1、各種IC測試方案使用介紹,各種IC測試方案使用介紹,目的： 提升PE及DQE等人員對Synaptics&Focaltech&Cypress&Goodix方案產品異常處理能力及異常處理效率。,內容介紹： Synaptics&Focaltech&Cypress&Goodix方案使用過程中測試出現(xiàn)的異常問題點，注意事項及常見測試異常解析。,Synaptics 方案產品使用介紹,Synaptics 方案產品使用介紹,Synaptics 方案測試軟件安裝環(huán)境說明 Synaptics 方案測試pin腳定義 Synaptics 方案測試軟件的使用，界面及測試項目介紹 四. Synaptics 方案測試異常分

2、析處理,目錄：,一. Synaptics 方案測試軟件安裝環(huán)境說明,測試軟件安裝時對電腦有一定的要求： 1.軟件安裝時盡量安裝在非C盤中，避免部分電腦識別文件路徑出問題或者 容易感染病毒，導致不能使用； 2.針對新思方案，測試用的電腦最好具有NET版本為“NET Framework 3.5”或者3.5以上版本，例如：“dotNetFx40_Full_x86_x64”。,Synaptics 方案產品使用介紹,二. Synaptics 方案測試pin角定義,新思產品pin角定義與轉接板連接時按照上圖進行,Synaptics 方案產品使用介紹,14Pin 15Pin 16Pin,三. Synapti

3、cs 方案測試軟件的界面，使用及測試項目介紹,3-1.測試軟件界面介紹；,Synaptics 方案產品使用介紹,1） 打開測試文件； 2） 連接或者斷開測試板； 3） 斷開連接時查看IC等信息； 4） 刷新作用； 5） 測試按鈕； 6） 其他功能。,3-2.測試軟件使用；,Synaptics 方案產品使用介紹,1）點擊 打開測試文件； 2）點擊 測試按鈕開始測試；,26：FW信息確認； 27：客戶端內部區(qū)分機型及區(qū)分TP生產廠家測試項目； 30：測試工具版本及IC 型號信息； 23：中斷腳測試； 3：屏體容值測試； 7：Rx與Rx短路測試； 10：Tx與GND短路測試； 5：Tx與Tx短路測試

4、； 12：整屏電容均勻性測試（一致性測試）； 29：復位腳測試； 35:1.8V電源腳測試（IOVDD）,Synaptics 方案產品使用介紹,3-3.測試項目介紹；,四. Synaptics 方案測試異常分析處理,Synaptics 方案產品使用介紹,4-1.測試時當出現(xiàn)某個測試項目出現(xiàn)數(shù)據(jù)異常時，點擊測試項目對應的后面記錄詳細結果的按鈕進行定位異常通道，如下紅色框中所示；,4-2.其他異常處理,4-2-1.測試板連接后，如下信息欄顯示 “Not found”-說 明測試工具沒有連接在電腦上,4-2-2.測試界面下方顯示如下圖所示的信息時說明： 1)產品沒有連接上或者連接錯誤； 2)產品與測

5、試板之間連接線異常。,Synaptics 方案產品使用介紹,4-2-3.如果出現(xiàn)attention測試項目失敗的話，可能原因INT腳開路； 如果出現(xiàn)Reset測試項目失敗的話，可能原因復位腳開路。,Focaltech 方案產品使用介紹,Focaltech 方案產品使用介紹,Focaltech方案連接方式 Focaltech方案測試界面介紹 Focaltech方案測試軟件測試項目介紹及各個項目代表的含義 四. Focaltech方案測試軟件產品異常分析,目錄：,Focaltech 方案產品使用介紹,敦泰方案接線方法與新思接線相同按照圖紙管腳和測試Connect管腳一一對應即可， 示意圖如下：,一

6、.Focaltech方案連接方式,Focaltech 方案產品使用介紹,二. Focaltech方案測試界面介紹,1,5,3,4,2,6,1.設置于加載配置文件，并選擇測試模式； 2.顯示配置文件名和FW文件名； 3.執(zhí)行測試； 4.顯示測試進度及測試結果； 5.顯示每一測試項的測試狀態(tài)； 6.查看測試詳細信息。,Focaltech 方案產品使用介紹,三. Focaltech方案測試軟件測試項目介紹及各個項目代表的含義,1. Rawdata：代表電容原始值，一般設定值在12500到16500之間，我們默認的調試范圍維持在15000左右。 2.differ：代表電容的變化量，此值的范圍視屏體而定

7、。 3.Ci：代表電容補償，即為了讓整屏的Rawdata維持在均勻的數(shù)據(jù)，而需要電容補償來實現(xiàn)，一般理論設定的范圍為5到250之間。 4. Delta Ci：代表Ci的差值， Delta 代表偏差。 5.CB值與上面的Ci值意思相同，都代表電容補償， Delta CB上面的Delta Ci意思相同，代表CB的差值。,FT6X36系利,Focaltech 方案產品使用介紹,四. Focaltech方案測試軟件產品異常分析,1.測試時當出現(xiàn)某個測試項目出現(xiàn)數(shù)據(jù)異常時，點擊測試顯示結果的按鈕進行定位異常通道，如第15頁中“6” 所示,1,步驟：點擊上面步驟1中的“message”-選擇TestRes

8、ult #1查看詳細數(shù)據(jù)-圖3所示。,2,3,Focaltech 方案產品使用介紹,四. Focaltech方案測試軟件產品異常分析,4-1.測試時當出現(xiàn)某個測試項目出現(xiàn)數(shù)據(jù)異常時，點擊測試顯示結果的按鈕進行定位異常通道，如第15頁中“6” 所示:,1,步驟：點擊上面步驟1中的“message”-選擇TestResult #1查看詳細數(shù)據(jù)-圖3所示。,2,3,Focaltech 方案產品使用介紹,4-2.其他異常處理,4-2-1.沒有連接主板或者主板電源未打開,4-2-2.沒有連接FPC或者FPC沒有被正確讀取,Cypress方案產品使用介紹,Cypress 方案產品使用介紹,Cypress

9、方案測試軟件安裝環(huán)境說明 二. Cypress方案測試pin腳定義 三. Cypress 方案測試軟件的使用，界面及測試項目介紹 四. Cypress方案常見測試異常解析,目錄：,一. Cypress 方案測試軟件安裝環(huán)境說明,測試軟件安裝要求： 1.軟件安裝時安裝文件保存路徑(C盤)方式一般采用默認即可； 2.針對賽普拉斯方案，測試用的電腦系統(tǒng)版本為“NET Framework 3.5”或者3.5以上版本，例如：“dotNetFx40_Full_x86_x64”。,Cypress 方案產品使用介紹,二. Cypress方案測試pin腳定義及接線如下,Cypress 方案產品使用介紹,測試主板

10、與PIN腳定義要一一對應,三.Cypress方案測試軟件的界面，使用及測試項目介紹,3-1.進入工程模式后軟件測試平臺介紹,Cypress 方案產品使用介紹,1） 打開文件/保存文件； 2） 從TTHE導入； 3） 執(zhí)行 跳過編程； 4） 執(zhí)行測試操作； 5） 停止測試操作； 6） 連續(xù)測試。,3-2.進入工程模式后軟件測試項目介紹,Cypress 方案產品使用介紹,1.TP測試時IC芯片電壓范圍控制； 2.TP測試時IC芯片電流范圍控制； 3.VDDA線狀態(tài)測試； 4.復位引腳測試； 5.觸摸屏ID，固件版本以及CFG_VER控制； 6.TP短路測試； 7.互電容以及自電容原始數(shù)據(jù)測試。,3

11、-3.測試軟件使用,Cypress 方案產品使用介紹,1）點擊 打開測試文件； 2） 點擊 測試按鈕開始測試；,Cypress方案產品使用介紹,四. Cypress方案常見測試異常解析,4-1.測試時當顯示“設備通訊故障”，不良原因為測試主板與TP未連接上或者TP connect異常，測試如下所示：,Cypress方案產品使用介紹,4-2.測試時當顯示CONFIG_VER TEST失效，不良原因為Firmware版本為舊固件，測試使用的是新的Firmware固件，解決的辦法為將產品升級至新Firmware即可，失效測試如下所示：,Cypress方案產品使用介紹,4-3.測試時當顯示CM（互電容

12、原始值）或者CP(自電容原始值)失效，可以通過打開產品測試時保存的數(shù)據(jù)（文件格式為.csv）來分析異常的通道位置，操作步驟如下：,Goodix方案產品使用介紹,Goodix 方案產品使用介紹,Goodix方案連接方式 Goodix方案測試界面介紹 Goodix 方案測試軟件測試項目介紹及各個項目代表的含義 Goodix方案常見測試異常解析,目錄：,Goodix方案產品使用介紹,匯頂方案接線方法與敦泰接線相同按照圖紙管腳和測試Connect管腳一一對應即可， 示意圖如下：,一.Goodix方案連接方式,Goodix 方案產品使用介紹,二. Goodix方案測試界面介紹,1.文件選項用于導入測試配

13、置文件，工具里面的系統(tǒng)選項用于選擇測試的IC芯片型號； 2.連接TP后，點擊刷新顯示測試產品IC的芯片型號及FW版本號； 3.手動測試控制及數(shù)據(jù)保存； 4.顯示測試進度及測試結果； 5.手動畫線描點以及按鍵測試。,Goodix 方案產品使用介紹,三.Goodix 方案測試軟件測試項目介紹及各個項目代表的含義,1.TP整屏原始值最大和最小值測試控制； 2.TP單個節(jié)點和周圍相鄰節(jié)點之間的數(shù)據(jù)偏差測試控制； 3.復位引腳測試； 4.按鍵原始值最大和最小值測試控制； 5.Sensor ID和TP短路測試； 6.TP固件版本號檢測； 7.通道間以及通道與地之間的短路阻抗測試。,Goodix方案產品使用介紹,四. Goodix方案常見測試異常解析,4-1.測試時顯示CFG檢查出錯或IIC檢查出錯，不良原因可能為測試主板與TP連接異?；蛘逿P connect異常，測試如下所示：,Goodix方案產品使用介紹,4-2.測試時顯示測試失敗（對應下面最大或者最小值以及相鄰偏差異常），按照下