1、關于原子發(fā)射光譜分析基本原理第一張，PPT共十三頁，創(chuàng)作于2022年6月2022/8/21一、概述 generalization原子發(fā)射光譜分析法（atomic emission spectroscopy ，AES）：元素在受到熱或電激發(fā)時，由基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)，返回到基態(tài)時，發(fā)射出特征光譜，依據(jù)特征光譜進行定性、定量的分析方法。1859年，基爾霍夫(Kirchhoff G R)、本生(Bunsen R W)研制第一臺用于光譜分析的分光鏡，實現(xiàn)了光譜檢驗；1930年以后，建立了光譜定量分析方法；原子光譜 原子結構 原子結構理論 新元素在原子吸收光譜分析法建立后，其在分析化學中的作用下降，新光源(

2、ICP)、新儀器的出現(xiàn)，作用加強。第二張，PPT共十三頁，創(chuàng)作于2022年6月2022/8/21原子發(fā)射光譜分析法的特點: (1)可多元素同時檢測 各元素同時發(fā)射各自的特征光譜； (2)分析速度快 試樣不需處理，同時對幾十種元素進行定量分析(光電直讀儀)； (3)選擇性高 各元素具有不同的特征光譜； (4)檢出限較低 100.1gg-1(一般光源)；ngg-1(ICP） (5)準確度較高 5%10% (一般光源）； 1% (ICP) ； (6)ICP-AES性能優(yōu)越 線性范圍46數(shù)量級，可測高、中、低不同含量試樣； 缺點：非金屬元素不能檢測或靈敏度低。第三張，PPT共十三頁，創(chuàng)作于2022年6

3、月2022/8/21二、原子發(fā)射光譜的產生 formation of atomic emission spectra 在正常狀態(tài)下，元素處于基態(tài)，元素在受到熱（火焰）或電（電火花）激發(fā)時，由基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)，返回到基態(tài)時，發(fā)射出特征光譜（線狀光譜）；特征輻射基態(tài)元素M激發(fā)態(tài)M*熱能、電能E第四張，PPT共十三頁，創(chuàng)作于2022年6月2022/8/21原子的共振線與離子的電離線 原子由第一激發(fā)態(tài)到基態(tài)的躍遷： 第一共振線，最易發(fā)生，能量最??； 原子獲得足夠的能量(電離能)產生電離,失去一個電子，一次電離。 離子由第一激發(fā)態(tài)到基態(tài)的躍遷(離子發(fā)射的譜線)： 電離線，其與電離能大小無關，離子的特征共

4、振線。 原子譜線表：I 表示原子發(fā)射的譜線； II 表示一次電離離子發(fā)射的譜線； III表示二次電離離子發(fā)射的譜線； Mg：I 285.21 nm ；II 280.27 nm；第五張，PPT共十三頁，創(chuàng)作于2022年6月2022/8/21 Na 能級圖 由各種高能級躍遷到同一低能級時發(fā)射的一系列光譜線；第六張，PPT共十三頁，創(chuàng)作于2022年6月2022/8/21 K 元素的能級圖 第七張，PPT共十三頁，創(chuàng)作于2022年6月2022/8/21 Mg 元素的能級圖第八張，PPT共十三頁，創(chuàng)作于2022年6月2022/8/21三、譜線強度 spectrum line intensity原子由某一

5、激發(fā)態(tài) i 向低能級 j 躍遷，所發(fā)射的譜線強度與激發(fā)態(tài)原子數(shù)成正比。在熱力學平衡時，單位體積的基態(tài)原子數(shù)N0與激發(fā)態(tài)原子數(shù)Ni的之間的分布遵守玻耳茲曼分布定律：gi 、g0為激發(fā)態(tài)與基態(tài)的統(tǒng)計權重； Ei ：為激發(fā)能；k為玻耳茲曼常數(shù)；T為激發(fā)溫度；發(fā)射譜線強度： Iij = Ni Aijhijh為Plank常數(shù)；Aij兩個能級間的躍遷幾率； ij發(fā)射譜線的頻率。將Ni代入上式，得：第九張，PPT共十三頁，創(chuàng)作于2022年6月2022/8/21譜線強度影響譜線強度的因素：（1）激發(fā)能越小，譜線強度越強；（2）溫度升高，譜線強度增大，但易電離。第十張，PPT共十三頁，創(chuàng)作于2022年6月202

6、2/8/21四、譜線的自吸與自蝕 self-absorption and self reversal of spectrum line 等離子體：以氣態(tài)形式存在的包含分子、離子、電子等粒子的整體電中性集合體。等離子體內溫度和原子濃度的分布不均勻，中間的溫度、激發(fā)態(tài)原子濃度高，邊緣反之。自吸：中心發(fā)射的輻射被邊緣的同種基態(tài)原子吸收，使輻射強度降低的現(xiàn)象。元素濃度低時，不出現(xiàn)自吸。隨濃度增加，自吸越嚴重，當達到一定值時，譜線中心完全吸收，如同出現(xiàn)兩條線，這種現(xiàn)象稱為自蝕。譜線表，r：自吸；R：自蝕；第十一張，PPT共十三頁，創(chuàng)作于2022年6月2022/8/21內容選擇第一節(jié) 原子發(fā)射光譜分析基本原理basic principle of Atomic emission spectrometry第二節(jié) 發(fā)射光譜分析裝置與儀器device and instrument of AES第三節(jié) 等離子體發(fā)射光譜儀plasma emission spectrometry第四節(jié) 定性、定量分析方法qualitative an