代替GB/T12085.20—2011光學和光子學環(huán)境試驗方法I Ⅲ V 1 1 1 1 1 2 3 3附錄A(資料性)含二氧化碳和硫化氫濕空氣中的試驗裝置 4參考文獻 6Ⅲ 本文件由全國光學和光子學標準化技術(shù)委員會(SAC/TC103)歸口。——2011年首次發(fā)布為GB/T12085.20—2011;V光學和光子學儀器廣泛應用于國民經(jīng)濟及國際科技各個領(lǐng)域，由于其使 第4部分：鹽霧。目的在于對儀器表面和保護涂(鍍)層抵抗鹽霧的能力進行評估。 長霉的影響程度，以及評估霉菌代謝產(chǎn)物(比如酶或酸性物質(zhì))導致 1本文件適用于光學和光子學儀器以及來自其他領(lǐng)域的組件(如機械、化學和電子設(shè)備)的含二氧化下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文GB/T12085.1光學和光子學環(huán)境試驗方法第1部分：術(shù)語、試驗范圍(GB/T12085.1—2022,ISO9022-1:2016,MO4一般要求用于試驗的二氧化硫和硫化氫應為化學純氣體，取自天然壓縮氣缸。適宜的試驗裝置見附錄A。樣之間或試樣與試驗箱(室)壁不應相互接觸。試樣體積不應超過試驗箱(室)體積(暴露區(qū))的50%。體改變時，上次所用的試驗氣體應全部從試驗箱(室)中排盡。在試驗箱(室)中5.1通則規(guī)定的暴露時間應從試驗箱(室)中達到所要求的試條件試驗方法41:含二氧化硫(SO?)的濕空氣的嚴酷等級見表1。2℃%暴露時間d4141或2*℃%暴露時間d14143環(huán)境試驗標記應符合GB/T12085.1的規(guī)定，條件試驗方法、嚴酷等級和工作狀態(tài)的代碼見8規(guī)范e)工作狀態(tài)2工作周期的確定；f)工作狀態(tài)2中間檢測的內(nèi)容和范圍；g)恢復；j)試驗報告的內(nèi)容和范圍。4(資料性)含二氧化碳和硫化氫濕空氣中的試驗裝置許多標準都推薦只用代表性的試樣來試驗材料和涂層對含有二氧化硫和硫化氫的濕空氣的抗腐蝕能力。同時，規(guī)定腐蝕性空氣溫度為40℃,相對濕度為100%,氣體含量(如二氧化硫)為200mg/m3~300mg/m3。這一極端試驗條件不適用于整臺光學與光子學儀器或光學組件，也不可能在自然環(huán)境中遇到。該條件與光學和光子學儀器或光學組件工作性能無關(guān)，其只是自然環(huán)境中被極度污染的空氣。按照GB/T4798.4的規(guī)定，在釋放化學物質(zhì)的工業(yè)設(shè)施周圍，被極度污染的空氣中二氧化硫的最大含量不可超過40mg/m3(15cm3/m3)。如果按照GB/T4798.4規(guī)定的以上所述值試驗，增加試驗條件的嚴酷性以得到必要的促進，則能達到條件試驗方法41中與自然環(huán)境條件相近的試驗條件嚴酷等級，與IEC60068-2-42所規(guī)定的試驗值完全保持一致。IEC60068-2-42對電子產(chǎn)品試驗的實踐經(jīng)驗很大程度上也能適用于光學和光子學儀器。A.2試驗裝置用于光學和光子學儀器與部件在含二氧化硫和硫化氫濕空氣中的試驗裝置，見圖A.1。試驗箱(室)中的空氣應更換2次/h～4次/h。應使用圖A.1所示隔板或60r/min的排風扇使試驗空氣中二氧化硫和硫化氫濃度值保持穩(wěn)定。當試驗使用整臺儀器時，與圖A.1相反，空氣盡量從暴與圖A.1相反，也可在氣候試驗箱(室)中安裝一臺不帶自身空氣調(diào)節(jié)系統(tǒng)的試驗裝置。通過連接試驗裝置的進風口內(nèi)側(cè)進行混雜試驗氣體的調(diào)節(jié)，并通過其將調(diào)節(jié)過的氣體從氣候試驗箱(室)排出。這一試驗裝置的體積不應超過氣候試驗箱(室)體積的30%。57——減壓閥圖A.1試驗裝置示意圖6[1]GB/T4798.4電工電子產(chǎn)品應用環(huán)境條[2]GB/T12085(所有部分)光學和光子學環(huán)境試驗方法[I