2025年無損檢測員職業(yè)技能鑒定高頻考點與沖刺練習試題考試時間：______分鐘總分：______分姓名：______一、單選題（本部分共25題，每題2分，共50分。每題只有一個正確答案，請將正確答案的序號填在括號內(nèi)。）1.無損檢測中，常用的顯示方法不包括以下哪一項？（）A.示波器顯示B.照相顯示C.人工目視顯示D.信號處理顯示2.當進行射線檢測時，為了提高圖像對比度，通常會采用哪種方法？（）A.增加曝光時間B.使用高對比度膠片C.提高射線源強度D.減少被檢工件厚度3.超聲波檢測中，常用的探頭類型不包括以下哪一種？（）A.直探頭B.斜探頭C.橫波探頭D.磁阻尼探頭4.在進行超聲波檢測時，為了減少表面波的影響，通常會采用哪種方法？（）A.提高探傷頻率B.使用耦合劑C.改變探頭角度D.增加工件厚度5.在進行超聲波檢測時，以下哪種缺陷類型最容易檢測到？（）A.表面缺陷B.橫向缺陷C.縱向缺陷D.點狀缺陷6.射線檢測中，常用的射線源不包括以下哪一種？（）A.鈷-60B.銫-137C.鉆-60D.鈾-2387.在進行射線檢測時，為了提高檢測靈敏度，通常會采用哪種方法？（）A.增加曝光時間B.使用高靈敏度膠片C.提高射線源強度D.減少被檢工件厚度8.射線檢測中，常用的膠片類型不包括以下哪一種？（）A.碘化銀膠片B.溴化銀膠片C.氯化銀膠片D.硫化鎘膠片9.在進行射線檢測時，為了減少散射輻射的影響，通常會采用哪種方法？（）A.使用鉛屏風B.提高射線源強度C.增加曝光時間D.減少被檢工件厚度10.射線檢測中，常用的增感屏材料不包括以下哪一種？（）A.鉛B.鎢C.鎘D.鉻11.在進行射線檢測時，為了提高圖像清晰度，通常會采用哪種方法？（）A.使用高分辨率膠片B.提高射線源強度C.增加曝光時間D.減少被檢工件厚度12.射線檢測中，常用的暗室處理方法不包括以下哪一種？（）A.溫度控制B.濕度控制C.時間控制D.光線控制13.在進行射線檢測時，為了減少偽缺陷的產(chǎn)生，通常會采用哪種方法？（）A.使用合適的曝光參數(shù)B.提高射線源強度C.增加曝光時間D.減少被檢工件厚度14.射線檢測中，常用的缺陷評定方法不包括以下哪一種？（）A.尺寸測量B.形狀分析C.位置確定D.材料分析15.在進行射線檢測時，為了提高檢測效率，通常會采用哪種方法？（）A.使用自動化檢測設(shè)備B.提高射線源強度C.增加曝光時間D.減少被檢工件厚度16.射線檢測中，常用的防護措施不包括以下哪一種？（）A.使用鉛屏風B.使用鉛衣C.使用鉛帽D.使用鉛手套17.在進行射線檢測時，為了減少輻射劑量，通常會采用哪種方法？（）A.使用低劑量射線源B.提高射線源強度C.增加曝光時間D.減少被檢工件厚度18.射線檢測中，常用的質(zhì)量控制方法不包括以下哪一種？（）A.校準射線源B.檢查膠片C.檢查探頭D.檢查工件19.在進行射線檢測時，為了提高檢測精度，通常會采用哪種方法？（）A.使用高精度膠片B.提高射線源強度C.增加曝光時間D.減少被檢工件厚度20.射線檢測中，常用的缺陷類型不包括以下哪一種？（）A.表面缺陷B.內(nèi)部缺陷C.橫向缺陷D.縱向缺陷21.在進行射線檢測時，為了減少偽缺陷的產(chǎn)生，通常會采用哪種方法？（）A.使用合適的曝光參數(shù)B.提高射線源強度C.增加曝光時間D.減少被檢工件厚度22.射線檢測中，常用的缺陷評定方法不包括以下哪一種？（）A.尺寸測量B.形狀分析C.位置確定D.材料分析23.在進行射線檢測時，為了提高檢測效率，通常會采用哪種方法？（）A.使用自動化檢測設(shè)備B.提高射線源強度C.增加曝光時間哎呀，一不小心就寫得有點多了，不過沒事，咱們接著往下看。在進行射線檢測時，為了提高檢測效率，通常會采用哪種方法？答案是A，使用自動化檢測設(shè)備。這可是個省時省力的好辦法，你說是吧？C.檢查工件D.減少被檢工件厚度24.射線檢測中，常用的防護措施不包括以下哪一種？（）A.使用鉛屏風B.使用鉛衣C.使用鉛帽D.使用鉛手套25.在進行射線檢測時，為了減少輻射劑量，通常會采用哪種方法？（）A.使用低劑量射線源B.提高射線源強度C.增加曝光時間D.減少被檢工件厚度二、多選題（本部分共15題，每題3分，共45分。每題有多個正確答案，請將正確答案的序號填在括號內(nèi)，多選、少選、錯選均不得分。）1.在進行超聲波檢測時，以下哪些因素會影響檢測靈敏度？（）A.探傷頻率B.耦合劑C.探頭類型D.工件厚度2.射線檢測中，以下哪些方法可以提高圖像對比度？（）A.增加曝光時間B.使用高對比度膠片C.提高射線源強度D.減少被檢工件厚度3.超聲波檢測中，以下哪些探頭類型可以用于檢測不同類型的缺陷？（）A.直探頭B.斜探頭C.橫波探頭D.磁阻尼探頭4.在進行超聲波檢測時，以下哪些方法可以減少表面波的影響？（）A.提高探傷頻率B.使用耦合劑C.改變探頭角度D.增加工件厚度5.射線檢測中，以下哪些膠片類型可以用于檢測缺陷？（）A.碘化銀膠片B.溴化銀膠片C.氯化銀膠片D.硫化鎘膠片6.在進行射線檢測時，以下哪些方法可以減少散射輻射的影響？（）A.使用鉛屏風B.提高射線源強度C.增加曝光時間D.減少被檢工件厚度7.射線檢測中，以下哪些增感屏材料可以提高圖像清晰度？（）A.鉛B.鎢C.鎘D.鉻8.在進行射線檢測時，以下哪些暗室處理方法可以保證圖像質(zhì)量？（）A.溫度控制B.濕度控制C.時間控制D.光線控制9.射線檢測中，以下哪些缺陷評定方法可以用于缺陷分析？（）A.尺寸測量B.形狀分析C.位置確定D.材料分析10.在進行射線檢測時，以下哪些方法可以提高檢測效率？（）A.使用自動化檢測設(shè)備B.提高射線源強度C.增加曝光時間D.減少被檢工件厚度11.射線檢測中，以下哪些防護措施可以保護操作人員？（）A.使用鉛屏風B.使用鉛衣C.使用鉛帽D.使用鉛手套12.在進行射線檢測時，以下哪些方法可以減少輻射劑量？（）A.使用低劑量射線源B.提高射線源強度C.增加曝光時間D.減少被檢工件厚度13.射線檢測中，以下哪些質(zhì)量控制方法可以保證檢測質(zhì)量？（）A.校準射線源B.檢查膠片C.檢查探頭D.檢查工件14.在進行射線檢測時，以下哪些缺陷類型可以檢測到？（）A.表面缺陷B.內(nèi)部缺陷C.橫向缺陷D.縱向缺陷15.射線檢測中，以下哪些方法可以減少偽缺陷的產(chǎn)生？（）A.使用合適的曝光參數(shù)B.提高射線源強度C.增加曝光時間D.減少被檢工件厚度三、判斷題（本部分共20題，每題1.5分，共30分。請將正確答案的序號填在括號內(nèi)，正確的填“√”，錯誤的填“×”。）1.超聲波檢測中，直探頭只能檢測到平行于探頭表面的缺陷。（）我記得啊，這可是個基礎(chǔ)知識點，直探頭當然可以檢測到垂直于探頭表面的缺陷，你想想看，超聲波是怎么傳播的？答案是×。2.射線檢測中，曝光時間越長，圖像對比度越高。（）這話可不是那么絕對，曝光時間過長可能會導致圖像模糊，反而降低對比度，你得掌握好那個度，答案是×。3.超聲波檢測中，高頻探頭的檢測深度通常比低頻探頭深。（）這就錯了，高頻探頭的檢測深度通常比低頻探頭淺，頻率越高，波長越短，穿透能力越差，你想想看，答案是×。4.射線檢測中，使用鉛屏風可以完全阻擋所有射線。（）哎，鉛屏風雖然能擋住大部分射線，但也不能說完全阻擋，總會有那么一點點漏吧，答案是×。5.超聲波檢測中，探頭與工件之間的耦合劑是為了增加超聲波的傳播距離。（）對了，耦合劑就是為了減少超聲波在探頭與工件之間的反射，提高耦合效率，增加超聲波的傳播距離，答案是√。6.射線檢測中，膠片的感光速度越快，曝光時間越短。（）這話沒錯，感光速度快的膠片對光線的敏感度更高，當然曝光時間可以更短，答案是√。7.超聲波檢測中，斜探頭可以用來測量工件的厚度。（）沒錯，斜探頭通過測量超聲波在工件中的傳播時間來計算工件厚度，答案是√。8.射線檢測中，增感屏可以提高膠片的感光速度。（）對，增感屏可以增強射線的強度，從而提高膠片的感光速度，答案是√。9.超聲波檢測中，橫波探頭只能檢測到垂直于探頭表面的缺陷。（）又是一個基礎(chǔ)知識點，橫波探頭當然可以檢測到平行于探頭表面的缺陷，答案是×。10.射線檢測中，曝光參數(shù)的選擇主要取決于工件的厚度。（）這話沒錯，工件越厚，需要的曝光時間越長，射線源強度也越大，答案是√。11.超聲波檢測中，超聲波在介質(zhì)中的傳播速度是恒定的。（）這可就錯了，超聲波在不同介質(zhì)中的傳播速度不同，甚至在同一介質(zhì)中，溫度、壓力等因素也會影響傳播速度，答案是×。12.射線檢測中，膠片的暗室處理溫度越高，顯影速度越快。（）對了，暗室處理溫度越高，化學反應越快，顯影速度自然越快，答案是√。13.超聲波檢測中，探頭角度的選擇會影響超聲波的入射角度。（）沒錯，探頭角度的選擇直接決定了超聲波的入射角度，從而影響檢測效果，答案是√。14.射線檢測中，射線源強度越高，曝光時間可以越短。（）這話沒錯，射線源強度越高，單位時間內(nèi)到達膠片的射線越多，曝光時間自然可以越短，答案是√。15.超聲波檢測中，表面波不會影響缺陷的檢測。（）這可就錯了，表面波會影響缺陷的檢測，尤其是在檢測近表面缺陷時，答案是×。16.射線檢測中，散射輻射會降低圖像對比度。（）沒錯，散射輻射會使得圖像模糊，降低對比度，答案是√。17.超聲波檢測中，磁阻尼探頭可以用來檢測表面缺陷。（）對了，磁阻尼探頭可以抑制表面波，提高對近表面缺陷的檢測靈敏度，答案是√。18.射線檢測中，鉛衣可以完全阻擋所有射線。（）同樣，鉛衣也不能完全阻擋所有射線，只能有效減少輻射劑量，答案是×。19.超聲波檢測中，探傷頻率越高，檢測深度越深。（）這又是一個誤區(qū)，探傷頻率越高，檢測深度越淺，答案是×。20.射線檢測中，曝光參數(shù)的選擇主要取決于膠片的類型。（）這就錯了，曝光參數(shù)的選擇主要取決于工件的厚度和材質(zhì)，膠片類型只是影響感光速度，答案是×。四、簡答題（本部分共10題，每題4分，共40分。請將答案寫在答題紙上，要求簡明扼要，字數(shù)不超過150字。）1.簡述超聲波檢測中，直探頭和斜探頭的主要區(qū)別。哎，直探頭主要用于檢測平行于探頭表面的缺陷，而斜探頭可以檢測到各種方向的缺陷，還可以用來測量工件厚度，你說是不是？直探頭結(jié)構(gòu)簡單，斜探頭需要考慮入射角度，這得掌握好，答案就是直探頭和斜探頭在應用和功能上的區(qū)別。2.簡述射線檢測中，曝光參數(shù)選擇的主要依據(jù)。哎，這可得考慮工件的厚度和材質(zhì)，薄的工件曝光時間短，厚的工件曝光時間長，金屬材料需要的曝光時間比非金屬材料長，這都得掌握好，答案就是工件厚度和材質(zhì)。3.簡述超聲波檢測中，表面波的影響及消除方法。哎，表面波會影響近表面缺陷的檢測，尤其是在高頻時，這得注意，消除方法主要是提高探傷頻率，使用合適的探頭角度，或者使用磁阻尼探頭，答案就是表面波的影響及消除方法。4.簡述射線檢測中，散射輻射的影響及消除方法。哎，散射輻射會降低圖像對比度，這得注意，消除方法主要是使用鉛屏風，合理布置檢測環(huán)境，或者使用濾波器，答案就是散射輻射的影響及消除方法。5.簡述超聲波檢測中，探頭角度選擇的重要性。哎，探頭角度的選擇直接決定了超聲波的入射角度，從而影響檢測效果，角度不對，檢測就不準，這可得掌握好，答案就是探頭角度選擇的重要性。6.簡述射線檢測中，膠片類型選擇的主要依據(jù)。哎，膠片類型選擇主要取決于感光速度，感光速度快的膠片曝光時間短，但分辨率可能較低，感光速度慢的膠片曝光時間長，但分辨率較高，這可得根據(jù)實際情況選擇，答案就是感光速度。7.簡述超聲波檢測中，耦合劑的作用。哎，耦合劑的作用主要是減少超聲波在探頭與工件之間的反射，提高耦合效率，增加超聲波的傳播距離，這可得注意，答案就是耦合劑的作用。8.簡述射線檢測中，增感屏的作用。哎，增感屏可以提高膠片的感光速度，從而縮短曝光時間，但增感屏也會降低圖像清晰度，這可得掌握好，答案就是增感屏的作用。9.簡述超聲波檢測中，探傷頻率的選擇依據(jù)。哎，探傷頻率的選擇主要取決于檢測深度和缺陷類型，檢測深度越深，頻率越低，檢測近表面缺陷，頻率越高，這可得掌握好，答案就是檢測深度和缺陷類型。10.簡述射線檢測中，暗室處理的重要性。哎，暗室處理對圖像質(zhì)量至關(guān)重要，溫度、濕度、時間、光線都得控制好，處理不當，圖像就毀了，這可得注意，答案就是暗室處理的重要性。五、論述題（本部分共2題，每題10分，共20分。請將答案寫在答題紙上，要求條理清晰，邏輯嚴謹，字數(shù)不超過300字。）1.論述超聲波檢測中，探頭選擇的重要性及其依據(jù)。哎，探頭選擇的重要性那可就大了，選對了探頭，檢測效果才好，選錯了，那可就麻煩了。選擇探頭主要得考慮工件的材質(zhì)和形狀，不同的材質(zhì)，超聲波的傳播速度不同，不同的形狀，需要不同的探頭角度，這可得掌握好。比如，檢測薄板，就用小角度探頭，檢測厚件，就用大角度探頭，還有，不同的缺陷類型，也需要不同的探頭，這都得考慮進去。你想想看，要是選錯了探頭，那檢測效果能好嗎？答案就是探頭選擇的重要性及其依據(jù)。2.論述射線檢測中，質(zhì)量控制的重要性及其方法。哎，質(zhì)量控制那可就重要了，檢測質(zhì)量上不去，那可就白忙活了。質(zhì)量控制主要得靠校準，射線源、膠片、探頭都得校準好，還有，操作過程也要規(guī)范，曝光參數(shù)要合適，暗室處理要到位，這都得注意。你想想看，要是這些環(huán)節(jié)出了問題，那檢測結(jié)果能準確嗎？答案就是質(zhì)量控制的重要性及其方法。本次試卷答案如下一、單選題答案及解析1.C解析：人工目視顯示不是無損檢測中常用的顯示方法，其他選項都是常用的顯示方法。2.B解析：使用高對比度膠片可以提高圖像對比度，其他選項不能直接提高對比度。3.C解析：橫波探頭不是探頭類型，其他選項都是常用的探頭類型。4.A解析：提高探傷頻率可以減少表面波的影響，其他選項不能直接減少表面波。5.C解析：縱向缺陷最容易檢測到，因為超聲波沿工件厚度方向傳播，其他選項不如縱向缺陷容易被檢測到。6.D解析：鈾-238不是常用的射線源，其他選項都是常用的射線源。7.A解析：增加曝光時間可以提高檢測靈敏度，其他選項不能直接提高靈敏度。8.D解析：硫化鎘膠片不是膠片類型，其他選項都是常用的膠片類型。9.A解析：使用鉛屏風可以減少散射輻射的影響，其他選項不能直接減少散射輻射。10.D解析：鉻不是增感屏材料，其他選項都是常用的增感屏材料。11.A解析：使用高分辨率膠片可以提高圖像清晰度，其他選項不能直接提高清晰度。12.D解析：光線控制不是暗室處理方法，其他選項都是常用的暗室處理方法。13.A解析：使用合適的曝光參數(shù)可以減少偽缺陷的產(chǎn)生，其他選項不能直接減少偽缺陷。14.D解析：材料分析不是缺陷評定方法，其他選項都是常用的缺陷評定方法。15.A解析：使用自動化檢測設(shè)備可以提高檢測效率，其他選項不能直接提高效率。16.D解析：使用鉛手套不是防護措施，其他選項都是常用的防護措施。17.A解析：使用低劑量射線源可以減少輻射劑量，其他選項不能直接減少輻射劑量。18.D解析：檢查工件不是質(zhì)量控制方法，其他選項都是常用的質(zhì)量控制方法。19.A解析：使用高精度膠片可以提高檢測精度，其他選項不能直接提高精度。20.D解析：縱向缺陷不是缺陷類型，其他選項都是常用的缺陷類型。21.A解析：使用合適的曝光參數(shù)可以減少偽缺陷的產(chǎn)生，其他選項不能直接減少偽缺陷。22.D解析：材料分析不是缺陷評定方法，其他選項都是常用的缺陷評定方法。23.A解析：使用自動化檢測設(shè)備可以提高檢測效率，其他選項不能直接提高效率。24.D解析：使用鉛手套不是防護措施，其他選項都是常用的防護措施。25.A解析：使用低劑量射線源可以減少輻射劑量，其他選項不能直接減少輻射劑量。二、多選題答案及解析1.A,B,C,D解析：探傷頻率、耦合劑、探頭類型、工件厚度都會影響檢測靈敏度，所以都是正確答案。2.A,B,C,D解析：增加曝光時間、使用高對比度膠片、提高射線源強度、減少被檢工件厚度都可以提高圖像對比度，所以都是正確答案。3.A,B,C,D解析：直探頭、斜探頭、橫波探頭、磁阻尼探頭都可以用于檢測不同類型的缺陷，所以都是正確答案。4.A,B,C,D解析：提高探傷頻率、使用耦合劑、改變探頭角度、增加工件厚度都可以減少表面波的影響，所以都是正確答案。5.A,B,C解析：碘化銀膠片、溴化銀膠片、氯化銀膠片都可以用于檢測缺陷，所以都是正確答案。6.A,B,C,D解析：使用鉛屏風、提高射線源強度、增加曝光時間、減少被檢工件厚度都可以減少散射輻射的影響，所以都是正確答案。7.A,B,C,D解析：鉛、鎢、鎘、鉻都可以提高圖像清晰度，所以都是正確答案。8.A,B,C,D解析：溫度控制、濕度控制、時間控制、光線控制都可以保證圖像質(zhì)量，所以都是正確答案。9.A,B,C,D解析：尺寸測量、形狀分析、位置確定、材料分析都可以用于缺陷分析，所以都是正確答案。10.A,B,C,D解析：使用低劑量射線源、提高射線源強度、增加曝光時間、減少被檢工件厚度都可以提高檢測效率，所以都是正確答案。11.A,B,C,D解析：使用鉛屏風、使用鉛衣、使用鉛帽、使用鉛手套都可以保護操作人員，所以都是正確答案。12.A,B,C,D解析：使用低劑量射線源、提高射線源強度、增加曝光時間、減少被檢工件厚度都可以減少輻射劑量，所以都是正確答案。13.A,B,C,D解析：校準射線源、檢查膠片、檢查探頭、檢查工件都可以保證檢測質(zhì)量，所以都是正確答案。14.A,B,C,D解析：表面缺陷、內(nèi)部缺陷、橫向缺陷、縱向缺陷都可以檢測到，所以都是正確答案。15.A,B,C,D解析：使用合適的曝光參數(shù)、提高射線源強度、增加曝光時間、減少被檢工件厚度都可以減少偽缺陷的產(chǎn)生，所以都是正確答案。三、判斷題答案及解析1.×解析：直探頭不僅可以檢測到平行于探頭表面的缺陷，還可以檢測到垂直于探頭表面的缺陷，所以是錯誤的。2.×解析：曝光時間過長可能會導致圖像模糊，降低對比度，所以不是越長越好，所以是錯誤的。3.×解析：高頻探頭的檢測深度通常比低頻探頭淺，所以是錯誤的。4.×解析：鉛屏風雖然能擋住大部分射線，但也不能完全阻擋，所以是錯誤的。5.√解析：耦合劑的作用主要是減少超聲波在探頭與工件之間的反射，提高耦合效率，增加超聲波的傳播距離，所以是正確的。6.√解析：感光速度快的膠片對光線的敏感度更高，當然曝光時間可以更短，所以是正確的。7.√解析：斜探頭可以用來測量工件的厚度，所以是正確的。8.√解析：增感屏可以提高膠片的感光速度，從而縮短曝光時間，所以是正確的。9.×解析：橫波探頭不僅可以檢測到垂直于探頭表面的缺陷，還可以檢測到平行于探頭表面的缺陷，所以是錯誤的。10.√解析：曝光參數(shù)的選擇主要取決于工件的厚度和材質(zhì)，所以是正確的。11.×解析：超聲波在不同介質(zhì)中的傳播速度不同，甚至在同一介質(zhì)中，溫度、壓力等因素也會影響傳播速度，所以是錯誤的。12.√解析：暗室處理溫度越高，化學反應越快，顯影速度自然越快，所以是正確的。13.√解析：探頭角度的選擇直接決定了超聲波的入射角度，從而影響檢測效果，所以是正確的。14.√解析：射線源強度越高，單位時間內(nèi)到達膠片的射線越多，曝光時間自然可以越短，所以是正確的。15.×解析：表面波會影響缺陷的檢測，尤其是在檢測近表面缺陷時，所以是錯誤的。16.√解析：散射輻射會降低圖像對比度，所以是正確的。17.√解析：磁阻尼探頭可以抑制表面波，提高對近表面缺陷的檢測靈敏度，所以是正確的。18.×解析：鉛衣也不能完全阻擋所有射線，只能有效減少輻射劑量，所以是錯誤的。19.×解析：探傷頻率越高，檢測深度越淺，所以是錯誤的。20.×解析：曝光參數(shù)的選擇主要取決于工件的厚度和材質(zhì)，膠片類型只是影響感光速度，所以是錯誤的。四、簡答題答案及解析1.答案：直探頭主要用于檢測平行于探頭表面的缺陷，結(jié)構(gòu)簡單，但檢測深度有限；斜探頭可以用來檢測各種方向的缺陷，還可以用來測量工件厚度，但需要考慮入射角度，操作相對復雜。解析：直探頭和斜探頭在應用和功能上有明顯區(qū)別，直探頭主要用于檢測平行于探頭表面的缺陷，結(jié)構(gòu)簡單，但檢測深度有限；斜探頭可以用來檢測各種方向的缺陷，還可以用來測量工件厚度，但需要考慮入射角度，操作相對復雜。這是超聲波檢測中探頭選擇的基本知識點。2.答案：曝光參數(shù)的選擇主要取決于工件的厚度和材質(zhì)，薄的工件曝光時間短，厚的工件曝光時間長，金屬材料需要的曝光時間比非金屬材料長。解析：曝光參數(shù)的選擇主要取決于工件的厚度和材質(zhì)，這是射線檢測中的基本知識點。工件越厚，需要的曝光時間越長，射線源強度也越大；金屬材料需要的曝光時間比非金屬材料長。這些因素都需要在實際操作中考慮。3.答案：表面波會影響近表面缺陷的檢測，尤其是在高頻時，消除方法主要是提高探傷頻率，使用合適的探頭角度，或者使用磁阻尼探頭。解析：表面波會影響近表面缺陷的檢測，尤其是在高頻時，這是因為表面波的傳播特性與體積波的傳播特性不同。消除表面波的方法主要有提高探傷頻率，使用合適的探頭角度，或者使用磁阻尼探頭。這些方法可以有效減少表面波的影響，提高檢測效果。4.答案：散射輻射會降低圖像對比度，消