1、QIT培訓(xùn)系列教材SPCPrepare by : Robin MuQS Section, QS Division, IPT July 24th, 2007教材編號:IPT-M2XXX版本:V1.0版會簽單位會簽單位相應(yīng)主管會簽單位相應(yīng)主管 核準(zhǔn): 部級主管 擬制人: Robin Mu.1.教材初版修訂紀(jì)錄.目 錄ItemNo.PageLink1. 根底實(shí)際2. 統(tǒng)計(jì)根底知識 3. 制程變異的緣由 4. 制程才干分析 5. SPC的工具控制圖 6. SPC的運(yùn)作流程 51224305484.1930195019501970197019801980現(xiàn)在品管過程過濾不良檢驗(yàn)不良制造技術(shù)設(shè)計(jì)/系統(tǒng)/習(xí)

2、慣產(chǎn)品不良率高不良率不良率仍相當(dāng)高(%)百分不良率已大為降低低不良率(PPM)6品質(zhì)1.1. 品質(zhì)過程與不良率之演進(jìn)1. 根底實(shí)際.常規(guī)控制方法檢驗(yàn)1.2. 傳統(tǒng)質(zhì)量觀念與目前質(zhì)量觀念的差別產(chǎn)出95個(gè)最終檢驗(yàn)CTQ不合格品2個(gè)清潔5個(gè)缺陷: 5個(gè)S1S2S3S4S5S6S7S8100個(gè)CTQ返工1個(gè)CTQ.當(dāng)一個(gè)設(shè)備由100個(gè)部件組成，即使每一個(gè)部件的合格率爲(wèi)99.97%，設(shè)備的合格率也僅爲(wèi)99.97%?99.97%=76.31%當(dāng)該設(shè)備由500個(gè)部件組成，則該設(shè)備的合格率僅爲(wèi)25.83%99.97%的合格率能否足夠?每一個(gè)部件的合格率均爲(wèi)99.97%.下限上限缺陷缺陷無缺陷性能被認(rèn)爲(wèi)是完全不

3、一樣的性能被認(rèn)爲(wèi)是一樣的門柱思維傳統(tǒng)的質(zhì)量概念.1.3.1. 1924年Walter Shewhart博士在貝爾實(shí)驗(yàn)室開發(fā)了一套 統(tǒng)計(jì)學(xué)流程控制實(shí)際;1.3.2. 上世紀(jì)20年代期間, Shewhart博士在一系列演講中提出 了他的實(shí)際, 并在高質(zhì)量制造產(chǎn)品的經(jīng)濟(jì)性控制一書中 發(fā)表(1931);1.3.3. 1939年Shewhart與戴明合寫了“品質(zhì)觀點(diǎn)的統(tǒng)計(jì)方法;1.3.4. 上世紀(jì)40年代期間, 戰(zhàn)時(shí)消費(fèi)使該實(shí)際得到廣泛的運(yùn)用;1.3.5. 1950年戴明到日本講學(xué), 介紹SQC觀念及方法, SQC是 發(fā)現(xiàn)問題才解決, 浪費(fèi)較大, 後來發(fā)展出了SPC;1.3.6. 美國汽車業(yè)廠商對SPC

4、非常重視, 並使之得到廣泛應(yīng)用;1.3.7. ISO9000也非常重視SPC的應(yīng)用, 對其有專門章節(jié)要求.1.3. SPC的歷史.1.4. SPC的定義 統(tǒng)計(jì)過程控制(SPC)是基於統(tǒng)計(jì)原理, 利用圖形技術(shù), 對 流程中關(guān)鍵(質(zhì)量)特性進(jìn)行監(jiān)控, 並通過斷定準(zhǔn)則, 及時(shí)顯示 異常, 從而達(dá)到發(fā)現(xiàn)問題、預(yù)防不良產(chǎn)生的一種管理工具. SPC能夠?qū)⒑Ａ繑?shù)據(jù)中的異常通過圖形直觀展現(xiàn)出來, 適用 於各種須投入大量資源, 要長期管控的流程或特性. SPC有以下作用: A. 確保制程繼續(xù)穩(wěn)定、可預(yù)測; B. 提高產(chǎn)質(zhì)量量、消費(fèi)才干、降低本錢; C. 為制程分析提供根據(jù); D. 區(qū)分變差的特殊緣由和普通緣由,

5、 作為采取部分措施 或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南.2. 統(tǒng)計(jì)根底知識2.1. 正態(tài)分布.-3-2-1+1+2+30.%0.%99.73%95.45%68.27%測定的平均值(x)與群體平均值()一致; 曲線的最高點(diǎn)與橫軸垂直相交處, 即為群體平均值()以此點(diǎn)為中心, 其曲線左右兩邊對稱;C. 正態(tài)分布左右兩尾與橫軸漸漸接近, 但不與橫軸相交;D. 曲線下橫軸上之面積等於“1, 曲線下橫軸上之面積分布情況為: (-)至()範(fàn)圍內(nèi)的面積約占總面積的68.27%; (-2)至(2)範(fàn)圍內(nèi)的面積約總占面積的95.45%; (-3)至(3)範(fàn)圍內(nèi)的面積約占總面積的99.73%.2.2. 數(shù)據(jù)的類別2.2.1.

6、 連續(xù)型數(shù)據(jù)abX.Xx1x2x3x4x5x6x72.2.2. 離散型數(shù)據(jù). “母體是指組成某一特定群體的全部單位, 有時(shí)母體大到 無法測量. “樣本是指該特定母體中的某些單位, 要求母體中的每一個(gè) 單位都有同等機(jī)會被用來測量, 即樣本必須是隨機(jī)的.2.3.1. 母體vs樣本2.3. 抽樣母體樣本母體樣本.隨機(jī)抽樣: 每個(gè)均有被選上的相等機(jī)會2.3.2. 抽樣方法.這樣不是隨機(jī)抽樣!.層別式抽樣: 母體被“層別成幾個(gè)組, 在每個(gè)組內(nèi)隨機(jī)選擇.系統(tǒng)隨機(jī)抽樣: 每隔n個(gè)抽取一個(gè)樣本.行進(jìn)中的過程分組抽樣: 每小時(shí)在該點(diǎn)抽3個(gè)樣本.計(jì)數(shù)數(shù)據(jù): 普通情況下取50100個(gè)計(jì)量數(shù)據(jù): 每個(gè)分組最少30個(gè)2

7、.3.3. 抽樣的普通準(zhǔn)那么.2.4. SPC相關(guān)術(shù)語2.4.1 Xi: 實(shí)測數(shù)據(jù), X1X5 是指一個(gè)樣組中的5個(gè)實(shí)測數(shù)據(jù);2.4.2 Xbar: 表示n個(gè)數(shù)據(jù)的平均值, 即: Xbar=(X1+Xn)/n;2.4.3 T: 表示公差值, 即: 公差值=規(guī)格最大值規(guī)格最小值 (T=USLLSL);2.4.4 : 表示規(guī)格中心值;2.4.5 R: 極差值, 即:極差值=樣組中之最大值樣組中最小值;2.4.6 Rm: 表示樣組之極差值, 即: 第二組Rm值=第二組X值 第一組X值, 依此類推;2.4.7 Cpk: 表示制程才干指數(shù);2.4.8 S: 樣本標(biāo)準(zhǔn)差.3. 制程變異的緣由普通緣由: 是

8、呵斥隨著時(shí)間推移具有穩(wěn)定的且可反復(fù)的分布 過程中的許多變差的緣由, 我們稱之為“處于統(tǒng)計(jì)控制形狀、 “受統(tǒng)計(jì)控制, 或有時(shí)簡稱“受控, 普通緣由表現(xiàn)為一個(gè)穩(wěn)定 系統(tǒng)的偶爾緣由. 只需變差的普通緣由存在且不改動時(shí), 過 程的輸出才可以預(yù)測.特殊緣由: 是呵斥不是一直作用于過程變差的緣由, 即當(dāng)它們 出現(xiàn)時(shí)將呵斥過程的分布改動. 除非一切的特殊緣由都被查 找出來并且采取了措施, 否那么它們將繼續(xù)用不可預(yù)測的方式 來影響過程的輸出. 假設(shè)系統(tǒng)內(nèi)存在變差的特殊緣由, 隨時(shí)間 的推移, 過程的輸出將不穩(wěn)定.項(xiàng) 目普通原因特殊原因定 義不可避免之原因, 非人為原因, 共同原因, 偶然原因可避免的原因, 人

9、為原因, 特殊原因,異常原因, 局部原因等影 響隨時(shí)間推移具有穩(wěn)定的,且可重復(fù)的分布過程,稱為“處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)”簡稱 “受控”.指造成不是始終作用于過程的變差的原因,即當(dāng)它們出現(xiàn)時(shí)將造成整個(gè)過程的分布改變.例 子同一人使用同一儀器于不同時(shí)間量測產(chǎn)品之差異不同方向不同位置測量軸徑原材料重量氣候、環(huán)境的微小變化合格原料的微小變化機(jī)械的微小震動刀具的微量磨損生產(chǎn)條件設(shè)定錯(cuò)誤使用不合格材料加工機(jī)器差異材料之不同設(shè)備調(diào)整不當(dāng)新手違背操作規(guī)程作業(yè)刀具過量磨損加工方法的改變對產(chǎn)品 的影響微小, 不明顯明顯而巨大是否值得追查原因不值得值得而且可以找到.時(shí)間過程受控制且才干符合規(guī)範(fàn)過程不受控制才干也不符合規(guī)範(fàn)

10、.時(shí)間過程受控制但才干不符合規(guī)範(fàn)要求過程受控制且才干符合規(guī)範(fàn)要求.部分措施和系統(tǒng)措施部分措施通常用來消除變差的特殊緣由通常由與過程直接相關(guān)的人員實(shí)施大約可糾正15%的過程問題對系統(tǒng)采取措施通常用來消除變差的普通緣由幾乎總是要求管理措施，以便糾正大約可糾正85%的過程問題.部分措施、系統(tǒng)措施表示圖處理普通緣由的系統(tǒng)措施處理異常緣由的部分措施處理異常緣由的部分措施UCLLCL.制程才干是工序在控制形狀時(shí), 其工序消費(fèi)的產(chǎn)品質(zhì)量變化有多少程度的值, 或指在控制形狀(穩(wěn)定形狀)下, 工序能制造出來的質(zhì)量程度的程度.而制程才干分析是指針對一個(gè)過程, 在滿足顧客的期望上,表現(xiàn)得有多好的一種研討.4. 制程

11、才干分析4.1 制程才干的定義. 短期制程才干 短期制程才干是隻存在偶爾緣由時(shí)的制程才干, 表示取樣 數(shù)據(jù)都具有同樣的品質(zhì)特性, 但有主要技術(shù)要素引起品質(zhì) 特性變化, 因此品質(zhì)特性變化越大, 分布也就越大, 短期 制程才干也就越差. 長期制程才干 長期制程才干是包括組內(nèi)誤差和組間誤差, 為了改善技術(shù) 和工序管理, 必須判斷工序能否穩(wěn)定時(shí), 用長期制程才干 的特性來取樣, 來確認(rèn)包括管理要素引起的變化和技術(shù)的 要素引起的變化.制程才干隨時(shí)間的延續(xù),平均值及分布形狀產(chǎn)生變化稱為偏移/漂移現(xiàn)象.偏移是制程的忽然變化.漂移是制程隨時(shí)間緩慢發(fā)生的變化. 搜集過程數(shù)據(jù)是為了對過程進(jìn)行分析和研討, 並為最終

12、進(jìn)行 過程改善做好準(zhǔn)備. 如何搜集數(shù)據(jù)才干保証所搜集的數(shù)據(jù)能 代表整個(gè)過程的現(xiàn)狀、並保証過程的短期和長期才干都能夠 被評估? 合理分組是搜集數(shù)據(jù)的一種戰(zhàn)略, 通過合理分組可區(qū)分短期 和長期誤差, 從而可以確認(rèn)過程目前的問題是技術(shù)實(shí)力不夠 (Zst太小), 還是控制程度差(Zst與Zlt差異太大)4.2.1 合理分組(Rational Subgroups)的目的4.2 數(shù)據(jù)搜集戰(zhàn)略 在搜集過程數(shù)據(jù)時(shí), 我們普通會搜集較長時(shí)間范圍內(nèi)的很多 組數(shù)據(jù)(因?yàn)閿?shù)據(jù)搜集太少, 不能把握過程的現(xiàn)狀全貌). 搜集數(shù)據(jù)時(shí), 要求每組內(nèi)的數(shù)據(jù)隻包含偶爾緣由誤差, 組與組 之間存在異常緣由誤差和偶爾緣由誤差, 這樣搜

13、集的數(shù)據(jù)可 對過程的長期才干和短期才干分別作出評估.4.2.2 組內(nèi)誤差和組間誤差.組內(nèi)誤差和組間誤差Process ResponseTime組間誤差組內(nèi)誤差Rational Subgroups.合理分組的步驟如下： A. 首先確定能夠影響CTQ的各種輸入變量(應(yīng)從生產(chǎn)班次、 操作員、資料、方法、設(shè)備等方面考慮); B. 從以上輸入變量中選出能夠會對CTQ產(chǎn)生艱苦影響的 幾個(gè)要素; C. 制定抽樣計(jì)劃, 確保每個(gè)數(shù)據(jù)組中隻有偶爾緣由誤差, 每 組取樣25個(gè), 組內(nèi)樣本盡短時(shí)間內(nèi)搜集; D. 測量樣本並記錄數(shù)據(jù), 為後續(xù)分析做好準(zhǔn)備; E. 搜集的數(shù)據(jù)組別要足夠多.4.2.3 如何進(jìn)行合理分組.

14、目標(biāo)值(Target) 每一種可量測的特性, 都會有一個(gè)想要的績效水準(zhǔn), 就是 通常所說的目標(biāo)值. 例如: 體溫 36.8 上班時(shí)間 8:00 a.m.4.3.1 根本術(shù)語及定義4.3 延續(xù)型數(shù)據(jù)分析規(guī)格界限(上限/下限)(Specification Limits) 很多過程活動與過程結(jié)果有一個(gè)規(guī)格范圍, 該范圍提供允 許超出或低於績效目標(biāo)值的界限. 例如: LSL 目標(biāo)值 USL 體溫 36.5 36.8 37.3 上班時(shí)間 6:30a.m. 8:00a.m. 8:02a.m.平均數(shù)(Mean): 一組數(shù)據(jù)的平均值, 通常以“ 表示. 例如: 體溫 36.7 36.9 37.3 37.1 3

15、7.2 36.8 37.0 平均值=37.0偏向(Deviation): 指某個(gè)特定量測值與一切量測值平均數(shù)之間的距離.並非一切的量測結(jié)果與目標(biāo)值都是一致的, 此現(xiàn)象稱為變異, 並非一切的變異都是不符合要求的, 某個(gè)變異雖然偏離目標(biāo), 但仍是符合規(guī)格要求的.標(biāo)準(zhǔn)偏向(Standard Deviation): 指整個(gè)數(shù)據(jù)組的整體離差.缺點(diǎn)率: 根據(jù)目標(biāo)值, 規(guī)格上/下限繪制某一過程量測結(jié)果的分布 曲線時(shí), 一些量測結(jié)果會超出規(guī)格界限. 位於曲線以下但 超出規(guī)格上/下限范圍的數(shù)據(jù)所佔(zhàn)的比例或百分比.Cp是衡量制程潛在才干的一個(gè)指數(shù), 它未考慮到制程輸出平均值的偏移, 隻考慮制程輸出分布的離散程度與

16、制程規(guī)格的比較結(jié)果. 計(jì)算公式如下:Cp反映了一個(gè)過程的潛在才干, 它假設(shè)過程均值與規(guī)格中心值完全重合. CP值越大, 闡明制程才干越高.Cp=USL-LSL6stUSL=規(guī)格上限LSL=規(guī)格下限st=短期標(biāo)準(zhǔn)差4.3.2 衡量短期制程才干的指數(shù).Cpk是衡量制程實(shí)際才干的一個(gè)指數(shù), 它考慮了制程輸出平均值的偏移, 計(jì)算公式如下：T=(USL-LSL)/2 Cpk=(1-K)Cp =(1-K)USL-LSL6stK= T -XUSL-LSL2Cpk= (1-ICaI)*Cp單側(cè)下限制程才干指數(shù)單側(cè)上限制程才干指數(shù).準(zhǔn)確度Ca精確度Cp精細(xì)度CPkCa/Cp/CPk之間的概念關(guān)係Cpk=Cp(1

17、-ICaI).例: 一批軸承, 抽樣量測尺寸如下: 10.52 10.53 10.48 10.47 10.49 10.50 10.48 10.52 10.51 10.48 10.50 10.50 10.51 10.49 10.50 10.52 10.50 10.49 10.48 10.49 10.50 10.51 10.48 10.48 10.50 1). 假設(shè)Spec 10.500.05, 則Cpk為多少？ 2). 假設(shè)Spec 10.55Max, 則Cpk為多少?解: 1). 2). .4.3.3 衡量長期制程才干的指數(shù) Pp/Ppk 計(jì)算公式如下：Pp=USL-LSL6ltUSL=規(guī)格上

18、限LSL=規(guī)格下限lt =長期標(biāo)準(zhǔn)差Ppk= USL LSL3lt- X_.4.3.4 制程才干指數(shù)分析 A. 當(dāng)實(shí)踐中心值等於規(guī)格中心值時(shí), Cpk=Cp, 當(dāng)實(shí)踐中心值 不等於規(guī)格中心值時(shí), CpkCpk1.33合格理想狀態(tài),繼續(xù)維持.31.33Cpk1.00警告使制程保持於管制狀態(tài),否則產(chǎn)品隨時(shí)有發(fā)生不良品的危險(xiǎn),需注意.41.00Cpk0.67不足產(chǎn)品有不良品產(chǎn)生,需作全數(shù)遷別,制程有妥善管理及改善之必要.50.67Cpk非常不足應(yīng)採取緊急措施,改善品質(zhì)並追究原因,必要時(shí)規(guī)格再作檢討.USL=160X-Bar= 100Z=USL-160-10020= 3.0From Z table,

19、for Z=3.0 , P(defect)= 0.00僅有單側(cè)上規(guī)格限4.3.6 Sigma水準(zhǔn)Z.USL=160 = 110 P(defect)= 0.0061+ 0.000233=0.00644雙側(cè)規(guī)格限LSL=40From Z table, for P(defect)= 0.00644, Z=2.487ZUSL=USL-160-11020=2.5P(d)us=0.00621LSL-ZLSL=40-11020= 3.5P(d)ls=0.000233.4.3.7 長期Zlt.單位(N-Unit)缺點(diǎn)(D-Defect)機(jī)會(O-Opportunity)每百萬個(gè)機(jī)會的缺點(diǎn)數(shù)(DPMO)單位數(shù):

20、 4機(jī)會數(shù): 4缺陷數(shù): 6DPU=6/4=1.5DPO=6/16=0.375DPMO=DPO*1000000=3750004.4.1 根本術(shù)語及定義4.4 離散型數(shù)據(jù)分析.以Z值換算表將DPMO轉(zhuǎn)換成值不良率為37.5%, 查表可得知, Zst為0.32.4.4.2 制程才干分析.5. SPC的工具控制圖5.1. 控制圖的原理 Mean Standard deviationX averageS Sample stand deviationPopulation總體NSample樣 本n 直方圖正態(tài)分布圖n30時(shí)直方圖 正態(tài)分布圖 控制圖 一種以實(shí)際產(chǎn)品品質(zhì)特性與根據(jù)過去經(jīng)驗(yàn)所判明的制程才干的控

21、制界限比較,而以時(shí)間順序用圖形表示者.旋轉(zhuǎn)90解析+3s-3su-3s控制+3suUCLCLLCL.時(shí)間1時(shí)間2時(shí)間3控制上限控制下限規(guī)格下限X1X2X3X4X1X2X1X3X4X3X1X2X3X4X2規(guī)格上限控制中心值(規(guī)格值).5.2. 控制圖的種類均值中位數(shù)控制圖均值極差控制圖均值標(biāo)準(zhǔn)差控制圖單值移動極差控制圖不合格品率控制圖不合格品數(shù)控制圖缺陷數(shù)控制圖單位缺陷數(shù)控制圖. 5.2.1 均值極差控制圖 均值極差控制圖是一種計(jì)量值控制圖, 控制物件的資料 全部來自連續(xù)型資料. 優(yōu)點(diǎn): 資料搜集量小, 計(jì)算方便; 缺點(diǎn): 隨著樣本容量的增大, 效率降低. 中心線和控制限: . 5.2.2 均值

22、規(guī)范差控制圖 中心線和控制限: . 5.2.3 單值移動極差控制圖 單值移動極差控制圖也是一種計(jì)量值控制圖, 控制物件的 資料主要來自於那些破壞性實(shí)驗(yàn)或無須大量抽查的實(shí)驗(yàn). 優(yōu)點(diǎn): 資料搜集量小, 計(jì)算方便 缺點(diǎn): 靈敏度較差 中心線和控制限: MR圖X圖視為0. 5.2.4 不合格品率控制圖 中心線和控制限: 其中, 假設(shè)LCL0, 令LCL=0. 5.2.5 不合格品數(shù)控制圖 不合格品數(shù)控制圖同不合格品率控制圖一樣是一種計(jì)數(shù) 型控制圖, 在原理上兩者並無差別, 但在一些細(xì)節(jié)上兩者 還是存在某種差異, 不合格品數(shù)控製圖樣本大小必須為定 值, 而不合格品率控制圖中樣本大小可以不等. 中心線和控

23、制限: 其中, 假設(shè)LCL0, 令LCL=0 . 5.2.6 缺陷數(shù)控制圖 缺陷數(shù)控制圖是用來控制產(chǎn)品上疵點(diǎn)或缺陷數(shù)目的控制 圖, 同前面兩節(jié)所介紹的一樣都屬於計(jì)數(shù)型控制圖. 中心線和控制限: 缺陷其中, 假設(shè)LCL0, 令LCL=0 . 5.2.7 單位缺陷數(shù)控制圖 單位缺陷數(shù)控制圖同缺陷數(shù)控制圖一樣都屬於計(jì)數(shù)型管 制圖, 它與缺陷數(shù)控製圖的區(qū)別是, 缺陷數(shù)控製圖中樣本 量必須一樣, 而單位缺陷數(shù)控製圖中樣本量可以不同. 中心線和控制限: 其中, 假設(shè)LCL1N中心線性質(zhì)Yn 9平均值-標(biāo)準(zhǔn)差平均值中位數(shù)n=29平均值-全距Y不良數(shù)缺點(diǎn)數(shù)5.3. 控制圖類型的選擇YNYN.EXCEL版控制圖

24、.有1點(diǎn)在A區(qū)以外者.(口訣:1A外)5.4. 控制圖判讀原那么.連續(xù)9點(diǎn)在單側(cè).(口訣:9單側(cè)).連續(xù)6點(diǎn)持續(xù)的上升或下降.(口訣:6升6降)6L3.連續(xù)6點(diǎn)持續(xù)的上升或下降.(口訣:6升6降)6H3.連續(xù)14點(diǎn)交互著一升一降者.(口訣:14升降)4.3點(diǎn)中有2點(diǎn)在A區(qū)或A區(qū)以外者.(口訣:3分之2A).5點(diǎn)中有4點(diǎn)在B區(qū)或B區(qū)以外者.(口訣:5分之4B).連續(xù)15點(diǎn)在中心線上下兩側(cè)之C區(qū)者.(口訣:15 C).有8點(diǎn)在中心線之兩側(cè),但C區(qū)並無點(diǎn)子者.(口訣:8缺C).6. SPC的運(yùn)作流程開始控制特性確定數(shù)據(jù)搜集資料分析能否穩(wěn)定SPC目的確定控制圖類型實(shí)施改善確定管控時(shí)限確定均值及控制限能

25、否穩(wěn)定作解析圖作控制圖確定管控時(shí)限數(shù)據(jù)搜集計(jì)劃能否異常實(shí)施改善能否到控制時(shí)限持續(xù)控制過程分析能否穩(wěn)定結(jié)束YNYYYNYNNY6.1. 運(yùn)作流程圖.6.2.1. 根本條件: A. 基礎(chǔ)管理比較扎實(shí) B. 生產(chǎn)過程比較穩(wěn)定 C. 員工應(yīng)接受過統(tǒng)計(jì)技術(shù)的系統(tǒng)培訓(xùn) D. 具備統(tǒng)計(jì)技術(shù)應(yīng)用所需的技術(shù)、資源條件6.2.2. 應(yīng)用條件: A. 控制對象可以是質(zhì)量特性、質(zhì)量指標(biāo)或參數(shù) B. 控制對象應(yīng)定量描畫並具有分布的可重複性6.2.3. 控制對象: A. 重要性: 選擇關(guān)鍵項(xiàng)目 B. 單一性: 每個(gè)控制圖管控一項(xiàng)目6.2.4. 取樣方法: A. 一定要隨機(jī)取樣 B. 按確定的時(shí)間間隔取樣 C. 樣本大小應(yīng)

26、保證控制圖有適宜的檢出力 D. 解析用控制圖取樣組數(shù)應(yīng)大于或等于25組6.2. 運(yùn)作前應(yīng)思索的問題.6.3.1. 建立解析用控制圖A. 搜集數(shù)據(jù): 選擇控制特性X, 決定樣本大小n及抽樣間隔, 樣本組數(shù)k; A.1. 選擇控制特性X A.1.1. 能量測的產(chǎn)品或制程特性; A.1.2. 與客戶運(yùn)用及生產(chǎn)關(guān)系艱苦之特性; A.1.3. 與下道制程影響較大之特性; A.1.4. 關(guān)鍵制程之特性. A.2. 決定樣本大小n及抽樣間隔 A.2.1 樣本大小n約在25個(gè)之間, 不宜太大; A.2.2 同一組之?dāng)?shù)據(jù)應(yīng)在同終身產(chǎn)條件及短時(shí)間內(nèi)取樣;6.3. Xbar-R控制圖運(yùn)作流程. A.2.3 初期解析

27、之制程宜在較小的間隔連續(xù)取樣, 控制狀態(tài)下 之制程可加長其間隔, 對正在生產(chǎn)產(chǎn)品之監(jiān)視, 可以每班 兩次、每小時(shí)一次或其它可行的抽樣頻率. 除客戶要求 及另有規(guī)定外, 可參照下表執(zhí)行: A.2.4 每組樣本可識別日期、時(shí)間、機(jī)臺號、原資料或Lot No. A.3 決定樣本組數(shù)k(以保証制程之主要變異有機(jī)會出現(xiàn)為原則) 普通以25組以上的樣本及100個(gè)以上的數(shù)據(jù)以檢驗(yàn)制程之穩(wěn) 定及估計(jì)制程特性的平均值與標(biāo)準(zhǔn)差; 品質(zhì)特性Cpk管制方法取樣頻率初期制程 1.00檢驗(yàn)全檢取樣頻率: 1 2小時(shí)1.00 1.33管制圖高(1 2小時(shí))1.33 1.67管制圖中(4 8小時(shí))1.67 2.00管制圖低(

28、每班一次)2.00視 情 況 決 定.B. 記錄數(shù)據(jù)及計(jì)算各組平均值 及極差Ri, 總平均值 及控制中心線控制上限控制下限 控制圖控制中心線控制上限控制下限 R控制圖C. 計(jì)算控制界限.公式中D4D3A2為隨樣本數(shù)n變化而改變的常數(shù)樣本數(shù)n2345678910D43.2672.5742.2822.1142.0041.9241.8641.8161.777D3*0.0760.1360.1840.223A21.8801.0230.7290.5770.4830.4190.3730.3370.308A32.6591.9541.6281.4271.2871.1821.0991.0320.975B3*0.0

29、300.1180.1850.2390.284B43.2672.5682.2662.0891.9701.8821.8151.7611.716E22.6601.7721.4571.2901.1841.1091.0541.0100.975.D. 繪制控制界限及描點(diǎn) D.1 決定控制圖之座標(biāo)尺寸 D.1.1 兩控制圖之座標(biāo)尺寸分開制訂; D.1.2 中心線置於縱座標(biāo)之中心位置上; D.1.3 控制上下界限約於座標(biāo)之2/33/4位置上; D.1.4 決定一格的大小及座標(biāo)之尺寸. 對於X_bar圖, 座標(biāo)上之每格刻度值應(yīng)至少為樣本均值之 最大值與最少值差值的2倍; 對於R圖, 應(yīng)從最低值為0開始到最大值間

30、差值為初始階 段的最大極差(R)的2倍. D.2 依控制界限及各組及極差Ri之大小描繪於控制圖上 D.2.1 中心線以實(shí)線描繪, 控制界線以紅色虛線描繪; D.2.2 依各組之統(tǒng)計(jì)量大小描點(diǎn)於控制圖上; D.2.3 將各點(diǎn)以實(shí)線連接. .E. 解析制程 E.1 解析R控制圖 組內(nèi)樣本間的變異估計(jì)值, 決定各組及平均值間的變異 程度, 故R控制圖的穩(wěn)定性 須先解析. E.1.1 有點(diǎn)超過控制上限 I. 控制界限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤; II. 組內(nèi)變異或?qū)嶋H制程變異, 在某時(shí)變大或趨勢性變大; III.量測系統(tǒng)曾經(jīng)變更(如不同的檢驗(yàn)人員或量具)或量測 系統(tǒng)沒有足夠的分辨率 ; 有點(diǎn)低於控制下限 I.

31、 控制界限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤; II. 實(shí)際制程變小(變好), 應(yīng)調(diào)查後推廣; III. 量測量測系統(tǒng)曾經(jīng)變更(含數(shù)據(jù)已被編輯或改變). 一點(diǎn)超出控制界限.連續(xù) 7 點(diǎn)遞增或遞減.連續(xù) 9 點(diǎn)出現(xiàn)在中心線的同一側(cè).E.1.2 有連續(xù)的點(diǎn)出現(xiàn) 有連續(xù)9個(gè)點(diǎn)出現(xiàn)在中心線的一側(cè)或連續(xù)6個(gè)點(diǎn)上升(或下降) 假設(shè)連續(xù)9點(diǎn)出現(xiàn)在上側(cè)或連續(xù)6個(gè)點(diǎn)上升 I. 不規(guī)則的緣由呵斥較大的數(shù)據(jù)變異. 如設(shè)備的缺點(diǎn)或固定 鬆動, 或單一制程條件的改變, 或運(yùn)用新的(或不均勻的) 原物料批. 這些問題必須即時(shí)糾正; II. 量測系統(tǒng)變更, 如檢驗(yàn)人員或量測設(shè)備變更; 假設(shè)連續(xù)9點(diǎn)出現(xiàn)在下側(cè)或連續(xù)6個(gè)點(diǎn)下降 I. 制程條件

32、呵斥較小的數(shù)據(jù)變異, 須予調(diào)查與分析, 經(jīng)確認(rèn)無 特殊緣由引起的應(yīng)推廣; II. 量測系統(tǒng)的變更, 能夠粉飾真實(shí)的改變.連續(xù) 14 點(diǎn)中相鄰點(diǎn)上下交替E.1.3 明顯的非隨機(jī)現(xiàn)象(即超過或少於2/3的點(diǎn)集中在中間 的1/3區(qū)域內(nèi)) 連續(xù)14點(diǎn)中相鄰點(diǎn)上下交替 I. 計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤; II. 數(shù)據(jù)分層不夠, 即由兩臺加工設(shè)備或由兩位操作人員 輪流進(jìn)行操作而引起的系統(tǒng)效應(yīng); III.量測系統(tǒng)的變更, 能夠由兩臺量測儀器或由兩位量測 人員輪流量測而引起的.E.1.4 發(fā)掘並矯正特殊緣由 對極差控制圖上顯示的特殊緣由, 相關(guān)單位應(yīng)進(jìn)行分析, 及時(shí)採取應(yīng)對對策, 並給予橫向展開, 防止類似問題再發(fā).

33、E.1.5 再計(jì)算控制界限 當(dāng)進(jìn)行初始制程解析或重估制程才干時(shí), 控制界限應(yīng)重新 計(jì)算, 以剔除制程在不穩(wěn)定期間已發(fā)掘及矯正的特殊緣由, 對控制界限估算的影響. 依E1.1E1.4再次確認(rèn)R控制圖的 點(diǎn)能否在控制狀態(tài)下, 必要時(shí)應(yīng)重新確認(rèn)、矯正及再計(jì)算. 注: 因特殊緣由而剔除的數(shù)據(jù), 其主要目的是盡量在制程 隻有共同緣由存在時(shí)估計(jì)制程變異.E.2 解析Xbar控制圖 當(dāng)R控制圖處於控制狀態(tài)下, 組內(nèi)變異可認(rèn)為是穩(wěn)定後,方可 解析Xbar控制圖. 如各組平均值在控制狀態(tài), 可表示制程隻有 普通緣由引起的變異; 否則, 表示有特殊緣由變異而引起制程 中心不穩(wěn)定. E.2.1 有點(diǎn)超過控制上下限,

34、 參照E.1之解析R控制圖; E.2.2 有延續(xù)的點(diǎn)出現(xiàn), 參照E.1之解析R控制圖; E.2.3 明顯的非隨機(jī)景象 連續(xù)14點(diǎn)中相鄰點(diǎn)上下交替, 參照E.1之解析R控制圖; . 連續(xù)3點(diǎn)中有2點(diǎn)在同一側(cè)的2/3區(qū)域以外; 連續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)在同一側(cè)的1/3區(qū)域以外; I. 控制界限錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤; II. 制程或抽樣方法因連續(xù)的組包含不同變異來源的數(shù)據(jù), 如進(jìn)料混批. 連續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)落在中間1/3區(qū)域外.連續(xù)3點(diǎn)中有2點(diǎn)落在中間的2/3區(qū)域外. 連續(xù)15點(diǎn)在1/3區(qū)域上下 I.控制界限、計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤; II. 量測數(shù)據(jù)能夠經(jīng)過編輯 (極差與均值相差甚遠(yuǎn)的幾個(gè)樣本數(shù)據(jù)被 更改或剔除);

35、III.量測系統(tǒng)能夠沒有足夠的分辨率. 當(dāng)上述三種能夠被排除且制程才干足夠, 應(yīng)對該制程加以推廣. 連續(xù)8點(diǎn)在兩側(cè), 但無一在1/3區(qū)域內(nèi) I. 控制界限、計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤; II. 制程或抽樣方法有分層, 即每組數(shù)據(jù)系統(tǒng)性地包含不同的制程平均, 如多線或多機(jī)臺生產(chǎn)各取一組樣本; III.量測系統(tǒng)的變更, 能夠由多臺量測儀器或由多位量測人員量測引起. 連續(xù)15點(diǎn)在1/3區(qū)域內(nèi)中心線上下.連續(xù)8點(diǎn)在中心線兩側(cè),但無一點(diǎn)在1/3區(qū)域內(nèi).E.3.1 如制程分布範(fàn)圍在規(guī)格界限內(nèi), 且中心在規(guī)格中心附近, 可認(rèn)為制程才干能滿足規(guī)格要求,可以延長做為控制用 控制圖. E.3 與規(guī)格比較規(guī)格上限控制上限控

36、制中心值規(guī)格值控制下限規(guī)格下限X1X2X3X4X1X1X2X3X4X2.E.3.2 假設(shè)控制界限之寬度比規(guī)格界限之寬度窄, 但由于中心 偏移呵斥超出上下限時(shí), 宜調(diào)整制程平均值至接近or 與規(guī)格中心一致, 方可延長做為控制用控制圖界限. X1X2X3X4X1X1X2X3X4X2控制上限控制中心值控制下限規(guī)格上限規(guī)格下限規(guī)格值調(diào)整.E.3.3 假設(shè)產(chǎn)品界限之寬度比規(guī)格界限之寬度寬, 表示制程才干 缺乏, 應(yīng)對原數(shù)據(jù)層別, 應(yīng)用工程與技術(shù)知識加以改善.X1X2X3X4X1X1X2X3X4X2控制上限控制中心值控制下限規(guī)格上限規(guī)格下限規(guī)格值 假設(shè)因技術(shù)或經(jīng)濟(jì)之限制無法改善, 則應(yīng)討論規(guī)格界限能否 可

37、以寬放. 假設(shè)無法改善制程又無法改變規(guī)格, 則全數(shù)檢查.E.3.4 假設(shè)無規(guī)格(藍(lán)圖)界限時(shí), 可直接延長運(yùn)用, 而由最后廢品 之品質(zhì)特性, 能否能滿足廢品規(guī)格來檢討.X1X2X3X4X1X1X2X3X4X2控制上限控制中心值控制下限.JMPF. 制程才干研討 F.1 制程特性分布之確認(rèn) 藉統(tǒng)計(jì)軟體(如JMP/Minitab)或直方圖分析方法, 對所搜集 到的樣本數(shù)據(jù)作初步檢定, 確認(rèn)制程特性分布能否為常態(tài) 分布. 假設(shè)為非常態(tài)分布, 相關(guān)單位須對其緣由進(jìn)行分析, 並 提出應(yīng)對對策.Minitab. F.2 估計(jì)制程平均值 及標(biāo)準(zhǔn)差 樣本數(shù)n2345678910d21.1281.6932.05

38、92.3262.5342.7042.8472.9703.078d30.8530.8880.8800.8640.8480.8330.8200.8080.797c40.7980.8860.9210.9400.9520.9590.9650.9690.973c50.6030.4630.3890.3410.3080.2820.2620.2460.232d2是隨樣本數(shù)變化而改變的常數(shù) .F.3 計(jì)算制程才干 F.3.1 單邊上限USL Cpk = CPU = (USL - ) / (3 ) ZUSL = (USL - ) / F.3.2 單邊下限LSL Cpk = CPL = ( - LSL) / (3 ) ZLSL = ( - LSL) / F.3.3 雙邊規(guī)格 Cp = (USL-LSL)/(6 ) CPU = (USL - ) / (3 ) ZUSL = (USL - ) / CPL = ( - LSL) / (3 ) ZLSL = ( - LSL) / Ca = Cpk =Min(CPU , CPL) =.A. 記入必要事項(xiàng) 將制程名稱、控制項(xiàng)目、測定單位、規(guī)格、機(jī)械號碼、 控制圖號碼、測定者、操作者、數(shù)據(jù)期限記入控制圖;B. 作控制圖: 將解析控制圖決定之控制界限繪入控制圖;C. 點(diǎn)圖;D. 穩(wěn)定