修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE1發(fā)行日期RELEASEDATE041112可靠度測試項目目錄NOEVALUATIONTESTITEMS評價項目1TEMPERATUREDISTRIBUTION溫度分布2COMPONENTTEMPERATURERISE元件溫度上昇3PARTSDERATING元件餘裕度4THERMALRUNAWAY熱暴走5HIGHTEMPERATURESHORTCIRCUIT高溫短路6LIFEOFELECTROLYTICCAPACITOR電解電容算出壽命7NOISEIMMUNITY雜訊免疫能力8ELECTROSTATICDISCHARGE靜電氣9LIGHTNINGSURGE雷擊10INPUTON/OFFATHIGHTEMPERATURE高溫輸入ON/OFF11LOWTEMPERATUREOPERATION低溫動作確認(rèn)12DYNAMICSOURCEEFFECT動態(tài)輸入變動13FANABNORMALOPERATIONFANFAN異常動作14VIBRATION振動15SHOCK衝擊16ABNORMALRIPPLE異常漣波確認(rèn)17HIGHTEMPERATURETEST高溫測試18LOWTEMPERATURETEST低溫測試19TEMPERATURE/HUMIDITYTEST溫溼度循環(huán)測試20STRIFETEST壓力測試21PLDTEST輸入瞬斷測試常溫、常濕定義濕溫度，相對溼度修訂日期AMENDMENTDATE可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION編號NOWI7308版本V01VERSION頁次PAGE2發(fā)行日期RELEASEDATE0411121TEMPERATUREDISTRIBUTION溫度分布11目的確保待測物之可靠度；確認(rèn)各元件均在溫度規(guī)格範(fàn)圍內(nèi)使用及有無元件異常溫度上升。12適用所有機種適用。13測試條件A輸入電壓規(guī)格範(fàn)圍之最小、最大值。AC115V/230VAC90V/265VB負(fù)載100最小0、最大,100。C輸出電壓額定。D周圍溫度常溫。E接線圖14測試方法A輸入電壓加入後，穩(wěn)定狀況下，測元件表面及銲接點之溫度分佈。B參考溫度DERATING率。C量測之溫度與溫度DERATING率比較，確認(rèn)有無異常發(fā)熱元件，參考溫度DERATING率。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE3發(fā)行日期RELEASEDATE041112INPUTSOURCE待測物負(fù)載短路用治具溫度記錄器15溫度DERATING率NO元件名稱溫度判定標(biāo)準(zhǔn)備註電阻電阻最高耐溫之電容電容最高耐溫減半導(dǎo)體1SCHOTTYDIODE取TJ之2其它半導(dǎo)體（電晶體MOSFET取TJ之）熱暴走高溫短路測試TA55LOAD100TA65LOAD70INPUT85V/265V時（TJ80）5為判定基礎(chǔ)基板1FR41152CEM31103CEM11004XPCFR1005判定PCB最大耐溫減與基板板厚無關(guān)變壓器（含電感）絕緣區(qū)分A種種種標(biāo)準(zhǔn)溫度105120130熱偶式90105110ABNORMAL150165175修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE發(fā)行日期RELEASEDATE0411122COMPONENTTEMPERATURERISE元件溫度上升21目的確保待測物之可靠度，確認(rèn)各元件均在溫度規(guī)格內(nèi)使用。22適用所有機種適用。23測試條件A輸入電壓規(guī)格範(fàn)圍之最小、額定、最大。B負(fù)載規(guī)格範(fàn)圍之最大。C輸出電壓額定。D周圍溫度常溫。E接線圖24測試方法A依測試條件設(shè)定，當(dāng)溫度達(dá)到熱平衡後，以熱電偶測定元件溫度，基板上之元件銲點需測量溫度。B參考溫度DERATING計算出最大溫升規(guī)格值TIEDERATINGCURVE在100LOAD100下最高至50，則以附表DERATING率之溫度減去50得100之LOAD下之T；60時，DERATING率為70，則減去60得到70之T實際負(fù)載在100時依減50之T為規(guī)格值。C元件之選擇以R1溫度分佈測得之發(fā)熱較多元件做測定。D元件實際溫升不能超過計算得出之T。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE發(fā)行日期RELEASEDATE041112INPUTSOURCE待測物溫度記錄器負(fù)載3PARTSDERATING元件餘裕度31目的確保待測物之可靠度，確認(rèn)元件實際使用時能在絕對最大額定下之DERATING率範(fàn)圍內(nèi)。32適用所有機種適用。33測試條件A測試待測物在下列條件下一次測和二次測主迴路波形（電流波形和電壓波形）定額輸入和輸出低壓起動短路開機開機後短路滿載關(guān)機（不做記錄）B各迴路波形和元件耐壓請參考元件DERATINGC接線圖修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE發(fā)行日期RELEASEDATE041112INPUTSOURCE待測物SCOPE負(fù)載34元件DERATINGNO元件名稱溫度判定標(biāo)準(zhǔn)備註電阻80電阻最高耐壓之90SURGE取耐壓之95電容電容最高耐壓之85（AC輸入電容取耐壓之95）RIPPLE電流取100鉭質(zhì)電容取耐壓之80二極體（DIODE）VRMVRSMISFMSURGESCR80959090TRIAC80959090BRIDGEDIODE80959090DIODE80959090SCOTTYDIODE90959090ZENERDIODE9090LED80959090電晶體MOSFETVDSS/VCE取規(guī)格之95VGSS/VBE取規(guī)格之95ID/IC取規(guī)格之95IB取規(guī)格之95FUSE取額定電流之70SURGE65修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE7發(fā)行日期RELEASEDATE041112SURGEI2T4THERMALRUNAWAY熱暴走41目的確認(rèn)過負(fù)載、出力短路下，保護之餘裕度。42適用所有機種適用。43測試條件A輸入電壓規(guī)格之輸入電壓範(fàn)圍最小、最大值，（例85V/265V）。B負(fù)載100及70例55為100，65為70。C周圍溫度最高動作溫度5，輸出DERATINGCURVE100下溫度上限5。D輸出電壓額定。E接線圖4144測試方法A參照部品溫度上昇結(jié)果確定待測部品，以熱電偶量測。B電源輸入後，連續(xù)觀測繪出溫度上昇值，確認(rèn)飽和點。C若有FAN裝置於待測物，需實際模擬安裝於系統(tǒng)之情形進行測試。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE8發(fā)行日期RELEASEDATE041112INPUTSOURCE待測物溫度記錄器負(fù)載電流電壓恒溫槽5HIGHTEMPERATURESHOTYCIRCUIT高溫短路51目的確認(rèn)輸出短路放置後，待測物之可靠度。52適用除未加短路保護機種外所有機種適用。53測試條件A輸入電壓規(guī)格範(fàn)圍之最大輸入電壓。實測取最大，例265VB輸出電壓額定值。C周圍溫度動作溫度上限5例65。D接線圖4154測試方法A待測物在設(shè)定測試條件下，輸出短路2小時以上。B記錄溫度上昇之情形，參照溫度DERATING，不能超過規(guī)定溫度。C解除短路狀態(tài)後確認(rèn)輸出仍正常，部品不能有損壞。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE9發(fā)行日期RELEASEDATE041112INPUTSOURCE待測物示波器負(fù)載6LIFEOFELECTROLYTICCAPACITOR電解電容算出壽命61目的推定待測物之壽命，並確認(rèn)其可靠度。62適用所有機種適用。63測試條件A輸入電壓額定值。B輸出電壓額定值。C負(fù)載額定。D周圍溫度40。E接線圖64測試方法A額定之輸出、輸入時，在規(guī)定之周圍溫度下，依下式計算L1LS2L1實際之有效壽命LS部品使用溫度範(fàn)圍上限下之有效壽命T1部品之使用溫度範(fàn)圍上限T2實際使用溫度。B算出之壽命時間應(yīng)規(guī)格所示。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE10發(fā)行日期RELEASEDATE041112T1T210INPUTSOURCE待測物示波器實效值負(fù)載7NOISEIMMUUITY雜訊免疫力71目的確保待測產(chǎn)品之可靠度，確認(rèn)輸入對加入脈衝之耐受程度。72適用所有機種。73測試條件A規(guī)格上有規(guī)定者，依規(guī)格實施。B周圍溫度常溫、常濕。C輸入電壓115VD輸出電壓額定。E負(fù)載電流100。F脈衝規(guī)格規(guī)格書所列值11050TERMINATION如規(guī)格為22KV則脈衝以22KV11022KV施加脈波寬為。100NS,500NS,1000NS，時間五分鐘。G接線圖74測試方法A依條件施加脈衝於輸入輸入間，輸入GROUND間，應(yīng)無動作異常含突入電流限制回路、異常振盪等保護回路誤動作及元件損壞發(fā)生，測試時，輸出電壓之安定度應(yīng)在總和變動規(guī)格範(fàn)圍內(nèi)。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE11發(fā)行日期RELEASEDATE041112INPUTSOURCE待測物示波器電阻負(fù)載8ELECTROSTATICDISCHARGE靜電破壞81目的確保待測產(chǎn)品之可靠度，確認(rèn)產(chǎn)品對靜電氣之耐受程度。82適用規(guī)格書上規(guī)定之機種。83測試條件A周圍環(huán)境常溫、常濕。B輸入電壓額定實測AC115VC輸出電壓額定D負(fù)載額定100E施加電壓規(guī)格書之?dāng)?shù)值X110CHARGECAPACITOR500PFSERIESRESISTOR100，時間10SECF接線圖4184測試方法A待測物GROUND部位，依條件施加脈衝電壓分接觸外殼及隔離放電實施；不能有保護回路誤動作，元件破損之異常發(fā)生。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE12發(fā)行日期RELEASEDATE041112INPUTSOURCE待測物示波器電阻負(fù)載DMM9LIGHTNINGSURGE雷擊91目的確認(rèn)輸入端加入LIGHTNINGSURGE之耐受能力。92適用規(guī)格有規(guī)定之機種。93測試條件A規(guī)格書有規(guī)定依規(guī)格條件。B輸入電壓額定實測AC115VC輸出電壓額定D負(fù)載額定E周圍環(huán)境常溫、常濕F施加波形JEC212規(guī)定，波頭長12S,波尾長50S之電壓，波形3KV110限流電阻100。G接線圖4194測試方法A依規(guī)定測試條件，施加SURGE電壓於輸入輸入，輸入GROUND極各3回確認(rèn)元件無破損，無絕緣破壞，F(xiàn)LASHOVERARC及保護回路誤動作情形發(fā)生。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE13發(fā)行日期RELEASEDATE041112INPUTSOURCE待測物電阻負(fù)載10INPUTON/OFFATHIGHTEMPERATURE高溫輸入ON/OFF101目的高溫時輸入電壓ON/OFF重覆施加，確認(rèn)產(chǎn)品之信賴性。102適用所有機種適用。103測試條件A輸入電壓規(guī)格之輸入電壓範(fàn)圍最大值例265V。B負(fù)載額定100LOADC輸出電壓額定D周圍溫度動作可能溫度範(fàn)圍5例65。E接線圖41104測試方法A待測物置於恆溫槽內(nèi)，依條件之溫度設(shè)定，到達(dá)設(shè)定溫度後放置12小時，同時電源ON/OFF至少500CYCLE於輸入端，結(jié)束後確認(rèn)元件無破損，輸出電壓與機能正常（ON5S，OFF30S）。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE14發(fā)行日期RELEASEDATE041112INPUTSOURCE待測物DVM負(fù)載ON/OFF恆溫槽11LOWTEMPERATUREOPERATION低溫動作確認(rèn)111目的為確保待測產(chǎn)品可靠度，確認(rèn)周圍溫度下限之動作餘裕度。112適用所有機種適用。113測試條件A輸入電壓規(guī)格範(fàn)圍之最小、最大值實測最小值。B輸出電壓額定。C負(fù)載最小、最大值實測最大值。D周圍溫度動作可能溫度下限10。E接線圖114測試方法A待測物在測試溫度條件下設(shè)定為關(guān)機狀態(tài)充份放置至少1小時關(guān)機狀態(tài)，重新加入電源，確定可啟動。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE15發(fā)行日期RELEASEDATE04111212DYNAMICSOURCEEFFECT動的輸入變動121目的確認(rèn)待測產(chǎn)品在動的輸入變動下能正常動作。122適用交流輸入之所有機種。123測試條件A規(guī)格書有規(guī)定者，依規(guī)格條件。B負(fù)荷額定100。C周圍溫度常溫。D輸出電壓額定。E輸入變動條件額定最小，額定最大。最大電壓TT05SECT頻率60HZ124測試方法A在基準(zhǔn)動作狀態(tài)下額定輸入電壓100LOAD，測定輸出電壓值VS。B計算電壓變動率VHVSX100VLVSX100VSVSC計算之變動率，應(yīng)在總和變動之規(guī)格範(fàn)圍內(nèi)。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE16發(fā)行日期RELEASEDATE041112最小電壓額定電壓INPUTSOURCE待測物負(fù)載釋波器13FANABNORMALOPERATIONFAN異常動作131目的待測產(chǎn)品在自然冷卻使用情形下，確認(rèn)FAN停止運轉(zhuǎn)，轉(zhuǎn)數(shù)變慢時，保護機能正常運作。132適用產(chǎn)品因需風(fēng)扇冷卻而裝設(shè)之機種。133測試條件A輸入電壓規(guī)格範(fàn)圍內(nèi)之最小、最大值。B負(fù)載最大100。C周圍溫度感熱元件部份，依動作可能溫度範(fàn)圍上限5，25及下限5共3點實施測試。其他部份則以動作可能溫度範(fàn)圍上限5，下限5實施量測。D輸出電壓額定。134測試方法A主要電晶體、變壓器、CHOKE等重要元件，以熱電藕量測記錄其結(jié)果。FAN異常動作發(fā)生時觀測元件溫度上升應(yīng)記錄其結(jié)果。BOPENFRAME之產(chǎn)品與系統(tǒng)產(chǎn)品搭配測試。C確定在測試條件下，無保護回路之誤動作發(fā)生，元件上升溫度不能超過規(guī)格值。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE17發(fā)行日期RELEASEDATE041112INPUTSOURCE待測物負(fù)載熱電藕溫度記錄器恆溫槽14VIBRATION振動141目的為確保產(chǎn)品之信賴性，產(chǎn)品在製造時及運送時對振動之耐受程度需加以確認(rèn)。142適用所有機種適用。143測試條件A周圍溫度常溫。B動作狀態(tài)NONOPERATINGC振動頻率510HZ全振幅1010200HZ加速度216M/SEC222GSWEEPTIME10MIN依對數(shù)變化。振動方向X,Y,Z軸各1小時。衝擊試驗程序1試驗系統(tǒng)圖41144測試方法A依測試條件或產(chǎn)品規(guī)格所列條件進行測試。B測試完成後，以目視檢查必要時用顯微鏡待測物之外殼、基板、零件、配線有無異常；確認(rèn)後，通電並確認(rèn)輸出電壓及電氣特性有無異常。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE18發(fā)行日期RELEASEDATE041112YXX方向ZZ供試電源試驗方向試驗方向試驗方向15SHOCK衝擊151目的為確保待測物之可靠度，在製造時及運送時對衝擊之耐受程度需予以確認(rèn)。152適用所有機種適用。153測試條件A衝擊加速度588M/SEC260GB衝擊時間115MSEC半波正弦波。C振動方向XX,YY,Z,5方向，各3回。D周圍溫度常溫。ENONOPERATING154測試方法A依測試條件進行測試。B測試完成後，以目視檢查必要時用顯微鏡待測物之外殼、基板、零件、配線有無異常確認(rèn)後通電並確認(rèn)輸出電壓及電氣特性有無異常。衝擊測試程序1測試系統(tǒng)圖A待測物需設(shè)計治具以固定之。電木板及鋁板B依測試條件施加予待測物。C加速度588M/SEC260G各方向3回。D記錄試驗條件及結(jié)果。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE19發(fā)行日期RELEASEDATE試驗方向YYXXZZZ供試電源試驗方向試驗方向16ABNORMALRIPPLE異常RIPPLE確認(rèn)161目的確保待測產(chǎn)品之可靠度由周圍溫度、輸入電壓、輸出電流之各條件組合下，確認(rèn)其動作之安定性。162適用所有機種適用。163測試條件A負(fù)載0100連續(xù)。B周圍溫度動作溫度範(fàn)圍IE206020/25/60。C輸入電壓規(guī)格範(fàn)圍最小最大連續(xù)。D輸出電壓額定。E接線圖41164測試方法A待測物在不通電之狀態(tài)下，依測試之組合條件，在設(shè)定之溫度下放置1小時。B連續(xù)調(diào)整輸入電壓及負(fù)載電流，並觀察有無異常RIPPLE之發(fā)生，如振盪、間歇振盪、ACRIPPLE導(dǎo)致之微小異常振盪。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE20發(fā)行日期RELEASEDATEINPUTSOURCE待測物負(fù)載釋波器負(fù)載用治具恆溫槽17HIGHTEMPERATURETEST高溫測試171目的確認(rèn)產(chǎn)品在高溫置放後，維持正常功能之特性。172適用所有機種適用。173測試條件A溫度TH012747576TH產(chǎn)品規(guī)格所列之儲存溫度上限B輸入電壓額定。C輸入頻率50HZ。D負(fù)載100LOAD。E接線圖174測試方法A產(chǎn)品置於恆溫槽內(nèi)，依上述之條件進行測試。B溫度在達(dá)到預(yù)定之高溫TH前後一小時之前於常溫下，須先進行功能測試，確認(rèn)產(chǎn)品之功能；測試後產(chǎn)品須無任何損傷。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE21發(fā)行日期RELEASEDATE7025FUNCTIONALINSPECTIONTEMPDEGCTIMEHOUR18LOWTEMPERATURETEST低溫測試181目的確認(rèn)產(chǎn)品在低溫置放後，維持正常功能之特性。182適用所有機種適用。183測試條件A溫度TL012747576B負(fù)載100LOAD。C輸入電壓額定。D頻率50HZ。ETL規(guī)格所列之儲存溫度下限。F接線圖184測試方法A產(chǎn)品置於恆溫槽內(nèi)，依上述之溫度設(shè)定及接線圖進行測試。B溫度到達(dá)預(yù)訂之低溫，前後一小時前須進行功能測試，確認(rèn)產(chǎn)品能正常動作；且無任何損傷。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE22發(fā)行日期RELEASEDATEFUNCTIONALINSPECTIONTEMPDEGCTIMEHOUR254019TEMPERATURE/HUMIDITYTEST溫、溼度循環(huán)測試191目的確認(rèn)產(chǎn)品對周圍溫、溼度之適應(yīng)能力。192適用所有機種適用。193測試條件A條件依下圖設(shè)定6540259080501504630345860727478808284108B負(fù)載100LOAD。C輸入電壓額定。D頻率E接線圖41194測試方法A依上所列之測試條件及接線方式，執(zhí)行測試。B測試結(jié)束後，待測物需功能正常，零件無損壞情形。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE23發(fā)行日期RELEASEDATETIMEHOURPOWERONFUNCTIONTESTHUMIDITYRELATIVETEMP20STRIFETEST極限測試201目的確認(rèn)待測產(chǎn)品的耐受高溫之極限。202適用依需求規(guī)格列出之機種。203測試條件A輸入電壓額定。110V/220VE負(fù)載額定100LOAD。F溫度701HR801HR901HR1001HR至產(chǎn)品失效。D接線圖204測試方法A產(chǎn)品置於恆溫槽內(nèi)，依接線圖及條件設(shè)定。B當(dāng)溫度到達(dá)預(yù)設(shè)值後，停留一小時，開始執(zhí)行功能測試。C產(chǎn)品若功能正常，將溫度每次升高10，進行測試，至產(chǎn)品失效為止，記錄失效之溫度。D產(chǎn)品失效時，不能發(fā)生冒煙、起火等狀況。修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE24發(fā)行日期RELEASEDATE21PLDTEST輸入瞬斷測試AANUNDERVOLTAGEOF25BELOWTHEMINIMUMINPUTVOLTAGE,APPLIEDFORTWOSECONDS,REPEATED10TIMESERRORFREEWITHA10DUTYCYCLEBANUNDERVOLTAGEOF35BELOWTHEMINIMUMNOMINALINPUTVOLTAGE,BUTNOTLESSTHAN68V,APPLIEDFOR30ERRORFREECYCLESOFTHEINPUTFREQUENCY,REPEATED10TIMESWITHA10DUTYCYCLECANUNDERVOLTAGEOF100BELOWTHEMINIMUMNOMINALINPUTVOLTAGE,APPLIEDFOR20MILLISECONDSREPEATED10TIMESERRORFREEWITHA10DUTYCYCLEDANOVERVOLTAGEOF20ABOVETHEMAXIMUMNOMINALINPUTVOLTAGEAPPLIEDFORTWOSECONDS,REPEATED10TIMESWITHERRORFREEA10DUTYCYCLEEWHENEITHEROFTHEFOLLOWINGWAVEFORMSAREAPPLIEDTOEITHERPOLARITYPEAKOFTHEINPUTVOLTAGEWAVEFORMTHEWAVEFORMSSHALLCONSISTOF400HZ50HZOR800HZ100HZEXPONENTIALLYDECAYINGSINUSOIDWITHAPEAKVOLTAGEEQUALTOTHEPEAKNOMINALLINEVOLAGEERRORFREEANDDECAYTIMECONSTANTSUCHTHATTHEFIFTHHALFCYCLEOFTHEDISTURBANCEISBETWEEN15AND25OFTHEFIRSTHALFCYCLETHETOTALDURATIONOFTHEDISTURBANCESHALLNOTEXCEEDONECYCLEOFTHELINEVOLTAGETHISTESTSHALLBEREPEATED320TIMES80POSITIVERINGSAND80NEGATIVERINGSAT400HZ80POSITIVERINGSAND80NEGATIVERINGSAT800HZATHREE3SECONDINTERVALSFDIFFERENTIALMODELINETOLINEANDCOMMONMODELINETOGROUNDVOLTAGESURGESWITHOPENCIRCUITVOLTAGESOF25KVPEAK10AND2KVPEAK10RESPECTIVELYTHESOURCEIMPEDANCEOFTHESURGEGENERATORSHALLBEERRORFREE2OHM20THESURGEWAVESHALLBEDEFINEDINANSI/IEEEC62411980ANDIEC6021973THREEPOSITIVEANDTHREENEGATIVESURGESSHALLBEAPPLIEDAT0,90,180,AND270DEGREES24TOTALTHETIMEINTERVALBETWEENSURGESSHALLBE18SECONDS修訂日期AMENDMENTDATE編號NOWI7308版本VERSIONV01可靠度測試規(guī)範(fàn)RELIABILITYTESTSPECIFICATION頁次PAGE25發(fā)行日期RELEASEDATE041112GA100NANOSECONDPULSEWITHANAMPLITUDEOF400VOLTSSHALLBESUPERIMPOSEDONTHEPEAKOFTHEERRORFREENOMINALINPUTVOLTAGEANDREPEATEDATTHELINEFREQUENCYFORTEN10MINUTESHTHEPOWERSUPPLYSHALLSUFFERNOPHYSICALDAMAGEUNDERTHEFOLLOWINGDISURBANCESINACLINEVOLTAGEREPEATEACHTESTFIVETIMES,RETURNINGTHEPOWERSUPPLYDAMAGEFREETOITSNORMALRUNNINGCONDITIONSBETWEENTESTSACOMPLETELINEOUTAGEFORANYDURATIONITHEPOWERSUPPLYSHALLSUFFERNOPHYSICALDAMAGEUNDERTHEFOLLOWINGDISTURBANCESINACLINEVOL