電子設(shè)備可靠性工程師考試試卷一、選擇題（每題3分，共30分）以下哪個標(biāo)準(zhǔn)是我國電子設(shè)備可靠性領(lǐng)域的基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)？（）A.ISO9001B.GB/T4889-2008《數(shù)據(jù)的統(tǒng)計處理和解釋正態(tài)分布均值和方差的估計與檢驗(yàn)方法》C.GB/T34986-2017《產(chǎn)品加速試驗(yàn)方法》D.IEC60300-1電子設(shè)備可靠性預(yù)計最常用的方法是（）。A.相似設(shè)備法B.元器件計數(shù)法C.應(yīng)力分析法D.故障率預(yù)計法關(guān)于MTBF（平均故障間隔時間），下列說法正確的是（）。A.MTBF是衡量設(shè)備不可靠性的指標(biāo)B.設(shè)備故障服從指數(shù)分布時，MTBF等于故障率的倒數(shù)C.MTBF值越小，設(shè)備可靠性越高D.僅適用于可修復(fù)系統(tǒng)以下哪種環(huán)境試驗(yàn)主要用于考核電子設(shè)備在高溫條件下的工作性能？（）A.鹽霧試驗(yàn)B.振動試驗(yàn)C.高溫老化試驗(yàn)D.濕熱試驗(yàn)在可靠性設(shè)計中，冗余設(shè)計的主要目的是（）。A.降低成本B.提高設(shè)備的可靠性和容錯能力C.減小設(shè)備體積D.提高設(shè)備運(yùn)行速度FMEA（失效模式與影響分析）中，風(fēng)險順序數(shù)（RPN）的計算方式是（）。A.嚴(yán)重度（S）×發(fā)生頻率（O）×檢測難度（D）B.嚴(yán)重度（S）+發(fā)生頻率（O）+檢測難度（D）C.嚴(yán)重度（S）×發(fā)生頻率（O）D.發(fā)生頻率（O）×檢測難度（D）電子設(shè)備的可靠性指標(biāo)應(yīng)在（）階段確定。A.設(shè)計開發(fā)B.生產(chǎn)制造C.售后服務(wù)D.報廢處理下列哪種元器件的失效率通常符合浴盆曲線規(guī)律？（）A.電阻B.電容C.集成電路D.以上都是進(jìn)行可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)時，若采用定時截尾試驗(yàn)方案，試驗(yàn)時間的確定依據(jù)是（）。A.設(shè)備的預(yù)期壽命B.生產(chǎn)周期C.規(guī)定的置信度和鑒別比D.試驗(yàn)成本在可靠性管理中，可靠性數(shù)據(jù)的收集應(yīng)貫穿于（）。A.產(chǎn)品設(shè)計階段B.產(chǎn)品生產(chǎn)階段C.產(chǎn)品使用階段D.產(chǎn)品全生命周期二、填空題（每題3分，共30分）可靠性的四大基本要素是功能、規(guī)定條件、規(guī)定時間和__________?？煽啃栽囼?yàn)按目的可分為工程試驗(yàn)和__________試驗(yàn)。故障樹分析（FTA）中，頂事件是指系統(tǒng)不希望發(fā)生的__________事件。電子設(shè)備的環(huán)境應(yīng)力主要包括溫度、濕度、振動、__________等?？煽啃苑峙涫菍⑾到y(tǒng)的可靠性指標(biāo)自上而下地分配到各__________。加速壽命試驗(yàn)的基本原理是在不改變產(chǎn)品__________的前提下，提高試驗(yàn)應(yīng)力，加速產(chǎn)品失效?？尚迯?fù)系統(tǒng)的可靠性指標(biāo)除MTBF外，還有__________（平均修復(fù)時間）。潛在電路分析是在電子設(shè)備設(shè)計階段，對電路中可能存在的非預(yù)期__________進(jìn)行分析的方法?？煽啃灶A(yù)計是在產(chǎn)品設(shè)計階段，根據(jù)產(chǎn)品的設(shè)計方案、元器件的可靠性數(shù)據(jù)等，對產(chǎn)品的__________進(jìn)行估計的過程。環(huán)境適應(yīng)性設(shè)計是為了使電子設(shè)備能在__________的環(huán)境條件下正常工作而進(jìn)行的設(shè)計。三、判斷題（每題2分，共20分）可靠性是產(chǎn)品的固有特性，與使用和維護(hù)無關(guān)。（）提高電子設(shè)備的可靠性必然會增加產(chǎn)品成本。（）環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)可以提高產(chǎn)品的固有可靠性。（）元器件的降額使用能有效降低其失效率。（）可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)的結(jié)果可以直接用于產(chǎn)品的可靠性預(yù)計。（）故障樹分析只能進(jìn)行定性分析，不能進(jìn)行定量分析。（）電子產(chǎn)品的早期失效期主要是由于設(shè)計、制造缺陷等原因引起的。（）冗余設(shè)計會增加系統(tǒng)的復(fù)雜性，可能導(dǎo)致可靠性降低。（）可靠性數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性對可靠性分析和評估至關(guān)重要。（）濕熱試驗(yàn)主要考核電子設(shè)備的防潮、防霉、防鹽霧能力。（）四、簡答題（每題10分，共20分）簡述可靠性設(shè)計的主要方法和技術(shù)，并舉例說明在電子設(shè)備中的應(yīng)用。闡述電子設(shè)備可靠性試驗(yàn)的分類及其作用。電子設(shè)備可靠性工程師考試試卷答案一、選擇題1.C2.B3.B4.C5.B6.A7.A8.D9.C10.D二、填空題1.規(guī)定功能2.統(tǒng)計試驗(yàn)3.故障4.電磁干擾5.組成單元6.失效機(jī)理7.MTTR8.電流路徑9.可靠性水平10.預(yù)期三、判斷題1.×2.√3.×4.√5.×6.×7.√8.×9.√10.×四、簡答題可靠性設(shè)計的主要方法和技術(shù)及應(yīng)用如下：冗余設(shè)計：通過增加多余的功能單元，當(dāng)主單元失效時，冗余單元可接替工作，提高系統(tǒng)可靠性。例如，在航空航天電子設(shè)備中，對關(guān)鍵的控制系統(tǒng)采用多重冗余設(shè)計，如三重冗余的飛控計算機(jī)，即使其中一臺計算機(jī)出現(xiàn)故障，其他計算機(jī)仍能保證飛行器正?？刂啤＝殿~設(shè)計：使元器件在低于其額定應(yīng)力條件下工作，降低失效率。如在電源電路中，選用額定功率較大的電阻器，使其在實(shí)際工作中消耗的功率遠(yuǎn)低于額定功率，提高電阻器的可靠性。熱設(shè)計：通過合理的散熱設(shè)計，控制電子設(shè)備內(nèi)部溫度，保證元器件在合適的溫度范圍內(nèi)工作。比如在高性能計算機(jī)的CPU散熱設(shè)計中，采用高效的散熱器和散熱風(fēng)扇，降低CPU溫度，防止因過熱導(dǎo)致性能下降或故障。EMC（電磁兼容）設(shè)計：通過屏蔽、濾波等措施，減少電子設(shè)備自身產(chǎn)生的電磁干擾，同時提高設(shè)備抗電磁干擾能力。例如在通信設(shè)備中，對電路板進(jìn)行電磁屏蔽設(shè)計，減少信號干擾，保證通信質(zhì)量。電子設(shè)備可靠性試驗(yàn)的分類及其作用如下：按試驗(yàn)?zāi)康姆诸悾汗こ淘囼?yàn)：包括環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)和可靠性增長試驗(yàn)。環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)通過對產(chǎn)品施加一定的環(huán)境應(yīng)力，如溫度循環(huán)、隨機(jī)振動等，剔除產(chǎn)品中潛在的早期失效元器件和工藝缺陷，提高產(chǎn)品的使用可靠性，但不能提高產(chǎn)品的固有可靠性；可靠性增長試驗(yàn)是在產(chǎn)品研制過程中，通過試驗(yàn)-分析-改進(jìn)的循環(huán)過程，不斷發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的可靠性薄弱環(huán)節(jié)并加以改進(jìn)，逐步提高產(chǎn)品的可靠性水平。統(tǒng)計試驗(yàn)：主要是可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)，用于驗(yàn)證產(chǎn)品是否達(dá)到規(guī)定的可靠性指標(biāo)。根據(jù)試驗(yàn)方案不同，可分為定時截尾試驗(yàn)、定數(shù)截尾試驗(yàn)等，通過對一定數(shù)量產(chǎn)品進(jìn)行試驗(yàn)，收集故障數(shù)據(jù)，進(jìn)行統(tǒng)計分析，判斷產(chǎn)品是否滿足可靠性要求。按試驗(yàn)性質(zhì)分類：壽命試驗(yàn)：可分為長期壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)。長期壽命試驗(yàn)是在正常工作條件下，對產(chǎn)品進(jìn)行長時間的試驗(yàn)，獲取產(chǎn)品的壽命數(shù)據(jù)；加速壽命試驗(yàn)是在不改變產(chǎn)品失效機(jī)理的前提下，通過提高試驗(yàn)應(yīng)力，如增加溫度、電壓等，加速產(chǎn)品失效過程，在較短時間內(nèi)獲取產(chǎn)品的壽命信息，用于評估產(chǎn)品