ICS31140

CCSL.21

中華人民共和國國家標準

GB/T223198—2025/IEC60444-82016

.:

代替GB/T223198—2008

.

石英晶體元件參數(shù)的測量

第8部分表面貼裝石英晶體元件用

:

測量夾具

Measurementofquartzcrystalunitparameters—

Part8Testfixtureforsurfacemounteduartzcrstalunits

:qy

IEC60444-82016IDT

(:,)

2025-12-31發(fā)布2026-07-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標準化管理委員會

GB/T223198—2025/IEC60444-82016

.:

前言

本文件按照標準化工作導(dǎo)則第部分標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是石英晶體元件參數(shù)的測量的第部分已經(jīng)發(fā)布了以下

GB/T22319《》8。GB/T22319

部分

:

第部分激勵電平相關(guān)性的測量

———6:(DLD);

第部分石英晶體元件活性跳變的測量

———7:;

第部分表面貼裝石英晶體元件用測量夾具

———8:;

第部分石英晶體元件寄生諧振的測量

———9:;

第部分采用自動網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定負載諧振頻率和有效負載電容的標準

———11:

方法

。

本文件代替石英晶體元件參數(shù)的測量第部分表面貼裝石英晶體元件

GB/T22319.8—2008《8:

用測量夾具與相比除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動外主要技術(shù)變化如下

》,GB/T22319.8—2008,,:

測量頻率由擴展為見第章

a)1MHz~150MHz1MHz~1200MHz(1);

增加了反射法測量包括反射法測量系統(tǒng)的校準見

b),(6.3,7.3)。

本文件等同采用石英晶體元件參數(shù)的測量第部分表面貼裝石英晶體元件

IEC60444-8:2016《8:

用測量夾具

》。

本文件增加了術(shù)語和定義一章

“”。

本文件做了下列最小限度的編輯性改動

:

將勘誤為見

———“50Ω±5%”“50×(1±0.05)Ω”(6.1)。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔識別專利的責任

。。

本文件由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本文件由全國頻率控制和選擇用壓電器件標準化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC182)。

本文件起草單位唐山國芯晶源電子有限公司北京晨晶電子有限公司泰晶科技股份有限公司

:、、、

南京中電熊貓晶體科技有限公司

。

本文件主要起草人楊鐵生宮桂英孫曉明高志祥

:、、、。

本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為

:

年首次發(fā)布為

———2008GB/T22319.8—2008;

本次為第一次修訂

———。

Ⅰ

GB/T223198—2025/IEC60444-82016

.:

引言

本文件用于無引線表面貼裝石英晶體元件的測量夾具是用于測量無引線表面貼裝石英晶體元件

,

串聯(lián)諧振頻率串聯(lián)諧振電阻和等效電路參數(shù)的測量夾具的技術(shù)規(guī)范根據(jù)規(guī)定的

()、()。IEC60444-5

采用自動網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定等效參數(shù)的方法本文件提出了無引線表面貼裝石英晶體元件

,

測量夾具的設(shè)計建議

。

本文件的頻率測量范圍為如使用物理負載電容則測量范圍限于

1MHz~1200MHz。,1MHz~

采用結(jié)合誤差校正技術(shù)的測量夾具頻率的測量準確度為-6諧振電阻的準確度為

30MHz。,10,±2Ω

或

±10%。

石英晶體元件參數(shù)的測量擬由以下部分構(gòu)成

GB/T22319《》。

第部分用型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法目的在

———1:π。

于規(guī)定測量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法及適用的測量網(wǎng)絡(luò)

。

第部分測量石英晶體元件動態(tài)電容的相位偏置法目的在于規(guī)定測量石英晶體元件動態(tài)

———2:。

電容的方法

。

第部分頻率達石英晶體元件負載諧振頻率和負載諧振電阻RL的測量方法及其

———4:30MHz

他導(dǎo)出參數(shù)的計算目的在于規(guī)定用加載物理負載電容測量石英晶體元件負載諧振頻率等參

。

數(shù)的方法

。

第部分采用自動網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定等效電參數(shù)的方法目的在于規(guī)定采用網(wǎng)

———5:。

絡(luò)分析技術(shù)并用線性等效電路確定石英晶體元件參數(shù)的測量方法

。

第部分激勵電平相關(guān)性的測量目的在于規(guī)定用型網(wǎng)絡(luò)或振蕩器法測量石英晶

———6:(DLD)。π

體元件的方法

DLD。

第部分石英晶體元件活性跳變的測量目的在于規(guī)定在溫度范圍內(nèi)石英晶體元件活性跳

———7:。

變的測量方法

。

第部分表面貼裝石英晶體元件用測量夾具目的在于規(guī)定精確測量無引線表面貼裝石英

———8:。

晶體元件諧振頻率電阻和等效電路參數(shù)用的測量夾具

、。

第部分石英晶體元件寄生諧振的測量目的在于規(guī)定用自動網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和用電阻法測

———9:。

量石英晶體元件寄生無用諧振的方法

()。

第部分采用自動網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定負載諧振頻率和有效負載電容的標準方

———11:

法目的在于規(guī)定不加載物理負載電容測量石英晶體元件負載諧振頻率及標稱頻率時有效負

。

載電容的方法

。

Ⅱ

GB/T223198—2025/IEC60444-82016

.:

石英晶體元件參數(shù)的測量

第8部分表面貼裝石英晶體元件用

:

測量夾具

1范圍

本文件規(guī)定了適用于所有部分定義的無引線表面貼裝石英晶體元件的測量夾具這

IEC61837()。

些測量夾具按照規(guī)定的測量技術(shù)測量串聯(lián)諧振頻率串聯(lián)諧振電阻和等效電路參數(shù)

IEC60444-5,()、()

和負載諧振頻率和負載諧振電阻是在和中確定的

L1、C1C0,IEC60444-4IEC60444-11。

本文件規(guī)定了兩種測量裝置

。

采用的網(wǎng)絡(luò)零相位技術(shù)頻率達的傳輸法測量夾具該夾具包括可

a)IEC60444-1π,500MHz。

選的方法加載物理負載電容測量負載諧振參數(shù)的頻率達根據(jù)負載

,,30MHz。IEC60444-4,

電容為或更高本文件還規(guī)定了測量系統(tǒng)和C片的校準

10pF,L。

基于反射法測量技術(shù)頻率范圍達的測量夾具不加載物理負載電容其負載諧

b),1200MHz。。

振參數(shù)是用的方法測量的

IEC60444-11。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;