X射線熒光光譜法測(cè)定化探樣品中的25種主次和微量元素量本方法規(guī)定了地球化學(xué)勘查試樣中SiO2、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MgO、Na2O、Ba、Co、Cr、Cu、La、Mn、Nb、Ni、P、Pb、Rb、Sr、Th、Ti、V、Y、Zn、Zr25種主、次和微量元素的測(cè)定方法。本方法適用于水系沉積物、土壤和巖石等試樣中以上各元素的測(cè)定。本方法檢出限（3s）：見表1。表1元素檢出限 [3（B）/pg?g-1]二主元素檢出限元素檢出限元素檢出限SiO2110Th0.7Mn4.0Al2O3150Ti12.4Nb0.3CaO20V0.6Zr0.6Fe2O350Co0.3Ni1.1K2O30Cr1.5P4.2MgO40Cu1.3Pb1.5Na2O70Y0.2Rb1.0Sr1.0Zn1.3

Ba6.8La4.4本方法測(cè)定范圍：見表2。表2 測(cè)定范圍[3(B)/10-2]元素3(B)/10-2元素3(B)/10-2元素3(B)/10-2SiO21~90Mn0.0012?0.5Zr0.0002?0.2Al2O30.1?30Nb0.0001?0.02CaO0.1?35Ni0.0003?0.3Fe2O30.2?30P0.002?0.9K2O0.1~10Pb0.0004?0.3MgO0.1~40Rb0.0003?0.1Na2O0.1~10Sr0.0003?0.1Ba0.005?0.5Th0.0002?0.02Co0.001?0.05Ti0.004?2.0Cr0.0003?0.05V0.0002?0.1Cu0.0003?0.3Y0.0001?0.05La 0.0014?0.05 Zn 0.0005?0.32規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)本方法的本部分的引用而成為本部分的條款。下列不注日期的引用文件，其最新版本適用于本方法。GB/T20001.4標(biāo)準(zhǔn)編寫規(guī)則第4部分：化學(xué)分析方法。GB/T14505巖石和礦石化學(xué)分析方法總則及一般規(guī)定。GB6379測(cè)試方法的精密度通過(guò)實(shí)驗(yàn)室間試驗(yàn)確定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法的重復(fù)性和再現(xiàn)性。GB/T14496—93地球化學(xué)勘查術(shù)語(yǔ)。3方法提要采用粉末樣品壓片制樣，用X射線熒光光譜儀直接測(cè)量樣品中竽。2、AI2O3、Cao、Fe2O3、JO、MgO、Na?。、Ba、Co、Cr、Cu、La、Mn、Nb、Ni、P、Pb、Rb、Sr、Th、Ti、V、Y、Zn、Zr等25個(gè)主、次和痕量元素。各分析元素采用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法與散射線內(nèi)標(biāo)法校正元素間的基體效應(yīng)。4試劑低壓聚乙烯粉5儀器及材料壓力機(jī)壓力不低于50t。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀端窗銠靶X射線管(功率4kW),儀器必須采用《波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程》(JJG810-93)檢定合格。氬甲烷(Ar/CH4)混合氣體混合比為9：1。6分析步驟試料試料粒徑應(yīng)小于0.074mm。試料應(yīng)在105℃烘6—8h，冷卻后放入干燥器中備用。試料片制備稱取稱取試料(6.1)4.08，放入模具內(nèi)，撥平，用低壓聚乙烯鑲邊墊底，在35t壓力下，壓制成試樣直徑為32mm，鑲邊夕卜徑為40mm的試料片。壓制完成的試料片在非測(cè)量面貼上標(biāo)簽或用記號(hào)筆編寫樣號(hào)，放入干燥器內(nèi)保存，防止吸潮和污染。測(cè)量時(shí)，只能拿試料片的邊緣，避免測(cè)量面被玷污。標(biāo)準(zhǔn)化樣片的制備選擇某些分析元素含量適中的，還應(yīng)含有所有要求待測(cè)元素的國(guó)家一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，按(6.1)-(6.2)的步驟制備成標(biāo)準(zhǔn)化樣片。測(cè)定測(cè)量條件測(cè)量條件見表3。

表3分析元素測(cè)量條件元素分析線品體準(zhǔn)直器探測(cè)器電壓KV電流mA20/)(T/SPHALineBacktptbLLULBLLiFS4PC606087.0988.501051132aa1600CKLiFS4SC606052.7753.6420201675oa14614CKLiFS4SC606069.3270.4020109035ra100CKLiFS4SC606045.0146.301058530ua125LKLiFS4F-P606082.9484.4730303070aa1C8836MKLiFS4SC606062.95409040na160NKLiFS4SC606021.3521.8412122478ba18486NKLiFS4SC606048.6449.601588532ia100PKGeS4PC6060141.1143.3841134

a90000PLLiFS4SC606028.2429.7020101030bP11000RKLiFS4SC606026.5929.70851030ba1600SKLiFS4SC606025.1229.70851030ra1800TLLiFS4SC606027.4529.702051030ha1000TKLiFS4SC606086.1141030ia1000VKLiFS4SC606077.0178.0910103178a15076YKLiFS4SC606023.7624.4312122378a11096ZKLiFS4SC606041.7842.501058033na100ZKLiFS4SC606022.5023.1012122478ra15052SiKPES2PC6060109.041031aT1600AKPES2PC6060144.748031

laT000FKLiFS2SC606057.4848040ea160CKLiFS4PC6060113.041030aa18050NKRXS4PC606047.3249.70848033aa2520MKRXS4PC606038.9341.85631034ga25400KKLiFS4PC6060136.641230a12600RKLiFS4SC606018.36101030ha1000C6.4.2工作曲線的繪制6.4.2.1標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)樣片的制備選用水系沉積物GBW07301?GBW07312、土壤GBW07401?GBW07408、硅酸鹽巖石GBW07103?GBW07114、超基性巖GBW07101?GBW07102和覆蓋區(qū)土壤GSS10?GSS16等國(guó)家一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，按(6.1)-(6.2)的步驟制備成標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)樣片。按(6.4)分析步驟測(cè)定并繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線。6.4.2.2校準(zhǔn)與校正校準(zhǔn)、譜線重疊干擾系數(shù)采用數(shù)學(xué)方法回歸，求出含量xi,計(jì)算公式為匕=(al2+bl+c)+ZDI式中：xi——標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)中分析元素I的標(biāo)準(zhǔn)值或未知樣品中分析元素的含量(未作基體校正)a、b、c——校準(zhǔn)曲線常數(shù)；Ii、Ij——校準(zhǔn)物質(zhì)(或未知樣品)中元素i、j的X射線強(qiáng)度；Dj—一干擾元素j對(duì)分析元素i的譜線重疊干擾系數(shù)。譜線重疊干擾及基體效應(yīng)校正元素間譜線重疊干擾是影響分析準(zhǔn)確性的重要因素。基體效應(yīng)是X熒光分析中普遍存在的問(wèn)題，是元素分析的主要誤差來(lái)源。因此，如何消除或校正基體效應(yīng)，始終是X熒光分析領(lǐng)域中的重要研究課題。對(duì)于干擾，XRF可用無(wú)干擾特征線作分析線或校正。本法選擇合適的分析線，盡量避開干擾，使用多個(gè)校準(zhǔn)樣品回歸，做分段處理，高段線用一次線。采用銠靶Ka線的康普頓散射線作內(nèi)標(biāo)校正基體效應(yīng)，并用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法校正Fe、Ca等基體對(duì)分析線的影響。其校正方程式為：W=X(1+KC+EAW+EBWW)+EDW+Eii i ijj jjk jjjEjkW?匕+C式中：W為分析元素j校正后的含量；Xi為分析元素j校正前的表觀含量；4.為共存元素j對(duì)分析元素i的影響系數(shù)；“.、匕為共存元素j、k的含量；Bijk為共存元素j、k對(duì)分析元素i的交叉影響系數(shù)；Dj為共存元素j對(duì)分析元素i的重迭干擾系數(shù)；Eijk為共存元素j、k對(duì)分析元素i的交叉重迭干擾系數(shù)；KC、Ci為校正常數(shù)。本文各元素均采用強(qiáng)度校正。操作步驟輸入分析元素的有關(guān)參數(shù)輸入分析元素的測(cè)量條件(表3)及I級(jí)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)中要求待測(cè)元素的標(biāo)準(zhǔn)值。測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)化樣片設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)化樣片名，測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)化樣片(6.3)中各分析元素的X射線強(qiáng)度。標(biāo)準(zhǔn)化樣片(6.3)中各分析元素的參考強(qiáng)度必須與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)在一次開機(jī)中同時(shí)測(cè)量，以保證儀器漂移校正的有效性。測(cè)量國(guó)家一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)輸入國(guó)家一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)名稱，測(cè)量該樣品中各分析元素的X射線強(qiáng)度?；貧w分析對(duì)I級(jí)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)中各元素的X射線強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)值的對(duì)應(yīng)關(guān)系進(jìn)行回歸曲線計(jì)算，求出校準(zhǔn)曲線常數(shù)a、b、c和譜線重疊校正系數(shù)D/求出共存元素的影響系數(shù)(A/Bijk、D「Eijk、K、C等)，全部保存在計(jì)算機(jī)的定量分析軟件中。測(cè)量未知樣品在測(cè)量未知樣品前，應(yīng)對(duì)PHA進(jìn)行調(diào)節(jié)。PC探測(cè)器可選用Al作為調(diào)節(jié)元素，SC探測(cè)器可選Cu作為調(diào)節(jié)元素。啟動(dòng)定量分析程序，測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)化樣片（6.4.4.2）,進(jìn)行儀器漂移校正。測(cè)量與未知樣品同批制備的已知含量的監(jiān)控樣品