ui。 7、 答：固有不清晰度Ui值受以下因素影響： （1）射線的質(zhì)。透照射線的光子能量越高，激發(fā)的電子在乳劑層中的行程就越長(zhǎng)，固有不清晰度也就越大。 （2）增感屏。據(jù)文獻(xiàn)報(bào)道：在中低能量射線照相中，使用鉛增感屏的底片的固有不清晰度大于不使用鉛增感屏的底片；增感屏厚度增加也會(huì)引起固有不清晰度

17、增大；在射線和高能量X射線照相中，使用銅屏、鉭屏、鎢屏、鋼屏的固有不清晰度均小于鉛屏。 （3）屏片貼緊程度。透照時(shí)，如暗盒內(nèi)增感屏和膠片貼合不緊，留有間隙，會(huì)使固有不清晰度增大。 固有不清晰度與膠片的類型和粒度無(wú)關(guān)，與暗室處理?xiàng)l件無(wú)關(guān)。8、 答：由于射線源具有一定尺寸，所以照相時(shí)工件表面輪廓或工件中的缺陷在底片上的影像邊緣會(huì)產(chǎn)生一定的寬度的半影；此半影寬度就是幾何不清晰度Ug， Ug的最大值Ug發(fā)生在遠(yuǎn)離膠片的工件表面。 Ug的計(jì)算式: : Ug=df b/ /(F-b)；Ug=df L2/ /L1 式中：df：射源尺寸；F：焦距；b：缺陷至膠片距離； L1：焦點(diǎn)至工件表面距離；L2：工件表面

18、至膠片距離。 由以上公式可知，Ug值與射源尺寸和缺陷位置或工件表面至膠片距離成正比，與射源至工件表面距離成反比。 9、 答：實(shí)際照相中，底片上不同部位影像的Ug值是不同的，但為了簡(jiǎn)化計(jì)算，便于應(yīng)用，有關(guān)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)僅以透照中心部位的最大Ug值作為控制指標(biāo)。對(duì)不同部位Ug值的變化忽略不計(jì)。底片上不同部位的Ug值變化規(guī)律如下： （1）焦點(diǎn)尺寸變化引起Ug值變化：由于X射線管的結(jié)構(gòu)原因，沿射線管軸向不同位置焦點(diǎn)投影尺寸是變化的。陽(yáng)極側(cè)焦點(diǎn)小，陰極側(cè)焦點(diǎn)大。因此底片上偏向陽(yáng)極一側(cè)的Ug值小，偏向陰極一側(cè)的Ug值大、 （2）L2/ /L1變化引起Ug值變化：透照縱縫時(shí)，被檢區(qū)域各部位L2/ /L1不變，Ug

19、值不變，而透照環(huán)縫時(shí)，被檢區(qū)域各部位的L/ /L值都比中心部位要大，因此端部的Ug值也會(huì)增大。 10、 答：可簡(jiǎn)要?dú)w納為以下幾點(diǎn)： （1）射線照相中，通常主要考慮的事幾何不清晰度Ug值和固有不清晰度Ui，兩者共同作用形成總的不清晰度U，比較廣泛的表達(dá)U、Ug、Ui的關(guān)系式是： U2= Ug2+ Ui 2 （2）由于U是Ug和Ui的綜合結(jié)果，提高清晰度效果顯著的方法是設(shè)法減小Ug和Ui中較大的一個(gè)，而不是較小的一個(gè)。例如，當(dāng)Ui值遠(yuǎn)小于Ug值時(shí)，再進(jìn)一步減小Ui值，以期望減小U，其效果是不顯著的。 （3）在X射線照相中，Ui值很小，影響照相清晰度的決定因素是Ug值。 （4）在Co60，Cs137

20、及Ir192射線照相中，Ui值較大，對(duì)照相清晰度有顯著影響，為提高清晰度，宜盡量減小Ug，使之不超過(guò)Ui值?？紤]提高對(duì)細(xì)小裂紋的檢出率宜選擇Ug=Ui的條件，必要時(shí)可取Ug=Ui/2的透照幾何條件。 11、答：底片影像是由許多形狀大小不一的顆粒組成的，人們觀察影像時(shí)在感覺(jué)上產(chǎn)生的不均一或不均勻的印象稱為顆粒性，用儀器測(cè)定由各影像不均勻引起的透射光強(qiáng) 變化，其測(cè)定結(jié)果稱為顆粒度。由于顆粒大小事隨機(jī)分布的，目前較通過(guò)的方法是用直徑24微米的掃描孔測(cè)定顆粒度。 肉眼所觀察到的顆粒團(tuán)實(shí)際上是許多顆粒交互重跌生成的影像。影像顆粒與膠片鹵化銀顆粒是不同的概念 影像顆粒度大小取決于以下因素：膠片鹵化銀粒度、

21、曝光光子能量和顯影條件。 12、 答：采用源在外的透照方式比源在內(nèi)的透照方式更有利于內(nèi)壁表面裂紋的檢出，這一說(shuō)法是正確的，在試驗(yàn)和實(shí)際工作中均已得到驗(yàn)證，從理論上分析也是有道理的。 當(dāng)源在內(nèi)透照時(shí)，膠片貼在工件表面，由幾何不清晰度公式Ug=b/ /(F-b)可知，裂紋影像存在一定的幾何不清晰度，此外，由于裂紋的開(kāi)口尺寸W大大小于焦點(diǎn)尺寸，幾何修正系數(shù)大大小于1，照相幾何條件（焦距F、缺陷到膠片距離b）會(huì)對(duì)裂紋影像對(duì)比度產(chǎn)生影響，使對(duì)比度下降，從而使缺陷檢出率降低。 而當(dāng)源在外透照時(shí)，膠片貼在工件內(nèi)表面，此時(shí)膠片與內(nèi)表面裂紋的距離b值最小裂紋影像的幾何不清晰度最小，對(duì)比度也最高，所以缺陷檢出率高

22、。 13、 答：（1）小缺陷。如果小缺陷的影像尺寸小于不清晰度尺寸，影像對(duì)比度小于最小可見(jiàn)對(duì)比度，便不能識(shí)別。因此對(duì)一定的透照條件，存在著一個(gè)可檢出缺陷臨界尺寸，小于臨界尺寸的缺陷便不能檢出；例如：小氣孔、夾雜、微裂紋、白點(diǎn)等。 （2）與照射方向不平行的平面型缺陷。平面型缺陷具有方向性，當(dāng)缺陷平面與射線之間夾角過(guò)大，會(huì)使對(duì)比度減低，甚至在底片上不產(chǎn)生影像，從而造成漏檢。例如：坡口及層間未融合、鋼板分層的漏檢以及透照工藝不當(dāng)，角過(guò)大造成橫向裂紋漏檢屬此類情況。 （3）閉合緊密的缺陷。對(duì)某些緊閉缺陷即使透照角度在允許范圍內(nèi)，仍不能產(chǎn)生足夠的透照厚度差，從而造成漏檢。例如：緊閉的裂紋、未融合、鍛件中

23、的折迭等。 四、計(jì)算題 1. 用33mmIr92源內(nèi)透中心法透照內(nèi)徑1200mm，壁厚38mm的容器對(duì)接雙面焊環(huán)焊縫，求U g。 2. 用44mmIr92源內(nèi)透照50mm厚的雙面焊對(duì)接焊縫，欲使U g 0.2mm，求射源至膠片最小距離？ 3. 透照板厚為40mm的雙面焊對(duì)接焊縫，焦距600mmX射線機(jī)焦點(diǎn)尺寸22mm，照相幾何不清晰度U g為多少？如透照管電壓為300KV，又已知固有不清晰度與管電壓千伏值V的關(guān)系式為ui=0.0013,試計(jì)算固有不清晰度值，并計(jì)算出總的不清晰度U值為多少？ 4. 采用雙壁雙影透照763的管子對(duì)接焊縫，已知射源尺寸為3mm，焦距600mm,求膠片側(cè)和射源側(cè)焊縫的

24、幾何不清晰度 ug1和ug2。 5. 透照板厚34mm的雙面焊對(duì)接焊縫，射源尺寸為22mm，焦距600mm,透照管電壓280KV，試計(jì)算:透度計(jì)放射源側(cè)時(shí)的影象幾何不清晰度和總的不清晰度。透度計(jì)放膠片側(cè)時(shí)的影象幾何不清度和總的不清晰度（設(shè)固有不清晰度Ui與管電壓千伏值V的關(guān)系為Ui=0.0013；透度計(jì)放膠片側(cè)時(shí)，設(shè)透度計(jì)至膠片距離L2=1mm） 參考答案： 1.解：已知df=3mm，L1=600mm，壁厚T=38mm 焊縫余高取4 mm（雙面） 根據(jù)公式：Ug=dfL2/L1=342/600=126/600=0.21 mm 答：幾何不清晰度Ug=0.21 mm 2、解：已知df=4mm，壁厚T=50mm 焊縫余高取4 mm（雙面）Ug=0.20 mm 根據(jù)公式：Ug=dfL2/L1=0.2 mm=454/ L1 L1=454/ 0.2=1080