1、SPC統(tǒng)計(jì)技術(shù)Statistical Process Control磁通品質(zhì)部,一、質(zhì)量數(shù)據(jù)的基本知識(shí),1、質(zhì)量數(shù)據(jù)的分類 質(zhì)量數(shù)據(jù)是多種多樣的，按其性質(zhì)和使用目的不同，可分為兩大類： 計(jì)量值數(shù)據(jù) 計(jì)量值數(shù)據(jù)是可以連續(xù)取值，或者說(shuō)可以用測(cè)量工具具體測(cè)量出小數(shù)點(diǎn)以下數(shù)值的這類數(shù)據(jù)。 如長(zhǎng)度、壓力、溫度等。,計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù) 計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù)是不能連續(xù)取值，只能以個(gè)數(shù)計(jì)算的數(shù)據(jù)。 如不合格品數(shù)，缺陷數(shù)等,2、總體和樣本,總體：又叫“母體”是指要分析研究對(duì)象的全體?？梢允且粋€(gè)過(guò)程，也可以是這一過(guò)程的結(jié)果即產(chǎn)品。 組成總體的每個(gè)單元（產(chǎn)品）叫做個(gè)體。 總體中所含的個(gè)體數(shù)叫做總體含量，也稱總體大小。通常用N表示。,

2、樣本,樣本也叫“子樣”。它是從總體中隨機(jī)抽取出來(lái)，并且要對(duì)它進(jìn)行詳細(xì)研究分析的一部分個(gè)體。 樣本中所含的樣品數(shù)目，一般叫樣本容量或樣本大小。通常用n表示。 樣本中所含的每一個(gè)個(gè)體叫樣品。,3、抽樣及抽樣方法,抽樣： 抽樣：是指從總體中隨機(jī)抽取樣本的活動(dòng)。 隨機(jī)性：是指要使總體中的每一個(gè)個(gè)體（即產(chǎn)品）都有相同機(jī)會(huì)被抽取出來(lái)組成樣本的特性。 在質(zhì)量管理過(guò)程中，常用抽取樣本并通過(guò)樣本檢測(cè)所得到數(shù)據(jù)來(lái)預(yù)測(cè)總體質(zhì)量狀況的這種手段,常分為以下幾種方法：,一般隨機(jī)抽樣法； 順序抽樣法； 分層抽樣法； 整群抽樣法。,一般隨機(jī)抽樣法：,抽取樣品是隨機(jī) 方法：將全部產(chǎn)品編號(hào)后可用抽簽、抓鬮兒、查隨機(jī)數(shù)表或擲骰子等

3、辦法抽取樣品。 優(yōu)點(diǎn)：抽樣誤差小 缺點(diǎn)：較復(fù)雜,順序抽樣法,又稱等距抽樣法、系統(tǒng)抽樣法、或機(jī)械抽樣法。 方法：先將全部產(chǎn)品編號(hào)，用隨機(jī)抽樣法產(chǎn)生一個(gè)抽樣起點(diǎn)，每隔相同數(shù)據(jù)間隔而抽取的個(gè)體樣本方法。 優(yōu)點(diǎn)：操作簡(jiǎn)便 缺點(diǎn)：偏差性可能會(huì)很大,分層抽樣法（又稱類型抽樣法）,方法：總體可分為不同的子總體（也稱層）時(shí)，按規(guī)定的比例從不同層中隨機(jī)抽取樣品（子樣）來(lái)組成樣本時(shí)的方法。 常用于產(chǎn)品質(zhì)量的驗(yàn)收 優(yōu)點(diǎn)：抽樣誤差較小 缺點(diǎn)：較一般隨機(jī)抽樣還要繁鎖,整群抽樣法（又稱集團(tuán)抽樣法）,方法：將總體分成許多群，每個(gè)群由個(gè)體按一定方式結(jié)合而成，然后進(jìn)行隨機(jī)抽取若干群，并由這些群中所有個(gè)體組成樣本。 優(yōu)點(diǎn) ：實(shí)施

4、方便 缺點(diǎn)：代表性差、誤差大,4、幾個(gè)重要的特征數(shù),平均數(shù)：用 表示： n：數(shù)據(jù)個(gè)數(shù) ：第i個(gè)數(shù)據(jù)值,中位數(shù)，用 X 表示,將一組數(shù)據(jù)按從小到大順序排列，位于中間位置的數(shù)叫中位數(shù)。 當(dāng)n為奇數(shù)時(shí)，則取順序排列的中間數(shù) 當(dāng)n為偶數(shù)時(shí)，則取順序排列的中間兩個(gè)數(shù)的平均數(shù)。 極差R 極差是指一組數(shù)據(jù)中最大與最小之差，用符號(hào)R表示： R=L-S L：數(shù)據(jù)的最大值 S：數(shù)據(jù)的最小值,樣本方差,樣本方差：是衡量統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分散程度的特征數(shù)字，用符號(hào)S2表示,標(biāo)準(zhǔn)偏差,國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織規(guī)定：將樣本方差的平方根做為標(biāo)準(zhǔn)偏差，用S表示： 標(biāo)準(zhǔn)偏差S反映了數(shù)據(jù)的離散程度： S值大，數(shù)據(jù)密集程度差，離散度大 S值小，數(shù)據(jù)密

5、集程度高，離散度小 同時(shí)也反映平均值的代表性 若S值大，則 代表性差 若S值小，則 代表性好,標(biāo)準(zhǔn)差 （Sigma）,總體標(biāo)準(zhǔn)差 = 通常用樣本標(biāo)準(zhǔn)差近似的估計(jì)為總體標(biāo)準(zhǔn)差 標(biāo)準(zhǔn)差的意義：一組數(shù)中各單個(gè)值與總體平均數(shù)之間的平均離差，說(shuō)明該組數(shù)的離散程度,5：為什么要應(yīng)用SPC,在生產(chǎn)過(guò)程中，產(chǎn)品的加工尺寸/性能的波動(dòng)是不可避免的。它是由人、機(jī)器、材料、方法和環(huán)境等基本因素的波動(dòng)影響所致。波動(dòng)分為兩種：正常波動(dòng)和異常波動(dòng)。正常波動(dòng)是偶然性原因（不可避免因素）造成的。它對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量影響較小，在技術(shù)上難以消除，在經(jīng)濟(jì)上也不值得消除。異常波動(dòng)是由系統(tǒng)原因（異常因素）造成的。它對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量影響很大，但能夠采

6、取措施避免和消除。過(guò)程控制的目的就是消除、避免異常波動(dòng)，使過(guò)程處于正常波動(dòng)狀態(tài)。,6：SPC技術(shù)原理,統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制（SPC）是一種借助數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法的過(guò)程控制工具。它對(duì)生產(chǎn)過(guò)程進(jìn)行分析評(píng)價(jià)，根據(jù)反饋信息及時(shí)發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)性因素出現(xiàn)的征兆，并采取措施消除其影響，使過(guò)程維持在僅受隨機(jī)性因素影響的受控狀態(tài)，以達(dá)到控制質(zhì)量的目的。當(dāng)過(guò)程僅受隨機(jī)因素影響時(shí)，過(guò)程處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)（簡(jiǎn)稱受控狀態(tài)）；當(dāng)過(guò)程中存在系統(tǒng)因素的影響時(shí)，過(guò)程處于統(tǒng)計(jì)失控狀態(tài)（簡(jiǎn)稱失控狀態(tài)）。由于過(guò)程波動(dòng)具有統(tǒng)計(jì)規(guī)律性，當(dāng)過(guò)程受控時(shí)，過(guò)程特性一般服從穩(wěn)定的隨機(jī)分布；而失控時(shí)，過(guò)程分布將發(fā)生改變。SPC正是利用過(guò)程波動(dòng)的統(tǒng)計(jì)規(guī)律性對(duì)過(guò)程進(jìn)行分析

7、控制的。因而，它強(qiáng)調(diào)過(guò)程在受控和有能力的狀態(tài)下運(yùn)行，從而使產(chǎn)品和服務(wù)穩(wěn)定地滿足顧客的要求。,特殊原因 一種間斷性的，不可預(yù)計(jì)的，不穩(wěn)定的變差來(lái)源。有時(shí)被稱為可查明原因，存在它的信號(hào)是：存在超過(guò)控制線的點(diǎn)或存在在控制線之內(nèi)的鏈或其他非隨機(jī)性的情形。,普通原因 造成變差的一個(gè)原因，它影響被研究過(guò)程輸出的所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機(jī)過(guò)程變差的一部分。,二、質(zhì)量管理七大手法,常用質(zhì)量管理手法分為： 排列圖法 直方圖法 控制圖法 調(diào)查表法 分層法 散布圖法 因果圖法,排列圖：將質(zhì)量改進(jìn)項(xiàng)目從最重要到最次要進(jìn)行排列而采用的一種簡(jiǎn)單圖示技術(shù)。（見(jiàn)例圖）,例：頻數(shù)表,排列圖不良率與累計(jì)不良率計(jì)算,1

8、：不良率 P=單項(xiàng)不良數(shù)/總不良數(shù) 2：累計(jì)不良率 Np=P1+P2+P3+P4,直方圖：用一系列寬度相等，高度不等的矩形表示數(shù)據(jù)分布的圖。,直方圖統(tǒng)計(jì),收集一組數(shù)據(jù) 計(jì)算數(shù)據(jù)的變化范圍（極差R) 確定組數(shù)（樣本大小n, 組數(shù)k） 計(jì)算組距h, h一般取整數(shù) 確定組邊界 計(jì)算頻數(shù)，例如唱票法 計(jì)算頻率 繪制頻數(shù)分布表 繪制頻數(shù)直方圖，縱軸為頻數(shù) 繪制頻率直方圖，縱軸為頻率 進(jìn)行分析,第一步收集數(shù)據(jù)（共100個(gè)數(shù)據(jù)）,某規(guī)格變壓器尾線長(zhǎng)度，公差24.56.0mm,第二步：計(jì)算極差,R= Xmax-Xmin=30.0-17.4=12.6 第三步：設(shè)定組數(shù)，計(jì)算組距 有上表，設(shè)定組數(shù)k=10，測(cè)量值

9、最小單位為0.1 則 組距（h）=R/k=12.6/10=1.261.3,第四步：計(jì)算組邊界和中心值,第一組下限值=Xmin-測(cè)量最小單位的一半 =17.4-.005=14.35 第二組下限值=17.35+1.3=18.65 第一組中心值=（17.35+18.65）2=18.00 以此類推,第五步：制作頻數(shù)表，必要時(shí)可以制作頻率表,第六步：按頻數(shù)/頻率畫(huà)橫坐標(biāo)、縱坐標(biāo)與直方圖,直方圖分析,1:對(duì)稱型:質(zhì)量特性分布范圍B在T的中間,平均值X基本與公差中心重合,質(zhì)量特性分布的兩邊還有一定的余地,這很理想; 2:單側(cè)型:質(zhì)量特性分布范圍B雖然也落在公差范圍內(nèi),但因偏向一邊,故有超差的可能,應(yīng)采取措施

10、糾正; 3:雙側(cè)型:質(zhì)量特性分布范圍B也落在公差范圍內(nèi),但完全沒(méi)有余地,說(shuō)明總體已出現(xiàn)一定數(shù)量的廢品,應(yīng)設(shè)法使其分布集中,提高工序能力；,直方圖分析,4:尖峰型:公差范圍比特性分布范圍大很多,此時(shí)應(yīng)考慮是否可以改變工藝,以提高生產(chǎn)效率,降低生產(chǎn)成本或者縮小公差范圍; 5:超差型:質(zhì)量特性分布范圍過(guò)分地偏離公差范圍,已明顯看出超差,應(yīng)立限采取措施加以糾正;,直方圖圖形,直方圖分布狀態(tài)與分析,A：正常形，對(duì)稱，是一般穩(wěn)定生產(chǎn)狀態(tài)的正常情況,直方圖分布狀態(tài)與分析,b.右偏峰型。由于某種因素使下限受到限制時(shí)多出現(xiàn)此型，如清潔度近于零，缺陷數(shù)近于零，孔加工尺寸偏小等。,直方圖分布狀態(tài)與分析,c. 左偏峰

11、型。由于某種因素使上限受到限制時(shí)多出現(xiàn)此型。,直方圖分布狀態(tài)與分析,d.雙峰型。常常是兩種不同的分布混合在一起時(shí)多出現(xiàn)此型，如兩臺(tái)設(shè)備或不同原料所生產(chǎn)的產(chǎn)品混在一起的情況。,直方圖分布狀態(tài)與分析,e.平峰型。常常是由于在生產(chǎn)過(guò)程中有某中緩慢的傾向在起作用時(shí)多出現(xiàn)此型，如刀具的磨損，操作者的疲勞等。,直方圖分布狀態(tài)與分析,f. 高端型。當(dāng)工序能力不足時(shí)為找到適合標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品而做全數(shù)檢查時(shí)多出現(xiàn)此型，也就是說(shuō)用剔除不合格產(chǎn)品的產(chǎn)品數(shù)據(jù)作直方圖時(shí)易出現(xiàn)此型。另外，在等外品超差返修時(shí)或制造假數(shù)據(jù)等情況易出現(xiàn)此型。,直方圖分布狀態(tài)與分析,g. 孤島型。當(dāng)生產(chǎn)條件的明顯變化，如一時(shí)原料發(fā)生變化或者在短期內(nèi)由

12、不熟工人替班加工時(shí)易出現(xiàn)此型；另外在測(cè)量有誤時(shí)易出現(xiàn)此型。,直方圖分布狀態(tài)與分析,h.櫛齒型。如分組不當(dāng)，級(jí)的寬度沒(méi)有取為測(cè)量單位的整數(shù)倍時(shí)多出現(xiàn)此型。另外，測(cè)量方法或測(cè)量用表讀數(shù)有問(wèn)題時(shí)也容易出現(xiàn)此型。,與公差界限比較分析,理想型：直方圖的分布中心與公差中心重合，其分布在公差范圍內(nèi)，且兩邊有余量 偏向型：直方圖的分布在公差范圍內(nèi)，但分布中心和公差中心有較大偏移工序稍微變化都易出現(xiàn)不合格 無(wú)富余型：直方圖的分布在公差范圍內(nèi)，兩邊的分布均沒(méi)有余地工序稍微變化都易出現(xiàn)不合格 能力富余型：直方圖的分布在公差范圍內(nèi)，兩邊有過(guò)大的余地不經(jīng)濟(jì) 能力不足型：實(shí)際分布超出公差范圍已出現(xiàn)不合格 陡壁型：實(shí)際分布

13、中心嚴(yán)重偏離公差中心，但作圖時(shí)已剔除了不合格,直方圖總結(jié),利用正態(tài)分布的原理 作用 解析看似雜亂無(wú)章數(shù)據(jù)的規(guī)律性 一目了然的了解數(shù)據(jù)的中心值/分布 與柱形圖（柱狀圖）的區(qū)別 柱形圖利用推移的原理只反映過(guò)去每期或每類別項(xiàng)目的狀態(tài)比較 直方圖利用正態(tài)分布原理，反映整個(gè)時(shí)期的質(zhì)量分布狀況，從中找出可能存在的問(wèn)題,控制圖：將一個(gè)過(guò)程定期收集的樣本數(shù)據(jù)按順序點(diǎn)繪成的一種圖形技術(shù)，用于判斷過(guò)程正?；虍惓５囊环N工具。（見(jiàn)例圖）,控制圖的原理,當(dāng)質(zhì)量特性的隨機(jī)變量x服從正態(tài)分布時(shí)，則x落在3 的概率是99.73%。 根據(jù)小概率事件可以“忽略”的原則：如果出現(xiàn)超出3 范圍的x值，則認(rèn)為過(guò)程存在異常 所以，在過(guò)程

14、正常情況下約有99.73%的點(diǎn)落在在此控制線內(nèi)。 觀察控制圖的數(shù)據(jù)位置，可以了解過(guò)程情況有無(wú)改變。,控制圖的控制線,中心線（CL): X 上控制線/限（UCL): X+ 3 下控制線/限（LCL): X- 3 右轉(zhuǎn)90度,3 ,3 ,x+ 3 ,x- 3 ,x,99.73%,公差界限與控制界限的區(qū)別,公差界限： 區(qū)分合格品與不合格品 控制界限： 區(qū)分正常波動(dòng)與異常波動(dòng),兩類錯(cuò)誤,第類錯(cuò)誤（）：虛發(fā)警報(bào) 第類錯(cuò)誤（）：漏發(fā)警報(bào),UCL,LCL,兩類錯(cuò)誤,兩類錯(cuò)誤都會(huì)造成損失 上下控制限間距變大： 減小， 增大 上下控制限間距變?。?增大， 減小 間距的設(shè)定尋求二者的均衡點(diǎn)（ 3 ）,計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控

15、制圖,P管制圖 P圖是用來(lái)測(cè)量在一批檢驗(yàn)項(xiàng)目中不合格品（缺陷）項(xiàng)目的百分?jǐn)?shù)。 收集數(shù)據(jù) 選擇子組的容量、頻率和數(shù)量 子組容量：子組容量足夠大（最好能恒定），并包括幾個(gè)不 合格品。 分組頻率：根據(jù)實(shí)際情況，兼大容量和信息反饋快的要求。 子組數(shù)量：收集的時(shí)間足夠長(zhǎng)，使得可以找到所有可能影響 過(guò)程的變差源。一般為25組。 計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率（P） P=np /n,n為每組檢驗(yàn)的產(chǎn)品的數(shù)量；np為每組發(fā)現(xiàn)的不良品的數(shù)量。 選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 一般不良品率為縱坐標(biāo)，子組別（小時(shí)/天）作為橫坐標(biāo),縱坐標(biāo)的刻度應(yīng)從0到初步研究數(shù)據(jù)讀讀數(shù)中最大的不合格率值的1.5到2倍。 將不

16、合格品率描繪在控制圖上 a 描點(diǎn)，連成線來(lái)發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢(shì)。 b 在控制圖的“備注”部分記錄過(guò)程的變化和可能影響過(guò)程的異常情況。 計(jì)算控制限 計(jì)算過(guò)程平均不合格品率（P） P=（n1p1+n2p2+nkpk）/ (n1+n2+nk),式中： n1p1；nkpk 分別為每個(gè)子組內(nèi)的不合格的數(shù)目 n1；nk為每個(gè)子組的檢驗(yàn)總數(shù) 計(jì)算上下控制限（UCL；LCL） UCLp = P + 3 P ( 1 P ) / n LCLp = P 3 P ( 1 P ) / n P 為平均不良率；n 為樣本容量 注： 1、從上述公式看出，凡是各組容量不一樣，控制限隨之 變化。 2、在實(shí)際運(yùn)用中，當(dāng)各組容量不超過(guò)

17、其平均容量25%時(shí)，,可用平均樣本容量 n 代替 n 來(lái)計(jì)算控制限UCL；LCL。方法如下： A、確定可能超出其平均值 25%的樣本容量范圍。 B、分別找出樣本容量超出該范圍的所有子組和沒(méi)有超出該范圍 的子組。 C、按上式分別計(jì)算樣本容量為 n 和 n 時(shí)的點(diǎn)的控制限. UCL,LCL = P 3 P ( 1 P ) / n = P 3 p ( 1 p) / n 畫(huà)線并標(biāo)注 過(guò)程平均（P）為水平實(shí)線，控制限（UCL；LCL）為虛線。 (初始研究時(shí)，這些被認(rèn)為是試驗(yàn)控制限。）,過(guò)程控制用控制圖解釋： 分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定的證據(jù)（一個(gè)受控的P管制圖 中，落在均值兩側(cè)的點(diǎn)的數(shù)量將幾乎相等） 。 超

18、出控制限的點(diǎn) a 超出極差上控制限的點(diǎn)通常說(shuō)明存在下列情況中的一種 或幾種： 1、控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) 。 2、測(cè)量系統(tǒng)變化（如：不同的檢驗(yàn)員或量具）。 3、過(guò)程惡化。 b 低于控制限之下的點(diǎn)，說(shuō)明存在下列情況的一種或多種： 1、控制限或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò)。 2、測(cè)量系統(tǒng)已改變或過(guò)程性能已改進(jìn)。 鏈 a 出現(xiàn)高于均值的長(zhǎng)鏈或上升鏈（7點(diǎn)），通常表明存在下列 情況之一或兩者。,1、 測(cè)量系統(tǒng)的改變（如新的檢驗(yàn)人或新的量具 2、 過(guò)程性能已惡化 b 低于均值的鏈或下降鏈說(shuō)明存在下列情況之一或全部： 1、 過(guò)程性能已改進(jìn) 2、 測(cè)量系統(tǒng)的改好 注：當(dāng) np 很小時(shí)（5以下），出現(xiàn)低于 P 的鏈的可能性

19、增加， 因此有必要用長(zhǎng)度為8點(diǎn)或更多的點(diǎn)的長(zhǎng)鏈作為不合格 品率降低的標(biāo)志。 明顯的非隨機(jī)圖形 a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢(shì)；周期性；子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有 規(guī)律的關(guān)系等。,b 一般情況，各點(diǎn)與均值的距離：大約2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制 限的中間1/3的區(qū)域內(nèi)，大約1/3的點(diǎn)落在其外的2/3的區(qū)域。 c 如果顯著多余2/3以上的描點(diǎn)落在離均值很近之處（對(duì)于25 子組，如果超過(guò)90%的點(diǎn)落在控制限的1/3區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下 列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： 1、 控制限計(jì)算錯(cuò)或描點(diǎn)描錯(cuò) 2、 過(guò)程或取樣方法被分層，每個(gè)子組包含了從兩個(gè)或多個(gè) 不同平均性能的過(guò)程流的測(cè)量值（如：兩條平行的生產(chǎn) 線的混合的輸出）。 3

20、、 數(shù)據(jù)已經(jīng)過(guò)編輯（明顯偏離均值的值已被調(diào)換或刪除） d 如果顯著少余2/3以上的描點(diǎn)落在離均值很近之處（對(duì)于25 子組，如果只有40%的點(diǎn)落在控制限的1/3區(qū)域）則應(yīng)對(duì)下列 情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： 1、控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)描錯(cuò),2、 過(guò)程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個(gè)或多個(gè) 不同平均性能的過(guò)程流的測(cè)量 尋找并糾正特殊原因 當(dāng)有任何變差時(shí)，應(yīng)立即進(jìn)行分析，以便識(shí)別條件并防止 再發(fā)生，由于控圖發(fā)現(xiàn)的變差一般是由特殊原因引起的， 希望操作者和檢驗(yàn)員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。并在備 注欄中詳細(xì)記錄。 重新計(jì)算控制限 初次研究，應(yīng)排除有變差的子組，重新計(jì)算控制限。 過(guò)程能力解釋 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控

21、制圖上的每一點(diǎn)直接表明不符合顧客要求的不合格品的百分?jǐn)?shù)和比值，這就是對(duì)能力的定義,控制圖的作用,能及時(shí)發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)過(guò)程中的異常現(xiàn)象和緩慢變異,預(yù)防不合格品發(fā)生,從而降低生產(chǎn)成本和提高生產(chǎn)效率; 2:能有效分析判斷生產(chǎn)過(guò)程工序質(zhì)量的穩(wěn)定性,從而可降低檢驗(yàn)、測(cè)試費(fèi)用； 3：可查明設(shè)備和工藝手段的實(shí)際精度，以便作出正確的技術(shù)決定； 4：使工序的成本和質(zhì)量成為可預(yù)測(cè)的，并能以較快的速度和準(zhǔn)確性測(cè)量出系統(tǒng)誤差的影響程度；,控制圖類型,例圖：X-R平均值與極差控制圖,控制圖的選擇方法,確定要制定控制圖的特性,是計(jì)量型數(shù)據(jù)嗎？,否,關(guān)心的是不合格品率？,否,關(guān)心的是不合格數(shù)嗎？,是,樣本容量是否恒定？,是,使用

22、np或p圖,否,使用p圖,樣本容量是否桓定？,否,使用u圖,是,是,使用c或u圖,是,性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣例如：化學(xué)槽液、批量油漆等？,否,子組均值是 否能很方便 地計(jì)算？,否,使用中 位數(shù)圖,是,使用單值圖X-MR,是,接上頁(yè),子組容量是否大于或等于9？,是,否,是否能方便地計(jì)算每個(gè)子組的S值？,使用 XR圖,是,否,使用 XR圖,使用 X s圖,注：本圖假設(shè)測(cè)量系統(tǒng)已經(jīng)過(guò)評(píng)價(jià)并且是適用的。,調(diào)查表：用來(lái)系統(tǒng)地收集資料和積累數(shù)據(jù)確認(rèn)事實(shí)并對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行粗略整理和分析的統(tǒng)計(jì)圖表。 分層法：按照一定的標(biāo)志把搜集到的大量有關(guān)某一特點(diǎn)主題的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)加以歸類、整理和匯總的一種方法。 散布圖：是研究成對(duì)出現(xiàn)的兩組數(shù)據(jù)之間存在的關(guān)系及其相關(guān)情況的圖示方法。 因果圖：又稱石川圖、要因圖、魚(yú)刺圖等，是以結(jié)果為特性，以原因?yàn)橐蛩亍Ｔ谒鼈冎g用箭頭聯(lián)系起來(lái)。,散布圖法,產(chǎn)品浸錫溫度與浸錫效果關(guān)系 溫度Y 效果 X,散布圖與相關(guān)分析法,強(qiáng)正相關(guān),弱正相關(guān),強(qiáng)負(fù)相關(guān),弱負(fù)相關(guān),相關(guān)關(guān)系,1：強(qiáng)正相關(guān)：X變大，Y也顯著變大； 2：弱正相關(guān)：X變大，Y也大致變大； 3：不相關(guān)：X和Y 之間沒(méi)有相關(guān)關(guān)系； 4：強(qiáng)負(fù)相關(guān)：X