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馬赫澤德干涉儀馬赫澤德十涉儀是一種大型的光學儀器，適用于研究氣體密度迅速變化的狀態(tài)，如在風洞中實驗飛機模型時產(chǎn)生的空氣渦流和爆炸過程中的沖擊波。由于氣體折射率的變化與其密度的變化成正比，而折射率的變化將使通過氣體的光線有不同的光程，因此，如果讓一個平面波和一個通過氣體的波發(fā)生干涉來獲得等候干涉，這些條紋能反映出氣體折射率和密度的分布狀況。馬赫澤德干涉儀如下圖所示，G1G2是兩塊有半反射面A1A2的平行平面玻璃板，M1M2是兩塊反射鏡四個反射面通常平行放置，并且各自中心位于一個平行四邊形的四個角上，典型尺寸是1?2m。光源S置于透鏡L1的焦點上，S發(fā)出的光束經(jīng)L1準直后在A1上分為兩束，他們分別由M1、A2反射和M2反射、A2透射，進入透鏡L2。兩束光的干涉圖樣可用于置于12焦平面位置的照相機拍攝下來，如果采用短時間曝光技術(shù)，即可得到條紋的瞬間照相。

未了解儀器所產(chǎn)生的干涉條紋性質(zhì)，假設光源S是一個單色點光源，因而入射到半反射面A1的是單色平面波。設透過A1并經(jīng)M1反射的平面波的波前為W1.，而經(jīng)A1和M2反射的平面波的相應波前為W2;引入虛波前W1’，它是W1在半反射A2中的虛像。一般情況下，W1’和W2是互相傾斜的，形成一個空氣楔，因此，在W2上將形成平行等距的直線條紋，條紋的走向與W2和W1’所形成的空氣楔的楔楞平行。如果使W2通過被研究的氣流，W2將發(fā)生形變，因而干涉圖樣的變化就可以測量出所研究區(qū)域的折射率或密度的變化。因為通常氣體密度是迅變的，用照相機記錄氣體密度的變化情況，必須采用短時間的曝光，這樣就要求干涉條紋有很大的亮度，所以，通常在實用上都利用擴展光源。這時條

紋是定域的，定域面可根據(jù)干涉孔徑3=0的作圖法求出。易見，當4個反射面嚴格平行時，條紋定域在無窮遠處，即在L2的焦平面上;而當M2和G2同時繞自身垂直軸轉(zhuǎn)動時，條紋定域于M2和G2之間，如下圖。旦拙-陟徨V涉杖甲的弱紋定城I旦拙-陟徨V涉杖甲的弱紋定城I類不炊域iZ掇干涉儀定域位置可任意調(diào)節(jié)的這一特點，使得這種干涉儀能夠用來研究尺寸較大的風洞中任一平面附近的空氣渦流。工作時將風洞置于M2和G2之間，并在M1和G1之間的另一支光路上放置補償室，把定域面調(diào)節(jié)到風洞風洞中任一選定平面，通過透鏡L2和照相機可以把該平面上

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