1、電子元器件入廠檢驗(yàn)規(guī)程1 目的 為本公司電子元器件類進(jìn)料檢驗(yàn)提供科學(xué)、客觀的方法和依據(jù)，進(jìn)而不斷提高產(chǎn)品質(zhì)量。2 適用范圍 本檢驗(yàn)規(guī)范適用于所有電子元器件原材料的檢驗(yàn)/驗(yàn)收。對(duì)某些無法用定量表明的缺陷，可用供需雙方制訂的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)和封樣的辦法加以解決。3 參考文件 3.1 GB/T 17215-2002 1級(jí)和2級(jí)靜止式交流有功電度表。3.2 相關(guān)電子元器件技術(shù)文件和樣品。4 缺陷類型4.1 A類： 嚴(yán)重缺陷（CRICITAL DEFECT，簡寫CRI），是指不良缺陷足使產(chǎn)品失去規(guī)定的主要或全部功能，或者特別情況下可能帶來安全問題，或者為客戶或市場拒絕接受的特別規(guī)定的缺點(diǎn)。4.2 B類： 主要缺

2、陷（MAJOR DEFECT, 簡寫MAJ），不良缺陷足使產(chǎn)品失去部分功能，或者相對(duì)嚴(yán)重的結(jié)構(gòu)及外觀異常，從而顯著降低產(chǎn)品的使用性能。4.3 C類： 次要缺陷（MINOR DEFECT，簡寫MIN），不良缺陷可以造成產(chǎn)品部分性能偏差或一般外觀缺點(diǎn)，雖不影響產(chǎn)品性能，但會(huì)使產(chǎn)品價(jià)值降低的缺點(diǎn)。5 判定依據(jù) 取一般檢驗(yàn)水平II，正常檢驗(yàn)AQL：A類缺陷為0，B類缺陷為0.4，C類缺陷為1.0。當(dāng)缺陷位于產(chǎn)品的LOGO、產(chǎn)品名稱或圖標(biāo)的40mm內(nèi)時(shí)，應(yīng)重新審核決定此缺陷是否達(dá)到了影響標(biāo)識(shí)、產(chǎn)品名稱或圖標(biāo)的程度。在實(shí)際執(zhí)行時(shí)依照檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的條款或參照產(chǎn)品的封樣。6 工作程序和要求6.1 外觀缺陷的檢驗(yàn)方

3、法及要求 視力：具有正常視力 1.0-1.2視力和色感。 照度：室內(nèi)照明800Lux（40W日光燈）以上。目測(cè)距離： 眼睛距離15-30cm處目視，必要時(shí)以(三倍或三倍以上)放大照燈檢驗(yàn)確認(rèn)。 ESD防護(hù)：凡接觸電子元器件必需配帶檢測(cè)合格的靜電防護(hù)措施(配帶干凈手套與防靜電手環(huán)接上靜電接地線)；檢驗(yàn)前需先確認(rèn)所使用工作平臺(tái)清潔。6.2 外觀尺寸及尺寸的配合的檢驗(yàn)方法6.2.1 使用普通長度測(cè)量儀或各種量規(guī)（量具）進(jìn)行測(cè)量。6.2.2 試裝配：將電子元器件與PCB等試裝位置、尺寸等應(yīng)配合良好，并且插入后不應(yīng)占到別的元器件的位置。6.3 檢驗(yàn)儀器、儀表、量具的要求6.3.1 所有檢驗(yàn)儀器、儀表、量

4、具必須在校正計(jì)量期內(nèi)。6.4 本檢驗(yàn)規(guī)范若與其它規(guī)范文件相沖突時(shí)，依據(jù)順序如下：6.4.1 本公司所提供的技術(shù)文件等提出的特殊需求；6.4.2 本檢驗(yàn)規(guī)范；6.4.3 由供應(yīng)商提供的檢驗(yàn)報(bào)告、規(guī)格書、承認(rèn)書等資料；6.5 若有外觀標(biāo)準(zhǔn)爭議時(shí)，由質(zhì)檢部解釋與核判是否允收。6.6 涉及功能性問題時(shí)，由技術(shù)部或質(zhì)檢部分析原因與責(zé)任單位，并于驗(yàn)證后由質(zhì)檢部復(fù)判外觀是否允收。7 檢驗(yàn)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)7.1 按照“電子元器件檢驗(yàn)明細(xì)表”（見附錄）以及有關(guān)進(jìn)料檢驗(yàn)的規(guī)定對(duì)新進(jìn)原材料進(jìn)行檢驗(yàn)。7.2 對(duì)于我司目前不能檢驗(yàn)的項(xiàng)目，可以驗(yàn)證供方提供的檢驗(yàn)數(shù)據(jù)，也可以委托國家檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)進(jìn)行檢驗(yàn)。附錄 電子元器件檢驗(yàn)明細(xì)表1

5、 包裝、標(biāo)識(shí)檢查（通用）序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)要求缺陷類型檢驗(yàn)方法1.1包裝、標(biāo)識(shí)1、不允許包裝箱內(nèi)無合格證、測(cè)試記錄；B目視2、不允許沒有制造商的名稱；B3、不允許沒有元器件名稱；B4、不允許沒有元器件型號(hào)、規(guī)格；B5、不允許沒有包裝數(shù)量；B6、不允許沒有生產(chǎn)日期和生產(chǎn)批號(hào)；C7、不允許沒有制造商合格蓋章；B8、針對(duì)不同元器件的特性必須使用適當(dāng)?shù)陌b方式；B1.2數(shù)量1、不允許實(shí)際包裝數(shù)量與標(biāo)識(shí)上的數(shù)量不相同；B目視點(diǎn)檢2、不允許實(shí)際來料數(shù)量與送檢單上的數(shù)量不吻合；B2 外觀檢查（通用）序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)要求缺陷類型檢驗(yàn)方法2.1材質(zhì)不允許與文件要求不符合；A目視2.2污跡不允許異物、油污、灰塵及其

6、它污垢；C2.3金屬殼體表面、引腳1、輕微不光亮、發(fā)黑，不影響上錫功能；C2、發(fā)黑，生銹嚴(yán)重，上錫困難，甚至不能上錫；B3、影響組裝；B4、不影響組裝；C2.4絲印1、絲印錯(cuò)、漏；B2、絲印模糊，至字體無法識(shí)別；B3、字體排版錯(cuò)誤（大小不等、次序顛倒）；B4、絲印模糊，但字體仍可識(shí)別；C2.5表面、引腳顏色不允許一批中有多種顏色；B2.6劃傷1、劃傷深度不超過2mm，不明顯可見；C2、明顯可見元器件內(nèi)部材質(zhì)；B2.4破裂1、本體破損面積超過2mm，明顯可見；B2、本體有裂紋面積小于2mm，不明顯可見；C2.8線頭1、線頭有松散現(xiàn)象；B2、堆錫超過1mm；C2.9絕緣膠皮1、破損嚴(yán)重，看到內(nèi)部芯

7、線；B2、輕微破損，看不到內(nèi)部芯線；B2.10表面保護(hù)膜不能有脫落嚴(yán)重，看到內(nèi)部材質(zhì)；B2.11引出線方向不允許一批中有多種引出線方向；B2.12元器件封口處不允許封口不光滑、有縫隙嚴(yán)重，用手搖動(dòng)引出端有松動(dòng)，甚至有脫落現(xiàn)象；B2.13帶金屬焊接部分不允許絕緣膠粘附于部件焊接部分，帶金屬部分有氧化，生銹、壓傷嚴(yán)重現(xiàn)象；B2.14極性不允許標(biāo)識(shí)與實(shí)際不符；A2.15變形不允許外形變形嚴(yán)重；B3 尺寸檢查（通用）序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)要求缺陷類型檢驗(yàn)方法3.1尺寸不允許重要尺寸不符合圖紙、bom要求（引腳直徑、定位尺寸、本體直徑、引腳長度）；A卡尺4 裝配檢查（通用）序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)要求缺陷類型檢驗(yàn)方法

8、4.1裝配1、插不進(jìn)PCB板、表殼、端子等；A試裝目視2、插入PCB板、表殼、端子等困難；B5 可焊性試驗(yàn)（通用）序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)要求缺陷類型檢驗(yàn)方法5.1可焊性無特殊技術(shù)要求，以下兩種方法可選其一試驗(yàn)：a、用電烙鐵以溫度為235，時(shí)間為3S試驗(yàn)，錫點(diǎn)圓潤有光澤，穩(wěn)固；b、PIN上錫不良，或完全不上錫,均不可接受；(將零件腳插入現(xiàn)使用之合格松香水內(nèi)，全部浸潤；再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫；如果不是則拒收)；A實(shí)際操作恒溫烙鐵錫爐耐焊接熱溫度24010, 浸錫（焊接）時(shí)間5S后，外觀、電氣與機(jī)械性能良好；A6 電性檢驗(yàn)6.1 電阻序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺

9、陷類型6.1.1電阻值不允許實(shí)際測(cè)量電阻值超出偏差范圍；數(shù)字萬用表或LCR數(shù)字電橋耐壓測(cè)試儀A6.1.2*耐壓不允許實(shí)際測(cè)量耐壓值超出偏差范圍；A6.1.3*額定功耗不允許實(shí)際測(cè)量功耗超出偏差范圍；A6.2 電容序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型6.2.1電容值不允許實(shí)際測(cè)量電容值超出偏差范圍；數(shù)字電容表或LCR數(shù)字電橋測(cè)耐壓測(cè)試儀A6.2.2空載漏電流不允許實(shí)際測(cè)量漏電流值超出偏差范圍；A6.2.3耐壓不允許實(shí)際測(cè)量耐壓值超出偏差范圍；A6.2.4損耗角不允許實(shí)際測(cè)量損耗角超出偏差范圍；A6.3 電感、磁珠序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型6.3.1電感量不允許實(shí)際測(cè)量電容值

10、超出偏差范圍；電容電感表或LCR數(shù)字電橋測(cè)A6.3.2繞組不允許不同繞組短路，同組線圈開路；A6.3.3平衡度不允許兩組電感量平衡度不符要求；B6.3.4電壓試驗(yàn)電壓不符合要求；A6.4 光耦序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型6.4.1光電轉(zhuǎn)換1、 數(shù)字萬用表檢測(cè)法：下面以光耦檢測(cè)為例來說明數(shù)字萬用表檢測(cè)的方法，檢測(cè)電路如圖所示。檢測(cè)時(shí)將光耦內(nèi)接二極管的端1腳和端2腳 分別插入數(shù)字萬用表的fe的、插孔內(nèi)，此時(shí)數(shù)字萬用表應(yīng)置于擋；然后將光耦內(nèi)接光電三極管極5腳接指針式萬用表的黑表筆，極4腳 接紅表筆，并將指針式萬用表撥在擋。這樣就能通過指針式萬用表指針的偏轉(zhuǎn)角度實(shí)際上是光電流的變化，來判

11、斷光耦的情況。指針向右偏轉(zhuǎn)角度越 大，說明光耦的光電轉(zhuǎn)換效率越高，即傳輸比越高，反之越低；若表針不動(dòng)，則說明光耦已損壞。數(shù)字萬用表指針式萬用表A2、 光電效應(yīng)判斷法：仍以光 耦合器的檢測(cè)為例，檢測(cè)電路如圖所示。將萬用表置于電阻擋，兩表筆分別接在光耦的輸出端4、5腳；然后用一節(jié)的電池與一只 的電阻串接后，電池的正極端接的1腳，負(fù)極端碰接2腳，或者正極端碰接1腳，負(fù)極端接2腳，這時(shí)觀察接在輸出端 萬用表的指針偏轉(zhuǎn)情況。如果指針擺動(dòng)，說明光耦是好的，如果不擺動(dòng)，則說明光耦已損壞。萬用表指針擺動(dòng)偏轉(zhuǎn)角度越大，表明光電轉(zhuǎn)換靈敏度越高。1.5V電池50100電阻指針式萬用表A6.5 變壓器序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)

12、標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型6.5.1電壓檢驗(yàn)變壓器的各次級(jí)空載、負(fù)載電壓是否與技術(shù)文件要求一致；耐壓測(cè)試儀數(shù)字萬用表DC穩(wěn)壓電源A6.5.2耐壓用耐壓測(cè)試儀給變壓器進(jìn)行各項(xiàng)耐壓測(cè)試（耐壓測(cè)試儀的測(cè)試時(shí)間設(shè)為5S，最大漏電流設(shè)為1mA），若耐壓測(cè)試儀顯示“PASS”則所測(cè)變壓器抗電強(qiáng)度合格；A6.5.3通斷不允許線圈開路、短路、無電壓輸出；A6.6 電壓互感器序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型6.6.1耐壓用耐壓測(cè)試儀給電壓互感器的“初級(jí)與次級(jí)”間加2KV、50HZ的交流電壓進(jìn)行耐壓測(cè)試（耐壓測(cè)試儀的測(cè)試時(shí)間設(shè)為5S，最大漏電流設(shè)為1mA），若耐壓測(cè)試儀顯示“PASS”則所測(cè)電壓互感器抗

13、電強(qiáng)度合格,照此再對(duì)初級(jí)鐵殼間作3.0KV的耐壓測(cè)試；耐壓測(cè)試儀數(shù)字萬用表A6.6.2通斷用萬用表歐姆檔測(cè)量初次級(jí)各導(dǎo)線是否有斷開或短路；A6.7 電流互感器序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型6.7.1耐壓用耐壓測(cè)試儀給電流互感器的“初級(jí)與次級(jí)”間加3KV、50HZ的交流電壓進(jìn)行耐壓測(cè)試（耐壓測(cè)試儀的測(cè)試時(shí)間設(shè)為60S，最大漏電流設(shè)為1mA），若耐壓測(cè)試儀顯示“PASS”則所測(cè)電流互感器抗電強(qiáng)度合格；耐壓測(cè)試儀數(shù)字萬用表A6.7.2通斷用萬用表歐姆檔測(cè)量次級(jí)兩根導(dǎo)線是否有斷開或短路現(xiàn)象A6.7.3繞組檢測(cè)一次繞組與二次繞組之間的絕緣電阻，要求1000M（DC=500V）A6.8 發(fā)光二

14、極管序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型6.8.1發(fā)光特性選擇數(shù)字萬用表的二極管檔，正向測(cè)量，LED需發(fā)出與要求相符的顏色的光，而反向測(cè)量不發(fā)光；否則該二極管不合格。注：有標(biāo)記的一端為負(fù)極。數(shù)字萬用表A6.9 二極管序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型6.9.1正向壓降選擇數(shù)字萬用表的二極管檔，正向測(cè)量，讀數(shù)需小于1，而反向測(cè)量讀數(shù)需無窮大；否則該二極管不合格。注：有顏色標(biāo)記的一端為負(fù)極。數(shù)字萬用表A6.10 三極管序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型6.10.1特性a.先選量程：R100或R1K檔位；b.測(cè)量PNP型半導(dǎo)體三極管的發(fā)射極和集電極的正向電阻值:紅表筆接基極,黑

15、表筆接發(fā)射極,所測(cè)得阻值為發(fā)射極正向電阻值,若將黑表筆接集電極(紅表筆不動(dòng)),所測(cè)得阻值便是集電極的正向電阻值,正向電阻值愈小愈好；c.測(cè)量PNP型半導(dǎo)體三極管的發(fā)射極和集電極的反向電阻值:將黑表筆接基極,紅表筆分別接發(fā)射極與集電極,所測(cè)得阻值分別為發(fā)射極和集電極的反向電阻,反向電阻愈小愈好；d.測(cè)量NPN型半導(dǎo)體三極管的發(fā)射極和集電極的正向電阻值的方法和測(cè)量PNP型半導(dǎo)體三極管的方法相反；萬用表A6.11 穩(wěn)壓芯片序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型6.11.1穩(wěn)壓值穩(wěn)壓值符合技術(shù)要求；DC穩(wěn)壓電源A6.12 晶振序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型6.12.1特性無特殊技術(shù)要求

16、，以下兩種方法可選其一試驗(yàn)：a.測(cè)量電阻方法：用萬用表RX10K檔測(cè)量石英晶體振蕩器的正，反向電阻值，正常時(shí)應(yīng)為無窮大。若測(cè)得石英晶體振蕩器有一定的阻值或?yàn)榱?，則說明該石英晶體振蕩器已漏電或擊穿損壞；b.動(dòng)態(tài)測(cè)量方法：用是波器在電路工作時(shí)測(cè)量它的實(shí)際振蕩頻是否符合該晶體的額定振蕩頻率；如果是，說明該晶振是正常的，如果該晶體的額定振蕩頻率偏低，偏高或根本不起振，表明該晶振已漏電或擊穿損壞；萬用表示波器A6.13 繼電器序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型6.13.1分、合檢測(cè)繼電器按下圖所示接好穩(wěn)壓電源、萬用表、繼電器，萬用表接電流檔100mA范圍。將繼電器線圈、電流表串入電路，注意電流表

17、的正、負(fù)極不要接錯(cuò)。接好后穩(wěn)壓電源通電，并逐漸增加電壓數(shù)值，直到聽見銜鐵發(fā)出“咔”的一聲，磁鐵已將銜鐵吸住，拿開萬用表表筆，銜鐵分開，表明繼電器良好； +AK穩(wěn)壓電源 DC穩(wěn)壓電源數(shù)字萬用表A6.14 電池序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型6.14.1空載電壓空載電壓符合技術(shù)要求；萬用表A6.15 液晶序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型6.15.1顯示功能正常進(jìn)入界面，顯示無異常條紋，背光良好，無明顯色差；測(cè)試工裝、目測(cè)A6.16 可控硅序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型6.16.1單向可控硅檢測(cè)萬用表選電阻R*1擋，用紅、黑兩表筆分別測(cè)任意兩引腳間正反向電阻直至找出讀

18、數(shù)為數(shù)十歐姆的一對(duì)引腳，此時(shí)黑表筆的引腳為控制極G，紅表筆的引 腳為陰極K，另一空腳為陽極A。此時(shí)將黑表筆接已判斷了的陽極A，紅表筆仍接陰極K。此時(shí)萬用表指針應(yīng)不動(dòng)。用短線瞬間短接陽極A和控制極G，此時(shí)萬用表 電阻擋指針應(yīng)向右偏轉(zhuǎn)，阻值讀數(shù)為10歐姆左右。如陽極A接黑表筆，陰極K接紅表筆時(shí)，萬用表指針發(fā)生偏轉(zhuǎn)，說明該單向可控硅已擊穿損壞。萬用表短接線A6.16.2雙向可控硅檢測(cè)用萬用表電阻R*1擋，用紅、黑兩表筆分別測(cè)任意兩引腳間正反向電阻，結(jié)果其中兩組讀數(shù)為無窮大。若一組為數(shù)十歐姆時(shí)，該組紅、黑表所接的兩引腳為第一陽極A1和控制極G，另一空腳即為第二陽極A2。確定A1、G極后，再仔細(xì)測(cè)量A1

19、、G極間正、反向電阻，讀數(shù)相對(duì)較小的那次測(cè)量的黑表筆所接的引腳為第一陽極A1，紅表筆所接引腳為控制極G。將黑表筆接已確定的第二陽極A2，紅表筆接第一陽極A1，此時(shí)萬用表指針不應(yīng)發(fā)生偏轉(zhuǎn)，阻值為無窮大。再用短接線將A2、G極瞬間短接，給G極加上正向觸發(fā)電壓，A2、A1間阻值約10歐姆左右。隨后斷開A2、G間短接線，萬用表讀數(shù)應(yīng)保持10歐姆左右。互換 紅、黑表筆接線，紅表筆接第二陽極A2，黑表筆接第一陽極A1。同樣萬用表指針應(yīng)不發(fā)生偏轉(zhuǎn)，阻值為無窮大。用短接線將A2、G極間再次瞬間短接，給G極 加上負(fù)的觸發(fā)電壓，A1、A2間的阻值也是10歐姆左右。隨后斷開A2、G極間短接線，萬用表讀數(shù)應(yīng)不變，保持

20、在10歐姆左右。符合以上規(guī)律，說明被測(cè)雙向可控硅未損壞且三個(gè)引腳極性判斷正確。檢測(cè)較大功率可控硅時(shí)，需要在萬用表黑筆中串接一節(jié)1.5V干電池，以提高觸發(fā)電壓。萬用表短接線1.5V電池A6.17 按鍵序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型6.17.1導(dǎo)通性用萬用表測(cè)量接點(diǎn)通/斷狀態(tài)與開關(guān)切換相符合；數(shù)字萬用表A手感切換片應(yīng)無切換不順無法切換之現(xiàn)象及手感受不良等現(xiàn)象；實(shí)際操作B6.18 通訊模塊、射頻連接線、天線序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型6.18.1通訊模塊、射頻連接線、天線裝到配變/負(fù)控/集中器終端，測(cè)試能否連接主站；配變/負(fù)控/集中器終端A6.19 USB頭、卡座序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)

21、目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型6.19.1導(dǎo)通性量測(cè)各腳通，斷接點(diǎn)導(dǎo)電性能必須良好；數(shù)字萬用表A6.20 排針、排線、接插件類序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型6.20.1導(dǎo)通性量測(cè)各腳通，斷接點(diǎn)導(dǎo)電性能必須良好；數(shù)字萬用表A6.20.2安裝針腳不能與標(biāo)準(zhǔn)PCB順利安裝；針腳露出機(jī)板長度的標(biāo)準(zhǔn)為0.5mm2.0mm范圍內(nèi)；安裝數(shù)顯卡尺B6.21 線材序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型6.21.1導(dǎo)通性導(dǎo)電性良好，無短路現(xiàn)象；萬用表卡尺A6.21.2線徑線徑符合“中國、國際電工委員會(huì)、GB38363.4線規(guī)對(duì)照表”；B6.21.3線損率線損率符合技術(shù)要求；A7 輔料檢驗(yàn)7.1

22、說明書序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型7.1.1紙質(zhì)符合設(shè)計(jì)要求；對(duì)比目測(cè)B7.1.2紙張厚度符合設(shè)計(jì)要求；對(duì)比目測(cè)B7.1.3印刷文字印刷文字正確、清晰，字體、大小 、位置應(yīng)符合設(shè)計(jì)要求，文字無缺筆斷畫，無變形字；對(duì)比目測(cè)B7.1.4印刷顏色封面和書頁的顏色及墨色符合樣板或規(guī)定色號(hào)；對(duì)比目測(cè)B7.1.5書頁與書貼1、書帖平服整齊,無明顯八字皺折、死折、折角、殘頁和臟跡；目測(cè)B2、書帖頁碼和版面順序正確，以面碼中心為準(zhǔn)，相連兩頁之間頁碼位置允許誤差2.0mm,全書頁碼位置允許誤差4.0mm,畫面接版允許誤差1.0mm；游標(biāo)卡尺，直尺B3、書帖的劃口排列正確,劃透,均在折縫線上；目測(cè)B

23、7.1.6成品裁切成品裁切歪斜誤差1.0mm，裁切后無嚴(yán)重刀花，無連刀頁，無嚴(yán)重破頭；游標(biāo)卡尺，直尺B7.1.7成品外觀成品外觀整潔，無壓痕，無污跡；目測(cè)C7.2 標(biāo)簽貼紙序號(hào)檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)/方法檢驗(yàn)設(shè)備缺陷類型7.2.1標(biāo)簽材料符合設(shè)計(jì)要求；對(duì)比目測(cè)B7.2.2標(biāo)簽厚度符合設(shè)計(jì)要求；對(duì)比目測(cè)B7.2.3覆膜材料符合設(shè)計(jì)要求；對(duì)比目測(cè)B7.2.4覆膜厚度符合設(shè)計(jì)要求；對(duì)比目測(cè)B7.2.5標(biāo)簽?zāi)z材料符合設(shè)計(jì)要求；對(duì)比目測(cè)B7.2.6印刷油墨符合設(shè)計(jì)要求；對(duì)比目測(cè)B7.2.7膠的粘性將標(biāo)簽粘在測(cè)試工裝上，各位置都與板殼粘接良好，無翹起；目測(cè)B7.2.8各部分尺寸符合設(shè)計(jì)要求(外型尺寸，邊框的位置及尺寸)；對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)樣B7.2.9印刷文字印刷文字正確，字體、大小、位置與設(shè)計(jì)樣板或圖紙一致；對(duì)比目測(cè)A7.2.10印刷顏色印刷部分顏色符合設(shè)計(jì)樣板或規(guī)定色號(hào)；對(duì)比目測(cè)A7.2.11平整、清潔度不允許有折痕、滴墨、墨跡不均、污跡 、油跡 、毛邊、上翹、翹邊、雜質(zhì) 、拱起等不