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1、會(huì)計(jì)學(xué)1級(jí)無(wú)損檢測(cè)人員復(fù)試級(jí)無(wú)損檢測(cè)人員復(fù)試(fsh) 專(zhuān)題三專(zhuān)題三 特種特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備校準(zhǔn)或核查的探設(shè)備無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備校準(zhǔn)或核查的探討謝常歡討謝常歡第一頁(yè),共59頁(yè)。困惑(knhu):無(wú)損檢測(cè)(jin c)儀器設(shè)備需要檢定嗎?有專(zhuān)家(zhunji)說(shuō):不需要第1頁(yè)/共59頁(yè)第二頁(yè),共59頁(yè)。JJG452- 1986 2006黑白標(biāo)準(zhǔn)黑白標(biāo)準(zhǔn)(biozhn)密度片檢定規(guī)程密度片檢定規(guī)程JJG100-1992磁粉探傷機(jī)檢定規(guī)程磁粉探傷機(jī)檢定規(guī)程JJG403-1986超聲波測(cè)厚儀檢定超聲波測(cè)厚儀檢定(jindng)規(guī)程、規(guī)程、JJF1126-2004超聲波測(cè)厚超聲波測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)程)儀校
2、準(zhǔn)規(guī)程)JJG747-1999里氏硬度計(jì)檢定規(guī)程等,里氏硬度計(jì)檢定規(guī)程等,JJG112-2003 金屬金屬(jnsh)洛氏硬度計(jì)檢定規(guī)程洛氏硬度計(jì)檢定規(guī)程JJG768-2005發(fā)射光譜儀檢定規(guī)程等。發(fā)射光譜儀檢定規(guī)程等。也有專(zhuān)家說(shuō):需要,凡是有JJG 的必須送檢定并認(rèn)為:檢定才是合法的,因無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備已制定有一些計(jì)量檢定規(guī)程,如:校準(zhǔn)合理不合法JJG746-2004超聲波探傷儀檢定規(guī)程JJG40-2001X射線(xiàn)機(jī)檢定規(guī)程第2頁(yè)/共59頁(yè)第三頁(yè),共59頁(yè)。在2008年6月遠(yuǎn)東無(wú)損檢測(cè)新技術(shù)論壇發(fā)表“特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備檢定與校準(zhǔn)(jio zhn)的思考 ”在2009年6月遠(yuǎn)東無(wú)損檢測(cè)新技
3、術(shù)論壇發(fā)表“確保特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)檢測(cè)數(shù)據(jù)準(zhǔn)確與檢測(cè)結(jié)果可靠(kko)的基礎(chǔ) ” (三等獎(jiǎng))在2010年6月遠(yuǎn)東無(wú)損(w sn)檢測(cè)新技術(shù)論壇發(fā)表“無(wú)損(w sn)檢測(cè)儀器設(shè)備內(nèi)部校準(zhǔn)的有效性 ” (二等獎(jiǎng))“無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備內(nèi)部校準(zhǔn)的有效性 ”被遠(yuǎn)東無(wú)損檢測(cè)新技術(shù)論壇推薦發(fā)表在2010年第10期無(wú)損檢測(cè)筆者從:確保無(wú)損檢測(cè)檢測(cè)數(shù)據(jù)準(zhǔn)確和結(jié)果可靠的角度,從規(guī)避無(wú)損檢測(cè)的法律責(zé)任的角度去思考/探討:校準(zhǔn)、檢定、核查等問(wèn)題。第44頁(yè)第3頁(yè)/共59頁(yè)第四頁(yè),共59頁(yè)。一、有效的量值溯源是提高無(wú)損檢測(cè)(jin c)數(shù)據(jù)準(zhǔn)確與結(jié)論可靠的基礎(chǔ)無(wú)損檢測(cè)一般應(yīng)用于特種設(shè)備、建筑結(jié)構(gòu)、鋼結(jié)構(gòu)、橋梁、船舶、核設(shè)
4、施以及航空航天器等領(lǐng)域,從事的均是與安全有關(guān)的、出具公正性檢測(cè)數(shù)據(jù)(shj)(和結(jié)論)的工作,應(yīng)確保檢測(cè)數(shù)據(jù)(shj)準(zhǔn)確和檢測(cè)結(jié)果可靠 。在特種設(shè)備領(lǐng)域,國(guó)務(wù)院2009第549號(hào)令特種設(shè)備安全監(jiān)察條例第六條規(guī)定:“特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu),進(jìn)行檢驗(yàn)檢測(cè)工作時(shí),應(yīng)對(duì)其檢驗(yàn)檢測(cè)結(jié)果、鑒定結(jié)論承擔(dān)法律責(zé)任”。刑事責(zé)任(坐牢)、行政責(zé)任(降職) 、民事責(zé)任(賠償)第十條規(guī)定:“特種設(shè)備生產(chǎn)單位對(duì)其生產(chǎn)的特種設(shè)備的安全性能和能效指標(biāo)負(fù)責(zé)” 。責(zé)任追究與調(diào)查:國(guó)務(wù)院關(guān)于特大安全事故行政責(zé)任追究的規(guī)定 ( 2001年 國(guó)務(wù)院令第302號(hào) )特種設(shè)備事故報(bào)告和調(diào)查處理規(guī)定 ( 2009年 質(zhì)檢總局第115號(hào)令
5、)特種設(shè)備事故調(diào)查處理導(dǎo)則 TSG Z0006-2009第32頁(yè)第4頁(yè)/共59頁(yè)第五頁(yè),共59頁(yè)。這就意味著,特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)與無(wú)損檢測(cè)人員時(shí)時(shí)都面臨著刑事(xngsh)責(zé)任、行政責(zé)任和民事責(zé)任等法律責(zé)任。怎樣(znyng)從客觀(guān)上確保檢測(cè)數(shù)據(jù)準(zhǔn)確、檢測(cè)結(jié)果可靠,讓檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)與無(wú)損檢測(cè)人員最大限度地減低法律責(zé)任風(fēng)險(xiǎn)呢?第5頁(yè)/共59頁(yè)第六頁(yè),共59頁(yè)。為確保檢測(cè)數(shù)據(jù)準(zhǔn)確和檢測(cè)結(jié)果可靠,應(yīng)以無(wú)損檢測(cè)數(shù)據(jù)的量值溯源(syun)為基礎(chǔ),中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)CNAS-CL06量值溯源(syun)要求的前言認(rèn)為:“量值溯源(syun)的一致性是國(guó)際間相互承認(rèn)測(cè)量結(jié)果的前提條件,CNAS將量值
6、溯源(syun)視為測(cè)量結(jié)果可信性的基礎(chǔ)”。也就是說(shuō),如果(rgu)在檢測(cè)儀器設(shè)備管理上不實(shí)行量值溯源的話(huà),那么檢測(cè)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確、檢測(cè)結(jié)果的可靠就無(wú)從談起了!問(wèn)題是:如何有效地實(shí)現(xiàn)(shxin)無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備量值溯源?這是我們?cè)趯?duì)特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備實(shí)際管理中須要解決的問(wèn)題。China National Accreditation Service for Conformity Assessment第6頁(yè)/共59頁(yè)第七頁(yè),共59頁(yè)。二、量值溯源(syun)的方式特種設(shè)備的生產(chǎn)單位(含制造、安裝、改造、維修單位),在執(zhí)行TSGZ0004-2007特種設(shè)備制造安裝改造維修質(zhì)量保證體系基本要求時(shí),
7、附件“基本要素”第13款規(guī)定,“設(shè)備和檢驗(yàn)與試驗(yàn)裝置必須(bx)有檢定校準(zhǔn)、檢定校準(zhǔn)計(jì)劃、檢定校準(zhǔn)記錄、檢定校準(zhǔn)標(biāo)識(shí)”。特種設(shè)備的生產(chǎn)(shngchn)單位(制造、安裝、改造、維修單位),在執(zhí)行ISO 9001:2008質(zhì)量管理體系 要求時(shí),7.6款規(guī)定:“監(jiān)視和測(cè)量設(shè)備按照規(guī)定的時(shí)間間隔或在使用前進(jìn)行校準(zhǔn)和(或)驗(yàn)證”。凡從事特種設(shè)備、建筑、道路、航空、船舶、核工業(yè)等制造、安裝行業(yè)(含有無(wú)損檢測(cè)),多 會(huì)申請(qǐng)執(zhí)行ISO 9000第7頁(yè)/共59頁(yè)第八頁(yè),共59頁(yè)。特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu),在執(zhí)行特種設(shè)備資格核準(zhǔn)的TSG Z7003特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)質(zhì)量體系要求時(shí),第十九條規(guī)定:“檢測(cè)儀器設(shè)備在投
8、入工作前應(yīng)當(dāng)進(jìn)行檢定(校準(zhǔn))、核查,以驗(yàn)證其能夠滿(mǎn)足檢驗(yàn)檢測(cè)的需要”。特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu),在執(zhí)行計(jì)量認(rèn)證的實(shí)驗(yàn)室資質(zhì)認(rèn)定評(píng)審準(zhǔn)則時(shí),第條規(guī)定:“實(shí)驗(yàn)室應(yīng)確保其相關(guān)檢測(cè)結(jié)果能夠溯源至國(guó)家基標(biāo)準(zhǔn)。實(shí)驗(yàn)室應(yīng)制定和實(shí)施儀器設(shè)備的校準(zhǔn)和/或檢定(驗(yàn)證)、確認(rèn)的總體要求”; 第條規(guī)定:“用于檢測(cè)和/或校準(zhǔn)的對(duì)檢測(cè)、校準(zhǔn)和抽樣結(jié)果的準(zhǔn)確性或有效性有顯著影響的所有設(shè)備,包括輔助(fzh)測(cè)量設(shè)備(例如用于測(cè)量環(huán)境條件的設(shè)備),在投入使用前應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)” 。凡從事無(wú)損(w sn)檢測(cè)的行業(yè),如:特種設(shè)備、建筑、道路、航空、船舶、核工業(yè)、商檢,多 會(huì)申請(qǐng)執(zhí)行計(jì)量(jling)認(rèn)證CMA第8頁(yè)/共59頁(yè)第九頁(yè),共5
9、9頁(yè)。特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu),在執(zhí)行實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可的 CNAS-CL01檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)則(等同 ISO/IEC 17025:2005)第條的規(guī)定:“對(duì)結(jié)果有重要影響的儀器的關(guān)鍵量或值,應(yīng)制定校準(zhǔn)計(jì)劃。 設(shè)備(包括用于抽樣的設(shè)備)在投入服務(wù)前應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)或核查(Before beingplaced into service, equipment shall be calibrated or checked),以證實(shí)其能夠滿(mǎn)足實(shí)驗(yàn)室的規(guī)范要求和相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。 設(shè)備在使用前應(yīng)進(jìn)行核查和/或校準(zhǔn)(shall be checked and/or calibrated before use)”上述提
10、及的檢測(cè)儀器設(shè)備的校準(zhǔn)、檢定、核查等規(guī)定,其實(shí)都是執(zhí)行量值溯源的不同方式,需要區(qū)分出最有效(yuxio)的溯源方式,以圖達(dá)到檢測(cè)數(shù)據(jù)準(zhǔn)確、檢測(cè)結(jié)果可靠的要求。從CNAS網(wǎng)站上搜索,具有實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可(rnk)(ISO/IEC 17025)的無(wú)損檢測(cè)公司:煙臺(tái)華健、深圳市興安科、廣州黃埔廣石化、廣東華泰、深圳發(fā)利構(gòu)件、吉林亞新、深圳太科、深圳神視、深圳市中昌、惠州市天目、茂名威特、茂名長(zhǎng)安、桂林南方、深圳程錦鵬、法利嘉航、廣州華楠、廣州帕理、重慶波特(b t)、南京金陵、天津宏迪、杭州華安、揚(yáng)州亞飛、南京力聚、上海寶冶。第9頁(yè)/共59頁(yè)第十頁(yè),共59頁(yè)。如何保證量值溯源的有效性,在中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)
11、可委員會(huì)CNAS-WI14-01:2006實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可評(píng)審(pn shn)工作指導(dǎo)書(shū) 規(guī)定:謝常歡 無(wú)損檢測(cè)3級(jí)人員 復(fù)試講課稿實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可評(píng)審(pn shn)工作指導(dǎo)書(shū).doc5 現(xiàn)場(chǎng)現(xiàn)場(chǎng)(xinchng)評(píng)審時(shí)常遇問(wèn)題的處理評(píng)審時(shí)常遇問(wèn)題的處理5.6 對(duì)量值溯源有效性的要求:對(duì)量值溯源有效性的要求:CNAS承認(rèn)的量值溯源的機(jī)構(gòu)有:CNAS認(rèn)可的校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室;APLAC、ILAC 多邊承認(rèn)協(xié)議成員認(rèn)可的校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室;中國(guó)法定計(jì)量體系中依法設(shè)置的計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)。現(xiàn)場(chǎng)評(píng)審時(shí),被評(píng)審方提供的計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)出具的檢定證書(shū)至少或可獲得包含滿(mǎn)足CNAS-CL01中對(duì)量值溯源要求的信息,至少包括:相關(guān)數(shù)據(jù)信息;不確定
12、度信息(可通過(guò)推算得到);量值溯源信息。第10頁(yè)/共59頁(yè)第十一頁(yè),共59頁(yè)。問(wèn)題(wnt):怎么區(qū)分無(wú)損檢測(cè)(jin c)儀器設(shè)備檢定或校準(zhǔn)?如何實(shí)施檢定?如何實(shí)施校準(zhǔn)?第11頁(yè)/共59頁(yè)第十二頁(yè),共59頁(yè)。(一)檢定(jindng)檢定(jindng)屬于中華人民共和國(guó)計(jì)量法(1985年9月6日)計(jì)量管理范疇的執(zhí)法行為,具有法定性,檢定(jindng)的結(jié)論具有法律效力。檢定(jindng)的目的是對(duì)測(cè)量器具的計(jì)量特征及技術(shù)要求的全面評(píng)價(jià),這種全面評(píng)定屬于量值統(tǒng)一的范疇,是自上而下的量值傳遞過(guò)程。根據(jù)(gnj)計(jì)量法的規(guī)定,凡列入中華人民共和國(guó)強(qiáng)制檢定的工作計(jì)量器具明細(xì)目錄(原國(guó)家計(jì)量局1
13、987量局法字第188號(hào),后國(guó)家質(zhì)檢總局先后三次頒布國(guó)家強(qiáng)制檢定目錄:技監(jiān)局量發(fā)1991374號(hào)、質(zhì)技監(jiān)局政發(fā)199915號(hào)、國(guó)質(zhì)檢2001162號(hào),共計(jì)61項(xiàng)、118種別)的,并直接用于貿(mào)易結(jié)算、安全防護(hù)、醫(yī)療衛(wèi)生、環(huán)境監(jiān)測(cè)方面的檢測(cè)儀器設(shè)備(工作計(jì)量器具),必須嚴(yán)格依法定點(diǎn)、定期送有資格的法定計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)或者授權(quán)計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)進(jìn)行強(qiáng)制檢定,檢定合格的發(fā)檢定合格證書(shū)。第33頁(yè)第12頁(yè)/共59頁(yè)第十三頁(yè),共59頁(yè)。列入強(qiáng)制檢定的有:天平、壓力表、接地電阻測(cè)量?jī)x表、絕緣電阻測(cè)量?jī)x、有害氣體分析儀、電離輻射防護(hù)儀(射線(xiàn)監(jiān)測(cè)儀、照射量率儀、放射性表面污染儀、個(gè)人劑量計(jì)等)。計(jì)量檢定的依據(jù)必須是計(jì)量檢定
14、規(guī)程(guchng)(JJG)。國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程(guchng)由國(guó)務(wù)院計(jì)量(jling)行政部門(mén)制定。所以(suy),有專(zhuān)家說(shuō):凡是有JJG的必須送檢定。雖然無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備已制定有一些計(jì)量檢定規(guī)程,如:JJG746-2004超聲波探傷儀檢定規(guī)程、JJG40-2001X射線(xiàn)機(jī)檢定規(guī)程、JJG452-1986(2006)黑白標(biāo)準(zhǔn)密度片檢定規(guī)程、JJG100-1992磁粉探傷機(jī)檢定規(guī)程、JJG403-1986超聲波測(cè)厚儀檢定規(guī)程、(JJF1126-2004超聲波測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)程)、JJG747-1999里氏硬度計(jì)檢定規(guī)程等,以及:JJG112-2003 金屬洛氏硬度計(jì)檢定規(guī)程、JJG768-200
15、5發(fā)射光譜儀檢定規(guī)程等,但這些設(shè)備,一其不屬于強(qiáng)制檢定目錄中的計(jì)量器具,二其不直接用于貿(mào)易結(jié)算、安全防護(hù)、醫(yī)療衛(wèi)生、環(huán)境監(jiān)測(cè)。第13頁(yè)/共59頁(yè)第十四頁(yè),共59頁(yè)。此外凡列入中華人民共和國(guó)依法管理的計(jì)量器具目錄(型式批準(zhǔn)部分)(2005年第145號(hào),自2006年5月1日起施行 )的執(zhí)行計(jì)量器具許可證、型式批準(zhǔn)和進(jìn)口計(jì)量器具檢定。列入依法管理的有:測(cè)厚儀、接地電阻測(cè)量?jī)x表、絕緣電阻測(cè)量?jī)x、噪聲測(cè)量分析儀器、照度計(jì)、個(gè)人劑量計(jì)、電導(dǎo)儀、PH計(jì)、分光光度計(jì)測(cè)距儀、經(jīng)緯儀、全站儀、水準(zhǔn)儀、天平、流量計(jì)、材料(cilio)試驗(yàn)機(jī)、光譜儀、濁度計(jì)等。隨著我國(guó)改革開(kāi)放及經(jīng)濟(jì)的發(fā)展,我國(guó)加入WTO之后(zhh
16、u),法制計(jì)量的范圍將隨之調(diào)整,今后要強(qiáng)化檢定的法制性,屬?gòu)?qiáng)制檢定的計(jì)量器具實(shí)施檢定,非強(qiáng)制檢定的計(jì)量器具可采用校準(zhǔn)、比對(duì)、測(cè)試等方式達(dá)到統(tǒng)一量值、溯源的目的。2006第第8期無(wú)損檢測(cè):期無(wú)損檢測(cè):“無(wú)損檢測(cè)儀器無(wú)損檢測(cè)儀器”不再屬于不再屬于(shy)“依依法管理的計(jì)量器具法管理的計(jì)量器具”第14頁(yè)/共59頁(yè)第十五頁(yè),共59頁(yè)。(二)校準(zhǔn)(jio zhn)及內(nèi)部校準(zhǔn)(jio zhn)1、校準(zhǔn)、校準(zhǔn)校準(zhǔn)不具有法制性,是檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)自愿溯源行為校準(zhǔn)不具有法制性,是檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)自愿溯源行為(xngwi),校準(zhǔn)的結(jié)論不具備法律效,校準(zhǔn)的結(jié)論不具備法律效力,給出的校準(zhǔn)證書(shū)只是標(biāo)明量值誤差,屬于一種技術(shù)文件;校準(zhǔn)
17、的力,給出的校準(zhǔn)證書(shū)只是標(biāo)明量值誤差,屬于一種技術(shù)文件;校準(zhǔn)的目的是對(duì)照計(jì)量標(biāo)準(zhǔn),評(píng)定測(cè)量裝置的示值誤差,確保量值準(zhǔn)確,屬于自目的是對(duì)照計(jì)量標(biāo)準(zhǔn),評(píng)定測(cè)量裝置的示值誤差,確保量值準(zhǔn)確,屬于自下而上量值溯源的一組操作;校準(zhǔn)的依據(jù)是校準(zhǔn)規(guī)范(下而上量值溯源的一組操作;校準(zhǔn)的依據(jù)是校準(zhǔn)規(guī)范(JJF)。)。故對(duì)于大量的非強(qiáng)制檢定的檢測(cè)儀器設(shè)備,為確保其準(zhǔn)確可靠,為使其測(cè)故對(duì)于大量的非強(qiáng)制檢定的檢測(cè)儀器設(shè)備,為確保其準(zhǔn)確可靠,為使其測(cè)量結(jié)果具有溯源性,以采取校準(zhǔn)為主要方式。量結(jié)果具有溯源性,以采取校準(zhǔn)為主要方式。所以,在中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)所以,在中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)CNAS-CL06量值溯
18、源要求的前言認(rèn)為:量值溯源要求的前言認(rèn)為:“量值溯源的一致性是國(guó)際間相互承認(rèn)測(cè)量結(jié)果的前提條件,量值溯源的一致性是國(guó)際間相互承認(rèn)測(cè)量結(jié)果的前提條件,CNAS將量值溯源視將量值溯源視為測(cè)量結(jié)果可信性的基礎(chǔ)為測(cè)量結(jié)果可信性的基礎(chǔ)”。因而,校準(zhǔn)是實(shí)現(xiàn)量值統(tǒng)一和準(zhǔn)確可靠的重要途徑。實(shí)際上,校準(zhǔn)一直起因而,校準(zhǔn)是實(shí)現(xiàn)量值統(tǒng)一和準(zhǔn)確可靠的重要途徑。實(shí)際上,校準(zhǔn)一直起著這個(gè)作用,只是在我國(guó)沒(méi)有明確地確定它在量值傳遞及量值溯源中的地著這個(gè)作用,只是在我國(guó)沒(méi)有明確地確定它在量值傳遞及量值溯源中的地位,而一直由政府統(tǒng)一管理,實(shí)施單一的量值傳遞體系,僅僅采用檢定作位,而一直由政府統(tǒng)一管理,實(shí)施單一的量值傳遞體系,僅
19、僅采用檢定作為惟一合法的方式,這已不適應(yīng)目前經(jīng)濟(jì)和技術(shù)發(fā)展的需要。此外,根據(jù)為惟一合法的方式,這已不適應(yīng)目前經(jīng)濟(jì)和技術(shù)發(fā)展的需要。此外,根據(jù)校準(zhǔn)的定義,它可以直觀(guān)地理解為是確定示值誤差及其他計(jì)量特性的一組校準(zhǔn)的定義,它可以直觀(guān)地理解為是確定示值誤差及其他計(jì)量特性的一組操作,所以在實(shí)施檢定的計(jì)量性能檢查中就包含著校準(zhǔn)。操作,所以在實(shí)施檢定的計(jì)量性能檢查中就包含著校準(zhǔn)。第34頁(yè)第15頁(yè)/共59頁(yè)第十六頁(yè),共59頁(yè)。在校準(zhǔn)溯源的方式,一般選擇送CNAS承認(rèn)的量值溯源的機(jī)構(gòu)獲得外部校準(zhǔn)(external calibration)服務(wù)之外,一些檢測(cè)(jin c)實(shí)驗(yàn)室也有選擇自己對(duì)相關(guān)儀器設(shè)備進(jìn)行內(nèi)部校
20、準(zhǔn)(in-house calibration)。后者,則應(yīng)確保內(nèi)部校準(zhǔn)有效,以滿(mǎn)足量值溯源(syun)的要求(見(jiàn):四、實(shí)施有效的內(nèi)部校準(zhǔn)與核查 )。CNAS-WI14-01 CNAS承認(rèn)的量值溯源的機(jī)構(gòu)承認(rèn)的量值溯源的機(jī)構(gòu)(jgu)有:有:CNAS認(rèn)可的校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室;認(rèn)可的校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室;APLAC、ILAC多邊承認(rèn)協(xié)議成員認(rèn)可的校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室;中國(guó)法定計(jì)量體系中依法設(shè)置的計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)。CNAS CL06-2011量值溯源要求第16頁(yè)/共59頁(yè)第十七頁(yè),共59頁(yè)。3、其他、其他(qt)溯源方式溯源方式(1)有證標(biāo)準(zhǔn)(biozhn)物質(zhì)對(duì)于某些儀器設(shè)備,可以使用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)來(lái)證實(shí)測(cè)量的可靠性的。在實(shí)驗(yàn)室認(rèn)
21、可的CNAS-CLO1檢測(cè)(jin c)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)則(ISO/IEC17025:2005)第條中規(guī)定:“某些校準(zhǔn)目前尚不能?chē)?yán)格按照SI單位進(jìn)行,這種情況下,校準(zhǔn)應(yīng)通過(guò)建立對(duì)適當(dāng)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)的溯源來(lái)提供測(cè)量的可信度,例如:使用有資格的供應(yīng)者提供的有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)(參考物質(zhì))來(lái)給出材料可靠的物理或化學(xué)特性”。例如,對(duì)于洛氏硬度計(jì)、維氏硬度計(jì)、直讀光譜儀以及酸度計(jì)、電導(dǎo)率儀等儀器,可以使用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)來(lái)證實(shí)測(cè)量的可信性。第17頁(yè)/共59頁(yè)第十八頁(yè),共59頁(yè)。(2)實(shí)驗(yàn)室間比對(duì)對(duì)于某些確實(shí)難以溯源的儀器設(shè)備,在實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可的CNAS-CLO1檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)則(ISO/IEC 17025:
22、2005)第條中就有規(guī)定:“某些校準(zhǔn)目前尚不能?chē)?yán)格按照SI單位進(jìn)行(jnxng),這種情況下,校準(zhǔn)應(yīng)通過(guò)建立對(duì)適當(dāng)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)的溯源來(lái)提供測(cè)量的可信度,例如:使用規(guī)定的方法和/或被有關(guān)各方接受并且描述清晰的協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)。可能時(shí),要求參加適當(dāng)?shù)膶?shí)驗(yàn)室間比對(duì)計(jì)劃”。于是,有一些應(yīng)用于特殊領(lǐng)域的、社會(huì)上無(wú)法(wf)提供校準(zhǔn)服務(wù)的儀器設(shè)備,可以尋找三家以上實(shí)驗(yàn)室的同型號(hào)的儀器設(shè)備做比對(duì)來(lái)達(dá)到量值溯源。這類(lèi)儀器設(shè)備有:X射線(xiàn)熒光(XRF)光譜儀、聲發(fā)射檢測(cè)儀、金屬磁記憶檢測(cè)儀、殘余應(yīng)力檢測(cè)儀等儀器。美國(guó)(mi u)尼通XLt-898型手持式合金分析儀:從22號(hào)元素鈦(Ti)到83號(hào)元素鉍(Bi)中,23個(gè)標(biāo)準(zhǔn)合
23、金成分元素。選配充氦裝置可以分析Mg、Al、Si、P第18頁(yè)/共59頁(yè)第十九頁(yè),共59頁(yè)。(三)核查(h ch)對(duì)一些非強(qiáng)制檢定的、無(wú)法進(jìn)行溯源的檢測(cè)儀器設(shè)備,為了證明設(shè)備的狀態(tài)是良好的、驗(yàn)證設(shè)備是滿(mǎn)足(mnz)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)要求的,需要定期對(duì)檢測(cè)儀器設(shè)備進(jìn)行核查(校驗(yàn)),以證實(shí)設(shè)備能夠滿(mǎn)足(mnz)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)要求 。CNAS-CL01第條的規(guī)定:對(duì)結(jié)果有重要影響的儀器的關(guān)鍵量或值,應(yīng)制定校準(zhǔn)計(jì)劃。設(shè)備(包括用于抽樣的設(shè)備)在投入服務(wù)前應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)或核查(Beforebeing placed into service, equipment shall be calibrated or checked),
24、以證實(shí)其能夠滿(mǎn)足實(shí)驗(yàn)室的規(guī)范要求(yoqi)和相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。核查的方法可參照相應(yīng)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)(如JB/T4730 -2005承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè))或儀器設(shè)備的技術(shù)說(shuō)明書(shū)或文獻(xiàn)介紹等。核查一般由使用單位組織實(shí)施,按編制的核查作業(yè)指導(dǎo)書(shū)進(jìn)行。第35頁(yè)第19頁(yè)/共59頁(yè)第二十頁(yè),共59頁(yè)。如,JB/T4730 -2005承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)提出的實(shí)施核查(校驗(yàn))要求:黑度計(jì)至少每6個(gè)月校驗(yàn)(核查)一次,校驗(yàn)方法可參照J(rèn)B 4730.2附錄B的規(guī)定(gudng)進(jìn)行(采用標(biāo)準(zhǔn)黑度采用標(biāo)準(zhǔn)黑度(hi d)片片(密度片密度片)校驗(yàn)校驗(yàn)) ;X射線(xiàn)探傷機(jī)應(yīng)制作射線(xiàn)探傷機(jī)應(yīng)制作(zhzu)曝光曲線(xiàn),曝光曲線(xiàn)每年至少應(yīng)校
25、驗(yàn)曝光曲線(xiàn),曝光曲線(xiàn)每年至少應(yīng)校驗(yàn)(核查核查)一次;一次;JB 4730.2每隔3個(gè)月至少對(duì)超聲儀器的水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性進(jìn)行測(cè)定(核查);超聲波探頭,使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離(入射點(diǎn)) 、K值(折射角) 、主聲束偏離、靈敏度余量、分辨力等主要參數(shù)的測(cè)定(核查);超聲檢測(cè)系統(tǒng)-斜探頭,檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定(核查)前沿距離(入射點(diǎn)) 、K值(折射角 )與主聲束偏離核查;超聲檢測(cè)系統(tǒng)-直探頭,檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定(核查)始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力;電磁軛的提升力,至少半年校驗(yàn)(核查)一次(提升力重力試塊45N、177N、118N);磁粉檢測(cè)設(shè)備的電流表,至少半年校驗(yàn)(核查)一次。每天檢測(cè)前,用標(biāo)準(zhǔn)試片檢驗(yàn)(核查)磁
26、粉檢測(cè)設(shè)備及磁粉和磁懸液的綜合性能(系統(tǒng)靈敏度) 。磁粉檢測(cè)設(shè)備內(nèi)部短路、電流載荷、通電時(shí)間,原則上每年進(jìn)行一次測(cè)定(核查);等等。第20頁(yè)/共59頁(yè)第二十一頁(yè),共59頁(yè)。超聲波測(cè)厚儀涂層測(cè)厚儀硬度計(jì)UT標(biāo)準(zhǔn)試塊/對(duì)比試塊尺寸磁粉探傷提升(tshng)力重力試塊重磁粉檢測(cè)設(shè)備的電流表直讀光譜儀射線(xiàn)熒光(ynggung)光譜儀聲發(fā)射檢測(cè)儀鋼絲繩探測(cè)儀量值溯源(syun)狀態(tài)良好儀器設(shè)備三家比對(duì)儀器設(shè)備核查儀器設(shè)備檢定法定檢定機(jī)構(gòu)儀器設(shè)備校準(zhǔn)外部校準(zhǔn)內(nèi)部校準(zhǔn)個(gè)人劑量計(jì)劑量報(bào)警儀有害氣體分析儀氧濃度檢測(cè)儀超聲波測(cè)厚儀涂層測(cè)厚儀硬度計(jì)UT標(biāo)準(zhǔn)試塊、對(duì)比試塊尺寸磁粉探傷提升力重力試塊重磁粉檢測(cè)設(shè)備的電流
27、表直讀光譜儀超聲波探傷機(jī)標(biāo)準(zhǔn)密度片黑光輻照計(jì)白光照度計(jì)磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)毫特斯拉計(jì)熒光亮度計(jì)黑度計(jì)射線(xiàn)探傷機(jī)曝光曲線(xiàn)觀(guān)片燈的亮度和均勻度超聲波儀器水平線(xiàn)性/垂直線(xiàn)性超聲波探頭電磁軛的提升力磁粉檢測(cè)設(shè)備內(nèi)部短路/電流載荷/通電時(shí)間第36頁(yè)(四)典型特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)儀器的量值溯源方式保證檢測(cè)數(shù)據(jù)準(zhǔn)確、結(jié)果可靠第21頁(yè)/共59頁(yè)第二十二頁(yè),共59頁(yè)。在無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備實(shí)際管理中,那些儀器設(shè)備需要檢定?那些需要校準(zhǔn)?如何(rh)進(jìn)行內(nèi)部校準(zhǔn)?如何(rh)進(jìn)行核查(驗(yàn)證)?三、有效(yuxio)的量值溯源國(guó)際組織在無(wú)損檢測(cè)(jin c)方面的要求:1)UKAS RG-7 Accreditation For in
28、spection bodies performingNon-Destructive Testing(檢查機(jī)構(gòu)從事無(wú)損檢測(cè)的認(rèn)可)2)EA EA-04/15 Accreditation For Non-Destructive Testing(無(wú)損檢測(cè)的認(rèn)可)3)HOKLAS Supplementary Criteria No. 15Accreditation ofNon-Destructive Tests for Welding of Steel and Metal(鋼和金屬焊接的無(wú)損檢測(cè)認(rèn)可)4)A2LA Non Destructive Program Requirements(無(wú)損檢測(cè)計(jì)劃要
29、求)第37頁(yè)第22頁(yè)/共59頁(yè)第二十三頁(yè),共59頁(yè)。筆者在2007年解讀了香港實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可的鋼和金屬焊接的無(wú)損檢測(cè)的認(rèn)可準(zhǔn)則增補(bǔ)第15(HOKLAS Supplementary Criteria No.15Accreditation of Non-Destructive Tests for Welding of Steel and Metal),受該準(zhǔn)則的啟發(fā)(qf),就保證檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確和滿(mǎn)足量值溯源上,筆者對(duì)特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備的檢定、校準(zhǔn)及核查提出了探討。在2008年6月遠(yuǎn)東無(wú)損檢測(cè)新技術(shù)論壇發(fā)表(fbio)“特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備檢定與校準(zhǔn)的思考 ”第37頁(yè)第23頁(yè)/共59頁(yè)第二十四
30、頁(yè),共59頁(yè)。(一)香港實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可(rnk)準(zhǔn)則增補(bǔ)第15的解讀HOKLAS Supplementary Criteria No. 15Accreditation of Non-Destructive Tests for Welding of Steel and Metal:建筑材料檢測(cè)(jin c)類(lèi),焊接小類(lèi),分有無(wú)損檢測(cè)(jin c)和損害檢測(cè)(jin c)兩種。1 介紹介紹(jisho)HOKLAS_Supplementary_Criteria_No1._15 NDT.pdf1.1 本準(zhǔn)則增補(bǔ)是對(duì)HKAS002(香港認(rèn)可處認(rèn)可規(guī)則)和HOKLAS 003(實(shí)驗(yàn)所認(rèn)可技術(shù)準(zhǔn)則 ISO/I
31、EC 17025:2005)的補(bǔ)充和解釋。無(wú)損檢測(cè)的方法包括如下幾種:超聲波檢測(cè)(UT)磁粉檢測(cè) (MT)滲透檢測(cè) (PT)射線(xiàn)檢測(cè) (RT)外觀(guān)檢查 (VE)第37頁(yè)第24頁(yè)/共59頁(yè)第二十五頁(yè),共59頁(yè)。設(shè)備類(lèi)型建議最長(zhǎng)校準(zhǔn)/校驗(yàn)間隔校準(zhǔn)/校驗(yàn)的工藝或指南以及所需要的設(shè)備探頭和電傳感裝置(組合調(diào)試)每次使用前校準(zhǔn)試塊參考標(biāo)準(zhǔn)或校準(zhǔn)試塊校準(zhǔn)試塊參考標(biāo)準(zhǔn)(例如:V1/A2、IOW、V2/A4、梯試塊和A7試塊)(材料性能)最初符合EN27963或BS2704 或相當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn),知名制造商的合格書(shū)JB/T 4730.3 3.5.1.3合格證校準(zhǔn)試塊參考標(biāo)準(zhǔn)(例如:V1/A2、IOW、V2/A4、階梯
32、試塊和A7試塊)(表面狀態(tài))每次使用前外觀(guān)檢查腐蝕及機(jī)械損傷情況校準(zhǔn)試塊參考標(biāo)準(zhǔn)(半徑及其它尺寸檢查)8年按HOKLAS003 之5.6.H(d條款規(guī)定的有資格的校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)附錄(fl)A:詳細(xì)的(明確的)校準(zhǔn)要求1、UT檢測(cè)檢測(cè)(jin c) 校準(zhǔn)要求校準(zhǔn)要求)第37頁(yè)第25頁(yè)/共59頁(yè)第二十六頁(yè),共59頁(yè)。設(shè)備類(lèi)型建議最長(zhǎng)校準(zhǔn)/校驗(yàn)間隔校準(zhǔn)/校驗(yàn)的工藝或指南以及所需要的設(shè)備校準(zhǔn)試塊(檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)使用,例如:V2/A4試塊)最初按HOKLAS003 之5.6.H(d條款定義的有資格的校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)1年參照適合的校準(zhǔn)試塊參考標(biāo)準(zhǔn)檢查尺寸比對(duì)校準(zhǔn)試塊(材料性能,例如:DAC試塊)最初制造商的材料證書(shū)比對(duì)校準(zhǔn)試
33、塊(表面狀態(tài),例如:DAC試塊)每次使用前外觀(guān)檢查腐蝕及機(jī)械損傷情況比對(duì)校準(zhǔn)試塊(尺寸,例如:DAC試塊)1年用經(jīng)校準(zhǔn)一次的測(cè)量工具檢查尺寸)第26頁(yè)/共59頁(yè)第二十七頁(yè),共59頁(yè)。設(shè)備類(lèi)型建議最長(zhǎng)校準(zhǔn)/校驗(yàn)間隔校準(zhǔn)/校驗(yàn)的工藝或指南以及所需要的設(shè)備超聲波檢測(cè)系統(tǒng) (測(cè)試部件、探頭和連接電纜)a、檢查外觀(guān)損壞情況每次使用前檢查所有部件及相關(guān)裝置的外觀(guān)b、水平線(xiàn)性JB/T 4730.3 3.4.2 3個(gè)月每次使用前按BS2704,EN27963校準(zhǔn)試塊或相當(dāng)?shù)脑噳Kc、垂直線(xiàn)性每次使用前按BS2704,EN27963校準(zhǔn)試塊或相當(dāng)?shù)脑噳K超聲波探傷儀EN2年1年按HOKLAS003 之5.6.H(d
34、條款定義的有資格的校準(zhǔn)機(jī)構(gòu),符合BS4331或其它相當(dāng)?shù)腅N、ISO標(biāo)準(zhǔn)要求)第27頁(yè)/共59頁(yè)第二十八頁(yè),共59頁(yè)。設(shè)備類(lèi)型建議最長(zhǎng)校準(zhǔn)/校驗(yàn)間隔校準(zhǔn)/校驗(yàn)的工藝或指南以及所需要的設(shè)備超聲波探頭 (特征參數(shù))a、探頭前沿每次使用前按BS2704,EN27963校準(zhǔn)試塊或相當(dāng)?shù)脑噳KJB/T 4730.3 3.4.3 使用前b、探頭角度每次使用前c、主聲束偏離 (偏斜 )每次使用前d、傳輸補(bǔ)償每次使用前按BS2704,BS EN583-2校準(zhǔn)試塊或相當(dāng)?shù)脑噳Ke、靈敏度和信噪比JB/T 4730.3 3.4.4.1f、聲束剖面尺寸每個(gè)月每個(gè)月按BS2704,EN27963校準(zhǔn)試塊或相當(dāng)?shù)脑噳K按BS
35、2704校準(zhǔn)試塊或相當(dāng)?shù)脑噳Kg、總系統(tǒng)增益每個(gè)月按BS2704,EN27963校準(zhǔn)試塊或相當(dāng)?shù)脑噳K第28頁(yè)/共59頁(yè)第二十九頁(yè),共59頁(yè)。設(shè)備類(lèi)型建議最長(zhǎng)校準(zhǔn)/校驗(yàn)間隔校準(zhǔn)/校驗(yàn)的工藝或指南以及所需要的設(shè)備磁懸液中固體物含量每批符合標(biāo)準(zhǔn)(例如:BS、ASTM、或EN)的制造商的合格證書(shū)每批樣品檢查磁懸液中固體物含量符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)熒光磁懸液及磁粉JB/T 4730.4 5.2.2(在檢測(cè)表面)2(中國(guó)1000w/cm )每次檢測(cè)前使用符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的黑光幅照計(jì)檢查黑光幅照度熒光磁懸液及磁粉(周?chē)h(huán)境白光亮度)(中國(guó)1000lx)每次檢測(cè)前JB/T 4730.4 5.2.2使用白光照度計(jì)檢查照明強(qiáng)度2
36、、 MT檢測(cè)檢測(cè) 校準(zhǔn)校準(zhǔn)(jio zhn)要求要求第38頁(yè)第29頁(yè)/共59頁(yè)第三十頁(yè),共59頁(yè)。設(shè)備類(lèi)型建議最長(zhǎng)校準(zhǔn)/校驗(yàn)間隔校準(zhǔn)/校驗(yàn)的工藝或指南以及所需要的設(shè)備黑光幅照計(jì)(作為參考標(biāo)準(zhǔn)表使用)1年JB/T 4730.4 3.9.7有資格的校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)黑光幅照計(jì)(在工作中使用)1個(gè)月與作參考標(biāo)準(zhǔn)的黑光幅照計(jì)對(duì)比檢查白光照度計(jì)(作為參考標(biāo)準(zhǔn)表使用)1年JB/T 4730.4 3.9.7有資格的校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)白光照度計(jì)(在工作中使用)1個(gè)月與作參考標(biāo)準(zhǔn)的白光照度計(jì)對(duì)比檢查第30頁(yè)/共59頁(yè)第三十一頁(yè),共59頁(yè)。磁場(chǎng)(cchng)指示器磁懸液指示靈敏度設(shè)備類(lèi)型永久磁鐵和電磁軛提升力重力試塊(用于檢查(ji
37、nch)磁力強(qiáng)度)JB4730.4 45N、177N、118N磁場(chǎng)方向建議(jiny)最長(zhǎng)校準(zhǔn)/校驗(yàn)間隔每次檢測(cè)前2年每次檢測(cè)前知名制造商的合格證使用符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的靈敏度試片校準(zhǔn)/校驗(yàn)的工藝或指南以及所需要的設(shè)備通過(guò)測(cè)量提升力或拉脫力檢查是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn) 半年采用合適的秤重天平校準(zhǔn)使用磁場(chǎng)指示器檢查磁場(chǎng)方向符合相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)最初3個(gè)月檢測(cè)前第31頁(yè)/共59頁(yè)第三十二頁(yè),共59頁(yè)。設(shè)備類(lèi)型建議最長(zhǎng)校準(zhǔn)/校驗(yàn)間隔校準(zhǔn)/校驗(yàn)的工藝或指南以及所需要的設(shè)備滲透檢測(cè)劑每次檢測(cè)前符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的制造商合格證書(shū)熒光滲透檢測(cè)(在檢測(cè)表面檢查黑光輻照度)每次檢測(cè)前JB/T 4730.5 3.3.2 檢測(cè)前使用黑光幅照計(jì)
38、檢查黑光幅照度非熒光滲透檢測(cè)(在檢測(cè)表面檢查白光照度)每次檢測(cè)前使用白光照度計(jì)檢查照明強(qiáng)度3、PT檢測(cè)檢測(cè) 校準(zhǔn)校準(zhǔn)(jio zhn)要求要求檢測(cè)(jin c)前檢測(cè)(jin c)前第39頁(yè)第32頁(yè)/共59頁(yè)第三十三頁(yè),共59頁(yè)。設(shè)備類(lèi)型建議最長(zhǎng)校準(zhǔn)/校驗(yàn)間隔校準(zhǔn)/校驗(yàn)的工藝或指南以及所需要的設(shè)備黑光幅照計(jì)(作為參考標(biāo)準(zhǔn)表使用)1年JB/T 4730.5有資格的校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)1年黑光幅照計(jì)(在工作中使用)1個(gè)月與作參考標(biāo)準(zhǔn)的黑光幅照計(jì)對(duì)比檢查白光照度計(jì)(作為參考標(biāo)準(zhǔn)表使用)1年JB/T 4730.5有資格的校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)1年白光照度計(jì)(在工作中使用)1個(gè)月與作參考標(biāo)準(zhǔn)的白光照度計(jì)對(duì)比檢查第33頁(yè)/共59頁(yè)
39、第三十四頁(yè),共59頁(yè)。設(shè)備類(lèi)型建議最長(zhǎng)校準(zhǔn)/校驗(yàn)間隔校準(zhǔn)/校驗(yàn)的工藝或指南以及所需要的設(shè)備X射線(xiàn)設(shè)備1年檢查焦點(diǎn)尺寸符合相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)針空板(當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)有要求時(shí))(用于檢查焦點(diǎn)尺寸)10年按HOKLAS003 之5.6.H(d條款定義的有資格的校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)幾何不清晰度(當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)有要求時(shí)) 每次檢測(cè)前BS2600:1983圖2和A.8條款或相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)放射同位素最初有衰減圖及尺寸記錄的檔案,制造商的合格證r射線(xiàn)曝光量計(jì)算器最初制造商的合格證,或使用適當(dāng)?shù)臋z查方法4、RT檢測(cè)檢測(cè)(jin c) 校準(zhǔn)要求校準(zhǔn)要求)第39頁(yè)第34頁(yè)/共59頁(yè)第三十五頁(yè),共59頁(yè)。設(shè)備類(lèi)型建議最長(zhǎng)校準(zhǔn)/校驗(yàn)間隔校準(zhǔn)/校驗(yàn)的工藝或指南以及
40、所需要的設(shè)備射線(xiàn)底片(每批)最初檢查每批樣品未曝光的灰霧度像質(zhì)計(jì)(IQI)最初符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的制造商合格證射線(xiàn)膠片(分級(jí)和使用)最初符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的分級(jí)射線(xiàn)膠片(膠片的處理)每次使用后膠片處理符合膠片制造商推薦的方法射線(xiàn)底片(膠片處理之后)每次評(píng)片前使用黑度計(jì)或黑度片檢查黑度,通過(guò)IQI確認(rèn)底片的影像質(zhì)量第35頁(yè)/共59頁(yè)第三十六頁(yè),共59頁(yè)。設(shè)備類(lèi)型建議最長(zhǎng)校準(zhǔn)/校驗(yàn)間隔校準(zhǔn)/校驗(yàn)的工藝或指南以及所需要的設(shè)備黑度計(jì)1個(gè)月JB/T 4730.2 3.4.2按照標(biāo)準(zhǔn)黑度片校準(zhǔn)6個(gè)月標(biāo)準(zhǔn)黑度片(作為參考標(biāo)準(zhǔn))5年知名制造商的合格證JB/T 4730.2 B 2.6 2年射線(xiàn)劑量計(jì)強(qiáng)制檢定 - 貿(mào)易/安
41、全/醫(yī)療/1年放射管理局(RadiationBoard)認(rèn)可的實(shí)驗(yàn)室第36頁(yè)/共59頁(yè)第三十七頁(yè),共59頁(yè)。(二)無(wú)損檢測(cè)(jin c)儀器設(shè)備的校準(zhǔn)與核查的要求為了規(guī)范無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備的校準(zhǔn)與核查的要求,筆者利用參與(cny)中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)CNAS CL14:2010檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)則在無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng)用說(shuō)明修改的機(jī)會(huì),在CNAS CL14:2010中提出了附錄A“無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備校準(zhǔn)或核查要求”:謝常歡 無(wú)損檢測(cè)3級(jí)人員 復(fù)試講課稿CL14 實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可準(zhǔn)則在無(wú)損(w sn)檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng)用說(shuō)明.pdf第40頁(yè)第37頁(yè)/共59頁(yè)第三十八頁(yè),共59頁(yè)。方法(fngf)參照J(rèn)B/T
42、 4730.2附錄B要求。( )標(biāo)準(zhǔn)密度片每2年,應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)(jio zhn)(或內(nèi)部校準(zhǔn)(jio zhn)),方法參照J(rèn)JG452-1986黑白標(biāo)準(zhǔn)密度片檢定黑白標(biāo)準(zhǔn)密度片檢定(jindng)規(guī)程。規(guī)程。( )個(gè)人劑量計(jì)、劑量報(bào)警儀應(yīng)按照相關(guān)的國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程的要求送計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)檢定 。觀(guān)片燈的亮度和均勻度,應(yīng)每年進(jìn)行核查或校準(zhǔn)。(應(yīng)滿(mǎn)足:黑度D2.5時(shí),透過(guò)底片的亮度應(yīng)不低于30cd/m2 ;黑度D2.5時(shí),透過(guò)底片的亮度應(yīng)不低于10cd/m2 ;黑度D4.0時(shí),如有計(jì)量檢定報(bào)告證明透過(guò)底片的亮度滿(mǎn)足要求,允許評(píng)片)。(; )HK:1月HK:5年有效HK:1年EN:定期CNAS CL14:
43、2010檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)則在無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng)用說(shuō)明附錄A“無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備校準(zhǔn)或核查要求”A.1 射線(xiàn)檢測(cè)射線(xiàn)設(shè)備均應(yīng)制作曝光曲線(xiàn),曝光曲線(xiàn)每年至少核查一次;射線(xiàn)設(shè)備更換重要部件或經(jīng)較大修理后,應(yīng)及時(shí)對(duì)曝光曲線(xiàn)進(jìn)行核查。( )黑度計(jì)(光學(xué)密度計(jì))至少每6個(gè)月,應(yīng)采用標(biāo)準(zhǔn)密度片進(jìn)行核查,第38頁(yè)/共59頁(yè)第三十九頁(yè),共59頁(yè)。A.2 超聲檢測(cè)超聲檢測(cè)(jin c)參照J(rèn)JG 746-2004超聲波探傷儀檢定(jindng)規(guī)程。EN 12668-1:2000脈沖反射式超聲波探傷儀每隔3個(gè)月,應(yīng)采用標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行水平線(xiàn)性、垂直(chuzh)線(xiàn)性核查,方法參照J(rèn)B/T 10061-1999A型脈沖
44、反射式超聲波系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法 。( )EN 12668-1:2000無(wú)損檢測(cè) 超聲檢測(cè)設(shè)備的性能與驗(yàn)證 第1部分:儀器HK:初次初次使用的標(biāo)準(zhǔn)試塊、對(duì)比試塊,應(yīng)有有效的合格證書(shū)。( )標(biāo)準(zhǔn)試塊、對(duì)比試塊每次使用前,應(yīng)進(jìn)行外觀(guān)腐蝕及機(jī)械損傷情況HK:初次核查;每隔4年應(yīng)采用經(jīng)校準(zhǔn)的器具對(duì)其半徑及其它尺寸進(jìn)行核查。HK:8年脈沖反射式超聲波探傷儀每1年,應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)(或內(nèi)部校準(zhǔn)),方法HK:2年EN:1年EN:定期第39頁(yè)/共59頁(yè)第四十頁(yè),共59頁(yè)。探頭(tn tu)使用前,應(yīng)進(jìn)行前沿距離(入射點(diǎn))、K值(折射角)與雙峰、主聲束偏離等主要參數(shù)核查,方法按照J(rèn)B/T 10062-1999超聲探傷
45、用探頭(tn tu) 性能測(cè)試方法。(注:核查結(jié)果(ji gu)一般記錄在原始記錄上) 。( )超聲檢測(cè)系統(tǒng)每次使用前,斜探頭應(yīng)進(jìn)行前沿距離(入射點(diǎn))、K值(折射角)與主聲束偏離核查;直探頭應(yīng)進(jìn)行始脈沖寬度(在基準(zhǔn)靈敏度下)、靈敏度余量和分辨力等核查,方法按照J(rèn)B/T 9214-1999 A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能 測(cè)試方法和/或JB/T 10062-1999超聲探傷用探頭 性能測(cè)試方法(注:核查結(jié)果一般記錄在原始記錄上) 。( )HK:使用前HK:使用前第40頁(yè)/共59頁(yè)第四十一頁(yè),共59頁(yè)。A.3、磁粉檢測(cè)、磁粉檢測(cè)永久磁鐵或電磁軛磁粉探傷機(jī)的提升力,至少每半年應(yīng)采用永久磁鐵或電
46、磁軛磁粉探傷機(jī)的提升力,至少每半年應(yīng)采用(ciyng)經(jīng)校準(zhǔn)經(jīng)校準(zhǔn)的提升力重力試塊進(jìn)行(jnxng)核查。注: 提升(tshng)力應(yīng)大于45N、177N、118N()準(zhǔn))。( )黑光輻照計(jì)、照度計(jì)、磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)、毫特斯拉計(jì)等,至少每年進(jìn)行核查或校準(zhǔn)(或內(nèi)部校準(zhǔn))。( )HK:使用前HK:2年磁粉檢測(cè)設(shè)備的電流表,至少每半年進(jìn)行核查或校準(zhǔn)(或內(nèi)部校HK:參考1年HK:工作1個(gè)月第41頁(yè)/共59頁(yè)第四十二頁(yè),共59頁(yè)。核查(注:校驗(yàn)結(jié)果(ji gu)記錄一般在原始記錄上)。( )注:非熒光(ynggung)檢測(cè)時(shí),可見(jiàn)光照度應(yīng)1000lx;熒光(ynggung)檢測(cè)時(shí),黑光燈在工件表面的幅照度應(yīng)1
47、000W/cm2 且暗室(nsh)或暗處可見(jiàn)光照度應(yīng)20lx 。設(shè)備內(nèi)部短路檢查、電流載荷校驗(yàn)、通電時(shí)間,至少每年進(jìn)行核查。( )磁粉檢測(cè)系統(tǒng)綜合性能(系統(tǒng)靈敏度),每次檢測(cè)前,用標(biāo)準(zhǔn)試片、標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行核查(注:校驗(yàn)結(jié)果一般記錄在原始記錄上) 。 ( )HK:2年對(duì)于熒光磁粉檢測(cè),每次檢測(cè)前,應(yīng)采用黑光幅照計(jì)對(duì)被檢測(cè)表面的黑光幅照度進(jìn)行核查,使用白光照度計(jì)對(duì)周?chē)h(huán)境白光亮度進(jìn)行核查;對(duì)于非熒光磁粉檢測(cè),每次檢測(cè)前,應(yīng)采用白光照度計(jì)對(duì)周?chē)h(huán)境白光亮度進(jìn)行()HK:檢測(cè)前第42頁(yè)/共59頁(yè)第四十三頁(yè),共59頁(yè)。A.4 滲透滲透(shntu)檢測(cè)檢測(cè)黑光輻照度計(jì)、熒光(ynggung)亮度計(jì)和照度計(jì)
48、等,至少每年進(jìn)行核查或校準(zhǔn)(或內(nèi)部(nib)校準(zhǔn))。( )對(duì)于熒光滲透檢測(cè), ,每次檢測(cè)前,應(yīng)采用黑光幅照計(jì)對(duì)被檢測(cè)表面的黑光幅照度進(jìn)行核查,使用白光照度計(jì)對(duì)周?chē)h(huán)境白光亮度進(jìn)行核查;對(duì)于非熒光滲透檢測(cè),每次檢測(cè)前,應(yīng)采用白光照度計(jì)對(duì)周?chē)h(huán)境白光亮度進(jìn)行核查(核查結(jié)果一般記錄在原始記錄上)。(、 和 )20lx 。(、 和 )注:非熒光檢測(cè)時(shí),可見(jiàn)光照度應(yīng)1000lx,條件所限時(shí)不得低于500lx 。()HK:參考1年HK:工作1個(gè)月HK:檢測(cè)前第43頁(yè)/共59頁(yè)第四十四頁(yè),共59頁(yè)。A.5 厚度厚度(hud)檢測(cè)檢測(cè)超聲測(cè)厚儀每1年,應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)(或內(nèi)部校準(zhǔn)),方法參照J(rèn)JG403-1986超
49、聲波測(cè)厚儀檢定規(guī)程或 JJF1266-2004超聲波測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)范(gufn)。涂層測(cè)厚儀每1年,應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)(或內(nèi)部校準(zhǔn)),方法參照J(rèn)JG889-1995磁阻法測(cè)厚儀檢定規(guī)程、JJG818-1993電渦流式測(cè)厚儀檢定規(guī)程。JJF 1126-2004第44頁(yè)/共59頁(yè)第四十五頁(yè),共59頁(yè)。(一)內(nèi)部校準(zhǔn)的實(shí)施(shsh)1、內(nèi)部校準(zhǔn)的基本要求用內(nèi)部(nib)校準(zhǔn)(in-house calibration)代替習(xí)慣稱(chēng)的自校準(zhǔn)(self-calibration)。內(nèi)部校準(zhǔn))。內(nèi)部校準(zhǔn)(jio zhn)是指檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)部按照規(guī)定的方法和要求對(duì)無(wú)是指檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)部按照規(guī)定的方法和要求對(duì)無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備進(jìn)
50、行的校準(zhǔn)損檢測(cè)儀器設(shè)備進(jìn)行的校準(zhǔn)(jio zhn)活動(dòng),而自校準(zhǔn)活動(dòng),而自校準(zhǔn)(jio zhn)一般是利用及檢測(cè)儀器設(shè)備自一般是利用及檢測(cè)儀器設(shè)備自帶的校準(zhǔn)帶的校準(zhǔn)(jio zhn)程序或功能(智能儀器的開(kāi)機(jī)自校準(zhǔn)程序或功能(智能儀器的開(kāi)機(jī)自校準(zhǔn)(jio zhn)程序,如殘余應(yīng)力檢測(cè)儀程序,如殘余應(yīng)力檢測(cè)儀X stress300 )進(jìn)行的校準(zhǔn)進(jìn)行的校準(zhǔn)(jio zhn)活動(dòng)?;顒?dòng)。四、實(shí)施有效的內(nèi)部校準(zhǔn)與核查第41頁(yè)第45頁(yè)/共59頁(yè)第四十六頁(yè),共59頁(yè)。檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室實(shí)施內(nèi)部校準(zhǔn)時(shí),當(dāng)被校準(zhǔn)設(shè)備對(duì)檢測(cè)結(jié)果有顯著影響(yngxing)時(shí),檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室的內(nèi)部校準(zhǔn)應(yīng)滿(mǎn)足以下基本要求:(1)實(shí)施(shsh
51、)內(nèi)部校準(zhǔn)的環(huán)境條件和設(shè)施,應(yīng)滿(mǎn)足所實(shí)施(shsh)的內(nèi)部校準(zhǔn)方法的要求;(2)實(shí)施內(nèi)部校準(zhǔn)(jio zhn)的人員,應(yīng)經(jīng)過(guò)相應(yīng)的計(jì)量知識(shí)、校準(zhǔn)(jio zhn)技能培訓(xùn),熟悉被校準(zhǔn)(jio zhn)的檢測(cè)儀器設(shè)備,并有能力實(shí)施內(nèi)部校準(zhǔn)(jio zhn)活動(dòng);(3)實(shí)施內(nèi)部校準(zhǔn)所用的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備(含有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、標(biāo)準(zhǔn)樣品、參考測(cè)量?jī)x器等)必須有效溯源,其測(cè)量不確定度滿(mǎn)足檢測(cè)方法要求。標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備的準(zhǔn)確度等級(jí)(或最大允許誤差)一般應(yīng)優(yōu)于被校準(zhǔn)設(shè)備的35倍,個(gè)別要達(dá)到10倍;(4)內(nèi)部校準(zhǔn)方法應(yīng)形成文件,并應(yīng)優(yōu)先采用標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)方法(國(guó)際、國(guó)家JJF、行業(yè)等發(fā)布),對(duì)于特殊檢測(cè)設(shè)備,當(dāng)沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)方法時(shí),可使
52、用自編的校準(zhǔn)方法或測(cè)量?jī)x器設(shè)備制造商推薦的校準(zhǔn)方法進(jìn)行內(nèi)部校準(zhǔn),非標(biāo)校準(zhǔn)方法應(yīng)經(jīng)過(guò)驗(yàn)證和確認(rèn);CNAS CL31-2011內(nèi)部校準(zhǔn)要求第46頁(yè)/共59頁(yè)第四十七頁(yè),共59頁(yè)。(5)對(duì)每個(gè)內(nèi)部校準(zhǔn)項(xiàng)目,應(yīng)有(yn yu)計(jì)算測(cè)量不確定度的程序。(6)內(nèi)部(nib)校準(zhǔn)的校準(zhǔn)證書(shū)可以簡(jiǎn)化或不出具證書(shū),但應(yīng)確保校準(zhǔn)過(guò)程有完整記錄且內(nèi)部(nib)校準(zhǔn)的信息應(yīng)符合內(nèi)部(nib)校準(zhǔn)方法的要求,如應(yīng)包含測(cè)量不確定度、環(huán)境條件、標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)或參考測(cè)量?jī)x器溯源信息等。(7)相關(guān)法規(guī)規(guī)定(gudng)屬于強(qiáng)制檢定管理的測(cè)量設(shè)備(如射線(xiàn)探傷用于個(gè)人安全防護(hù)的個(gè)人劑量計(jì)、劑量報(bào)警儀等),不允許內(nèi)部校準(zhǔn)而應(yīng)按規(guī)定(gud
53、ng)檢定,且檢定周期、檢定項(xiàng)目應(yīng)符合檢定規(guī)程(JJG)的規(guī)定(gudng)。第47頁(yè)/共59頁(yè)第四十八頁(yè),共59頁(yè)。儀器設(shè)備名稱(chēng)內(nèi)部校準(zhǔn)所用的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備(含有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、標(biāo)準(zhǔn)樣品、參考測(cè)量?jī)x器等)內(nèi)部校準(zhǔn)方法(參考)建議校準(zhǔn)周期超聲波探傷儀函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、標(biāo)準(zhǔn)衰減器、標(biāo)準(zhǔn)探頭、標(biāo)準(zhǔn)試塊JJG 746-2004 超聲波探傷儀檢定規(guī)程JJG124-1996示波器檢定規(guī)程1年UT標(biāo)準(zhǔn)試塊、對(duì)比試塊半徑及其它尺寸游標(biāo)卡尺、千分尺、塞尺、角度規(guī)JJG146-2003量塊檢定規(guī)程4年磁粉探傷提升力重力試塊重量秤重器具JJG99-2006砝碼檢定規(guī)程5年磁粉檢測(cè)設(shè)備用電流表標(biāo)準(zhǔn)數(shù)字式電流表JJG124-20
54、05電流表、電壓表、功率表及電阻表檢定規(guī)程6個(gè)月黑光輻照度計(jì)高壓汞燈、黑光型高壓汞燈、低壓汞燈、標(biāo)準(zhǔn)黑光輻照度計(jì)JJG 879-2002紫外輻射照度計(jì)檢定規(guī)程1年照度計(jì)發(fā)光強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)燈組、數(shù)字電壓表、標(biāo)準(zhǔn)電阻JJG245-2005光照度計(jì)檢定規(guī)程1年標(biāo)準(zhǔn)密度片基準(zhǔn)光密度計(jì)(光源、濾光器、接收器、數(shù)字顯示器)JJG 452-1986黑白標(biāo)準(zhǔn)密度片檢定規(guī)程1年超聲測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)厚度快(階梯塊)、標(biāo)準(zhǔn)圓管JJF1266-2004超聲波測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)范1年2、常見(jiàn)無(wú)損檢測(cè)、常見(jiàn)無(wú)損檢測(cè)(jin c)設(shè)備內(nèi)部校準(zhǔn)的實(shí)施設(shè)備內(nèi)部校準(zhǔn)的實(shí)施無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備實(shí)施內(nèi)部校準(zhǔn)時(shí),應(yīng)滿(mǎn)足內(nèi)部校準(zhǔn)的基本要求,其中內(nèi)部校準(zhǔn)所使用
55、的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備、標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)方法(參考(cnko))以及建議的校準(zhǔn)周期見(jiàn)下表:第42頁(yè)第48頁(yè)/共59頁(yè)第四十九頁(yè),共59頁(yè)。儀器設(shè)備名稱(chēng)內(nèi)部校準(zhǔn)所用的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備(含有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、標(biāo)準(zhǔn)樣品、參考測(cè)量?jī)x器等)內(nèi)部校準(zhǔn)方法(參考)建議校準(zhǔn)周期涂層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)用厚度片JJG 889-1995磁阻法測(cè)厚儀檢定規(guī)程JJG 818-2005磁性、電渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x檢定規(guī)程1年里氏硬度計(jì)天平、立式光學(xué)計(jì)、投影儀、顯微鏡、標(biāo)準(zhǔn)里氏硬度塊JJG747-1999里氏硬度計(jì)檢定規(guī)程4年直讀光譜儀低合金鋼或碳素鋼光譜分析標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、兆歐表JJG768-2005發(fā)射光譜儀檢定規(guī)程5年X射線(xiàn)熒光光譜儀(尼通)標(biāo)準(zhǔn)鋼樣制造商推薦方法
56、或?qū)嶒?yàn)室間比對(duì)6個(gè)月第49頁(yè)/共59頁(yè)第五十頁(yè),共59頁(yè)。(二)核查(h ch)的實(shí)施在實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可CNAS-CL01檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)則第條規(guī)定的是“對(duì)結(jié)果(ji gu)有重要影響的儀器的關(guān)鍵量或值,應(yīng)制定校準(zhǔn)計(jì)劃”。換言之,對(duì)結(jié)果(ji gu)沒(méi)有影響的檢測(cè)儀器設(shè)備是不需校準(zhǔn)的,也就不必量值溯源了。對(duì)于這類(lèi)無(wú)須量值溯源的檢測(cè)儀器設(shè)備,為了了解設(shè)備情況,證明設(shè)備狀態(tài)良好,應(yīng)定期對(duì)檢測(cè)儀器設(shè)備進(jìn)行核查(也有稱(chēng)作為校驗(yàn)),以證實(shí)設(shè)備能夠滿(mǎn)足檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)要求。核查的方法可參照(cnzho)相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)(如JB/T4730 -2005承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè))或儀器設(shè)備的技術(shù)說(shuō)明書(shū),甚至文獻(xiàn)介紹等。核查不屬于
57、量值溯源,但需按照編制的核查作業(yè)指導(dǎo)書(shū)進(jìn)行 ,無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備的核查要求見(jiàn)下表:第43頁(yè)第50頁(yè)/共59頁(yè)第五十一頁(yè),共59頁(yè)。儀器設(shè)備名稱(chēng)核查所用的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備(含有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、工作標(biāo)準(zhǔn)等)核查方法(參考)建議核查周期射線(xiàn)設(shè)備的曝光曲線(xiàn)階梯試塊JB/T4730 -2005承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)1年黑度計(jì)(光學(xué)密度計(jì))標(biāo)準(zhǔn)密度片JB/T4730 -2005承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)6個(gè)月超聲波探傷機(jī)水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性UT標(biāo)準(zhǔn)試塊JB/T 10061-1999A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件3個(gè)月探頭前沿距離、K值與雙峰、主聲束偏離UT標(biāo)準(zhǔn)試塊JB/T 10062-1999超聲探傷用探頭 性能測(cè)試方法每次使用前
58、超聲檢測(cè)系統(tǒng)靈敏度余量、始脈沖寬度、遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力UT標(biāo)準(zhǔn)試塊JJG 879-2002紫外輻射照度計(jì)檢定規(guī)程每次使用前永久磁鐵或電磁軛磁粉探傷機(jī)的提升力提升力重力試塊JB/T4730.4 -2005承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 6個(gè)月磁粉檢測(cè)系統(tǒng)綜合性能(系統(tǒng)靈敏度)磁粉檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試片JB/T4730.4 -2005承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 每次使用前觀(guān)片燈的亮度、均勻度光強(qiáng)計(jì)JB/T 19802-2005無(wú)損檢測(cè) 工業(yè)射線(xiàn)照相觀(guān)片燈 最低要求1年第51頁(yè)/共59頁(yè)第五十二頁(yè),共59頁(yè)。五、結(jié)束語(yǔ)從事無(wú)損檢測(cè)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)和檢測(cè)人員,為確保(qubo)無(wú)損檢測(cè)數(shù)據(jù)準(zhǔn)確和結(jié)果可靠,為規(guī)避無(wú)損檢測(cè)責(zé)任風(fēng)險(xiǎn),須要對(duì)無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備實(shí)施有效的量值溯源,這是必須的、也是可行的。CNAS CL14-2010檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室能力檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室能力(nngl)認(rèn)可準(zhǔn)則在無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng)用說(shuō)明認(rèn)可準(zhǔn)則在無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng)用說(shuō)明第44頁(yè)第52頁(yè)/共59頁(yè)第五十三頁(yè),共59頁(yè)。復(fù)習(xí)思考題:一、特種設(shè)備安全技術(shù)規(guī)范(TSG)是如何規(guī)定檢測(cè)(jin c)/試驗(yàn)設(shè)備的檢定、校準(zhǔn)(jio zhn)?答:TSG Z0004特種設(shè)備制造安裝改造(gizo)
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